「sample」を含む例文一覧(30668)

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  • Let me sample your cake.
    あなたの作ったケーキの味見をさせて下さい。 - Tatoeba例文
  • They took a sample of my blood at the hospital.
    病院で検査用の血液を採血した。 - Tatoeba例文
  • I got his product sample from him.
    この製品のサンプルを彼から受け取りました。 - Weblio Email例文集
  • If you wouldn't mind, please sample the taste once.
    よろしければ一度味見してみてください。 - Weblio Email例文集
  • a random extract in sample research
    標本調査において,ランダムに抜き出すこと - EDR日英対訳辞書
  • rstart - a sample implementation of a Remote Startclient
    rstart - リモートクライアント起動機構(Remote Start client)のサンプル実装 - XFree86
  • METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR MICROSTRUCTURE OBSERVATION
    微細構造観察用試料の作製方法 - 特許庁
  • To provide a flow cytometer capable of measuring a measuring target sample with high precision even if the measuring target sample is present at a position shifted from the center of a sample flow, and a sample measuring method.
    測定サンプルがサンプル流の中心からずれた位置に存在する場合でも高精度の測定を行うことができる、フローサイトメータおよびサンプル測定方法を提供することにある。 - 特許庁
  • MINUTE SAMPLE PROCESSING OBSERVATION METHOD AND DEVICE THEREOF
    微小試料加工観察方法及び装置 - 特許庁
  • INJECTION METHOD AND INJECTION DEVICE OF SAMPLE
    試料の注入方法及び注入装置 - 特許庁
  • WORKING OBSERVATION METHOD FOR MINUTE SAMPLE AND APPARATUS
    微小試料加工観察方法及び装置 - 特許庁
  • Please feel free to try a sample.
    どうぞサンプルをお気軽に試食して下さい。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
  • They took a sample of my blood at the hospital.
    病院で検査用の血液を採血した。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
  • CULTURE VESSEL AND BIOLOGICAL SAMPLE OBSERVATION SYSTEM
    培養容器および生体試料観察システム - 特許庁
  • IMAGE SAMPLE NUMBER CONVERTER AND METHOD THEREFOR
    画像サンプル数変換装置及びその方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR FORMING SAMPLE
    試料形成装置及び試料形成方法 - 特許庁
  • COHERENT BEAM DEVICE FOR SAMPLE OBSERVING MEASUREMENT
    試料観察計測用可干渉ビーム装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR OPERATING MICROSCOPIC SAMPLE
    微視的サンプルを操作する方法及び装置 - 特許庁
  • END POINT DETERMINING METHOD FOR POLISHING ORE SAMPLE
    鉱石試料研磨の終点判定方法 - 特許庁
  • The sample chamber 10 has a metal carrier Mc.
    試料室１０は、メタルキャリアＭｃを有する。 - 特許庁
  • SAMPLE SURFACE INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS
    試料表面検査方法および検査装置 - 特許庁
  • PLATE FOR AUTOMATICALLY STORING PART OF SAMPLE
    試料の一部を自動的に貯蔵するプレート - 特許庁
  • SAMPLE ANALYSIS DEVICE AND METHOD
    試料分析装置および試料分析方法 - 特許庁
  • MINUTE SAMPLE PROCESSING/OBSERVING METHOD AND DEVICE
    微小試料加工観察方法及び装置 - 特許庁
  • SAMPLE SUPPORT DEVICE AND X-RAY ANALYSIS DEVICE
    試料支持装置及びＸ線分析装置 - 特許庁
  • ELECTROCHEMICAL TEST SENSOR WITH REDUCED SAMPLE VOLUME
    少ない標本量の電気化学試験センサ - 特許庁
  • ENDOTRACHEAL SAMPLE ADMINISTRATION AID FOR SMALL ANIMAL
    小動物用気管内サンプル投与補助器具 - 特許庁
  • Sample ： Fairy Angel（Kitayama, Kyoto）
    植物工場の例： フェアリーエンジェル（京都北山） - 経済産業省
  • The apparatus includes a probe, a drive mechanism for scanning the probe on a sample, and a sample cell for immersing the sample in liquid, wherein an inspection of the sample is carried out by three-dimensionally scanning the probe in the liquid with which the sample cell is filled.
    探針と、該探針を試料上で走査させる駆動機構と、試料を液体に浸すための試料セルとを有し、探針を試料セルに満たされた液中を三次元に走査することにより試料の検査を行う。 - 特許庁
  • The adsorbent sample is arranged in a basket 18 located in a lower end of the elastic body 4, the inside of the container 2 is brought into an atmosphere of the sample gas, the sample is thereby adsorbed to the adsorbent sample, and a mass of the adsorbent sample is increased thereby.
