「sample surface」を含む例文一覧(2601)
＜前へ 1 2 .... 13 14 15 16 17 18 19 20 21 .... 52 53 次へ＞- Consequently, the reaction state between the surface of a sample substrate W and ions impinging thereon can be varied.
従って試料基板Ｗの表面と、これに入射するイオンとの反応状態を変化させることができる。 - 特許庁 - To provide a surface-enhanced Raman spectroscopic apparatus capable of easily performing a measurement of an opaque sample.
不透明な試料についての測定を簡便に行うことができる表面増強ラマン分光測定装置を得る。 - 特許庁 - The microchip comprises a substrate 102 and a passage formed on the surface of the substrate 102 to allow a sample solution to pass through.
マイクロチップは、基板１０２と、該基板１０２の表面に形成された試料溶液の通る流路とを備える。 - 特許庁 - A surface plasmon resonance phenomenon is generated when a liquid sample contacts with the refractive index measuring sensor 21.
屈折率測定用センサー２１に液体サンプルが接触すると、表面プラズモン共鳴現象が発生する。 - 特許庁 - To make more accurately observable the surface of a sample in a scanning probe microscope to acquire a force curve.
フォースカーブを取得する走査型プローブ顕微鏡において、より正確に試料表面を観察できるようにする。 - 特許庁 - To provide a surface-enhanced Raman spectroscopic apparatus capable of easily performing a measurement related to a liquid sample.
液体試料等に関する測定を簡便に行うことができる表面増強ラマン分光測定装置を得る。 - 特許庁 - NONCONTACT MEASURING METHOD OF SURFACE TEMPERATURE OF SAMPLE TO BE NATURALLY OR ARTIFICIALLY EXPOSED AND DEVICE THEREFOR
自然にもしくは人工的に暴露させる試料表面温度の非接触測定方法及びそのための装置 - 特許庁 - Then, the analyzer crystal 58 is removed from the reflection route to measure the X-ray reflectance on the surface sample.
その後，アナライザー結晶５８を反射経路から外して，試料表面のＸ線反射率測定を実施する。 - 特許庁 - To provide an electron beam microanalyzer having a means for observing the surface of a sample in place of an optical microscope.
光学顕微鏡に代わる試料表面の観察手段を有した電子線マイクロアナライザを提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope which makes a sample surface observable without being affected by the regular reflected light of illumination light.
照明光の正反射光の影響を受けないで試料表面の観察ができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a system and a method for measuring refractive index of a sample, using surface plasmon resonance.
表面プラズモン共鳴を使用して試料の屈折率を測定するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of causing a probe to contact a surface of a sample in a safe and efficient manner after monitoring the height of the probe.
プローブ高さをモニタして、安全かつ効率的に試料表面にプローブを接触させる方法の提供。 - 特許庁 - To provide a surface analysis device, capable of displaying the shape and loading state of a sample holder on a stage map.
試料ホルダの形状や搭載状態を、ステージマップ上に表示できる表面分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface inspection apparatus and a method of inspecting a surface for quickly determining whether a pattern shape on a sample surface is appropriate without being affected by a change in an environmental temperature.
試料表面のパターン形状の良否を、環境温度変化の影響を受けることなく短時間で判定できる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface potential measuring method, a surface potential measuring apparatus and a recording medium which enable measuring of surface potential at a minute part of a sample, with higher sensitivity and accuracy.
高感度かつ高精度で試料の微少部分の表面電位を測定することができる表面電位測定方法、表面電位測定装置、及び記録媒体を提供する。 - 特許庁 - The wafer tester 1 has the sample chuck 2 for holding a wafer 13 on the holding surface 18 and a probe 50 for inspecting electric characteristics of the holding surface 18 and the surface of the wafer 13.
ウェハ試験装置１は、保持面１８でウェハ１３を保持するサンプルチャック２と、保持面１８およびウェハ１３の表面の電気的特性を検査するプローブ５０とを有する。 - 特許庁 - Chemical passivation for inhibiting surface recombination is executed by coating the semiconductor sample surface by wax or resin for setting the surface to a passivation state.
