「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 40 41 42 43 44 45 46 47 48 .... 92 93 次へ＞- To provide an efficient device for transporting sample racks of different formats between various work cells in an analytical instrument.
分析機器において、種々のワークセル間で異なる形式の試料ラックを移送する効率的な装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sensor chip of SPR device capable of efficiently detecting the resonance angle of many kinds of sample constituents.
多種類の試料成分の共鳴角を効率的に検出することができるＳＰＲ装置のセンサーチップの提供。 - 特許庁 - SAMPLE FOR EVALUATING CORROSION RESISTANCE IN END FACE OF PLATED STEEL SHEET, AND END FACE CORROSION RESISTANCE EVALUATION DEVICE AND METHOD
メッキ鋼板の端面耐食性評価用試料、端面耐食性評価装置及び端面耐食性評価方法 - 特許庁 - Alternatively (S122), the device is constituted so as to record the sample management information only once on the unrewritable information recording medium.
（Ｓ１２２）又は、書換え不可能な情報記録媒体には前記見本管理情報を一回のみ記録する構成とする。 - 特許庁 - To provide a fluorescent X-ray analysis device for rapidly and accurately analyzing an arbitrary fine site in a sample.
試料における任意の微小部位について、迅速かつ正確に分析できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an oblique polishing device with high simple structure, high angle accuracy of a polished sample and polishing efficiency.
構造が簡単で、その上、研磨した試料の角度の精度が高く、研磨の効率がよい斜め研磨装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for preparing a thin sample for testing the internal structure of a manufactured device for image formation.
製造されたデバイスの内部構造をテストするために薄いサンプルを準備して像形成する方法を提供する。 - 特許庁 - The puncturing device for drawing the body fluid sample from the skin comprises a body portion, an endcap, a lancet and a vibration member.
皮膚から体液試料を抜き取るための穿刺装置は、本体部分、エンドキャップ、ランセット及び振動部材を含む。 - 特許庁 - DEVICE FOR PROVIDING HYBRIDIZATION CHAMBER, PROCESS UNIT, AND SYSTEM FOR HYBRIDIZING NUCLEIC ACID SAMPLE, PROTEIN, AND TISSUE SECTION
核酸サンプル、タンパク質、および組織断片の雑種を作るための交雑室、処理装置、およびシステムを提供する装置 - 特許庁 - To provide a microscopic image photographing device capable of obtaining a sharp image from a sample showing dynamic behavior.
動的な挙動を示す標本から鮮明な画像を得ることのできる顕微鏡画像撮影装置を提供すること。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE CONSTITUTION FOR OPTICAL UNDERSTANDING OF WAVELENGTH-DEPENDENT CHARACTERISTIC VALUES OF ILLUMINATED SAMPLE
照明された試料の波長に依存する特徴的な特性値を光学的に把握するための方法および装置構成 - 特許庁 - To enhance the efficiency of operation of a laboratory analytic device equipped with a base housing including the drive mechanism of a sample tray.
試料トレイの駆動機構を含む基部ハウジングを備えた実験室用分析装置の操作の効率を高めること。 - 特許庁 - To provide an ion beam machining device executable by correctly determing the termination of thin film machining of a sample.
試料の薄膜加工終了を正しく判定して実行することができるイオンビーム加工装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning device for a probe with good operationality that does not produce distortion in the detected image of a sample.
操作性が良好で、かつ試料の検出画像に歪みが生じないプローブ走査装置を提供することにある。 - 特許庁 - BIOPSY DEVICE WITH REPLACEABLE PROBE AND INCORPORATING VIBRATION INSERTION ASSIST AND STATIC VACUUM SOURCE SAMPLE STACKING RETRIEVAL
置換可能プローブを備え、振動挿入補助および静的真空源をサンプル堆積式回収に組み込んだ生検装置 - 特許庁 - To provide a microscope device equipped with a scanning probe microscope capable of preventing vibration of a sample.
試料の振動を防止することができる走査型プローブ顕微鏡を備える顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁 - SUGAR CHAIN SEPARATION METHOD, SAMPLE ANALYSIS METHOD, AND LIQUID CHROMATOGRAPHY DEVICE, AND SUGAR CHAIN ANALYSIS METHOD AND SUGAR CHAIN ANALYSIS APPARATUS
糖鎖分離方法、検体分析方法、液体クロマトグラフィー装置、並びに糖鎖分析方法及び糖鎖分析装置 - 特許庁 - Consequently, a device calculating the precise permeability and the measurement method are proposed independently of double refraction a sample possesses.
