「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 42 43 44 45 46 47 48 49 50 .... 92 93 次へ＞- The recording signal and a signal, where a phase-locked clock signal is divided, are inputted to the device for performing the sample/hold from a device for generating the recording signal; and the PLL installed in the device performing the sample/hold generates a reference clock signal phase-locked to the clock signal and is multiplied.
記録信号を生成するデバイスからサンプルホールドを行うデバイスへ記録信号およびに位相同期したクロック信号の分周した信号を入力し、サンプルホールドを行うデバイスに実装されたＰＬＬによりこのクロック信号に位相同期し逓倍した基準クロック信号を生成する。 - 特許庁 - To provide a shearing device of an emission spectrochemical analysis sample capable of shearing the sample surely in a short time, wherein the device itself has a simple structure and can be manufactured inexpensively and operation and maintenance can be performed easily, and a shearing processing method using the device.
サンプルを確実にかつ短時間でせん断することができるとともに、装置自体もシンプルな構造であって安価に製作でき、操作及びメンテナンスも容易な発光分光分析試料のせん断装置及びこの装置を用いたせん断処理方法を提供すること。 - 特許庁 - The mass spectroscopy system has an electro-spray which ionizes components of the liquid sample by spraying the sample at approximately atmospheric pressure with giving charge to the sample which have reached to the end of a nozzle, and is equipped with a device for leading the liquid sample into the nozzle and a device for sending spray gas into the nozzle.
ノズル先端部に達した液体試料に電荷を付与しつつ、略大気圧下に該液体試料を噴霧することにより、該液体試料中の成分をイオン化するエレクトロスプレーを備える質量分析装置において、エレクトロスプレーに、上記ノズル内に液体試料を導入する手段と、液体試料が該ノズル内をその壁面の略全周に沿って流れるように、該ノズル内に噴霧ガスを送給する手段とを設ける。 - 特許庁 - The device for analyzing the material concentration in solution for quantitatively determining the concentration of the material to be analyzed in a sample solution has a sample solution cell 3 that holds sample solution and has at least one fluorescence permeation surface for permeating fluorescence discharged from the material to be analyzed.
試料溶液中の分析対象物質の濃度を定量する溶液中物質濃度分析装置は、試料溶液を保持し、分析対象物質から放出される蛍光を透過する少なくとも一つの蛍光透過面が形成された試料溶液セル３を有する。 - 特許庁 - To separate and detect secondary signal particles generated from a sample surface, dark field transmission signal particles scattered and transmitted in the sample, and bright view field transmission signal particles transmitted without being scattered in the sample in a charged particle beam device, and to observe images having optimum contrast according to purposes.
荷電粒子線装置において、試料表面から発生した二次信号粒子と、試料内で散乱して透過した暗視野透過信号粒子と、試料内を散乱しないで透過した明視野透過信号粒子を分離して検出し、目的に応じた最適なコントラストの像を観察する。 - 特許庁 - To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁 - A device for processing a sample with the use of ion beams is so structured that a Wien filter 2 is arranged between an ion source 1 and a sample 2, and the ion beams from the ion source 1 are made to pass through the Wien filter 2 so as to have the beams shaped in a shape suited for processing of the sample.
イオンビームを用いて試料を加工する装置において、イオン源１と試料４の間にウィーンフィルタ２を配置し、イオン源１からのイオンビームを前記ウィーンフィルタ２を通すことで、ビームの形状を試料の加工に適した形に整形するように構成する。 - 特許庁 - This mixing hazard evaluating device is provided with a constant temperature wall calorimeter 1 for detecting endotherm and exotherm when a sample B is mixed with a sample A under a temperature-regulated atmosphere, and a gas collecting tube 7 for collecting the gas generated by mixing the sannple A and the sample B.
