「sample device」を含む例文一覧(4634)

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  • To provide a phase transition electrophoretic method capable of obtaining a result of high reproducibility while simply performed in a short time, having a wide adaptable sample range and also enhanced in the degree of freedom of a migration condition, and a device for the same.
    簡易に短時間で行えながらも、再現性高い結果を得られ、適用できるサンプルの範囲が広く、泳動条件の自由度も高い相転移電気泳動方法及び装置を提供すること。 - 特許庁
  • The invention relates to different designs of the microelectronic device comprising an array of heating elements HE with local driving units CU2 and optionally an array of sensor elements SE adjacent to a sample chamber SC.
    本発明は、局所駆動ユニットCU2を有する加熱素子HEのアレイ及び任意には試料室SCに隣り合うセンサ素子SEのアレイを有するマイクロエレクトロニクスデバイスの異なる設計に関する。 - 特許庁
  • To provide a molecular composition measuring method and device capable of measuring the molecular composition or concentration of a sample or of protein in the anterior chamber of a human eye with high reliability, in non-contact and non-invasive manner.
    試料あるいは人眼前房内のタンパク質分子の組成あるいは濃度を信頼性よく非接触・非侵襲で測定することが可能な分子組成測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device for a drawing test for performing the drawing test equal to a continuous production condition by a drawing machine to obtain a film sample equal to a film continuously produced by the drawing machine.
    延伸機による連続生産状態と同等の延伸試験を行い、延伸機により連続生産されるフィルムと同等のフィルムサンプルを得ることができる延伸試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a measuring method of flow cytometry which can accurately detect a microorganism without being affected by impurity particles coexisting in sample water, and a device used therein.
    試料水中に共存する夾雑粒子に影響を受けず、正確な微生物の検出を可能とするフローサイトメトリーの測定方法およびそれに用いる装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The information estimation device acquires the sample information on some of the plurality of elements included in the population, and estimates the information on the rest included in the population.
    母集団に含まれる複数の要素のうち、一部の要素に関する標本情報を取得して、母集団に含まれる残りの要素に関する情報を推定する情報推定装置である。 - 特許庁
  • To provide a low-contaminated loader capable of restraining adhesion of particles on a sample caused by kicking-up of dust at the time of vacuum evacuation or the like, and a charged particle beam device having the low-contaminated loader.
    本発明は、真空排気時等の巻上げによって生ずるパーティクルの試料への付着を抑制する低汚染ローダ、及び低汚染ローダを備えた荷電粒子線装置の提供を目的とする。 - 特許庁
  • To perform optimal measurement in response to the shape of the material and the direction of a material, miniaturize the device, and obtain exact thermal diffusivity regardless of the effect of the thickness of a sample.
    材料の形状や測定の方向に合わせた最適な測定を行うことができ、装置の小型化を図り、試料の厚さの影響に寄らず正確な熱拡散率を得ることを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a method for distributing a free sample to be provided to a consumer with the intention of collecting marketing information and a collecting device of collecting distribution data based on POS system equipment for sales.
    無償で消費者に提供される試供品の、マーケティング情報の収集意図を持った配布方法と、販売用POSシステム機器を基盤とする配布データの収集装置を提案する。 - 特許庁
  • The sample (w) is displaced in an optical axis direction through a stage control circuit 40, so that an optical axis direction position when a received light quantity is made maximum is obtained as a height data for each picture element by a processing device 46.
    処理装置46が、ステージ制御回路40を介して試料wを光軸方向に変位させ、受光量が最大になるときの光軸方向位置を高さデータとして各画素ごとに求める。 - 特許庁
  • An analyst preliminarily designates a distribution item(for example, a sample name, analyst name, analyzing device name or the like) included in a data file, and sets a character string included in this and a DB name of storage destination (S1).
    分析者は、予めデータファイルに含まれる振り分け項目(例えば試料名、分析者名、分析装置名等)を指定してそれに含まれる文字列と格納先のDB名を設定しておく(S1)。 - 特許庁
  • To provide a sample cross section manufacturing method capable of efficiently detecting a center position of a defective part or a contact hole by an FIB device without having an SEM observation function.
    SEM観察機能を備えないFIB装置でも、欠陥部分やコンタクトホールの中心位置を検出することが効率よく、実行できる試料断面作製方法を提供するものである。 - 特許庁
  • An actuator A 316 and an actuator B 317 are sandwiched to be joined between the plate B 302 and the plate C 303 provided with diaphragm structure to drive a sample determination device in a saved space.