表面再結合を抑制するためのケミカル・パッシベーションを、ワックス又は樹脂にて半導体試料の表面をコーティングして同表面を前記パッシベーション状態にすることで実施する。 - 特許庁 - This stereoscopic microscope has an objective, a simple mount surface, and the dark field lighting device which is arranged opposite the objective across the sample mount surface.
対物レンズと、被検体搭載面と、被検体搭載面を挟んで対物レンズと対向する位置に配置された暗視野照明装置とを有する。 - 特許庁 - To provide a surface observing method using a scanning probe microscope which can perform a stable measurement by reducing the effect of the surface charge of a sample to the utmost.
試料表面の帯電の影響をなるべく低減させ、安定な測定が行なえる走査型プローブ顕微鏡による表面観察方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for inspecting an external appearance that can detect defects present on the top surface and reverse surface of a sample at the same time.
試料の表面及び裏面に存在する欠陥を同時に検出することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for measuring surface electric potential distribution capable of precisely measuring surface electric potential distribution of a sample.
試料の表面電位分布を精度良く測定することができる表面電位分布測定方法及び表面電位分布測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a corrosion potential measuring apparatus for simply measuring accurate corrosion potential by cleaning the surface of a sample electrode or removing the surface film thereof.
試料電極の表面を清浄化あるいは表面皮膜を除去し、正確な腐食電位を簡便に測定する腐食電位測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope and a surface inspection method for forming a marking sign on a sample surface without complicating a constitution of an apparatus.
装置構成を複雑化することなく、試料表面にマーキング痕を形成できる走査型プローブ顕微鏡及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for visualizing surface atoms that can simply and quickly obtain atomic image on the surface of a solid sample using very high contrast, and using a laboratory-level device.
固体試料表面上の原子像を、実験室レベルの装置により極めて高コントラストで簡便に得る表面原子可視化装置を提供する。 - 特許庁 - The sample etched to a predetermined depth in the specific regions of the substrate surface is prepared by using this etching device, and the analysis of the etched surface is carried out.
このエッチング装置を用いて、基板表面の特定領域を所定深さエッチングした試料を作製し、そのエッチング表面の分析を行う。 - 特許庁 - To provide an apparatus for observing a solid surface capable of complementarily observing a photoelectron image and a cathode-ray luminescent image at the same position on a surface of a sample.
光電子像と陰極線ルミネッセンス像を試料表面の同一位置において相補的に観察できる固体表面観察装置を提供する。 - 特許庁 - A shielding material 4 is covered so as to abut on the upper surface of the substrate 10, and the sample 3 is arranged so as to abut on the under surface of the substrate 10.
基板１０の上面に当接するように遮蔽材４が被せられると共に基板１０の下面に当接するように試料３が配置される。 - 特許庁 - The test sample electrode 30 has a first surface contacting with a process flow and a second surface contacting with an electrolyte retained in a sealing fluid reservoir.
この試験標本電極３０は、プロセス流れと接触する第１の面、及び密封液溜めに保持される電解液と接触する第２の面を有する。 - 特許庁 - In this sample table for the electron microscope, surface roughness of a surface is set to 0.05 to 1.0 μm in arithmetical mean roughness Ra stipulated in JIS B 0601.
表面の面粗さがＪＩＳ Ｂ ０６０１に規定される算術平均粗さ（Ｒａ）で０．０５〜１．０μｍとしてなる電子顕微鏡用試料台。 - 特許庁 - To provide a coating surface evaluation method and a device for objectively evaluating the features of a metallic coating surface, and to provide an evaluation reference sample.
メタリック塗装表面の特徴を客観的に評価する塗装表面評価方法および装置並びに評価基準標本を提供する。 - 特許庁 - As a result, measurement of the surface potential at the plurality of measuring points set on the sample 9 surface 91 can be performed quickly and with high accuracy.
これにより、試料９の表面９１上に設定された複数の測定点における表面電位の測定を迅速かつ高精度に行うことができる。 - 特許庁 - The storage and fixed ozone is emitted as ozone beam toward the surface of a sample to be oxidized by the laser beam irradiation or the heating of the surface.
