「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 44 45 46 47 48 49 50 51 52 .... 92 93 次へ＞- To provide an inexpensive microscope device of simple constitution which enables observation free of an image blur synchronized with vibration of a sample.
試料の振動に同期した像ぶれのない観察を簡単な構成で、安価に実現できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - The induction part 420 has a first flow channel 422 that swirls the gaseous sample in an area facing the optical device 4.
前記誘導部４２０は、前記光デバイス４に臨む領域で、前記気体試料を旋回させる第１の流路４２２を有する。 - 特許庁 - To provide a technology capable of generating automatically a parameter used for a substrate inspection device, even in the case of no sample of a defective product.
不良品のサンプルが無い場合でも、基板検査装置に用いられるパラメータを自動生成可能な技術を提供する。 - 特許庁 - A storage device 46 stores the plurality of conversion tables 48A and the respective conversion tables are stored with sample images 50 respectively.
記憶装置４６には複数の変換テーブル４８Ａが格納され、各変換テーブルごとにサンプルイメージ５０が格納されている。 - 特許庁 - SCANNING WIDTH CALIBRATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, MICROSCOPIC DEVICE USING CHARGED PARTICLE BEAM, AND SAMPLE FOR CHARGED PARTICLE BEAM CALIBRATION
荷電粒子ビームの走査幅校正方法及び荷電粒子ビームを用いた顕微装置並びに荷電粒子ビーム校正用試料 - 特許庁 - To provide a waveform measurement device that collects data at a lower cost with high resolution at a high sample rate.
高分解能、高サンプルレートでより低コストでデータ収集を可能にする波形測定器を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A low-temperature device (28) is positioned within the field-of-view of the spectrometer (18) at an opposite side of the sample (12) from the spectrometer (18).
低温デバイス（２８）をこの分光計（１８）から離してサンプル（１２）の反対側の分光計（１８）の視野内に配置する。 - 特許庁 - This multiple capillary device is suitable for being mounted on a pipette, a micropipette, a syringe or other analysis or sample preparation equipment.
このマルチキャピラリー装置は、ピペット、マイクロピペット、シリンジ、または他の分析もしくは試料調製機器への取り付けに適している。 - 特許庁 - BIOPSY DEVICE WITH REPLACEABLE PROBE INCORPORATING STATIC VACUUM SOURCE DUAL VALVE SAMPLE STACKING RETRIEVAL AND SALINE SOLUTION CLEANING
静的真空源二重バルブ標本堆積検索と食塩水洗浄を組み込んだ、交換可能なプローブを備える生検装置 - 特許庁 - In this electron beam device, an electron beam emitted from an electron gun EG is converged by the object lens 9 to irradiate the sample 10.
電子線装置は、電子銃ＥＧから放出された電子線を対物レンズ９で収束して試料１０を照射する。 - 特許庁 - An output of an illuminance sensor 20 is sampled and held by a sample-and-hold device 24 at timing when the backlight 28 is turned off.
照度センサ２０の出力は、バックライト２８が消灯しているタイミングで、サンプルホールド装置２４によりサンプルホールドされる。 - 特許庁 - To provide a compact ion beam analyzing chamber by positioning a sample with a positioning device having a comparatively low height.
試料の位置決めを比較的高さの低い位置決め装置で行うことで、コンパクトなイオンビーム分析用チャンバを提供する。 - 特許庁 - The fluid sampling device includes a port insert, a plurality of flexible conduits, and a plurality of sample containers.
本発明は、ポート挿入部と、複数の可撓性導管と、複数の試料用容器とを有する流体サンプリング装置を提供する。 - 特許庁 - This sample holding device has a plurality of electrodes and is provided with a moving mechanism for vertically moving a part of the plurality of the electrodes.
試料保持装置が複数の電極を有し、当該複数の電極の一部を上下動させる移動機構を備える。 - 特許庁 - One embodiment of this gas detection system is provided with a gas chromatograph oven, a gas detector, a sample gas moving device, and a flow detector.
ガス検出システムの一例はガスクロマトグラフオーブンと、ガス検出器と、試料ガス移動デバイスと、フロー検出器とを備えている。 - 特許庁 - To provide an etching treatment device capable of treating a sample having different etching areas under optimum etching conditions.
