「sample」を含む例文一覧(30668)
＜前へ 1 2 .... 49 50 51 52 53 54 55 56 57 .... 613 614 次へ＞- The sample holder 20 on the sample table 10 comprises bonding a transparent sheet 22 to the back of a metal frame 21 and the crystal sample S is placed on the central part of the sample holder 20 in a freely movable manner.
なお、試料テーブル１０上のサンプルホルダー２０は、金枠２１の裏面に透明シート２２を付着してなり、その中央部に結晶試料Ｓを載せて自在に移動可能である。 - 特許庁 - AUTO-LOADING MECHANISM FOR BIOCHEMICAL ANALYSIS SAMPLE
生化学解析用サンプルのオートローディング機構 - 特許庁 - When a synchronization instruction operation is performed, the CPU 12 shifts the readout position of the sample to the first beat point sample and restarts the output of each sample after the first beat point sample.
同期指示操作を行うと、ＣＰＵ１２は、サンプルの読み出し位置を最初の拍点サンプルへとシフトし、最初の拍点サンプル以後のサンプルの各々の出力を改めて開始する。 - 特許庁 - SAMPLE EXTRACTION DEVICE FOR ANALYSIS OF DIOXINS
ダイオキシン類の分析用試料抽出装置 - 特許庁 - LASER ICP ANALYZING METHOD OF HIGH TEMPERATURE SAMPLE
高温試料のレーザーＩＣＰ分析方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TRANSPORTING BIOLOGICAL SAMPLE
生体試料を輸送する方法及び装置 - 特許庁 - An ion liquid is held to a sample holding member (for instance, a micro-grid, a mesh or the like) having openings, and a sample is observed by putting the sample therein to float the sample in the ion liquid.
開口部を有する試料保持部材（例えば、マイクログリッドやメッシュ等）にイオン液体を保持し、そこに試料を投入することによってイオン液体中に試料を浮かして観察する。 - 特許庁 - OXYGEN ANALYSIS METHOD IN SAMPLE AND DEVICE
試料中の酸素分析方法および装置 - 特許庁 - Let me sample your cake.
あなたの作ったケーキの味見をさせて下さい。 - Tanaka Corpus - Using The BankApp Sample Project with Custom Code Generation
BankApp サンプルプロジェクトのカスタムコード生成での使用 - NetBeans - The NetBeans IDE comes with a sample Travel database.
NetBeans IDE には、サンプルの Travel データベースが付属しています。 - NetBeans - Java EE 5 sample projects to get you underway fast.
作業の進行を早める Java EE 5 サンプルプロジェクト。 - NetBeans - Code Sample 3: Page1 Code to Store the Username
コード例 3: ユーザー名を保存するための Page1 コード - NetBeans - SAMPLE-HOLD CIRCUIT AND FEEDTHROUGH SUPPRESSING METHOD
サンプルホールド回路及びフィードスルー抑制方法 - 特許庁 - MICROPUMP AND SAMPLE TREATMENT CHIP, AND SHEET CONNECTOR
マイクロポンプと試料処理チップ、及びシートコネクタ - 特許庁 - METHOD FOR POLISHING SAMPLE FOR OBSERVING METAL TEXTURE
金属組織観察用試料の研磨方法 - 特許庁 - SAMPLE PROCESSING DEVICE AND COVER GLASS TRANSPORTING DEVICE
サンプル処理装置及びカバーガラス搬送装置 - 特許庁 - SAMPLE REPLACING MACHINE AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE
試料交換機及びＸ線回折装置 - 特許庁 - To provide a device for extracting test sample, having a simple extraction work of the test sample, a high extraction rate of the test sample, and a small dispersion of measured values of the test sample.
被検試料の抽出作業が簡単で、被検試料の抽出率が高く、しかも被検試料の測定値のバラツキが少ない被検試料抽出装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR COLLECTING SAMPLE OF EXHAUST GAS
排ガスの試料採取方法および装置 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER AND STAGE FOR X-RAY MICROSCOPE
Ｘ線顕微鏡試料ホルダーおよびステージ - 特許庁 - CONTAINER SUPPLY DEVICE AND SAMPLE ANALYSIS DEVICE
容器供給装置及び試料分析装置 - 特許庁 - A sample stage device 1 comprises the sample stage surface 31 where a sample is placed and a heating means for heating the sample stage surface 31.
そのため、従来の顕微鏡用加温装置とは異なり、試料載置面に温度勾配が形成され、しかもその温度勾配を意図的に制御できる試料載置装置が求められている。 - 特許庁 - To find the film thickness distribution of a sample at a high speed without positioning points of measurement and a specific pattern on the sample in finding the in-plane film thickness distribution of the sample by measuring the film thickness of the sample after CMP processing.
