「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 37 38 39 40 41 42 43 44 45 .... 92 93 次へ＞- UNIAXIAL BIDIRECTIONAL TENSILE TESTER AND SAMPLE CENTRAL PART MEASURING DEVICE USING IT
一軸両方向引張試験機及びこの一軸両方向引張試験機を用いる試料中心部分測定装置 - 特許庁 - This sample decomposition device is provided with a heating means for heating an inside of the vessel 11, in addition to the pressure vessel 10.
試料分解装置は、耐圧容器１０に加えて、容器１１内を加熱するための加熱手段を具える。 - 特許庁 - To provide a sample adjusting device and a method for removing filtrate droplets from the under side of a membrane.
メンブレンの下側から濾過液液滴を除去するための試料調整装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - The sample receiving device 60 is arranged inside the measurement room 30 when being set at a position for measurement.
試料受け取り装置（６０）は、測定を行う位置に設定されているときに測定室（３０）内に配置される。 - 特許庁 - To provide a sample observing device and its correcting method easily reducing distortion of an observed image.
観察像の歪みを簡単に低減することができる試料観察装置とその補正方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a light source device for a microscope capable of irradiating a sample with high-intensity illuminating light.
標本に強度の大きな照明光を照射することの可能な顕微鏡用光源装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for mass spectrometric analysis for the cross section of cut sample, immediately and with high sensitivity.
試料を切断した断面を、直ちに、かつ、高感度に、質量分析する装置および方法の提供。 - 特許庁 - In one embodiment, the device is a flushing immunologic assay type for a blood sample under test.
１つの実施形態において、そのデバイスは、試験する血液サンプルのために流水式免疫アッセイ様式である。 - 特許庁 - To provide a new device and a method suitable for diluting a high matrix solution sample before changing it to plasma.
高マトリクス溶液試料をプラズマ化する前に希釈するのに適した新規の装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - In accordance with embodiments, a device is calibrated by data from a reference sample of which the concentration or density is known.
実施形態によっては、装置は濃度や密度が既知である参照サンプルからのデータによって較正される。 - 特許庁 - To provide an optical device that can compare a photographed image with a sample image on the spot.
撮影画像を、その場でサンプル画像と対比することが可能な光学機器を提供することを目的とする。 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND METHOD AND DEVICE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS USING THE SAME
蛍光Ｘ線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法および装置 - 特許庁 - The problem is solved by using a standard sample prepared in the TOF-SIMS device.
ＴＯＦ−ＳＩＭＳ装置内にて作製した標準試料を用いることにより、上記の問題を解決した。 - 特許庁 - This sample manipulating device for analyzer includes a movable holding arm 4 for a holder 17 of samplers 7, 16.
分析機器用サンプル操作装置は、サンプラ（７、１６）のホルダ（１７）のための可動式保持アーム（４）を備えている。 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME
電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁 - To provide a sample preparation device which prevents a driving mechanism for a cassette conveying member from getting complicated.
カセット搬送部材の駆動機構が複雑になるのを防止することが可能な標本作製装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MANAGING PURCHASE OF MERCHANDISE SAMPLE AT ELECTRONIC AUCTION, COMPUTER READABLE MEDIUM, AND SIGNAL
電子式競売で商品見本の購入を管理するための方法、装置、コンピュータが読めるメディア、および信号 - 特許庁 - LIQUID/GAS ENVIRONMENT PROVIDING DEVICE WHICH CAN BE COMBINED WITH SAMPLE CHAMBER OF ELECTRON MICROSCOPE AND CAN BE APPLIED FOR OBSERVATION
電子顕微鏡の試料室と結合しかつ観察に適用可能である液体・気体環境提供装置 - 特許庁 - The electron beam device irradiates an electron beam emitted from an electron gun on a sample through a primary optical system.
電子線装置は、電子銃から放出される電子線を一次光学系を介し試料に照射する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTION OF PEAK POWER SPECTRUM OF SHORT-TIME SIGNAL WITH SAMPLE NUMBER DECREASED THROUGH FOURIER TRANSFORM
フーリエ変換でのサンプル数を削減した、短時間信号のピークパワースペクトルを検出する方法及び装置 - 特許庁 - NONCONTACT MEASURING METHOD OF SURFACE TEMPERATURE OF SAMPLE TO BE NATURALLY OR ARTIFICIALLY EXPOSED AND DEVICE THEREFOR
自然にもしくは人工的に暴露させる試料表面温度の非接触測定方法及びそのための装置 - 特許庁 - To provide a microarray preparing device capable of printing dots on a sample plate at a high density and at high-accuracy pitches.