エッチング面積の異なる試料に対して、最適なエッチング条件で処理を施すことのできるエッチング処理装置を提供する。 - 特許庁 - Therefore, control is easy for searching the observation position of the sample and the operability of the observation device is improved.
従って、試料の観察位置を探索するための調整が簡単になり、観察装置の操作性を向上させることができる。 - 特許庁 - To provide a sample measuring method and device suitable for evaluation of inclination of a pattern edge.
本発明の目的はパターンエッジの傾斜を評価するのに好適な試料測定方法、及び試料測定装置の提供にある。 - 特許庁 - To prove a wave sensor device with a gas removal unit and a method for detecting a target substance in a liquid sample.
ガス除去ユニットを備える波動センサー装置及び液体試料中の標的物質を検出する方法を提供する。 - 特許庁 - To perform the measurement and evaluation of a sample surface at high throughput and prevent upsizing, complexity, and a cost increase of a device.
試料表面の測定及び評価を高スループットで行い、かつ装置の大型化、複雑化、及び高価格化を防止する - 特許庁 - To provide a simple and small sample measuring device that is suitable for carriage, and is also easy in calculation processings of concentrations.
簡素かつ小型で運搬に適するとともに、計測後の濃度算出処理も簡易な試料測定装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a reaction device for nucleic acid analysis which has less channel content, higher sample fixing ratio and causes no liquid spill.
流路内容量が少なく、サンプル固定率が高く、且つ液漏れが生じない核酸分析用反応デバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a device for laser plasma X-ray spectroscopic analysis capable of identifying and measuring a quantity of a minute element in a sample.
試料中の微量な元素を迅速に同定・定量することのできるレーザプラズマＸ線分光分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an excellent sample solution dropping/cleaning device that can easily collect sample solution at a predetermined spot, easily collect a residual sample component in the spot, accurately measure the weight or the like of the residual sample component, certainly recover the residual sample component and a cleaning agent, accurately perform a plurality of times of measurement, and solve problems about work and environmental protection.
試料溶液を所定のスポットに容易に集めることができるうえ、そのスポットに残留試料成分を容易に集めてかかる残留試料成分の重量などを精度良く計測することができ、しかも、残留試料成分及び洗浄剤を確実に回収して複数回の測定を高精度に行え且つ作業上や環境保護上の問題解決にも資するといった、優れた試料溶液滴下洗浄装置を提供する。 - 特許庁 - This high temperature-high pressure testing device is provided with an opening-closing valve for introducing compressed air from a compressed air supply device to a sample by heating the compressed air by the high temperature gas from a high temperature gas generator, introducing the high temperature gas from the high temperature gas generator to the sample and introducing one to the sample by selectively switching the compressed air and the high temperature gas.
圧縮空気供給装置からの圧縮空気を高温ガス発生装置からの高温ガスにより加熱して供試品に導入するとともに、前記高温ガス発生装置からの高温ガスを前記供試品に導入し、かつ、前記圧縮空気と前記高温ガスを選択的に切換えて前記供試品に導入する開閉弁を設けた。 - 特許庁 - The gas sensor device 100 comprises a first radiation source 102 for emitting radiation 116, a second radiation source 102 for emitting radiation 116, a gas measuring chamber 104 to be filled with a gas sample 110 containing a sample to be measured, and a detector device 108 that detects the radiation and generates an output signal depending on the existence and concentration of the sample.
ガスセンサ装置１００は、放射１１６を放出する第１放射源１０２、放射１１６を放出する第２放射源１０２、計測される試料を含むガス試料１１０で充填されるガス計測室１０４、及び放射を検出すると共に試料の存在、濃度に依存して出力信号を発生する検出器デバイス１０８を具備する。 - 特許庁 - In the gas chromatographic device, a pressure detector 16 for detecting the pressure of the sample gas when collecting the sample gas, and a correction operation part 15 for comparing a detected pressure by the pressure detector 16 with a reference pressure set beforehand at the adjusting time of the device body, and correcting each gas component concentration in the sample gas, are provided.
