「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 41 42 43 44 45 46 47 48 49 .... 92 93 次へ＞- To provide a sensor chip of SPR angle detection device for accurately detecting a resonance angle by preventing air from being mixed even in the case of a small amount of sample and supplying the sample to a glass substrate.
少量の試料であっても空気の混入を防止してガラス基板上に供給し、その共鳴角を正確に検出することができるＳＰＲ検出装置のセンサーチップの提供。 - 特許庁 - To provide a micro-part X-ray measuring device capable of stably measuring a component of a micro-part even if the element of a substrate (base) with a sample to be mounted thereon and an element contained in the sample are identical.
試料が搭載される基板（基材）の元素と、試料に含まれる元素が同一でも、安定して、微小部分の成分計測が可能な微小部Ｘ線計測装置を提供する。 - 特許庁 - In the specimen input recovery device 2, a sample rack L for storing a specimen in which a specimen bar code reading error occurs and another sample rack L are classified and recovered into each different specimen recovery unit.
検体投入回収装置２において、検体バーコード読取エラーが発生した検体を収容するサンプルラックＬと他のサンプルラックＬとは別々の検体回収ユニットに分別回収される。 - 特許庁 - To provide method and device for producing a sample in a bead-like shape, in particular, a glass bead-shaped sample which can be used for fluorescent X-rays.
試料をビードの形状において作成するための方法及び装置、特には蛍光Ｘ線に対して使用され得るガラスビードの形状における試料を作成するための方法及び装置を与える。 - 特許庁 - Then, when the sample is cracked, and a load is rapidly reduced, a control device controls a drive mechanism, and a lowering speed of the pressing tool is controlled so that the load to be applied to the sample is within a constant range.
そして、試料にクラックが発生し荷重が急減すると、制御装置により駆動機構を制御して、押圧冶具の下降速度を、試料に加わる荷重が一定の範囲内に収まるように制御する。 - 特許庁 - To provide an electron beam device capable of obtaining an image of a high resolution at a low accelerating voltage by the impression of a high voltage on a sample, preventing the destruction of the sample due to dielectric breakdown .
試料に高電圧を印加して低加速電圧で分解能の良い像を得られる電子線装置において、静電破壊による試料の破壊を防ぐ電子線装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam device capable of fetching precise images by solving negative effects which might occur when a sample stage is inclined or a surface of a sample is swollen.
試料ステージが傾いている場合や試料表面にうねりを有するような場合に起こり得る弊害を解消し、正確な画像を取得することができる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁 - A normalizing coefficient calculation device 45 discriminates a main information sample giving an effect onto the calculated evaluation value and calculates a normalizing coefficient NC on the basis of the discriminated main information sample number.
正規化係数算出器４５は、算出された評価値に対して影響を与える主情報サンプルを判定し、その判定した主情報サンプル数に基づいて正規化係数ＮＣを算出する。 - 特許庁 - To provide a feed device capable of refeeding a rack (specimen sample) to a specimen treatment apparatus without using the operation of a worker when the specimen sample is retreated in the same specimen treatment apparatus.
同一の検体処理装置で検体試料の再処理を行う際に、作業者を介することなく、検体処理装置にラック（検体試料）を再搬送することが可能な搬送装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a charged particle beam apparatus capable of observing and evaluating a surface of a sample in a state free from charge-up over the whole sample, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device using the apparatus.
試料全体にわたりチャージアップのない状態で試料表面の観察及び評価を可能にした荷電粒子線装置及び該装置を使用した半導体デバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The device for measuring the recovery speed of a sample of foamed material under compression includes a compressing surface engageable with the sample, and a displacement transducer disposed to mechanically communicate with the compressing surface.
圧縮下の発泡材サンプルの回復速度を測定する装置は、発泡材サンプルと係合可能な圧縮表面と、圧縮表面と機械的に連絡するよう配置された変位トランスデューサとを有する。 - 特許庁 - To provide a laser microscope device for imaging a sample using terahertz vibrations of molecules in the sample, capable of performing high speed imaging while focusing on the specific molecular vibration.
標本中の分子のテラヘルツ振動を利用して標本のイメージングを行うレーザ顕微鏡装置において、特定の分子振動に注目し、かつ高速にイメージングできるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - This device is provided with a sample holder rotating mechanism, which blows nitrogen gas, which is one of the process gases for film deposition, against a blade 8 via a gas blowing tube 2 for reversing a sample holder 6.
成膜用プロセスガスの内の一つである窒素ガスを反転用ガス吹き付け管2経由で反転用ガス吹き付け羽根８に吹き付け、サンプルホルダー６を反転させるサンプルホルダー回転機構を備える。 - 特許庁 - To improve the efficiency of a centrifugal process in a device for centrifuging under a highly centrifugal acceleration a liquid sample injected to a sample injection hole of a microplate.