ＣＭＰ加工後、膜厚を計測し面内膜厚分布を求める際、試料上の測定個所及び、特定パターンの位置決めすることなしに高速に膜厚分布を求める。 - 特許庁 - To provide a sample replacing machine, capable of suppressing positional shifting of a sample without using a complicated mechanism when replacing the sample, and maintaining an accurate rotation frequency of a sample axis.
試料を交換する際に、複雑な機構を用いずに試料の位置ずれを抑制でき、且つ試料軸の正確な回転数を保つことができる試料交換機を提供する。 - 特許庁 - CAST MEMBRANE STRUCTURE FOR SAMPLE PREPARATION
試料調製のための注型膜構造物 - 特許庁 - PREPARATION METHOD OF SPECIMEN SAMPLE AND APPLICATION THEREFOR
検体試料の調製方法とその応用 - 特許庁 - COMMODITY SAMPLE ILLUMINATOR FOR AUTOMATIC VENDING MACHINE
自動販売機の商品サンプル照明装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING TRANSPORT SAMPLE
輸送試料分析システム及び分析方法 - 特許庁 - SAMPLE PREPARING DEVICE AND METHOD
試料作製装置および試料作製方法 - 特許庁 - SAMPLE AND VAPOR SOURCE FOR MOLECULAR BEAM EPITAXY
分子線エピタキシ用試料及び蒸発源 - 特許庁 - BIOLOGICAL TISSUE SAMPLE PREPARATION METHOD AND APPARATUS
生物組織試料作製方法および器具 - 特許庁 - SAMPLE ANALYZING METHOD AND MASK USED THEREIN
試料解析方法及びそれに用いるマスク - 特許庁 - METHOD OF INTRODUCING SAMPLE INTO MICRO FLUID ELEMENT
マイクロ流体素子への試料導入方法 - 特許庁 - NMR ANALYZER AND SAMPLE MANAGEMENT DEVICE
ＮＭＲ分析装置および試料管理装置 - 特許庁 - The biopsy device 10 comprises a sample catching means 42 for catching and releasing the living sample, a sheath 36 into which the sample catching means 42 can be inserted, and the container 52 for storing the living sample.
生体サンプルを採取放出可能な採取手段４２と、採取手段４２を挿通可能な外筒３６と、生体サンプルを保存する容器５２と、を有する生検装置１０。 - 特許庁 - To recover a ground sample in a housing tray perfectly by eliminating the drift of air in a sample grinding chamber in a sample grinding apparatus for grinding a sample such as a plastic material or coke to continuously uniformize a particle size.
プラスティックやコークス等の試料を粉砕し、連続的に整粒する試料粉砕装置で、試料粉砕室内に空気の吹溜りをなくし、収納皿へ１００％回収する。 - 特許庁 - MICROPROBE AND APPARATUS FOR MEASURING SURFACE OF SAMPLE
マイクロプローブおよび試料表面測定装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR COLLECTING SAMPLE
試料採取装置および試料採取方法 - 特許庁 - LIQUID SAMPLE DISPENSER AND DRIVING METHOD
液体試料分注装置および駆動方法 - 特許庁 - SAMPLE SURFACE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD
試料表面検査装置及び検査方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR IONIZING SAMPLE GAS
試料ガスのイオン化方法およびイオン化装置 - 特許庁 - ATMOSPHERIC PRESSURE IONIZATION METHOD AND SAMPLE-HOLDING DEVICE
大気圧イオン化法および試料保持装置 - 特許庁 - SAMPLING DEVICE FOR GRAIN SIZE DISTRIBUTION MEASUREMENT SAMPLE
粒度分布測定用試料のサンプリング装置 - 特許庁 - LIQUID ASPIRATING MECHANISM AND SAMPLE ANALYZER
液体吸引機構および試料分析装置 - 特許庁 - ATMOSPHERIC PRESSURE IONIZATION METHOD, AND SAMPLE HOLDER
大気圧イオン化方法及び試料保持装置 - 特許庁 - ILLUMINATION OPTICAL DEVICE AND SAMPLE INSPECTION DEVICE
照明光学装置および試料検査装置 - 特許庁 - AUTOMATIC ANALYZER WITH SAMPLE CONTAINER HAVING CHARGE NEUTRALIZER
試料容器除電器付き自動分析装置 - 特許庁 - The sample holder 4 is used as also a docking rope.
サンプルホルダー４はドッキングプローブ兼用とする。 - 特許庁 - A sample atomic arrangement creating means 211 of a control section 21 creates atomic arrangement data of a sample, and a sample surface height calculating means 212 calculates the sample surface height mesh by mesh.
制御部２１の試料原子配置生成手段２１１は試料の原子配列データを生成し、試料表面高さ算出手段２１２がメッシュ毎に試料表面高さを算出する。 - 特許庁
- 特許庁
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