「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 45 46 47 48 49 50 51 52 53 .... 92 93 次へ＞- To smoothly vary the waveform of torque even when alternating torque is loaded on a sample and to improve the durability of a gear, in a torque load testing device for applying load torque to the sample.
供試体に負荷トルクを加えることができるトルク負荷試験装置において、供試体に交番トルクを負荷しても、トルクの波形を滑らかに変化させることができるとともに、歯車の耐久性を向上させることができる。 - 特許庁 - To provide a time error compensation device for compensating the time error between a transmitter sample clock inside a multi-carrier transmitter and a receiver sample clock inside a multi-carrier receiver.
マルチキャリア送信機内の送信機サンプルクロックとマルチキャリア受信機（ＲＸ１、ＲＸ２）内の受信機サンプルクロック（ＣＬＫ）との間の時間誤差（ε、Δｋ）を補償する時間誤差補償装置（ＴＣＯＭＰ）を提供すること。 - 特許庁 - This sample inspection device 100 is provided with at least one substrate 1 having a sample mounting face F1 provided with two or more of recesses 3 for storing independently two or more of liquid drops containing a measuring object to be analyzed.
試料検査装置１００は、分析すべき測定対象物を含む２以上の液滴を独立に収容するための２以上の凹部３が設けられた試料載置面Ｆ１を有する基板１を少なくとも備える。 - 特許庁 - The device for performing the sample/hold incorporates a photo detector and a clock multiplying means (PLL); an A/D conversion means; and a monitoring means for an A/D-converted sample/hold signal (a register, or the like, connected to the bus of an external microprocessor).
サンプルホールドを行うデバイスに光検出器とクロックの逓倍化手段（ＰＬＬ）、Ａ／Ｄ変換手段、Ａ／Ｄ変換されたサンプルホールド信号のモニタ手段（外部マイクロプロセッサのバスに接続されたレジスタ等）を内蔵する。 - 特許庁 - This device/method includes the first chamber 2 connected in series to the second chamber 10, the first chamber 2 can transfer a solid test sample to the second chamber 10, and the second chamber 10 can hold the solid test sample.
第２のチャンバ１０と直列に接続された第１のチャンバ２を含み、第１のチャンバ２は固体試験サンプルを第２のチャンバ１０へと移送可能で、第２のチャンバ１０は固体試験サンプルを保持可能である。 - 特許庁 - By this constitution, the shape of the contaminated region, dropping mark or the like on the surface of the sample 3 can be clearly observed by the visual confirmation device 11 while the sample 3 is set to the X-ray analyzer 1.
このように構成することにより、Ｘ線分析装置１に試料３をセットしたままで、試料表面の汚染部位や点滴痕等の形状を暗視野のもとで視認装置１１により明瞭に観察できる。 - 特許庁 - To provide a test device and a test method wherein false detection based on this can be suppressed even in the case of the outer periphery or the like of a sample such as a wafer having a charge change caused by a structural change in the sample.
試料内の構造変化に起因する帯電変化を有するウエハ等の試料の外周等であっても、これに基づく誤検出を抑えることができる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.
試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁 - A microscope stage (14) includes a platform (16), a sample holder (18) mounted on the platform (16) and a positioning device (20) for moving the sample holder (18) in a displacement surface parallel to the platform (16).
プラットフォーム（１６）と、プラットフォーム（１６）に載置される試料ホルダ（１８）と、プラットフォーム（１６）に平行な変位面内で試料ホルダ（１８）を移動させるための位置決め装置（２０）を備える顕微鏡ステージ（１４）が記載される。 - 特許庁 - To provide a geological sample collecting device which can prevent the deterioration of a collected sample, can collect samples with little disturbance, and can improve excavation efficiency in a waste layer in a final disposal place and an illegal dumping site.
最終処分場や不法投棄現場の廃棄物層に対し、採取試料の変質防止、乱れの少ない試料の採取、および掘削効率の向上を可能にする地質試料採取装置を提供する。 - 特許庁 - A secondary electronic signal obtained from the sample 9 is detected by a detector 14a and/or a 14b, and an image of the sample is displayed on a first display surface area of an image display device 15 on the basis of the detection.
試料９から得られる二次電子信号は検出器１４ａ及び／又は１４ｂにより検出され、これにもとづいて像表示装置１５の第１表示面領域には試料像が表示される。 - 特許庁 - A liquid sample is sprayed from a needle of an electro-spray device, and an ionizing agent droplet is added before the sample is introduced to a mass spectrograph, thereby improving the sensitivity of mass analysis.