    弾性体４の下端のバスケット１８に吸着剤試料を配置し、容器２内を気体試料の雰囲気に設定すると、気体試料が吸着剤試料に吸着し、吸着剤材試料の質量が増加する。 - 特許庁
  • Moldability when each of the sample materials is extruded to obtain a sample molding, the shape retaining property of the sample molding, and the specific gravity of the sample molding obtained by curing and setting the sample molding are investigated.
    各標本材料を押出成形して標本成形体を得る際の成形性、前記標本成形体の保形性、並びに前記標本成形体を養生硬化して得られる標本成形品の比重を調査する。 - 特許庁
  • To provide a sample container moving method in a sample preparation part of a particle size distribution measuring device capable of moving the sample container from the liquid sample collection position to the position of a mixing part in a short time without spilling the liquid sample.
    液体試料をこぼすことなく短時間で試料容器を液体試料採取位置から混合部の位置まで移動できる粒径分布測定装置の試料調整部における試料容器移動方法を提供すること。 - 特許庁
  • The conditions are a sample size: 40 mm square, the supporting method of a sample: supported only at each peripheral edge of 5 mm, a face push method: the central part of the sample is pushed by 0.5 mm perpendicularly to the sample surface, and a stress measurement region: the central part of the sample.
    試料サイズ：４０ｍｍ角 試料の支持方法：各周縁部５ｍｍのみで支持 面押し方法：試料中央部を試料表面に対して垂直に０．５ｍｍ押圧 応力測定部位：試料中央部 - 特許庁
  • A fluid introduction mechanism introduces a sample fluid to the fluid access region so that the sample wells (12) in the selected subset (20) are populated with the sample fluid without the unselected sample wells being populated with the sample fluid.
    流体導入機構は、サンプル流体を流体アクセス領域へと導入し、その結果、選択されていないサンプルウェルにサンプル流体が入ることなく、選択されたサブセット（２０）内にあるサンプルウェル（１２）にサンプル流体が入る。 - 特許庁
  • To provide a sample holder and a sample analysis method for preventing a sample from being moved by a vibration transferred from the outside, and implementing an accurate fluorescent X-ray analysis of the sample even if the sample is a light and small piece.
    試料が軽量な小片である場合でも外部から伝わる振動による試料の移動を防止し、試料の蛍光Ｘ線分析を精度良く行うことができる試料ホルダ及び試料分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a significantly beneficial sample holder mounting a plurality of samples, for example, a sample to be examined and a standard adjustment sample for aberration correction in one sample holder at the same time, thereby enabling to observe each sample.
    本発明は、複数の試料、例えば、観察したい試料と、収差補正の標準調整試料を同時に装着し、それぞれの試料を観察できる試料ホルダーにより、大幅な利便を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Since this sample 9 is formed into a thin film to pass electron beams, most of entering electrons (e) pass the sample 9 although the sample is the insulating sample, and enter the interior of a sample stage 10.
    しかし、本発明における試料９は、電子線が透過するように薄膜化されているので、たとえ絶縁物試料であっても、入射電子ｅの大部分は試料９を透過して試料台１０内部へ侵入する。 - 特許庁
  • To provide a holding device for an analytical sample and an analytical method for the sample in an analytical device for the sample which can speedily and certainly distinguish a sample position from detected data by scanning the sample without depending on the mechanical accuracy of the device.
    装置の機械精度に依存することなく、試料の走査により、その検出データから迅速に且つ確実に試料の位置を判別できる試料分析装置における試料保持装置および試料分析方法を提供する。 - 特許庁
  • This sample chamber 5 for laser ablation has a sample chamber body 5a for storing a sample 4; and a window part 5b provided on an upper part of the sample chamber body 5a, for transmitting laser light with which the sample 4 is irradiated.
    レーザアブレーション用試料室５は、試料４を収容するための試料室本体５ａと、この試料室本体５ａの上部に設けられ、試料４に照射されるレーザ光を透過させる窓部５ｂとを有している。 - 特許庁
  • The sample holding mechanism does not cause any trouble even if the substrate sample is transited to a pressure-bonding operation while it is mounted to the sample holding mechanism by thinning the sample holding mechanism more than the substrate sample.
    サンプル保持機構の厚みを保持すべき基板サンプルよりも薄くすることにより、基板サンプルをサンプル保持機構に装着したままの状態で圧着操作に移行しても、サンプル保持機構の存在がなんら障害にはならない。 - 特許庁
  • The jig for the tamping test is constituted so as to press the upper part of the granular sample S when the sample for the tamping test is prepared by supplying the granular sample S into a mold and allowing a rammer 52 to fall into the mold to tamp the sample S to thereby prepare the sample for the tamping test.