また、貯蔵した固定オゾンを、表面へのレーザー光照射、又は加熱を行うことにより、被酸化試料表面に向けてオゾンビームを照射する。 - 特許庁 - To obtain a surface evaluating method and its evaluating system capable of more highly accurately stably evaluating the state of a sample surface.
試料表面状態をより高精度で安定に評価することが可能な表面評価方法およびその評価システムを提供することである。 - 特許庁 - The sampler is equipped with a metal tube 2 having the inactivated surface, and a sample adsorption layer 3 for covering the circumferential surface of the metal tube 2 and adsorbing the organic components.
表面が不活性化された金属管２と、金属管２の外周面を被覆し該有機成分を吸着する試料吸着層３とを備える。 - 特許庁 - Light from the surface of a sample within a measurement range decided according to optical magnification is received by a photodetector through a confocal optical system, the height information and the light quantity information of the surface of the sample are acquired based on the received light information, and the picture of the surface of the sample obtained by processing the acquired information is displayed on the screen of a display apparatus.
光学倍率によって決まる測定範囲内の試料表面からの光を共焦点光学系を介して受光素子で受光し、その受光情報に基づいて試料表面の高さ情報及び光量情報を取得し、取得した情報を処理して得られる試料表面の画像を表示装置の画面に表示する。 - 特許庁 - When measuring the irregularities on the sample 1 surface, the tip part of a probe 3 provided movably into/from the inside of a cylindrical extraction electrode 4 is projected from the lead electrode 4, and the projected tip part of the probe 3 is drawn close to the sample 1 surface, and a tunnel current between them is detected, to thereby measure the irregularities on the sample 1 surface.
試料１の表面の凸凹を測定する場合には、筒状の引出電極４内に出し入れ可能に設けられたプローブ３の先端部を引出電極４から突出させ、この突出されたプローブ３の先端部を試料１の表面に近付け、その間のトンネル電流を検出することにより、試料１の表面の凸凹を測定する。 - 特許庁 - The cell array structural body is provided by bringing a substrate to have a plurality of micropores piercing the substrate from one surface to another surface, through which a sample cell can pass, and a means for capturing or releasing the sample cell on a wall surface of each micropore, while the cell array is provided by detachably immobilizing sample cells in each micropore of the cell array structural body.
基板に、基板の一方の面から他方の面に貫通し、被検体細胞が通過可能な、複数の微細孔と、各微細孔の壁面に設けられた被検体細胞を着脱する手段と、を設けて細胞アレイ用構造体とし、この細胞アレイ用構造体の各微細孔内に検体細胞を着脱自在に固定して細胞アレイとする。 - 特許庁 - From this state, the head 14 is swung back to the original position, whereby a wipe material 40 fitted on the head 14 simultaneously wipes off the liquid sample from both the lower surface of the window plate 22 and the upper surface of the sample holding platform 11.
この状態でヘッド１４を旋回させて元の位置に戻すことにより、ヘッド１４に被せたウエス４０が窓板２２の下面と試料滴下台１１の上面に付着した液体試料を同時に拭き取り除去する。 - 特許庁 - A motion assembly moves the radiation source between a first source position, in which the X-rays are directed toward the surface of the sample at a grazing angle, and a second source position, in which the X-rays are directed toward the surface in a vicinity of a Bragg angle of the sample.
動作アセンブリは、照射源を、Ｘ線が試料表面にかすめ角で向けられる第１の光源位置と、Ｘ線が表面に試料のブラッグ角近傍で向けられる第２の光源位置との間で移動させる。 - 特許庁 - The sample is fixed by the abutment part 302a, the side surface holding member 302b and the back surface holding member 303, and since the abutment part works as a positioning stopper, insertion length of the TEM sample 103 can be fixed.
この当接部３０２ａと側面保持部材３０２ｂと裏面部保持部材３０３により試料が固定され、位置決めストッパーとしての役割を果たすので、ＴＥＭ用試料１０３の挿入長を一定にすることができる。 - 特許庁 - A probe 10 or an atom 50 on a surface of a sample is vibrated in two directions parallel to the surface of the sample, and a frequency variation amount of the probe 10 based on interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.