本願発明は、エレクトロスプレー装置のニードルから液体試料が噴霧され、該試料が質量分析器に導入される前に、イオン化剤液滴を添加することにより、質量分析の感度を向上させるものである。 - 特許庁 - To provide a method for correctly determining a bonding mode between a DNA and a DNA-bonded molecule in a short time by a small amount of sample by using a simple device; and to provide a method for manufacturing a sample used for the determination.
ＤＮＡとＤＮＡ結合分子の結合様式を簡便な装置を用いて、短時間で、少ない試料量で正確に判定する方法、及び、その判定に使用する試料を作製する方法を提供する。 - 特許庁 - To reliably analyze a failure of a sample W or evaluate the material thereof by measuring the surface potential in a different state such as a non-operation state and an operation state of the sample W such as a multilayer ceramic device.
積層セラミックデバイス等の試料Ｗの非動作状態及び動作状態等の異なる状態での表面電位を測定することにより、試料Ｗの故障解析又は材料評価を確実に行う。 - 特許庁 - To provide an electrical measuring device capable of measuring the original properties of a sample by sufficiently excluding the influence of noise, with respect to the sample which is sensitive to noise and of which the original properties are impaired by noise.
雑音に敏感で、かつ雑音によって本来の特性が損なわれる試料に対して、雑音の影響を十分に排除して試料本来の特性を測定し得る電気測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample adjusting device and a method for removing impurities and undesired substance from a sample, ahead of mass spectrometry by matrix auxiliary laser desorption/ionization (MALDI), electro-spray ionization(ESI) or the like.
マトリクス補助レーザー脱着／イオン化（ＭＡＬＤＩ）やエレクトロスプレーイオン化（ＥＳＩ）等による質量分析に先行して、試料から不純物及び不要物を取り除くための試料調製装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - In this measuring device, a test sample electrode 30 is provided with a flat hydrogen damage resistant metal test sample electrode 30 in which a hydrogen is not trapped and is permeated and a second electrode 40 disposed in adjacent to the electrode 30.
水素原子がトラップされずに通過することができる平板状水素損傷耐性金属試験標本電極３０、及びこの電極に近接して配置される第２の電極４０を具備した装置とする。 - 特許庁 - The sample production device achieves sample production suitable for observation by a scanning electron microscope, by forming a micro irregularity every structure by focused ion beam assistant etching using assist gas for increasing the spatter yield difference for every material.
材料毎のスパッタイールド差を大きくするアシストガスを利用した集束イオンビームアシストエッチングにより、構造毎の微小凹凸を形成することで、走査電子顕微鏡観察に適した試料作製を実現する。 - 特許庁 - To provide a pretreatment method for a cadmium measurement sample capable of reducing cost, time and work required for preparation, and easily and rapidly providing a high purity sample, a method for separating cadmium and a column device for separating cadmium.
作製に要するコスト、時間及び労力を低減でき、簡易で迅速であり、且つ、高精製度の、カドミウム測定用試料の前処理方法、カドミウムの分離方法、及び、カドミウム分離カラム装置を実現する。 - 特許庁 - The device for processing the sample by irradiating ion beams from an ion source (an ion gun) on the rear side of the sample is provided with a monitoring means (for instance, a camera and an ion current detector) for monitoring a processing state.
本発明は、イオン源（イオン銃）から試料の裏面にイオンビームを照射して試料を加工するものであり、加工の状態を監視するための監視手段（例えば、カメラ、イオン電流検出器）を備える。 - 特許庁 - To provide an ion milling device capable of easily manufacturing a sample without performing parallel processing in the case where the mask surface side and loading surface of the sample are non-parallel, and to provide an ion milling method.
本発明の目的は、試料のマスク面側と搭載面とが非平行の場合に、平行に加工する必要が無く試料作製を容易に行うことができるイオンミリング装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁 - To surely reduce a carrying-over in the present invention, as to a sample injection device, a sample injection method and a liquid chromatography unit capable of controlling a flow of a mobile phase using a change-over valve.
本発明は切換弁を用いて移動相の流れを制御する試料注入装置及び試料注入方法及び液体クロマトグラフィ装置に関し、キャリーオーバーをより確実に低減することを課題とする。 - 特許庁 - The method and device for laser microscopic cutting of a region of interest (23) of a sample (4) are formed with a cutting line (25), not closed, to enclose a sample region (23) of interest by a laser beam (7) in a first step.
試料（４）の関心領域（２３）のレーザ顕微切断のための方法と装置において、第一ステップで、関心がある試料領域（２３）を取り囲む閉でない切断線（２５）がレーザ光線（７）によって生成される。 - 特許庁 - A focal position is regulated to arrange the surface of a sample in an upper limit position of the depth of a focus or in a position slightly lower than the upper limit position when observing the sample in this scanning charged corpuscular beam device.
