「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 66 67 68 69 70 71 72 73 74 .... 92 93 次へ＞- To provide a converged ion beam machining device capable of forming an etched slot having a desired size at a desired position of a sample in a manner that sets its side walls at a desired angle.
試料に対して、所望の箇所に、所望の大きさのエッチング溝を、その側壁が所望の角度となるように形成することが可能な集束イオンビーム加工装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a plate column device for a pin spot enabling micro crystallization by performing desalting treatment useful for sensitivity improvement quickly at low cost of a measuring sample to be analyzed by a mass spectrometer.
質量分析計で分析される測定試料の脱塩処理を低コストで迅速かつ感度向上に役立つ微小結晶化が可能なピンスポット用プレートカラム装置を実現する。 - 特許庁 - The fluorescent cube 10 is replaced and arranged at a predetermined position by a driving gear 12 in a fluorescent illumination device 20 which illuminates a sample S with exciting light L2 so as to generate fluorescence L3.
蛍光キューブ１０は、試料Ｓを励起光Ｌ２で照明して蛍光Ｌ３を発生させる蛍光照明装置２０において、駆動歯車１２により所定位置に交換配置される。 - 特許庁 - To provide a charged particle microscope device capable of detecting a signal at the time when a charged state of an observation sample or an electrostatic state of a defect part becomes optimal, and to provide a control method of a charged particle beam.
観察試料又は欠陥部の帯電状態が最適になった時点で信号検出をできる荷電粒子顕微鏡装置及び荷電粒子ビーム制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid chromatographic apparatus which can enhance the accuracy of an analytical treatment, to provide a sample injection device and to provide an apparatus and a method for cleaning.
本発明は、分析処理の精度を向上させることのできる液体クロマトグラフィー装置及び試料注入装置及び洗浄装置及び洗浄方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a disposable device to be used for blood examination capable of simultaneously diluting a blood sample into two kinds of prescribed dilution ratios, and holding all contaminated materials.
血液サンプルを２種類の所定の希釈比に同時に希釈することができ、すべての汚染された材料を保持することができる血液検査に使用する使い捨て装置を提供する。 - 特許庁 - First of all, the apparatus deterioration evaluation support device 1 acquires and stores physical data (an acoustic level, apparatus output, and sample data of the outside air temperature) at an initial stage of apparatus operation (S401).
機器劣化評価支援装置１は、まず、機器運転の初期段階における物理データ（音響レベル、機器出力及び外気温度のサンプルデータ）を取得し、記憶する（Ｓ４０１）。 - 特許庁 - To provide an environmental testing device capable of uniformly irradiating an entire sample with electromagnetic wave in a prescribed frequency range while suppressing heat generation of an electromagnetic wave source.
電磁波の発生源の発熱量を抑制しつつサンプルの全体に所定の周波数領域の電磁波を均一に照射することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁 - An image-forming device 10 has a system constitution provided with a document read part 18, a touch panel 59, image quality adjustment part 60, sample picture editing part 62, and image forming part 20.
画像形成装置１０は、原稿読み取り部１８、タッチパネル５９、画質調整部６０、サンプル画像編集部６２、画像形成部２０とを備えたシステム構成となっている。 - 特許庁 - To provide a failure analysis system for securing an observation sample corresponding to an arbitrary location that desires to be observed being decided by an inspection later in the failure analysis of a device.
デバイスの不良解析において、後になって検査により確定される任意の観察所望場所に対応可能な観察試料を確保できる不良解析システムを提供する。 - 特許庁 - A plurality of parameters which specify the photographic conditions of a device according to a plurality of photographic modes and a model image 103, which is to serve as the sample of an object suitable for the photographic mode are stored.
複数の撮影モードに対応して、装置の撮像条件を特定する複数のパラメータと、その撮影モード適した被写体の見本となる見本画像１０３を記憶しておく。 - 特許庁 - To perform sampling frequency conversion without incurring an interpolation arithmetic error even if a sampling frequency requested by a post-stage device becomes equal to or higher than a sampling frequency of an input sample.
後段の装置が要求するサンプリング周波数が入力サンプルのサンプリング周波数以上になっても、補間演算のエラーを発生させずにサンプリング周波数変換を行う。 - 特許庁 - Further, the solution is allowed to flow through the holding hole in a predetermined ratio by a Perista pump device 55 to allow the solution to uniformly flow to the skin 1 through the sample housing member 22.