これによって、サンプルのもつ複屈折に依存せず、正確な透過率を算出する装置および測定方法を提案する。 - 特許庁 - To provide a method for easily making a transmission electron microscopic sample without requiring an exclusive device.
簡便でかつ専用の装置を必要としない、透過型電子顕微鏡観察用の試料作製方法を提供すること。 - 特許庁 - In this micro-device, a portion contacting with at least one sample is treated with a fluoro-polymer material.
化学用マイクロデバイスにおいて、少なくとも１つの試料と接触する部分をフッ素系高分子材料で処理した。 - 特許庁 - To prevent a deposition head from being contaminated with sample droplets from other deposition head in a droplet dispensing device.
液滴配給装置において堆積ヘッドが他の堆積ヘッドからの試薬液滴で汚染されるのを防止すること。 - 特許庁 - To provide a simple and reliable device and method for detecting the noninvasiveness of a substance in a sample.
サンプル中の物質の非侵襲性の検出を行うための、簡単でかつ信頼性のある装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device preventing splashes of an immersion liquid removed from an object lens from attaching to the surface of a sample container.
対物レンズ上から除去したイマージョン液の飛沫が標本容器の表面に付着することを防止する。 - 特許庁 - This sample gas supply device for supplying a gas sample for inspection used when inspecting the detection performance of the gas sensor for detecting inflammable gas is provided with a sample gas generator in which a sample gas source impregnated with a liquid hydrocarbon for generating the inflammable gas by evaporation into a filling material for impregnation is arranged inside a sealed container.
サンプルガス供給装置は、可燃性ガス検知用のガスセンサーの検知性能を検査するに際して用いられる検査用サンプルガスを供給するためのものであって、気化して燃焼性ガスを発生する液状炭化水素を含浸用充填材に含浸させてなるサンプルガス源が密閉容器内に配置されてなるサンプルガス発生器を具えてなる。 - 特許庁 - The super-small-angle X-ray scattering measuring device comprises a detector 7 for detecting an X-ray emitted from a sample S, an X-ray parallelizing mirror 16 disposed between an X-ray actual focal point F and the sample S, a monochromator 22 disposed between the mirror 16 and the sample S, and an analyzer 23 disposed between the sample S and the detector 7.
試料Ｓから出射したＸ線を検出する検出器７と、Ｘ線実焦点Ｆと試料Ｓとの間に設けられたＸ線平行化ミラー１６と、ミラー１６と試料Ｓとの間に設けられたモノクロメータ２２と、試料Ｓと検出器７との間に設けられたアナライザ２３とを有する超小角Ｘ線散乱測定装置である。 - 特許庁 - When the sample shape 13 of a sample 5 is displayed on a shape display device 12 and an observing position 15 outside a horizontal movement range 14 in the sample shape 13 is designated, the sample 5 is automatically rotated up to a position where the observing position 15 enters the horizontal movement range 14 to automatically effect horizontal movement so as to irradiate an electron beam 2 to the observing position 15.
試料５の試料形状１３を形状表示装置１２に表示し、試料形状１３において水平移動範囲１４外に観察位置１５を指定すると、観察位置１５が水平移動範囲１４に入る位置まで試料５を自動に回転させて、水平移動を自動に行い、観察位置１５に電子ビーム２が照射する。 - 特許庁 - The color sample selection device has a display screen and an input means and is characterized in that a plurality of color samples are displayed on the display screen and when one color sample is selected, new display of a color sample that the person who is handicapped in color vision can not discriminate from the one selected color sample among the plurality of color samples appears.
表示画面と、入力手段とを備えた色見本選択装置であって、表示画面には、複数の色見本が表示され、１つの色見本を選択した時に、前記複数の色見本のうち、色覚障害者が前記１つの色見本と区別できない色見本に新たな表示が現れることを特徴とする色見本選択装置。 - 特許庁 - A synchronizing device for synchronizing an input signal and a clock signal includes sample means 102 and 103 for sampling the input signal at the first and second sample timing of a predetermined interval, and delay control means 112 for shifting both the first and second sample timing at a synchronous leading-in time and for narrowing the interval between the first and second sample timing at a synchronous following time.