本発明の走査荷電粒子線装置によると、試料の観察時に、試料の表面が焦点深度の上限の位置に又は上限の位置より僅か下方に配置されるように、焦点位置を調整する。 - 特許庁 - To provide a dummy sunlight irradiation device for improving uniformity in light on a sample surface by arranging a plurality of filters on a surface nearly vertical to a light axis between a light emission section and a sample.
光出射部と試料との間に、複数のフィルタを光軸と略垂直な面に配置さすることにより、試料面における光の均一性を向上させた擬似太陽光照射装置を提供すること。 - 特許庁 - The sample container 15 is connected removably to a flow passage 13a between an inlet valve 11 and an outlet valve 12 via a fluid collecting valve 14, and an inside of the sample container 15 is ventilated by an evacuation device 16.
入口弁１１と出口弁１２との間の流路１３ａに流体採取弁１４を介して試料容器１５が着脱可能に接続され、試料容器１５内を真空排気装置１６により排気可能である。 - 特許庁 - This device comprises a sample smear part for smearing a biological sample on a slide glass by use of the drawing glass, a washing part for washing the used drawing glass; and an ultrasonic wave generation part for applying ultrasonic waves to the washing part.
引きガラスを使用してスライドガラス上に生体試料を塗抹する試料塗抹部と、使用された引きガラスを洗浄する洗浄部と、洗浄部に超音波を印加する超音波発生部とを備える。 - 特許庁 - To provide a device for extracting a nucleic acid, enabling the nucleic acid-extracting treatment in a sample liquid to be efficiently, readily and rapidly carried out independently of the size of a cartridge, having excellent automation suitability, and capable of carrying out the nucleic acid-extracting treatment in the sample liquid in high repeatability.
カートリッジの大きさに無関係に、効率よく、簡便かつ迅速で、自動化適性に優れ、再現性の高い試料液中の核酸抽出処理が行える核酸抽出装置を提供する。 - 特許庁 - A sample holding device is equipped with a holding member 17 with a holding plane 16, that holds a reticule as a sample and a mechanism 23 which tilts the holding plane 16 corresponding to the deformation of the specimen held by the holding plane 16.
試料保持装置は、試料としてのレチクル１を保持する保持面１６を有する保持部材１７と、保持面１６に保持された試料の変形に応じて保持面１６を傾斜させる機構２３とを備えている。 - 特許庁 - CALCULATION METHOD AND CALCULATION DEVICE FOR CORRECTION PARAMETER, IMAGE CORRECTION DEVICE AND IMAGE CORRECTION METHOD UTILIZING THE CORRECTION PARAMETER, AND STANDARD TEST SAMPLE USED FOR THEM
補正パラメータの算出方法及び算出装置、該補正パラメータを利用した画像補正装置及び画像補正方法、並びに、これらに使用される標準試料 - 特許庁 - To provide both a sample component analyzing system with an analyzing device of a simple structure which is easily mounted to a sensor chip analyzing device and a sensor chip housing member.
センサチップの分析装置への装着が容易でかつ簡単な構造の分析装置を有する試料成分分析システム及びセンサチップ収容部材を提供する。 - 特許庁 - To provide a device equipped with a sample-and-hold function which is compact and stores a driving signal in a switching device having an actuator for driving a switching part on a semiconductor substrate.
半導体基板上にスイッチング部を駆動するアクチュエータが構成されたスイッチングデバイスにおいて、コンパクトで、駆動信号を記憶するサンプルホールドを備えたデバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a device capable of dispensing a prescribed amount from a sample or a reagent, capable of carrying out various treatments, and capable of conducting an examination by an examination device.
サンプル及び試薬から正確に所定量を分注して、各種の処理を行い、検査装置によって検査を行うことができる装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an analysis device and an analysis method capable of starting an analysis of a sample in short time and reducing power consumption of the analysis device.
検体の分析を開始するまでに要する時間が短く、しかも分析装置の消費電力を低減することができる分析装置及び分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic milk sampling device which can sample milks for separated udders, respectively, can together be used with a milk claw and an automatic separation device, and is high in practicality.
分房別の乳汁サンプリングが可能であり、かつミルククローや自動離脱装置と併用することのできる、実用性の高い乳汁自動サンプリングの装置を提供。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus which is made compact by simple constitution, and to provide a light source device for a microscope apparatus, and an observation sample-mounting implement with a light source device.