    ダイヤフラム構造を設けた基板B302と基板C303の間にアクチュエータA316、アクチュエータB317を挟み込んで接合することにより、試料定量装置の駆動が省スペースで可能となる。 - 特許庁
  • To provide a weatherproof test accelerating device having a discharge lamp used as a concentration light source for accelerating discoloration and deterioration of a composition and structure of a sample and improved in control, calibration structure and operating method.
    試料の退色、組成、構造の劣化を促進する集中光源である放電ランプを有し、制御、較正構造及び動作方法の改良された耐候性試料促進装置の提供。 - 特許庁
  • An X-ray source (24), a detector (26) and a sample (20) are mutually positioned by a device including two spaced-apart parallel linear actuators (32 and 36) respectively movable along a structual stand (34).
    それぞれが構台(34)にそって可動な2個の離間された平行な線形アクチュエータ(32、36)を含む装置により、X線源(24)、検出器(26)および試料(20)が互いに位置決めされる。 - 特許庁
  • To provide an exposure apparatus for adjusting the landing angle in higher accuracy so as to form multiple beams perpendicular to the front surface of a sample, and to provide a method for manufacturing a device that uses the exposure apparatus.
    マルチビームが試料面に対して垂直になるようにランディング角を高精度に調整することができる露光装置、及びその露光装置を用いたデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an α-ray measuring device capable of performing accurate energy analysis in a short time of infinitesimal α-rays emitted from a sample by using a semiconductor detection element having excellent energy resolution.
    エネルギー分解能が優れている半導体検出素子を使用して、試料から放出される極微量のα線を短時間で精度良くエネルギー分析可能なα線測定装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image.
    共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び3次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。 - 特許庁
  • An auxiliary electronic irradiation device 15, that radiates an electron beam directed toward the sample is provided at an inclination of θ degrees with respect to an optical axis O1 of an electron optics system, to which a primary electron beam EB is radiated.
    試料に向けて電子ビームを照射する補助電子照射器15が一次電子ビームEBが照射される電子光学系の光軸O1に対して角度θ傾けられて設けられている。 - 特許庁
  • To provide a device of measuring a global warming gas component in liquid capable of using a liquid containing the global warming gas component as a measuring sample, and having excellent accuracy and rapidity.
    地球温暖化気体成分を含有する液体を測定試料に用いることが可能であり、精度と迅速性に優れる液中の地球温暖化気体成分測定装置を提供する。 - 特許庁
  • When the fixed sample output function is executed, the image forming apparatus executes image forming while changing a fixing temperature of a fixing device and outputs the samples fixed at a plurality of fixing temperatures.
    定着サンプル出力機能が実行されると、画像形成装置は、定着装置の定着温度を変更して画像形成を実行し、複数の定着温度での定着サンプルを出力する。 - 特許庁
  • When measuring the gas, carrier gas is supplied from the end of the gas storage chamber to replace the gas storage chamber with the carrier gas, and a prescribed amount of sample gas is sent out from the other end and supplied to a gas measuring device.
    ガス測定時には、ガス溜め室の端よりキャリアガスを供給し、ガス溜め室をキャリアガスにて置換し、他方の端より所定量のサンプルガスを送り出してガス測定器に供給する。 - 特許庁
  • The sample sheets delivered from the selected cassette is aligned in line with the height required by an external device, thus it is possible to deliver the sheets smoothly through a pressing guide mechanism 5.
    従って、選択されたカセットから送出されるサンプルシートは、外部装置の要求する高さと一直線上に整列し、押付案内機構5を介して円滑に供給することができる。 - 特許庁
  • To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.
    データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a maceration medium supply apparatus, a fluorescent analytic inspecting device, and an incubation microscope which can stably perform temperature control over a sample and have simple constitution, and are reduced in cost.
    標本の温度制御を安定して行うことができる、構成が簡単で、価格的にも安価な液浸媒質供給装置、蛍光分光検査装置及び培養顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a dispensing device and method capable of accurately dispensing a micro amount of liquid sample of several μL or less without individually previously measuring the specific gravity or kinematic viscosity coefficient.