さらに、ペリスタポンプ装置５５によって保持孔内に溶液を所定の割合で流通させることにより、試料収容部材２２を溶液が流れて皮膚１を均一に溶液が流れる。 - 特許庁 - To provide a system for measuring surface resistance value, utilizable for evaluation or design of a sample of an electromagnetic shield material or the like, capable of acquiring accurately an estimated value of a surface resistance value not depending on a measuring device.
電磁シールド材などの試料の評価や設計に利用できる、測定装置に依存しない面抵抗値の推定値を精度良く得られる面抵抗値測定システムを提供する。 - 特許庁 - The geological sample collecting device has an outer pipe coupled to the lower end of a boring rod 6 and a plurality of inner pipes 7 which are mounted in the outer pipe and collect the geological samples.
この地質試料採取装置は、ボーリングロッド６の下端に連結される外管と、この外管内に装着され、地質試料を採取する複数の内管７とを有する。 - 特許庁 - When high voltage is applied across the electrode 8 and the gel 12 by a power supply device 14, the sample goes toward the lower end of the glass pipe 2 along the inner wall thereof to start electrophoresis and is electrophoretically separated.
そして、電源装置１４により電極８とゲル１２間に高電圧を印加すると、試料はガラス管２の内壁に沿って下端に向って電気泳動を開始し、分離されていく。 - 特許庁 - A plasma doping device is provided into such a structure that a plasma generating chamber 1 for generating a plasma and a doping chamber 2 for introducing impurities in the surface of a sample to be processed communicate with each other.
プラズマを発生させるプラズマ発生室１と、被加工試料の表面に不純物を導入するためのドーピング室２とが、互いに連通するように設けられている。 - 特許庁 - To highly sensitively image a sample with areas of large density changes and ones of small density changes, which is difficult to be imaged by a conventional X-ray absorption and phase contrast imaging device.
従来の吸収及び位相コントラストＸ線撮像装置では測定が難しかった密度変化の大きい部位と小さい部位が混在した試料を高感度に観察する。 - 特許庁 - An X-ray source irradiates the sample held between the X-ray source and an image recording device with X rays of 15 keV whose focal diameter D(μm) satisfies the relation: 1≤D≤30.
Ｘ線源は、撮影時にＸ線源と画像記録装置間に保持された検体に対し、焦点径Ｄ（μｍ）が１≦Ｄ≦３０で、かつ１５ｋｅＶのＸ線を照射する。 - 特許庁 - To provide a device for processing ion beam capable of making a sample suitable for use for a TEM without using a shielding plate.
本発明はイオンビーム加工装置に関し、ＴＥＭに用いて好適な試料を遮蔽板を使用せずに作製することができるイオンビーム加工装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - A controller 4 included in the X-ray exposing device delays a leading timing of the sample-rotating pulse signal Pω compared with a leading timing of the shutter opening and closing pulse signal Ps.
このＸ線露光装置に含まれる制御装置４は、試料回転用パルス信号Ｐωの立ち上がりタイミングを、シャッタ開閉用パルス信号Ｐｓの立ち上がりタイミングよりも遅らせる。 - 特許庁 - To provide a device capable of observing an HAADF image based on high scattering angle annular detection without restricting maximum allowable pressure of a gas introduced into a sample chamber.
試料室内へ導入するガスの最大許容圧力を制限することなく、又、高散乱角円環状検出に基づくＨＡＡＤＦ像観察ができる装置を提供する。 - 特許庁 - A wiring 4 of a sample 3 id disconnected at a section 5 to be machined of the wiring 4, with the section 5 etched in the depth direction by scanning the section 5 with an ion beam focused by means of an ion optics device 1.
イオン光学装置１で集束したイオンビーム２を試料３の配線４の加工部５でスキャンさせることにより、加工部５を深さ方向にエッチングして断線させる。 - 特許庁 - In this Raman spectroscopic device 10, the laser beam L emitted from a laser beam source 20 is passed through a cylindrical lens 22 and a slit plate 23 to be linearly deformed to irradiate the sample S.
ラマン分光装置１０は、レーザ光源２０から発したレーザ光Ｌをシリンドリカルレンズ２２及びスリット板２３の通過により直線状に変形して試料Ｓへ照射する。 - 特許庁 - To enable observation and working by charged particle beams while confirming and discriminating the appearance of a sample confirmed by an optical microscope or the like at all time in operation of a charged particle beam device.