このようなガスクロマト装置において、サンプルガスを採取するときのサンプルガスの圧力を検出する圧力検出器１６と、圧力検出器１６での検出圧力と、装置本体調整時に予め設定した基準圧力との比較を行って、サンプルガス中の各ガス成分濃度を補正する補正演算部１５とを設ける。 - 特許庁 - This sample fixing table is equipped for this charged particle beam device; markings are formed on the sample fixing table; and, when an image of the sample fixing table imaged by an external imaging device is displaced from a normal position, a change of a shape (visibility in the image) according to the displacement is generated in the image of the markings.
本発明による試料固定台は、荷電粒子線装置に備え付けられる試料固定台であって、試料固定台上にマーキングが設けられ、外部イメージング装置によって撮像された試料固定台の画像が正常位置から位置ずれしている場合に、マーキングの画像に位置ずれに応じた形状（画像における見え方に）変化が生じる。 - 特許庁 - A diluting function by distilled water, etc., is added so that concentration measurement can be performed on the concentration of ammonia in a sample solution in a calibration curve lying within a linear approximation range by a sample solution diluting device 31.
試料溶液中のアンモニア濃度を試料溶液希釈装置３１により、直線近似可能範囲となる検量線上で濃度測定が行えるように蒸留水などにより希釈機能を付加させる。 - 特許庁 - The electron beam drawing device includes an electron gun which emits an electron beam, a holder which holds a sample to be drawn where a pattern is drawn with the electron beam, and a control section which corrects a drawing position according to the height of the sample.
電子線描画装置は、電子線を放出する電子銃と、電子線によりパターンが描画される被描画試料を保持するホルダーと、試料の高さに応じて描画位置を補正する制御部とを有する。 - 特許庁 - To provide a commodity selection button device for a vending machine provided with a commodity sample display function, which has a simple structure excellent in water proofing property and mechanical strength while facilitating attachment and detachment of a sheet-like film sample.
シート状のフィルム見本の着脱が容易で、しかも防水性および機械的強度に優れた簡単な構造の商品見本展示機能を備えた自動販売機の商品選択釦装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a failure point sample quantity measuring device for an alternating current feeding circuit capable of fetching sample quantity information for precisely calculating a failure point distance by surely selecting failure caused near a section boundary and a failure section without influencing binding/separation of a vertical line tie switch.
上下線タイ開閉器の結合−分離に影響されることなく区間境界の近傍で発生する故障や、故障発生区間を確実に選択し、故障発生点距離を正確に求める。 - 特許庁 - To provide a biological material interaction detecting/recovering method capable of selecting a sample solution containing a target material, and capable of recovering efficiently the target material in the sample solution, and a device therefor.
標的物質を含む試料溶液の選択とその試料溶液中の標的物質の回収を効率良く行うことができる生体物質相互作用検出・回収方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an image pickup device of a microscope, which can ensure a frame rate without losing the framing or focus operability even when a sample is dark and avoid disturbance in sample observation due to deteriorated S/N.
標本が暗い場合でもフレーミングや合焦の操作性を損なうことのないフレームレートを確保できるとともに、Ｓ／Ｎ劣化による標本観察の妨げを回避できる顕微鏡用撮像装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a reception device and a synchronous processing method capable of reducing errors of an oversampling sample and a reception radio signal while suppressing the amount of operations when a synchronous processing is performed using the oversampling sample.
オーバーサンプリングサンプルを用いて同期処理を実行する場合において、演算量を抑制しつつオーバーサンプリングサンプルと受信無線信号との誤差を低減できる受信装置及び同期処理方法を提供する。 - 特許庁 - In automatic focusing, the infrared illumination light generated by an automatic focusing device 2 is reflected by the dichroic mirror 17 to light up a sample 5 and reflected infrared light from the sample is reflected by the dichroic mirror 17 and detected.
オートフォーカス時には、オートフォーカス装置２で発生した赤外照明光をダイクロイックミラー１７で反射して試料５を照明し、試料からの反射赤外光をダイクロイックミラー１７で反射させて検出する。 - 特許庁 - To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field.
本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - The service linkage engine performs execution/linkage of operation of the selected service components, calculates a similarity between the linkage service sample and the linkage service, and presents it to the user terminal device 8 together with a result of executing the linkage service sample.
そして、選択したサービスコンポーネントのオペレーションの実行・連携を行うとともに、連携サービス見本と連携サービスとの類似度を算出し、連携サービス見本の実行結果とともにユーザ端末装置８に提示する。 - 特許庁 - A pattern identification device not only analyzes structure characteristics of a pattern sample to be identified but also performs linear embedding analysis of the pattern sample to be identified in a kernel space, by a semi-supervised learning mechanism.