温度調節された雰囲気中で試料Ａに試料Ｂを混合したときの吸発熱を検出する恒温壁熱量計１と、試料Ａと試料Ｂとの混合によって発生したガスを捕集するためのガス捕集管７とを備えた混合危険性評価装置である。 - 特許庁 - This method for measuring with X-rays includes supplying cold air to the sample S by means of a cooling gas supply device 17, irradiating the sample S with X-rays while cooling a CCD X-ray detector 26, and detecting, using the CCD X-ray detector 26, the X-rays exiting the sample S.
冷却ガス供給装置１７によって試料Ｓに冷気を供給すると共にＣＣＤＸ線検出器２６を冷却しながら、試料ＳにＸ線を照射し、試料Ｓから出るＸ線をＣＣＤＸ線検出器２６によって検出するＸ線測定方法である。 - 特許庁 - This device comprises an X-ray source 6 generating X-ray, a sample holding base 8 holding a sample S, an X-ray detector 7 detecting X-ray emitted from the X-ray source 6 and penetrated the sample S, and an imaging system support means mounting the X-ray source 6 and the X-ray detector 7.
Ｘ線を発生させるＸ線源６と、試料Ｓを保持する試料保持台８と、Ｘ線源６から放射され試料Ｓを透過してきたＸ線を検出するＸ線検出器７と、Ｘ線源６およびＸ線検出器７を搭載する撮像系支持手段とを備える。 - 特許庁 - An automatic grip chuck device 4 with a ruptured sample removal function of this invention comprises upper, lower automatic grip chuck parts 4A, 4B for gripping automatically and respectively both end sides of the test sample 12 performed tensile test and for performing the tensile test of the test sample 12.
本発明の破断サンプル除去機能付き自動把持チャック装置４は、引張り試験を行う試験サンプル１２の両端側をそれぞれ自動的に把持するとともに、該試験サンプル１２の引張り試験を行うための上部，下部自動把持チャック部４Ａ，４Ｂを備えている。 - 特許庁 - In this fluorescence detection device, a reagent R having a fluorescence labeled material is added to a liquid sample S, and the liquid sample S is irradiated with excitation light, and fluorescence emitted from the fluorescence labeled material is detected, to thereby measure a specific component included in the liquid sample S.
液状試料Ｓに蛍光標識物質を有する試薬Ｒを加えるとともにこの液状試料Ｓに励起光を照射して蛍光標識物質により発せられる蛍光を検出することで液状試料Ｓに含まれる特定成分の計測を行う蛍光検出装置である。 - 特許庁 - To realize uniform mass resolution regardless of the mass of a sample ion scattered from a sample irradiated with measuring beams, and to achieve high mass resolution by securing long flight distance regardless of a compact device and allowing the sample ion to fly for a long time.
測定用ビームば照射された試料から散乱した試料イオンの質量にかかわらず均一な質量分解能を実現し，且つ，コンパクトな装置でありながら長い飛行距離を確保して長時間試料イオンを飛行させることにより高い質量分解能を実現すること。 - 特許庁 - To obtain a liquid immersion microscope device which is used by filling space between a lens part in the objective lens barrel of a liquid immersion microscope and a sample with liquid, and which surely detects the existence of liquid supplied to a sample surface or liquid adhering to the sample surface.
本発明は、液浸顕微鏡の対物レンズ鏡筒のレンズ部と試料との間を液体で満たして使用される液浸顕微鏡装置に関し、試料面に供給された液体あるいは試料面に付着した液体の有無を確実に検出することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a sample clean-up device for mass spectrometer in which salts of low molecular weight can be removed from a biological sample of high molecular weight, e.g. protein, using a stream line flow in a substrate and a sample solution can be replaced by a solvent suitable for mass spectrometer.