入力信号とクロック信号を同期させる同期装置は、入力信号を、所定の間隔の第１と第２のサンプルタイミングでサンプルするサンプル手段１０２，１０３と、同期引き込み時に、第１と第２のサンプルタイミングをともにずらし、同期追従時に、第１と第２のサンプルタイミングの間隔を狭める遅延制御手段１１２とを備える。 - 特許庁 - In this device, a new function of evaluation mode is added, so that a sample rack number 303 and a position number 304 can be added to the input information of measurement request in addition to a sample number 302, and the same sample rack number and the same position number can be also inputted to perform the repeated measurement of the same item from the same sample vessel.
評価モードという新機能を付加し、測定依頼の入力情報に試料番号３０２のほかに試料ラック番号３０３，ポジション番号３０４を付加し、さらに同じ試料ラック番号、同じポジション番号を入力できるようにし、同一の試料容器から同じ項目の繰り返しが測定ができるようにした。 - 特許庁 - To provide a sample temperature control device for ESR and NMR, capable of controlling a measuring sample to a target present temperature and causing no dissociation of a high temperature between a temperature of temperature control gas and a temperature of the measuring sample, even when the control temperature of the measuring sample is preset to a high-temperature region.
測定試料の制御温度が予め高い温度領域に設定されている場合でも、測定試料を目的の設定温度に温度制御することができ、しかも、温度制御ガスの温度と測定試料の温度との間に大きな温度の乖離を生じることのない、ＥＳＲやＮＭＲのための試料温度制御装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample holder for focused ion beam machining observation device capable of holding a minute sample piece on a stage kept horizontal without fail, when it is extracted from the sample of FIB machining and processed into the sample for TEM, and capable of holding the stage in a direction without fail.
FIB加工で試料から、微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を水平に保たれた前記試料台に確実に固定することが可能であり、前記試料台を一定の方向に確実に固定することが可能な集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダを提供する。 - 特許庁 - A photo seal delivery apparatus reads an image of the sample photo including graffiti and an image of a sample item selection pallet of the image edit items used for the graffiti of the sample photo from a sample storage means (large capacity storage device 203) in the case of graffiti image edit processing and displays the images on a display means (display panel 30) together with an image of an edit object photo.
落書きの画像編集処理のときに、落書き済みのサンプル写真の画像及びサンプル写真の落書きに使用された画像編集アイテムのサンプルアイテム選択パレットの画像をサンプル記憶手段（大容量記憶装置２０３）から読み出し、表示手段（表示パネル３０）に編集対象写真の画像とともに表示する。 - 特許庁 - Further, the start period of the exposure for the imaging device is prior to the stop time point of the sample stage, so that the time from a stage start time point to an imaging completion time point is shortened for one sample region.
また、撮像素子に対する露光の開始時期をサンプルステージの停止時点よりも前とすることで、一のサンプル部位に対する、ステージ起動時点から撮像終了時点までの時間を短縮する。 - 特許庁 - For the charged particle beam device for irradiating charged particle beams on a sample, positions of the detector are to be optimized by moving the detector to a plurality of desired positions around the sample.
本発明は、荷電粒子ビームを試料に照射する荷電粒子線装置において、試料の周囲における複数の所望位置に検出器を移動させ、検出器位置を最適化することに関する。 - 特許庁 - To obtain a small-sized low-cost sample dryer in the dryer for drying a sample grain before supplying a grain to a spontaneous inspection device for received grain such as a drying preparing facility or the like.
乾燥調製施設等荷受け穀物の自主検定装置に供給する前にサンプル穀物を乾燥するサンプル穀物乾燥装置に関し、小型で廉価なサンプル乾燥装置を実現しようとする。 - 特許庁 - To provide a simple sensor for easily, rapidly, and accurately measuring a specific constituent in an organism sample such as blood, and an organism sample-measuring device that can be handled easily.
血液などの生体試料中の特定成分を簡易かつ迅速、高精度に測定するための簡便なセンサと取扱容易であることを可能とした生体試料測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a measurement device, capable of accurately measuring conductivity of a sample liquid and concentration of at least a component contained in the sample liquid in a simple construction, and to provide a measurement method therefor.