荷電粒子線装置のオペレーションに際して、光学顕微鏡などで確認された試料の外観を常時確認識別しながら、荷電粒子線による観察・加工を可能とすること。 - 特許庁 - To set samples stably on a Raman spectroscopic analysis apparatus as fixed to a sample holder for a cross-section cutting device and also to finely adjust samples for rotating to any angle.
断面切削装置用試料ホルダーに固定したままで試料をラマン分光分析装置に安定して設置でき、さらに試料を任意の角度で回転させる微調整ができる。 - 特許庁 - To facilitate the alignment of a sample probe while preventing contamination or oxidation in the atmosphere in an observation device of a nanolevel structural composition and an observation method of the nanolevel structural composition.
ナノレベル構造組成観察装置及びナノレベル構造組成観察方法に関し、試料探針の位置合わせを容易にするとともに、大気中での汚染や酸化を防止する。 - 特許庁 - To provide a sample device which can certainly realize the adsorption of gas under the ultrahigh vacuum of 10^-5Pa or below in the photoelectron microscope and can stably keep this ultrahigh vacuum.
光電子顕微鏡内の１０^-5Ｐａ以下という超高真空下において確実にガス吸着を実現でき、かつ、この超高真空を安定して維持できる試料装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an interference device and a measuring technique of planar shapes so as to resolve narrow-spacing of interference band occurred at the time of measurement of a test planar plane (a sample) with steep slope.
急峻な傾斜を持つ被検体平面〔サンプル〕の計測時に生ずる干渉縞の狭間隔化を解消するようにした干渉装置及び平面形状の測定方法を得る。 - 特許庁 - This fluorescent X-ray analysis device is provided with a computing means 16 for estimating the measured intensity of scattered radiation of the characteristic X-ray from the X-ray tube 1, from theoretical intensity computed according to the composition of the sample 13.
Ｘ線管1 からの特性Ｘ線の散乱線4 の測定強度を、試料13の組成に応じて計算した理論強度から推定する算出手段16を備える。 - 特許庁 - To accurately measure the grain size distribution in a state of canceling the noise superposed to the scattered light information obtained from a measuring sample including measuring object grain, in a grain size distribution measuring device.
粒径分布測定装置において、測定対象粒子を含む測定サンプルから得られる散乱光情報に重畳するノイズをキャンセルし、より正確な測定を行う。 - 特許庁 - To provide a halftone plate forming device which saves time required from the determination of a print sample upto the format start of printing and a material and consequently, reduces printing cost.
印刷見本の確定から正式の印刷開始までに要する時間や資材を少なく出来、この結果、印刷コストを低下出来る網版形成装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide an excavation device for excavating ground by vibrating it to sample soil or ground water and which has a simple structure with less noise and is economically low in cost.
振動を与えて地盤を掘削し、土壌または地下水を採取するための装置で、騒音が少なく、構造がシンプルで経済的にコストの低い掘削装置の提供にある。 - 特許庁 - To provide a cartridge and device for hybridization and a hybridization method capable of improving measurement accuracy by equalizing movement of a sample such as a test substance at all spots.
全てのスポットにおいて検体などのサンプル移動量を均一にし、測定精度を向上できるハイブリダイゼーション用のカートリッジ及び装置、並びにハイブリダイゼーション方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an X-ray analysis method and device with optical axis adjusting function, capable of precisely performing optical axis adjustment, regardless of the direction of placing an optical axis adjusting halved sample.
光軸調整用の半割試料を置く向きに関係なく、正しく光軸調整できる光軸調整機能を有するＸ線分析方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device in which a function assigned to an operation switch can be easily viewed without greatly displacing an eye from a sample observation state and looking at the operation switch.
操作スイッチに割り当てられている機能を標本観察状態から眼を大きくずらして操作スイッチを眼視することなく容易に視認可能な顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a current measuring device and a current measuring method, wherein it is possible to easily set up an energy level of electronic beams to be irradiated on a measurement sample such as a semiconductor substrate, etc.