基板内において流線形フローを用いて蛋白質などの高分子量の生体試料から低分子量の塩類を除去可能であり、試料の溶媒を質量分析機に好適な溶媒に交換可能な質量分析機のための試料クリーンアップ装置を提供する。 - 特許庁 - The sample design presenting device and sample design presenting method and program point at an undesirable place and show its commentary and sample when there is unsuitable representation on the accessibility of a web page and when there is an undesirable HTML in the viewpoint of the accessibility of the web page.
ウェブページのアクセシビリティ上、不適切な表現がある場合、ウェブページのアクセシビリティの観点で、好ましくないＨＴＭＬが存在する場合、その好ましくない箇所を指摘し、その解説と見本とを示す見本デザイン提示装置、見本デザインの提示方法及びプログラムである。 - 特許庁 - To provide a device or a method of detecting a substance to be analyzed from a liquid sample even if the liquid sample includes a substance of which chemical structure is similar to that of the substance to be analyzed and of precisely identifying concentration of the substance to be analyzed within the liquid sample.
液体試料中に分析対象物質と化学構造が類似する物質を含んでいても、液体試料から当該分析対象物質を検出でき、かつ、液体試料中の当該分析対象物質の濃度を高精度で特定できる装置又は方法の提供。 - 特許庁 - In this inspection device 100 for the microscope, a sample P is held by a sample stage 232a, a cooling atmosphere is formed around the sample stage 232a by air flow F225a, and normal temperature-drying air flow is formed around the cooling atmosphere by the air flow F21 and air flow F245.
顕微鏡用の検査装置１００においては、サンプルステージ２３２ａによりサンプルＰが保持され、気流Ｆ２２５ａによりサンプルステージ２３２ａの周囲に冷却雰囲気が形成され、気流Ｆ２１および気流Ｆ２４５により冷却雰囲気の周囲に常温乾燥気流が形成される。 - 特許庁 - The device includes at least: sample holder equipment (11) having a holding means (15) for holding at least two sample containers; measurement equipment; and movable equipment (14) where the sample holder equipment (11) is fixed, and the measurement equipment is arranged on the movable equipment (14) and can be displaced by the movable equipment.
少なくとも２つの試料容器を保持する保持手段（１５）を有する試料ホルダ装置（１１）と、測定装置と、可動装置（１４）とを少なくとも備え、試料ホルダ装置（１１）は固定され、測定装置は可動装置（１４）上に配置されて可動装置によって変位可能である。 - 特許庁 - In the display device (1) for illuminating a product sample (A) installed in the vending machine, a light-emitting body (2) is attached to the rear side of the product sample (A), and a connector (3) which supports the product sample (A) is detachably attached to the inside of the vending machine (10).
自動販売機に備えられる商品見本（Ａ）を照らし出す表示装置（１）であって、商品見本（Ａ）の正面よりも背後に発光体（２）が設けられるとともに、商品見本（Ａ）を支持するコネクタ（３）が自動販売機（１０）の内部に着脱可能に取り付けられる。 - 特許庁 - A device corrects variations of the measured values which depend on a position of the measuring head, by providing respective steps for determining a sample-free blank value, a measured value of a standard sample and a measured value of a measurement target sample and correction values thereof with respect to reference position and measuring position of a measuring head.
本発明は、測定ヘッドの基準位置と測定位置に対して、試料のない状態のブランク値と標準試料の測定値と測定対象試料の測定値およびそれらの補正値を求める各ステップを設けて、測定ヘッドの位置に依存する測定値のバラツキを補正するものである。 - 特許庁 - Not only charging discharging the sample 2 under the condition that the actual usage condition is simulated by the charging/discharging device 7, but also reproducing the actual usage condition regarding around the environment of the sample 2 while using constant temperature/constant humidity vessel 3 charging/discharging to the sample 2 are performed.
充放電装置７により実使用状態を模擬した条件で供試品２に対して充放電を行うのみならず、恒温恒湿槽３を用いて、供試品２の周囲環境について実使用状態の環境を再現させた状態で、供試品２に対する充放電を行う。 - 特許庁 - The solid shape evaluation apparatus evaluates the sample by creating data indicating the solid shape of the sample from a plurality of cross-sectional images acquired by an X-ray CT scanner device and comparing the data with data indicating the solid shape of the sample created by CAD etc.