簡便な構成で小型化を実現可能な顕微鏡装置、及び顕微鏡装置用の光源装置、及び光源装置付き観察試料載置具を提供する。 - 特許庁 - To provide a focus detecting device which securely detects a focus position based upon reflected light on a surface of a transparent sample and an autofocus device using the same.
透明な試料の表面による反射光に基づいて確実に焦点位置を検出する焦点検出装置およびこれを用いたオートフォーカス装置を提供する。 - 特許庁 - An FA HOST 101 combines these EQ data at the manufacturing time of a semiconductor device and the actually measured data from a finished product of the semiconductor device into a sample package.
ＦＡ ＨＯＳＴ１０１は半導体装置製造時におけるこれらのＥＱデータと該半導体装置完成品における実測データをサンプルのパッケージとする。 - 特許庁 - To provide an electrophoretic assembly or a disposable device for separating a complex protein sample using two-dimensional gel electrophoresis, and an automatic operation step for device processing.
２次元ゲル電気泳動を用いた複合タンパク質サンプルの分離のための電気泳動用組立品または使い捨てデバイスと該デバイス処理の自動操作ステップの提供。 - 特許庁 - To provide a constitution method as a composite charged particle beam device capable of preparing a TEM (Transmission Electron Microscope) sample efficiently by using a gas ion beam device, an FIB (Focused Ion Beam) and a SEM (Scanning Electron Microscope).
気体イオンビーム装置とＦＩＢとＳＥＭを用いて、効率よくTEM試料作製ができる複合荷電粒子ビーム装置としての構成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an observation device eliminating a deflection aberration of a lens system for providing a clear image as to an observation device photographing a sample via a lens system.
レンズ系を介して試料を撮像する観察装置に関し、レンズ系の歪曲収差を除去し、鮮明な画像を取得することができる観察装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a metallic plate material holding device capable of easily fixing a metallic material for an analyzing sample cut-off device and having improved workability and safety.
分析用試料切り出し装置用の金属材料を簡単に固定でき、作業性、安全性を向上できるようにした金属板材の保持装置を得ること。 - 特許庁 - To provide an image quality evaluation device that can attain objective discrimination for the effect of disturbance intruded to a sample device because inspectors discriminate it on a television screen but provide widely varied results.
供試機器に入った妨害の影響を、人がテレビ画面を見て判定をするがバラツキが多く、客観的な判定を可能とする装置の開発を目的とする。 - 特許庁 - To provide a microscope device which arbitrarily changes a pattern of light irradiating a sample and its irradiation position, with high light utilization efficiency, under various device conditions.
さまざまな装置条件下で、標本に照射する光のパターンやその照射位置を、高い光の利用効率で任意に変更する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample stage control method and an electron beam device in an electron beam device capable of adjusting an analysis position to a focus point of an electrospectrometer.
分析位置を電子分光器のフォーカス点に合わせることができる電子線装置における試料ステージ制御方法および電子線装置を提供すること。 - 特許庁 - SIGNAL DETECTION DEVICE, PROBE MICROSCOPE BY SIGNAL DETECTION DEVICE, AND SIGNAL DETECTION METHOD, OBSERVATION METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE BY USING SIGNAL DETECTION METHOD
信号検出装置、信号検出装置によるプローブ顕微鏡、及び信号検出方法、信号検出方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁 - To provide a using method for a Curie point type pyrolysis device, which enables reutilization of a pyrofoil used in the pyrolysis device and works effectively even for a solution sample.
本発明は、キューリ−ポイント型熱分解装置に使用するパイロホイルの再利用を可能とし、溶液試料に対しても有効な方法の提供を課題とする。 - 特許庁 - To provide an image quality evaluation device that can attain objective judgment on the influence of disturbance intruded to a sample device so as to eliminate variance in judgment results obtained from inspectors who inspect on a television screen.
供試機器に入った妨害の影響を、人がテレビ画面を見て判定をするがバラツキが多く、客観的な判定を可能とする装置の開発を目的とする。 - 特許庁 - Color space information on a look-up table related with an output device is extracted on the basis of a color space information as to a target device used by a sample image 1006.
サンプル画像１００６が使用しているターゲットデバイスの色空間の情報に基づいて、出力デバイスの関連するルックアップテーブル上の色空間の情報を抽出する。 - 特許庁 - To provide a dispensing device or a dispensing method for a liquid sample capable of dispensing with a head suction device, enhancing economy by using the liquid sample efficiently, and quickening preparatory work to enhance productivity.
ヘッド吸引装置を不要とし、かつ液体試料の効率的な利用を可能とすることによって経済性を向上させ、あわせて準備作業の迅速化によって生産性を向上させることのできる、液体試料の分注装置または分注方法を提供する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