探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁 - The light from the beam spot is detected by an oblique detection system having an optical axis inclined at a predetermined angle of inclination with respect to the surface of the sample and an upper detection system having an optical axis along the normal line of the surface of the sample.
試料の表面に対して所定の傾斜角にて傾斜した光軸を有する斜方検出系と試料の表面の法線に沿った光軸を有する上方検出系によって、ビームスポットからの光を検出する。 - 特許庁 - To provide a method for easily preparing a sample with nice appearance when peeling off soil of the surface layer of remains using a silicone resin, fixing the soil to the surface of a resin molding and preparing a three-dimensional peeled sample of the remains.
シリコーン樹脂を用いて遺構表層の土を剥ぎ取り、その土を樹脂成形品の表面に固定して遺構の立体剥ぎ取り標本を作製する際に、見栄えのよいものを容易に作製することができる方法を提供する。 - 特許庁 - Si^+ is subjected to ion implantation as an element in a plurality of stripe like states parallel to each other with respect to the region which surrounds at least a part of the analyzing region irradiated with primary ions on the surface 1a of the sample 1, herein, the surface 1a of the sample 1.
試料１の試料面１ａにおける一次イオンが照射される分析領域の少なくとも一部を囲む部位、ここでは試料面１ａで並列する複数のストライプ状に、元素としてＳｉ^+をイオン注入する。 - 特許庁 - The light from the beam spot is detected by an oblique detection system having an optical axis inclined at a predetermined angle of inclination with respect to the surface of the sample and an upper detection system having an optical axis along the normal line of the surface of the sample.
試料の表面に対して所定の傾斜角にて傾斜した光軸を有する斜方検出系と試料の表面の法線に沿った光軸を有する上方検出系によって、ビームスポットからの光を検出する。 - 特許庁 - To provide a pretreatment device for forming adhesion (coating) of conductive thin film particles uniformly as much as possible onto each surface of a sample having a complicated shape as well as to the inside of holes, in order to prevent charged phenomenon on the sample surface.
試料表面の帯電現象を防止する為に複雑な形状を有する該試料のあらゆる面及び孔の内部にも出来るだけ均一に導電性薄膜微粒子を付着（コーティング）させる為の前処理装置。 - 特許庁 - When the projection part 35d penetrates the penetration part 35j, the bottom surface of the sample vessel 35 is pressed against the packing 35f, and a gap at the bottom surface of the sample vessel 35 at the penetration time by the projection part 35d is sealed by the packing 35f.
突起部３５ｄが貫通部３５ｊを貫通したときにサンプル容器３５の底面がパッキン３５ｆに押し付けられ、突起部３５ｄの貫通時のサンプル容器３５の底面の隙間がパッキン３５ｆによって密閉される。 - 特許庁 - To obtain a scanning Kelvin probe microscope in which a frequency component not required to detect potential information on the surface of a sample to be measured is suppressed and in which the S/N ratio of the potential information on the surface of the sample is enhanced.
走査型ケルビンプローブ顕微鏡において、試料表面の電位情報を検出する場合に不要となる周波数成分を抑圧し、測定される試料表面の電位情報のＳ／Ｎを向上させることを目的とする。 - 特許庁 - The sample surface is adjusted horizontally by driving the adjusting members so that the outputs of the distance sensors become the same prescribed value, and height adjustment is executed so that the rotation center of the goniometer agrees with the sample surface.
この距離センサの出力が同じ所定値になるように調節部材を駆動することによって試料面の水平が出されるとともにゴニオメータの回転中心と試料表面が一致するように高さ調整が行われる。 - 特許庁 - To obtain an analytical method in which metal impurities on the surface of a silicon substrate are analyzed with high sensitivity without being influenced by a change with the passage of time in the silicon substrate as a standard sample or a sample to be measured or without being influenced by an oxide film on the surface of the substrate.
標準試料や被測定試料であるシリコン基板の経時変化の影響、或いは基板表面の酸化膜の影響を受けずに高感度でシリコン基板表面の金属不純物を分析する。 - 特許庁
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