立体形状評価装置はＸ線ＣＴスキャナ装置で取得した複数の断面画像から試料の立体形状を示すデータを作成し、このデータとＣＡＤ等で作成した試料の立体形状を示すデータとを比較することにより試料の評価を行う。 - 特許庁 - To provide a sample stage for a focused ion beam processing device, using an easy method for inexpensively making a plane-observed semiconductor thin sample, and to provide a method using the same for making the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample.
簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。 - 特許庁 - To provide a small-sized inexpensive plate for a bio-sample discrimination device which dispenses with complicated preparation work and can obtain an accurate result in a short time when a bio-sample is discriminated by detecting transport reaction obtained when the bio-sample is moved within the buffering agent charged in a flow channel.
流路中に充填された緩衝剤中で生体サンプルを移動させた際に得られる輸送反応を検出して該生体サンプルの判別を行う際に、煩雑な準備作業が不要で、正確且つ短時間に結果が得られる、小型で安価な生体サンプル判別装置用プレートを提供する。 - 特許庁 - This apparatus is provided with a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and provided with a probe separating a minute sample including the desired area of the sample by charged particle beam molding processing and picking up the separated minute sample.
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁 - Preferably, the conductive surface is the conductive layer formed on the surface of the sample using a converged ion beam or an electron beam by a converged ion beam device and the conductive layer is vapor-deposited on the region reaching the conductive sample fixing implement from the vicinity of measuring region on the surface of the sample.
好ましくは、導電性物質は、集束イオンビーム装置により集束イオンビームまたは電子ビームを用いて試料表面に形成された導電層であり、導電層は、試料表面において測定領域近傍から導電性試料固定具に至る領域に蒸着される。 - 特許庁 - To provide a minute sample processing/observing device and a minute sample processing/observing method, which execute cress section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁 - This puncture testing device is composed of a sample piece holding means 1 which can hold the sample tire piece S whose one side S1 is in a gaseous pressure applied state, and a puncture factor member driving means 3 for driving a puncture factor member 31 into the sample piece S held by the holding means 1.
タイヤのサンプル片Ｓの一方の面Ｓ１に気体による圧力を付与した状態でサンプル片Ｓを保持可能なサンプル片保持手段１と、サンプル片保持手段１に保持されたサンプル片Ｓにパンク要因部材３１を打ち込むパンク要因部材打ち込み手段３から構成されている。 - 特許庁 - The sample transport device has a tray 72 that can be placed on the cassette receiving part with an undefined sample 15 placed thereon, and an arm 37 that is movable with the tray 72 mounted, and transports the tray 72 between the cassette receiving part and the receiving part 18 of the sample support stand 12 by the movement of the arm 37.
規定外試料１５を載せた状態でカセットの受け部に載せることができるトレー７２と、トレー７２を載せた状態で移動できるアーム３７とを有しており、アーム３７の移動によりトレー７２をカセットの受け部と試料支持台１２の受け部１８との間で搬送する。 - 特許庁 - An SEM system appearance inspection method and a device thereof, in which, after loading a sample on a portable stage and carrying out measurement of a height of the sample, electron beams are scanned over the sample to find a defective part from an image thus obtained, include a height measurement with a correction processing function through stage movement.
試料を移動可能なステージ上にロード後、試料の高さ計測を行った後、試料に電子線ビームを走査させ、得られた画像から欠陥部を求めるＳＥＭ式外観検査方法及び装置において、高さ計測がステージ移動による補正処理機能を備えている。 - 特許庁 - A difference sample data register 120 of a gamma correction device 100 holds as difference sample data a difference between a corrected signal level and a yet-to-be-corrected signal level for each of multiple sample points set at equal intervals between the permissible minimum and maximum levels of an input video signal.