簡易な構成であって、試料液の導電率及び該試料液に含まれる少なくとも１つの成分の濃度を精度良く測定することが可能な測定デバイス及び測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a new method and a device capable of observing with sufficient accuracy an internal defect or an internal structure of a sample without depending on the thickness or the material king of the sample.
試料の厚さや材料種類などに依存することなく、前記試料の内部欠陥や内部構造を十分な精度で観察することができる新規な方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - The defect inspection method employs an inspection device having a beam source 1 for irradiating a sample 10 with a charged particle beam 2 and a detector 18 for detecting a charged particle from the sample surface.
欠陥検査方法は、荷電粒子ビーム２を試料１０に照射するビーム源１と、試料表面からの荷電粒子を検出部する検出部１８とを備える検査装置を用いる。 - 特許庁 - With a ratio between the filterability of the sample water and the filterability of the clarified water at that time, the pollution degree for the separation membrane of the membrane separation device due to the water-soluble polymers contained in the sample water is evaluated.
この時の試料水の濾過性と清澄水の濾過性との比をもって、試料水に含まれる水溶性高分子による膜分離装置の分離膜に対する汚染度を評価する。 - 特許庁 - The device is provided with a sample and hold circuit 23 having a sample mode for outputting an output signal as it is from a PGA part 31 and a hold mode for outputting a charge of a prescribed voltage accumulated in a condenser.
ＰＧＡ部３１からの出力信号をそのまま出力するサンプルモードと、コンデンサに蓄積された所定電圧の電荷を出力するホールドモードを有するサンプルホールド回路２３を設ける。 - 特許庁 - To improve operability of an operator in relation to a control system and a control method of an electron beam device for monitoring an image of a sample by radiating an electron beam to the sample.
本発明は、電子ビームを試料に照射しその画像を観察する電子ビーム装置の制御システムおよび電子ビーム装置の制御方法に関し、操作者の操作性を向上することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a dynamic contact angle measuring device for measuring a dynamic contact angle excellently, even when a liquid sample is moved at high speed of about several meters/second or higher relative to a solid sample.
固体試料に対して液体試料が数ｍ／秒程度以上で高速移動する場合であっても、動的接触角を良好に測定することのできる動的接触角測定装置を提供する。 - 特許庁 - The imaging method includes acquiring a plurality of images corresponding to overlapping fields of view at a plurality of sample distances using an imaging device having an objective and a stage for holding a sample to be imaged.
本方法は、対物レンズと、撮像される試料を保持する台とを有する撮像装置を使用して複数の試料距離で重複する視野に対応する複数の画像を収集することを含む。 - 特許庁 - To provide a sample preparation device for a microscope capable of preventing a sample observation surface from being deformed or damaged, and preventing a load of an exhaust system for exhausting the vacuum chamber inside from being increased.
試料の観察表面が変形したり、ダメージを受けたりせず、真空チャンバ内を排気する排気装置の負荷が増大しない顕微鏡用試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The air adjusted in temperature by the temperature adjusting mechanism provided on the electrophoretic device is introduced into the cover from a sample introducing side to be allowed to flow along the capillaries in the direction of a detection part from a sample introducing part.
電気泳動装置に設けられた温度調整機構で温度調整された空気を試料導入側からカバー内に導入し、試料導入部から検出部の方向にキャピラリに沿って流す。 - 特許庁 - A device for removing the impure substances on a sample, after sample measurement or inspection by using charged particle beam, and before the following semiconductor manufacturing process, is provided.
上記目的を達成するために、荷電粒子線による試料測定、或いは検査の後であって、次の半導体製造工程前に、試料上の不純物除去処理を行う装置を提供する。 - 特許庁 - The control computing device 5 controls the laser sensor 3 and the pressure regulator 4 for automatically measuring viscosity of the sample solution and performs computing from the measured result for deciding the form factor of the sample solution.
制御演算装置５は、レーザセンサ装置３、圧力調整装置４を制御して、試料液の粘度を自動測定させ、この測定された結果から演算をして試料液の形状因子を決定する。 - 特許庁 - Also, the personal computer 4 collects measurement data obtained by picking up the image of a conforming sample by the image- processing device 3 and determines a criteria based on the measurement data of the conforming sample.
また、パソコン４は、良品のサンプルを画像処理装置３で撮像して得られた計測データを収集し、その良品サンプルの計測データに基づいて、良否の判定基準を決定している。 - 特許庁 - To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.
半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁
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