    比重や運動粘性係数を予め個々に測定しなくとも、数μL以下の微小量の液体試料を正確に分注することが可能な分注装置及び分注方法を提供すること。 - 特許庁
  • An image processing device 5 sets a defect candidate slice level, based on an image example of a reference sample including defects with respect to the differential interference images and selects defect candidates from among the differential interference images.
    画像処理装置5では、この微分干渉画像に対して欠陥を含むレファレンスサンプルの画像例に基づく欠陥候補スライスレベルを設定し、微分干渉画像から欠陥候補を選定する。 - 特許庁
  • To provide an electron beam device capable of evaluating a sample with high throughput by a large beam current at an operating point of a large opening angle by using an object lens having a small aberration.
    、収差の小さい対物レンズを用いて、大きい開口角の動作点で大きなビーム電流により高スループットで試料の評価を行うことが可能な電子線装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method for analyzing crystallinity distribution of a polyolefin sample by which crystallinity distribution is extremely precisely obtained extremely in short time using a temperature rising elution fractionation method, and a device for the same.
    昇温溶出分別法を用いて極めて精密に且つ極めて短時間に結晶性分布を得ることができる、ポリオレフィン試料の結晶性分布分析方法およびその装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a device and method for evaluating flex durability of a flange of a steeply inclined conveyor belt, which is capable of performing accurate evaluation by setting a test sample of the flange to a condition approximating an actual use state.
    フランジの試験サンプルを実使用に近い条件に設定して、精度よく評価ができる急傾斜コンベヤベルトのフランジの屈曲耐久性評価装置及び評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a three-dimensional image acquisition method and device of a sample wherein a tomography method to improve resolution is used.
    本発明は3次元画像取得方法及び装置に関し、分解能を向上させることができるトモグラフィー法を用いた試料の3次元画像取得方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁
  • In this device, the start time of mass scanning can be synchronized with a specific phase of commercial AC voltage, and measurement for the same calibration sample is performed with this phase being set to 0, (2/3)π, and -(2/3)π (S1-S9).
    質量走査の開始タイミングを商用交流電圧の特定位相に同期可能とし、この位相を0、(2/3)π、-(2/3)πに設定して同一較正試料に対する測定を実行する(S1〜S9)。 - 特許庁
  • The charged particle beam device is provided with a cover which envelops a charged particle source and a sample stage, and a mechanism which changes a position or an arrangement angle of at least a part of the cover inner face.
    本発明に係る荷電粒子線装置は、荷電粒子源および試料ステージを包囲するカバーと、カバー内面の少なくとも一部の位置または配置角度を変更する機構を備えている。 - 特許庁
  • To provide a charged particle beam device with its throughput substantially improved through the elimination of displacement of an observing object by preventing a change in expansion/contraction of a sample which is the observing object.
    本発明は、観察対象である試料の伸縮の変化を抑えることにより、観察対象の位置ずれを解消し、大幅なスループット向上を図った荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an observation device capable of selecting either epi-illumination or side-illumination, or both of them, and easily selecting an observation method suitable for a sample.
    落斜照明または側射照明のいずれか一方または両方の照明を選択可能であるとともに、試料に適した観察方法を容易に選択することができる観察装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method and device for evaluation of an electrostatic latent image, along with an image forming apparatus, capable of evaluating an ability of forming an electrostatic latent image of a photoreceptor sample in a short time with high resolution.
    感光体試料の静電潜像形成能力を短時間に、高分解能で評価することができる静電潜像の評価方法、静電潜像の評価装置および画像形成装置を得る。 - 特許庁
  • An observation region 306 and an entirely-white image 160' subsequent thereto are imaged by an image pickup device 200 while a sample is not disposed on the observation region 306 of the optical microscope 300.
    光学顕微鏡300の観察領域306に試料が配置されていない状態で、撮像装置200によりその観察領域306が撮像され全白画像160’が撮像される。 - 特許庁
  • A disposable coater is used in the coating device of the automatic electrophoretic apparatus and made inexpensive and can be incinerated after used because it is constituted so as to suck a sample by utilizing the capillary phenomenon of paper.
    本発明は、紙の毛細管現象を利用して試料を吸引することにより、安価で使用後は焼却可能な使い捨て塗布器を用いた塗布装置を持つ自動電気泳動装置を提供する。 - 特許庁
  • The positioning device disposes the sample base 8 in the Z-axial direction based upon the position information and correction information regarding the surface shapes of reflecting elements 27, 28, 30, and 37.