試料プレート上のドットを高密度に、かつ高精度ピッチで印刷できるマイクロアレイ作製装置を提供する。 - 特許庁 - The sample for X-ray diffraction measurement is analyzed by an X-ray diffraction device, to thereby measure the asbestos content.
このＸ線回折測定用試料をＸ線回折装置で分析しアスベスト含有量を測定する。 - 特許庁 - To provide a reduced evaporated mercury measuring device with automatic pretreatment mechanism capable of automatically performing pretreatment of a sample.
自動的に試料の前処理が可能な自動前処理機構付き還元気化水銀測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a versatile bending test device for a wire harness allowing bending tests for plural sample in one procedure.
一度に複数のサンプルの屈曲試験が可能で汎用性のあるワイヤーハーネスの屈曲試験装置を提供する。 - 特許庁 - The device can receive a set of sample rate signals denoting the sampling rate to each digital input signal.
装置はまた、各デジタル入力信号に対するサンプリングレートを示すサンプルレート信号のセットを受信し得る。 - 特許庁 - SYSTEM, MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR STORING, INSPECTING OR OPERATING SAMPLE LIQUID IN PLATFORM OF MICRO FLUID
マイクロ流体のプラットフォームに試料液を収容、検査又は操作するための装置、測定装置及び方法 - 特許庁 - To provide a sampling method for excellently sampling a sample even by an existent sampling device.
既存の試料採取装置であっても試料を良好に採取するための試料採取方法を提供する。 - 特許庁 - To detect efficiently scattered light or fluorescence by a small-sized device while coping with the reduction of the quantity of a sample solution.
試料溶液の微少量化に対応し小型の装置で，散乱光や蛍光を効率よく検出する。 - 特許庁 - To provide an exposure device which can change the diameter of light spot at a sample which is irradiated with laser beams.
レーザ光が照射される試料での光スポット径を変化させることが可能な露光装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface analysis device, capable of displaying the shape and loading state of a sample holder on a stage map.
試料ホルダの形状や搭載状態を、ステージマップ上に表示できる表面分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample manipulating device for analyzer, hardly costing for a device and enabling flexible automatic manipulation for different samples.
装置に関する費用がほとんどなく、異なるサンプルのかなり柔軟な自動操作を可能にする、分析機器用サンプル操作装置を提供すること。 - 特許庁 - A tension adjustment means of the heater is disposed at a sample holder for an electron beam device or the device as risk reduction measures for the elongation of the heater.
ヒーターの伸びの低減策として、電子線装置用試料ホルダーもしくは電子線装置に、ヒーターの張力調整手段を設けた。 - 特許庁 - This X-ray measuring device 1 has a sample stage 3 and a measuring device body 4 installed independently on a measuring table 2.
本Ｘ線測定装置１は、測定テーブル２上にそれぞれ独立して設置される試料ステージ３と測定装置本体４とを有する。 - 特許庁 - This optical device is provided with a vibration exciting means 5 for forcedly vibrating at least either solid immersion lens 1 or sample stage 2 provided in the optical device.
光学装置に設けたソリッドイマージョンレンズ１または試料台２の少なくとも一方を強制振動させる加振手段５を設ける。 - 特許庁 - To provide a charged particle application device that prevents a drift from being generated owing to a temperature difference between the charged particle application device and a sample holder.
荷電粒子応用装置と試料ホルダの温度が異なることによるドリフトの発生を防止できる荷電粒子応用装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample conveying device which can convey samples held under a high vacuum to a surface analyzing device, etc., without exposing them to air.
高真空に保持したまま複数の試料を空気に晒すことなく、表面分析装置等に搬送可能な試料搬送装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a holder device capable of easily adjusting a position of a sample in a height direction, and a processing observation method using the holder device.
試料の高さ方向の位置を容易に調節することが可能なホルダ装置、及びこのホルダ装置を用いた加工観察方法を提供する - 特許庁 - The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.
探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁 - This apparatus is equipped with a focused ion beam optical system and electron optical system in the same evacuation device and a manipulator, to separate a trace sample, including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and to pick up the separated trace sample, and a manipulator control device for driving the manipulator, independently of a wafer sample board.
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するマニピュレータと、該マニピュレータをウェーハ試料台と独立に駆動するマニピュレータ制御装置を備えた。 - 特許庁 - In a technique for arranging samples on the diagnostic analyzer, flexible device is installed between sample carrier and conveyer, to carry forward the sample carrier beyond fixed alignment device, and then the direction of the conveyer is reversed; and when a sample carrier is set and it can contact each of its alignment devices, it is so constituted that the flexure element of a sample carrier that contacts respective alignment devices is deformed.