パターン識別装置は、半教師あり学習メカニズムによって、識別対象パターンサンプルの構造特性を解析すると共に、核空間内で識別対象パターンサンプルに対し線形埋め込み解析を行う。 - 特許庁 - In a method and a device for measuring one or a plurality of electrical properties of semiconductor wafer or a sample, the reaction of the semiconductor wafer or the sample to applied CV type stimulation by electricity is measured.
半導体ウエハ又はサンプルの単数又は複数の電気特性を測定するための方法と装置において、付与されたＣＶタイプの電気刺激に対する前記半導体ウエハ又はサンプルの反応が測定される。 - 特許庁 - One exemplary method for controlling depressurization of the vial (220) containing the gas sample includes establishing fluid communication between a sample loop (240) of a head space sampling device (200) and a head space (222) of the vial (220).
ガスサンプルを収納するバイアル（２２０）の減圧を制御する例示的な一方法は、ヘッドスペースサンプリング装置（２００）のサンプルループ（２４０）とバイアル（２２０）のヘッドスペース（２２２）の間の流体連通を確立することを含む。 - 特許庁 - The retardation measuring device irradiates the measurement object sample with the white light via the polarizing plate, makes the same polarizing plate transmit the light returned from this measurement object sample again, and disperses this transmitted light to measure the retardation.
偏光板を介して白色光を被測定試料に照射し、この被測定試料から戻ってきた光を再度同じ偏光板で透過させ、この透過光を分光してリタデーションを測定するようにした。 - 特許庁 - A standard sample for charged particle beam includes different two samples for calibration concerning magnification ratios or dimensions and a charged particle beam device uses the standard sample for charged particle beam.
本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁 - The 3D sample form can be constructed from the TEM images, which can not be regarded as projection data, and the 3D form of a crystalline sample, with which diffraction contrast can be easily mixed, such as semiconductor device can be constructed as well.
投影データとは見なせないTEM像からの３次元試料形状構築が可能となり、半導体デバイス等、回折コントラストが混入し易い結晶性試料の３次元形状構築も可能となる。 - 特許庁 - The sample pattern downloaded via the Internet is turned into a state its reuse is made unavailable, so that the sample pattern stored once in this device can be prevented from being used without authorization after its original purpose of use is achieved.
インターネットを経由してダウンロードしたサンプルパターンを再利用不可能な状態にするので、装置に一度蓄積したサンプルパターンが本来の使用目的を終えた後に無断で使用される事態を防止できる。 - 特許庁 - To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.
サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain the optical waveguide type displacement detecting device which can accurately measure a displacement quantity without being affected by the tilt of a sample even if the sample tilts to incident light, and also has high detection sensitivity.
試料が入射光に対して傾斜している場合にも、試料の傾きの影響を受けることなく変位量を正確に測定でき、しかも、検出感度の高い光導波路型変位検出装置を提供する。 - 特許庁 - In a device 7 for taking out the sample cassettes automatically of this invention, a plurality of the sample cassettes 11 containing samples for the material testing and respectively provided with two sets of notches 11B on the both sides, are contained in the magazine 8.
本発明の自動サンプルカセット取出し装置７では、材料試験用サンプルを収容した、両側側面にそれぞれ２組の切り欠き１１Ｂを設けた複数のサンプルカセット１１をマガジン８に収容する。 - 特許庁 - Hereby, the user can measure the contamination state of the sample at low cost without a time delay only by transmitting the measurement data acquired by measuring the sample by the detection device to the environmental information server through the network.
これにより、ユーザは、検出装置で測定した試料についての測定データをネットワークで環境情報サーバに送信するだけで、試料の汚染状態を時間遅れなく低コストで計測することができる。 - 特許庁 - To provide a method and device for evaluating an iron concentration of a silicon semiconductor wherein the ion concentration in a semiconductor sample is easily measured at high precision, while preventing introduction of additional contamination into the semiconductor sample.
半導体試料への新たな汚染の導入を防止しつつ，半導体試料中の鉄濃度を容易且つ高精度で測定することが可能なシリコン半導体の鉄濃度評価方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
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