本発明の課題はマイクロプレートの試料注入穴部に注入された液体試料を、高遠心加速度下で遠心分離するための装置において遠心分離工程の効率を向上することにある。 - 特許庁 - To make a conveyance device movable a specific point on the sample surface shown by coordinate values before bending deformation to a prescribed target position, even if a retained sample is bent by its own weight.
保持した試料が自重で撓んでいる場合であっても、撓み変形前の座標値で表された試料表面上の特定点を所定の目標位置に移動させることができるようにする。 - 特許庁 - The sample 1 is cut to a block shape in a chamber of a focused ion beam (FIB) device, the sample block (bulk) 4 is taken out of vacuum and is brought into contact with a glass probe 5 set at the tip of a manipulator to be supported.
集束イオンビーム装置のチャンバ内で試料１をブロック状に切り出し、その試料ブロック（バルク）４を真空外に取り出して、マニピュレータの先端にセットしたガラスプローブ５に接触させて支持する。 - 特許庁 - The inside of the sample chamber 1 is vacuated by means of a vacuum exhausting device 10, while pulse laser beams 5 from a laser beam source 4 are converged by means of a converging lens 7 and made to irradiate the sample 3.
試料室１内は真空排気装置１０により真空排気され、また試料３にはレーザ光源４からのパルスレーザ光５が収束レンズ７により集光されて照射される。 - 特許庁 - To provide a sample introducing device for introducing a sample capable of carrying out elementary analysis with high sensitivity, by an element analyzer such as an ICP mass spectrometer and an ICP emission spectrophotometer.
ＩＣＰ質量分析装置又はＩＣＰ発光分光分析装置等の元素分析装置にて高感度に元素分析を行うことができる試料の導入を行う試料導入装置を提供する。 - 特許庁 - To realize a technique for preparing rapidly a cross section sample preventing the generation of burrs to the utmost at precise cutting of a soft metal material and capable of rapidly introducing a cross section sample into an FIB device.
軟質金属材料を精密切断するに際し、できるだけバリ発生を防止するとともに、速やかにＦＩＢ装置等に導入できる、迅速な断面試料作製技術を提供する。 - 特許庁 - A detection device integrates on a thin layer, an aggregator (13) for collecting the sample and a detector (15) for detecting components of the sample collected by the aggregator.
本発明の検出装置は、試料を捕集する凝集器（１３）と、該凝集器によって捕集した試料の成分を検出する検出器（１５）とを薄層に集積したことに特徴がある。 - 特許庁 - This manufacturing device performs one cycle or more of cycles including (I) a stage of etching the silicon oxide film by gas by using the gas including HF_2, (II) a stage of heating the sample, and (III) a stage of cooling the sample.
（I）ＨＦ_２^−を含むガスを用いてシリコン酸化膜をガスエッチングする段階と、（II）試料を加温する段階と、（III）試料を冷却する段階とを含むサイクルを１サイクル以上実行する。 - 特許庁 - To easily secure the asepsis of a path for sampling and a sample collecting container in a sampling device for monitoring an aseptic state, in which the sample collecting container is replaced outside of an aseptic area.
無菌エリアの外側でサンプル捕集容器を取り替えるようにした無菌状態監視用サンプリング装置について、サンプリング用経路やサンプル捕集容器の無菌性を簡単に確保できるようにする。 - 特許庁 - To provide a sample object constitution member capable of constituting the sample object with which the reflection on an undesirable surface of detection light of an autofocusing device is suppressed.
観察に悪影響を与えることなく、ＡＦ装置の検出光の不所望な面での反射が抑えられた標本体を構成することを可能にする標本体構成部材を提供する。 - 特許庁 - To provide a pressure vessel decomposing a sample safely, easily and inexpensively with an acid at a high temperature (maximum up to 300°C) under high pressure for a long period, and also to provide a sample decomposition device including the pressure vessel.
安全・簡便・安価に、鉱酸で試料を長時間高温高圧分解処理（最高〜３００℃）することが可能な耐圧容器、及び前記耐圧容器を含む試料分解装置を提供する。 - 特許庁 - A sample battery of type B, which classification ratio is decreased on a client side, is inserted to the battery classification device 10, and sample data are acquired and sent to a personal computer 12 of a manufacturer side by electric mail, or the like.
客先側にて、分別率が低下した種類Ｂのサンプル電池を電池分別装置１０に投入し、サンプルデータを取得して製造業者側へソコン１２へ電子郵便等で送信する。 - 特許庁 - To provide an image forming method for obtaining a sample image with stable clearness of a contour even with a sample likely to generate drift, as well as a charged particle beam device using the above method.
ドリフトが生じやすい試料であっても、輪郭の明瞭さが安定した試料像を得ることができる画像形成方法及びその方法を用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁 - The condensing device has a light opening for condensing light, radiated by the sample by arranging the sample adjacent to the side outside the side of a segment subjected to tapering.