半導体基板などの測定サンプルに対して照射する電子ビームのエネルギーレベルを容易に設定できる電流測定装置及び電流測定方法を提供する。 - 特許庁 - By concurrently providing a device constitution for regulating the polarizing state of irradiating light for an observation sample, the detailed analysis of the optical characteristic of the observation object is achieved.
また、観察試料の照射光の偏光状態を規定するための装置構成を併せ持つことにより、観察対象の光学的特性の詳細な解析を実現することができる。 - 特許庁 - An analysis device comprises: a heating section to heat a sample, an agent or a mixture thereof; a power source section to supply power to the heating section; and a control section to control power supply by the power source section.
検体、試薬、又はそれらの混合液を加温する加温部と、加温部に電力を供給する電源部と、該電源部の電力供給を制御する制御部とを備える。 - 特許庁 - A sample 12 and the shield plate 13 are symmetrically arranged to the center position of the main coil 31 making up the magnetic field producing device, and the detector 14 is disposed outside the shield plate 13.
磁場発生装置を構成する主コイル３１の中心位置に対して試料１２と遮蔽板１３とを対称に配置し、遮蔽板１３の外側に検出器１４を配置する。 - 特許庁 - To provide an analyzing method and an analyzing device that do not restrict a sample form, do not produce cross over with the information of pollutant, and can sufficiently increase the concentration of an analyzed object.
試料形態の制限が無く、汚染物質の情報との交錯を生ぜず、分析対象物質を十分に高濃度にできる分析方法および分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a heating device which can ensure workability, when a sample is put in or out, and can simultaneously prevent the overshooting of temperature, when the temperature is returned, and to provide a cell culture apparatus.
試料出し入れ時の作業性を確保しつつ、温度復帰時のオーバーシュートを防止することができる加熱装置および細胞培養装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A fluorine group insulative liquid 2a in a sample liquid reservoir 1 is passed through an electric charge generating part 13 while being pressurized by means of a gas supplying device 7 so as to be dropped into a Faraday cage main body 15.
試料液溜１のフッ素系絶縁液体２ａを、ガス供給装置７により加圧しながら電荷発生部１３を通過させ、ファラデーケージ本体１５内へ落下させる。 - 特許庁 - To provide a method and device for measuring a pressure loss of a ceramic honeycomb filter which has a simple constitution and reliable sealing properties, and is capable of easily and reliably measuring a pressure loss of a sample.
簡単な構成でシール性を確実にし、容易に確実にサンプルの圧損を測定可能なセラミックスハニカムフィルターの圧損測定方法及び測定装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a cut face inspection device and a cut face inspection method capable of evaluating accurately a cut face of a quartz plate regardless of the attitude of the quartz plate to a sample stand.
試料台に対する水晶板の姿勢に関わらず、正確に水晶板のカット面の評価を行うことが可能なカット面検査装置、及びカット面検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a simple and inexpensive assay method detecting the presence or the amount of a chemical substance present in an environmental sample without using an expensive measuring device such as that of a fluorescent method.
蛍光法のような高価な測定装置を用いることなく、環境試料中の化学物質の存在または存在量を検定できる簡便かつ安価なアッセイ方法の提供。 - 特許庁 - To provide a small-sized automatic protein quantitative determining apparatus which reduces the load on an analysis operator, prevents the bacterial contamination of each process device during collection of a sample liquid and shortens a measuring time.
分析作業員の負担が少なく、試料液の採取時に各工程機器への細菌汚染がなく、測定時間が短く、小型化な自動蛋白質定量装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a film thickness measuring device capable of continuously analyzing the film thickness of a sample to be measured even in the case that changes in a light source with the passage of time is calibrated at some midpoint.
光源の経年変化の較正を途中で行なう場合であっても、測定試料の薄膜の解析を連続的に行なうことが可能な膜厚測定装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a magnetooptic effect measurement device capable of heating a micro region on a sample and carrying out temperature measurement and magnetic measurement of the region accompanying the heating.
試料上の微小領域を加熱し、この加熱に伴う同領域の温度計測並びに磁気計測を実施することが可能な磁気光学効果計測装置を提供するにある。 - 特許庁 - To provide a sample storage device that can store a number of samples under reliable management though in a simple configuration, and can be suitably used in small test or research facilities.
簡素な構成でありながら、多数の試料を確実な管理下にて保管することができ、小規模な試験、研究施設において好適に使用可能な試料保管装置を提供する。 - 特許庁
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