ガンマ補正装置１００の差分サンプルデータレジスタ１２０は、入力映像信号のとりうる最低レベルと最高レベル間に等間隔に設定された複数のサンプル点の差分サンプルデータとして、補正後の信号レベルと補正前の信号レベルとの差分を保持している。 - 特許庁 - To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁 - To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁 - A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10.
試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。 - 特許庁 - The method and device in the present invention comprises an automatic weighing means A for a sample, a sample agitating means B in an ageing container 8, and an evaluating means for the amount of decomposition of organic matter by automatically and continuously measuring the amount of generation of carbon dioxide in the ageing container 8 containing the sample.
サンプル重量の自動計量手段Ａと、熟成容器８内のサンプル攪拌手段Ｂと、サンプルを収容する熟成容器８内の二酸化炭素の発生量を自動連続的に測定することにより有機物の分解量を評価する手段とからなる。 - 特許庁 - To provide a preparation method of a sample for observation, an observation method of the sample, the sample for observation, an observation device or the like capable of observation by TEM or FIB, even when an observation object is a molding prior to sintering, a porous body or the like having a weak shape-retaining force.
観察対象が保形力の弱い、焼結前の成形体や多孔質体等であっても、ＴＥＭやＦＩＢによる観察が行える観察用試料の作成方法、試料の観察方法、観察用試料、観察装置等を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A metering pump 4 is mounted to a sludge sample supply pipe 6, and a sludge supply nozzle 16 in upper and lower directions and a compressor 17 that communicates with the upper end part of the sludge supply nozzle 16 are provided at the end part of the sludge sample supply pipe 6, thus composing the sludge sample-sampling device.
汚泥試料供給管６に定量ポンプ４を介装し、汚泥試料供給管６の端部に、上下方向の汚泥供給ノズル１６と、この汚泥供給ノズル１６の上端部に連通するコンプレッサ１７を設けて汚泥試料採取装置を構成する。 - 特許庁 - To provide a sample correcting apparatus and a sample correction method by which the edge roughness of a corrected pattern can be decreased and the sample can be corrected by electron beam assist etching or electron beam assist deposition, and to provide a device manufacturing method using the above method.
修正されたパターンのエッジラフネスを少なくすることが可能であると共に、電子線アシストエッチング又は電子線アシストデポジションを行うことにより試料の修正を行う試料修正装置及び試料修正方法並びに該方法を用いたデバイス製造方法を得る。 - 特許庁 - A TSC (thermal stimulated current) measuring device is provided with a first electrode 12 (a first support rod) and a second electrode 14 (a second support rod) for measuring the electric characteristic of the sample on a sample assembly 16 and a third electrode 28 for applying parameter potential to the sample.
ＴＳＣ（熱刺激電流）測定装置は、試料組立体１６上の試料の電気特性を測定するための第１電極１２（第１の支持棒）及び第２電極１４（第２の支持棒）と、試料にパラメータ電位を印加するための第３電極２８とを備えている。 - 特許庁 - To heighten a signal-to-noise ratio (SNR), in an NMR device equipped with a probe coil 5 arranged near a sample, and a resonance circuit 6 for adjusting a resonance frequency, in order to detect a nuclear magnetic resonance signal emitted from the sample in a sample tube 4 by utilizing electromagnetic induction.
試料管４内の試料が発する核磁気共鳴信号を、電磁気誘導を利用して検出するため、試料近傍に配置するプローブコイル５と、共振周波数を調整する共振回路６を備えたＮＭＲ装置において、信号対雑音比（ＳＮＲ）を高めること。 - 特許庁 - To provide a micro-fluidic device for the use in an apparatus for analyzing a liquid sample by nucleic acid amplification, to provide an apparatus for analyzing a liquid sample by nucleic acid amplification, to provide a method for analyzing a liquid sample, and to provide a method for amplifying nucleic acids in a liquid.