サンプルを診断用分析器に配置する技術において、サンプルキャリアとコンベヤーとの間にたわみデバイスを設け、固定位置合わせ要素を越えてサンプルキャリアを前進させ、その後コンベヤーの方向を反転させて、全てのサンプルキャリアがそれぞれの位置合わせ要素と接触できるようにしたとき、それぞれの位置合わせ要素と接触したサンプルキャリアのたわみ要素が変形するようにする。 - 特許庁 - For observing the sample image, the sample is made to move synchronized to the scanning direction of the imaging device camera 13, thereby accumulating on each corresponding imaging device of the imaging device camera 13 the light intensity produced by secondary electrons, back scattering electrons and reflected electrons 8 from a point of the sample.
試料の像を観察する場合には、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３の走査方向に合わせて、試料を移動させ、それにより、同じ点からの２次電子、後方散乱電子及び反射電子８によって発生する光の強度が、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３の各撮像素子に蓄積されながら移動していくようにする。 - 特許庁 - This detection device has a beam generation device 3 for scanning a sample 1 by a generated beam 2, a detector 5 for detecting an emission signal 2 emitted from the sample 1 corresponding to irradiation of the beam 2, and a control device 6 for acquiring mapping information of the sample 1 from detection signals of the detector 5 at plural measuring points synchronously with scanning by the beam 2.
発生したビーム２で試料１を走査するビーム発生装置３と、ビーム２の照射に応じて試料１から放出される放出信号２を検出する検出器５と、ビーム２の走査に同期して複数の測定点における検出器５の検出信号から試料１のマッピング情報を得る制御装置６とを有する。 - 特許庁 - A charged particle beam device packages: an ion beam optical system that irradiates a sample with ion beam generated at an ion source and a control device thereof; an element detector that detects constituent elements of the sample and a control device thereof; and a central processing unit that automatically sets processing conditions of the sample on the basis of elements identified by the element detector.
イオン源で発生されたイオンビームを試料に照射するイオンビーム光学システム装置とその制御装置と、試料の構成元素を検出する元素検出器とその制御装置と、元素検出器で特定された元素に基づいて試料の加工条件を自動設定する中央処理装置とを荷電粒子線装置に実装する。 - 特許庁 - To provide a sample stage device and a charged particle radiation device which can determine conditions of a sample stage, in particular, determine conditions of the device from an operation screen and achieve analyses of maintenance timing and error causes.
本発明は、試料ステージの状態を判断することの可能な試料ステージ装置、及び荷電粒子線装置の提供を目的とし、より具体的には操作画面から装置の状態を判断可能とし、メンテナンスのタイミングやエラー要因の分析の実現を目的とする。 - 特許庁 - When the sample element and the particular element constituting the message to be transmitted are completed thereby, the cellphone device 10 of the transmission source sends the electronic mail including the sample file and the particular element to the cellphone device 20 of the transmission destination.
こうして伝達すべきメッセージを構成する雛型要素と固有要素とが揃うと、送信元の携帯電話装置１０が、雛型ファイルと固有要素とを含む電子メールを送信先の携帯電話装置２０へ送る。 - 特許庁 - To measure a sample at an appropriate input level by a simple operation by applying a measuring device to a viscoelastic measuring device, etc., to detect the response characteristics, for example, of a solid sample by various parameters.
本発明は、測定装置に関し、例えば固体試料の応答特性を種々のパラメータにより検出する粘弾性測定装置等に適用して、簡易な操作により適切な入力レベルで試料を測定することができるようにする。 - 特許庁 - To provide a standard sample supply device and method, which is capable of easily handling a standard sample through the use of a simple device and can be efficiently and inexpensively used for gas analysis and the calibration of an analyzer.
標準試料を簡単な装置を用いて簡便に取り扱うことができ、かつ効率的に安価にガス分析及び分析計の校正に使用できる標準試料の供給装置及び供給方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a simple-structure, low-cost and excellent-operability inspection device for a sample and a method, suitable to inspect the sample such as a semiconductor element in a production process of a semiconductor device.
半導体デバイスの製造工程における半導体素子等の試料の検査を行うために好適な装置および方法であって、構造が簡単で廉価で操作性が良好な試料の検査装置および方法を提供する。 - 特許庁 - The sample file included in the electronic mail received in the cellphone device 20 of the transmission destination is expanded, and the massage wherein the particular element is joined to the sample element is presented to the user of the cellphone device 20 of the transmission destination.
送信先の携帯電話装置２０において受信された電子メールに含まれる雛形ファイルが展開され、雛型要素に固有要素を併せたメッセージが、送信先の携帯電話装置２０の利用者に提示される。 - 特許庁
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