    位置決め装置は、上記位置情報と、ビームが照射される反射素子27,28,30,37の面形状に関する補正情報とに基づいて、Z軸方向に関して試料台8を位置決めする。 - 特許庁
  • To provide a sample support body not having a disadvantage of using a laser source, which is strong and expensive in many cases, to detect a substrate satisfactorily, and a device using the support body.
    強力で高価なことが多いレーザー源を基板の満足な検出のために用いなければならないという欠点を有しない試料支持体及びそれを用いた装置を提供することである。 - 特許庁
  • The means for arranging the DC level is provided with a DC level difference detecting means constituted of LPF's 118, 120, a subtracter 122 and a sample hold device 124, and an offset adjusting means 126 of the encoder signal.
    直流レベル揃え手段は、LPF118,120と減算器122とサンプルホールド器124で構成される直流レベル差検出手段と、エンコーダ信号のオフセット調整手段126を有する。 - 特許庁
  • To provide a pretreatment device for protein crystallization, using electrostatic transportation, capable of well retaining and storing a sample liquid drop obtained by colliding by the electrostatic transportation so as to combine, and to provide a method thereby.
    静電搬送により衝突させて合体させたサンプル液滴を良好に保持して保管することができる静電搬送によるタンパク質の結晶化前処理装置及び方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an electron microscope control device capable of controlling the intensity and/or acceleration voltage of an electron beam applied to a sample to a low value and enabling acquisition of an electron microscope image having a high S/N ratio.
    試料に対して照射する電子ビームの強度や加速電圧を低く抑え、かつ高いS/Nの電子顕微鏡画像を得ることを可能とする電子顕微鏡制御装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a pair of tweezers capable of holding a sample for observation by an electron microscope and easily detecting the holding force with high accuracy, and a holding force control device.
    電子顕微鏡観察用の試料を挟持可能なものであって、挟持する力(挟持力)を容易且つ高精度に検出することができるピンセット及びその挟持力制御装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a chromatograph dispensation device capable of sampling an analytic sample containing components without absorption of light in UV-to- visible ranges in a relatively large quantity while precisely detecting or determining each component.
    紫外−可視域に光吸収のない成分を含む分析サンプルであっても、各成分をを精度よく検出または定量しながら、比較的多量に分取し得るクロマトグラフ分取装置を提供する。 - 特許庁
  • The user can verify the validity of the sample program from the execution results displayed on the screen of a display device, and the user can change settings according to the verification result.
    ユーザはディスプレイ装置の画面上に表示された実行結果からサンプルプログラムの妥当性を検証することができ、その検証結果に基づいてユーザが設定内容を変更することが可能である。 - 特許庁
  • A hydrophilic polymer solution and a lipophilic metal-dissolved solution stored in sample vessels 1 and 2 are force-fed via pumps 3 and 4, and introduced in a small pipe and a capillary nozzle of an electrospray device 5.
    サンプル容器1,2に収容された親水性ポリマー液体および親油性金属溶解液体は、ポンプ3,4を介して圧送され、エレクトロスプレー装置5の細管およびキャピラリーノズルに導入される。 - 特許庁
  • This device includes a switchable manifold of low-volume conduits and an array of sensors, where each low-volume conduit fluidly couples a single sample of gas sorbing material to a dedicated detector.
    本装置は、低容積導管の切換可能なマニホールド、およびセンサのアレイを含み、ここでそれぞれの低容積導管はガス収着物質の単一の試料を専用の検出器に流体的に結合する。 - 特許庁
  • To prevent excessive stress generated in a pipe extending from a nozzle attached to a lid member and to prevent liquid splash from the nozzle, in a luminescence measurement device for measuring luminescence from a sample.
    サンプルからの発光を測定する発光測定装置において、蓋部材に取付られたノズルから伸びる配管に生ずる過大な応力を防止し、またノズルからの液はねなどを防止する。 - 特許庁
  • The specimen treatment system 1 is equipped with a blood corpuscle analyzing apparatus 5 equipped with a measuring unit 51 and a data processing unit 52 and a specimen feeding device 3 for feeding a sample rack which holds specimen containers.
    検体処理システム1は、測定ユニット51と情報処理ユニット52を備える血球分析装置5と、検体容器を保持したサンプルラックを搬送する検体搬送装置3とを備えている。 - 特許庁
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