    粒状の試料Ｓがモールド内に供給され、モールド内でランマー５２を落下させて試料Ｓを突固めて突固め試験用の供試体を作成する際に、試料Ｓの上部を押さえる突固め試験用治具である。 - 特許庁
  • A sample gas dilution mechanism 4 is controlled by a dilute sample gas supply control part 8 to dilute a sample gas, and the sample gas is supplied with a plurality of concentrations to a sensor part 2 with a plurality of concentrations so that the sample gas concentration is gradually increased.
    希釈サンプルガス供給制御部８により、サンプルガス希釈機構４を制御してサンプルガスを希釈し、低いサンプルガス濃度から徐々に高いサンプルガス濃度になるように、複数点の濃度でサンプルガスをセンサ部２に供給する。 - 特許庁
  • A control means 40 controls first and second sample-hold circuits 32, 33 so that a sample start timing of the first sample-hold circuit 32 comes faster than a sample start timing of the second sample-hold circuit 33.
    制御手段４０が、第１サンプルホールド回路３２のサンプル開始タイミングが第２サンプルホールド回路３３のサンプル開始タイミングよりも早くなるように、第１サンプルホールド回路３２および第２サンプルホールド回路３３を制御する。 - 特許庁
  • To control the flow of a sample liquid because there is the case where the measuring accuracy of the sample liquid is damaged by the flow of the sample liquid after the flow of the sample liquid into a measuring region is completed in a sample analyzing chip.
    試料分析チップにおいて測定領域に試料液の流入が完了した後、試料液の流動は、試料液の測定の正確さを損ねる要因となる場合があるので、試料液の流動を制御すること。 - 特許庁
  • Thereby, the movement of the sample tube between the spare exhaust chamber and the main exhaust chamber, movement of the sample tube between the main exhaust chamber and the sample chamber, and the pushing of the sample tube 18 into the sample stage 3 side by a chuck part 23 are done automatically.
    この結果、予備排気室と本排気室間の試料筒の移動、本排気室と試料室間の試料筒の移動、および、チャック部２３による試料筒１８の試料ステージ３側への押し込みが自動的に行われる。 - 特許庁
  • The detachable sample retention container 20 is provided at one end of the sample holder 10, thus easily exchanging the sample simply by removing the sample retention container 20 from the sample holder 10 after the protection pipe 40 is retracted from the outer periphery of the sample holder 10.
    試料ホルダ１０の一端に着脱自在な試料保持容器２０を備えたことから、保護管４０を試料ホルダ１０の外周から退避させた後、試料ホルダ１０から試料保持容器２０を取り外すだけで、容易に試料の交換作業を行うことができる。 - 特許庁
  • To provide a sample inlet having a structure and material that can inject a sample highly reproducibly without contaminating the sample with an organic substance in injecting a sample such as liquid or gas through a sample inlet using a sample injecting tool, and can easily remove the cause when it is contaminated.
    試料注入具を使用し、液体や気体の試料を試料注入口を通して注入する際、試料を有機物で汚染することなく、再現性良く注入でき、汚染された際、簡単に原因を取り除ける構造、材質を有した試料注入口である。 - 特許庁
  • (a) HA renders a primitive stream to a sample, (b) HA stores the sample to the sample memory region, (c) HA reads the sample from the sample memory region on the basis of sample programmable density for generating a pixel to be filtered, and (d) HA stores the pixel to a first buffer of the display region.
    ＨＡは、（ａ）プリミティブのストリームをサンプルにレンダリングし、（ｂ）サンプルをサンプル記憶域に格納し、（ｃ）ピクセルを生成するためにプログラム可能サンプル密度に基づいてサンプル記憶域からサンプルを読み取ってフィルタリングし、（ｄ）表示領域の第１のバッファにピクセルを格納する。 - 特許庁
  • The sample is treated with heat of a 1st temperature to diffuse the transition metals in the sample, the sample is treated with heat of a 2nd temperature to form metallic silicide from the transition metals diffused in the sample and then the sample is treated with heat of a 3rd temperature to solve the metallic silicide formed in the sample.
    サンプルを第１温度で熱処理して遷移金属をサンプル内に拡散させ、第２温度で熱処理してサンプル内に拡散した遷移金属から金属シリサイドを形成させ、第３温度で熱処理してサンプル内に形成された金属シリサイドを溶解させる。 - 特許庁
  • In a thinning processing, a thinned and standardized signal sample is generated by selecting an unchanged color signal sample from an inputted signal or combining oversampled and standardized color signal sample and the unchanged color signal sample, when an signal sample is changed from an inputted signal sample.
    間引き処理において、入力信号から変更されていない色信号サンプルを選択し、又は信号サンプルが入力信号サンプルから変更されている場合には、オーバーサンプリングされた規格化された色信号サンプルを組み合わせて間引きされた規格化された信号サンプルを生成する - 特許庁
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