集光デバイスは、標本を先細りのテーパが施されたセグメントの側面の外側に、側面に隣接して配置することによって標本が放出する光を集光する光開口を有している。 - 特許庁 - To provide a device for eliminating reflected light and an exposure apparatus, in which the reflected light, after the light transmits a sample or an exposure object during exposure is eliminated so that the sample will not be irradiated by the reflected light.
露光時に試料や露光対象物を透過した後の反射光を除去し反射光が試料に照射されないようにした反射光除去装置及び露光装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a tritium sampler capable of avoiding the deposition of a tar like material to a sample water collecting device and suppressing an error when obtaining the density of water vapor of a sample gas.
試料水捕集装置へのタール状物質の付着を回避することができると共に、サンプルガスの水蒸気密度を求める際の誤差を抑制することができるトリチウムサンプラを提供する。 - 特許庁 - To prevent contamination on the surface of a sample subject to laser treatment or the change of bonding state of atoms on the surface due to the contact of the surface of the sample with an outside air before laser treatment, in a laser annealing device.
レーザーアニール装置において、レーザー処理の前にレーザー処理されるべき試料の表面が外気に触れることによる表面の汚染や、表面の原子の結合状態の変化を防止する。 - 特許庁 - To provide a concentration measuring device capable of measuring the concentration of a measuring sample, even for a mixture that contains a component having an infrared absorption spectrum that interferes with a specified wavelength of the measurement sample.
被測定試料の特定波長と干渉する赤外吸収スペクトルを有する成分を含む混合物であっても、被測定試料の濃度を測定することができる濃度測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a receiving device which can lift and move other objects, especially a sample tube bucket without need for especially fitting a gripper by using the gripper adapted to directly grip a sample tube.
試料管を直接つかむことに適したグリッパにより、他の物体、特に試料管バケツを、このグリッパに特に適合させる必要なく、取り上げかつ移動させることができる、受け装置を提供すること。 - 特許庁 - In this electron beam device 200, an electron beam emitted from an electron gun 34 is two-dimensionally scanned on a sample 37, and an secondary electron beam emitted from the sample 37 is detected by a detector 42.
電子線装置２００は、電子銃３４から放出された電子線を試料３７上で二次元的に走査させ、試料３７から放出された二次電子線を検出器４２で検出する。 - 特許庁 - In the documentation management location information extraction device 1, a retrieval condition extraction section 21 extracts a retrieval condition from sample information 10 set in a sample information database 20 beforehand.
文書管理場所情報抽出装置１において、検索条件抽出部２１は、標本情報データベース２０に予め設定された標本情報１０から検索条件を抽出する。 - 特許庁 - To provide a nondestructive sample probing method and device by an X-ray interferometer, capable of easily and non-destructively probing matter contained in a sample by the X-ray interferometer.
試料内の含有物をＸ線干渉計により、容易に、かつ非破壊的に探査することができる、試料のＸ線干渉計による非破壊的探査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - In this focused ion beam device, an ion beam is deflected by a deflector 5 provided closer to the ionization source side than an electrostatic type objective lens and the sample, and the beam is made incident on the sample obliquely.
集束イオンビーム装置において、静電型対物レンズ及び試料よりもイオン源側に設けられた偏向器５によりイオンビームを偏向させ、イオンビームを試料に傾斜させて入射させる。 - 特許庁 - This device for measuring the concentration of trace amounts of matter is provided with a wavelength converter 2 for converting laser oscillated light Lb into exciting light Eb with a predetermined wavelength, and a sample cell 3 for housing a sample.
微量物質の濃度測定装置には、レーザー発振光Ｌｂを所定の波長を持つ励起光Ｅｂに変換する波長変換器２と、試料を収容する試料セル３とが設けられている。 - 特許庁 - This X-ray analyzer 16 is a device for irradiating a sample S with an X-ray radiated from an X-ray source 17, and detecting the X-ray diffracted by the sample S by a two-dimensional CCD sensor 22.
Ｘ線源１７から放射されたＸ線を試料Ｓに照射すると共に試料Ｓで回折したＸ線を２次元ＣＣＤセンサ２２によって検出するＸ線分析装置１６である。 - 特許庁 - This inspection device is provided with a cell 21 for holding a sample collected from an inside of the oral cavity and suspended in a liquid, a measuring part 26 for measuring the number of microorganisms in the sample, and a control part 28 for controlling the measuring part 26.
口腔内から採取され液体に懸濁された試料を保持するセル２１と、試料中の微生物数を測定する測定部２６と、測定部２６を制御する制御部２８を備える。 - 特許庁 - To provide a means enabling dimensional proofreading at a focus position outside a movable range of a sample stage in a light axis direction, in a charged particle beam device equipped with a sample stage of a side entry system.