核酸増幅によって液体サンプルを分析するための装置に使用されるマイクロ流体デバイス、核酸増幅によって液体サンプルを分析するための装置、液体サンプルを分析するための方法、及び液体中の核酸を増幅するための方法の提供。 - 特許庁 - The experiment sample device for space comprises the tabular sample holders 3A and 3B comprised by attaching a plurality of samples 1 to surfaces, and a holding structure 4 having storage parts 9 and 11 which can be stored in states fixing and holding the sample holders 3A and 3B and pushed in and drawn out in a fore and aft direction from a front face F side.
多数のサンプル１を表面に取り付けてなる板状のサンプルホルダー３Ａ，３Ｂと、サンプルホルダー３Ａ，３Ｂを固定保持した状態で収納でき、且つ前面Ｆ側から前後方向へ抜き差しできるようにした収納部９，１１を有する保持構造体４とからなる。 - 特許庁 - To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁 - For set conditions of an electron lens, a deflector and a restriction disposed above the sample, data obtained by calibrating electron beam density on the sample of the electron beam radiated on the sample, the diameter of the electron beam and a shift amount from the center position of the electron beam are stored in a storage device 27 in advance.
試料より上方に配置されている電子レンズと偏向器と絞りの設定状態に対して、試料に照射される電子線の試料上の電子線密度と電子線径と電子線の中心位置からのシフト量をキャリブレーションしたデータを記憶装置27に記憶しておく。 - 特許庁 - In the dummy sunlight irradiation device for irradiating a sample 6 with light, a plurality of filters 4 for improving uniformity in light on the surface of the sample 6 are arranged on a surface nearly vertical to a light axis between a light emission section 2 and the sample 6.
試料６に光を照射する擬似太陽光照射装置において、２光出射部と６試料との間に、試料６面における光の均一性を向上させるための複数のフィルタ４を光軸と略垂直な面に配置させたことを特徴とする擬似太陽光照射装置である。 - 特許庁 - This device comprises a sample inlet part 4 for discharging a sample as minute droplet, and an interface part 5 for introducing the droplet to be discharged to a detection part 2, and is adapted so that the droplet to be discharged can be gasified in the sample inlet part 4 and introduced to the detection part 2, whereby the sensitivity is enhanced.
試料を微小の液滴として吐出させる試料導入部４と、吐出される液滴を検出部２へ導入するためのインターフェース部５とを設け、吐出される液滴を試料導入部４にてガス化し、検出部２へ導入できるようにして高感度化を図る。 - 特許庁 - The device and a sample are incubated in the condition wherein the receptor and the additional material can be liberated from the device in accordance with existence of the target material in the sample, and the degree of the structural color change based on liberation of the receptor is optically examined.
そして、試料中の標的物質の存在に応じて前記デバイスから受容体及び付加物質が遊離し得る条件で該デバイスと試料をインキュベートし、受容体の遊離に基づく構造色の変化の度合いを光学的に調べる。 - 特許庁 - To provide a device for measuring the density of a micro-sample having high radioactivity highly accurately and easily by remote operation, concerning a once-through type micro-sample density measuring device for evaluating swelling (volume expansion) of nuclear fuel material.
核燃料物質のスエリング（体積膨張）を評価するためのワンススルー型微小試料密度測定装置に関するものであり、高い放射能を有する微小な試料の密度を、遠隔操作にて高精度かつ容易に測定するための装置である。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam in a charged particle beam device having a sample such as a photo-mask as a measurement object, in which a high precision adjustment of the device conditions can be carried out even if charged electrons are deposited on a backside of the sample.
本発明は、ホトマスクのような試料を測定対象とする荷電粒子線装置において、試料裏面に帯電が付着していたとしても、高精度に装置条件の調整を行い得る荷電粒子線の提供を目的とするものである。 - 特許庁
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