サイドエントリー方式の試料ステージを有する荷電粒子線装置において、試料ステージの光軸方向の可動範囲以外のフォーカス位置にて、寸法校正ができる手段を提供する。 - 特許庁 - To provide a conveying device which can convey a sample (pallet) accurately on a stage by a minimum conveying device, and which can suppress a device cost without lowering a throughput.
最低限の搬送装置で、試料（パレット）を精度良くステージ上に搬送することが可能となり、スループットを低下させること無く、且つ装置コストを抑えることが可能な装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microdegassing device capable of eliminating air bubbles contained in a sample in a microreaction device and a microanalysis device more efficiently than ever and simply.
微小反応デバイスや微小分析デバイスにおいて試料中に含まれる気泡をこれまで以上に効率良く、かつ、簡単に取り除くことがことが可能であるマイクロ脱気デバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a display device for automatically displaying a language desired by an operator without the operator performing operation that switches languages and a sample analyzing device provided with the display device.
オペレータが言語切り替えのための操作をすることなく、そのオペレータが所望する言語を自動で表示する表示装置およびそれを備えた試料分析装置を提供する。 - 特許庁 - Afterward the position of the sample container Bs on the conveying path is recognized, and only when the sample container Bs is inspected by the inspection device having the same ID number as the ID number inputted by a user, the inspection results are outputted from the inspection device to an information control device 10.
その後、搬送経路上におけるサンプル容器Ｂｓの位置を把握し、そのサンプル容器Ｂｓがユーザが入力したＩＤ番号と同じＩＤ番号が付された検査装置に検査された場合にのみその検査装置から情報管理装置１０に検査結果が出力される。 - 特許庁 - The base plate is struck by a rammer 30 to apply vibration so that a part of the concrete sample on the base plate flows past a cage like wall part 18 of the barrier device and outside the barrier device, and a slump flow of the concrete sample on the base plate is spread until it is a predetermined diameter larger than a diameter of the barrier device.
台板を突き棒３０で叩いて振動を与え、台板上のコンクリート試料の一部がバリア装置の檻状壁部１８を通過してバリア装置の外部へ流動するようにして、台板上のコンクリート試料のスランプフローをバリア装置の径より大きい所定の径まで拡げる。 - 特許庁 - Otherwise, a device for guiding an electron beam generated from an electron beam source onto a sample surface may be disposed, and the sample surface may be irradiated with one or both of electromagnetic waves and electron beams by driving one or both of an electromagnetic wave irradiating device and an electron beam irradiating device.
また、電子線源から生成された電子線を試料の表面上に導く装置を設け、電磁波照射装置及び電子線照射装置の一方又は両方を駆動して、電磁波又は電子線の一方又は両方を試料の表面に照射するようにしてもよい。 - 特許庁 - To improve a sample collecting device for floating slag in the form of molten matter, especially molten metals with integral-type or multi-piece type main body which is placed on a holding device and comprises an inflow opening and sample chamber and to provide a device, with high collection efficiency.
溶融物用、特に溶融金属状に浮遊するスラグ用の試料採取装置であって、保持器上に配備され流入口および試料チャンバを有する一体型または多部片型本体を有する試料採取装置を改善し、採取効率のよい装置を提供する。 - 特許庁 - A magnification observation device has the plurality of variable power devices (Z revolver 6 and two-dimensional scanning mechanism 3) which change the observation magnification for a sample 8, and the comprehensive observation magnification as the whole device when observing the sample 8 is determined by the product of magnification of each variable power device.
拡大観察装置が試料８の観察倍率を変化させる変倍装置を複数（Ｚレボルバ６及び２次元走査機構３）有しており、試料８を観察する際における装置全体としての総合観察倍率は、該変倍装置各々の倍率の積により決定される。 - 特許庁 - The sampling device is also provided with a control device 55 generating a control signal Ψcs, the control device is provided with bootstrap reference voltage source for providing reference voltage in response to the sample signal and a control circuit generating control circuit voltage responding to the sample signal.
サンプリングデバイスはまた、制御信号Ψｃｓを発生する制御デバイス５５を備え、制御デバイスは、サンプル信号に応答して基準電圧を提供するためのブーストラップ基準電圧源、及びサンプル信号に応答して制御回路電圧を発生する制御回路を備えている。 - 特許庁 - In the immunoanalysis device with at least a sample addition region and a detection region, a macromolecular polymer with a sulfone acid group is added into a reagent related to a color development reaction in a detection region for improving the detection sensitivity of the immunoanalysis device in the immunoanalysis device with at least a sample addition region and the detection region.
少なくとも試料添加領域と検出領域を有する免疫分析装置において、検出領域における発色反応に関与する試薬中にスルホン酸基を有する高分子重合体を添加することにより該免疫分析装置の検出感度が上昇する。 - 特許庁
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