「simple microscope」を含む例文一覧(171)

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  • To provide a very versatile optical system capable of reducing the illumination unevenness or observation image unevenness with a simple structure, and to provide an illumination device and a microscope device.
    簡易な構成で照明ムラや観察像のムラを低減することができる汎用性の高い光学系、照明装置および顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a confocal microscope device capable of obtaining both of the fluorescent image and bright-field image of a cell by one and the same camera, with simple structure.
    簡易な構造により、同じカメラで、細胞の蛍光画像と明視野画像の両方を取得できる共焦点顕微鏡装置を実現することを目的にする。 - 特許庁
  • To provide a focusing device in which measuring range is expanded and measuring precision is improved using a simple structure and to provide a displacement sensor and a cofocusing microscope.
    簡単な構成で測定範囲を拡大したり、測定精度を高めたりすることができる合焦装置及び変位センサ並びに共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide an objective lens adjustment mechanism for adjusting inclination between an optical light axis of an objective lens and an optical light axis of a microscope main body by simple structure.
    簡易な構成により、対物レンズの光学的光軸と顕微鏡本体の光学的光軸との間の傾きを調整する対物レンズの調整機構を提供する。 - 特許庁
  • To provide the characteristic of a confocal scanning type microscope design in which a high signal output and a high ratio between a signal and a noise are realized with a simple means.
    高い信号出力および高い信号対雑音比が簡素な手段を用いて実現される冒頭に述べた種類の顕微鏡設計の特性を備えることにある。 - 特許庁
  • To obtain a revolver for a microscope having an inexpensive and simple structure and optionally selectively used for specifications fit to environment requiring high-degree cleanness and to ordinary environment.
    安価で簡単な構造を有し、高度のクリーン度を必要とする環境下と通常の環境下とに適合できる各仕様に任意に選択可能とすること。 - 特許庁
  • To provide a stereoscopic microscope simple in configuration and capable of observing an examinee in the presence of oblique lighting over a wide magnification range from a high magnification to a low magnification.
    簡単な構成で、高倍率から低倍率まで幅広い倍率範囲で、安定した偏斜照明で観察することが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a microscope which enables easy setting of the rate of loosening of a stopper for regulating the spacing between a specimen and an objective lens, is simple in operation and is low cost.
    標本と対物レンズの間隔を規制するストッパーの緩め量を簡単に設定でき、しかも操作が簡単で、価格的にも安価な顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method of evaluating the dislocation density of a group III nitride crystal in a simple and convenient manner using an optical microscope by forming etch pits having a suitable diameter.
    適正な径のエッチピットを形成することにより、光学顕微鏡を用いて簡便にIII族窒化物結晶の転位密度の評価ができる方法を提案する。 - 特許庁
  • To provide: a mode synchronous laser device that easily adjusts the repetition frequency of pulse light with simple and compact constitution; a pulse laser light source device; and a microscope device.
    簡単かつ小型な構成でパルス光の繰り返し周波数を容易に調整することができるモード同期レーザ装置、パルスレーザ光源装置、及び顕微鏡装置を得る。 - 特許庁
  • To provide a phase-contrast microscope in which phase contrast and halo are varied by a simple operation, and a variety of specimens are observed at a most suitable phase contrast.
    簡単な操作で位相差のコントラストとハローを変化させ、さまざまな標本で最も適した位相差観察をすることができる位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a high-performance tuning fork with a relatively simple structure and a method for manufacturing the same, and a focusing device, a displacement sensor and a confocal microscope, using the same.
    比較的容易な構成で性能の高い音叉、及びその製造方法、並びに、音叉を用いた合焦装置、変位センサ、及び共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a photoelectron multiplication system that is so structured as to be able to measure even an extremely weak optical signal with a structurally simple means; and to provide a microscope having the system.
    極めて微弱な光信号であっても構造的に単純な手段によって測定可能に構成された光電子増倍システム及び該システムを有する顕微鏡。 - 特許庁
  • Furthermore, the electron microscope is provided with a preview function to display a plurality of simple observation images corresponding to the picture quality set by the picture quality setting part 50 on a display part 28.
    また、電子顕微鏡は、画質設定部50によって設定された画質に対応する複数の簡易観察像を表示部28に表示するプレビュー機能を備える。 - 特許庁
  • To provide a microscope which has enhanced dust resistance by simple structure and enables the efficiency of maintenance work thereof to be improved without being influenced by an optical influence.
    簡単な構成で防塵性を高めることができ、しかも光学的影響を受けることなくメンテナンス作業性改善を可能にした顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To prove a method for reducing deviations in the optical axis of an alignment microscope, which is generated when the wafer alignment operation of a wafer for low temperature or for high temperature is performed in simple constitution.
    簡単な構成で、高温又は低温のウエハのウエハアライメント動作を行う場合に発生するアライメント顕微鏡の光軸ずれを低減する方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a deflection unit for a microscope with which sharp color observation can be easily and inexpensively performed with simple constitution without separately disposing a space and mechanism for arranging a phase plate, such as a sharp color plate and a vertical illuminating light projection tube or microscope using the same.
    鋭敏色板などの位相板を配置するためのスペースや機構を別途設けることなく、簡単な構成で、簡単かつ安価に鋭敏色観察を行なうことが可能な顕微鏡用偏向ユニット及びそれを用いた落射投光管又は顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a trinocular tube capable of adjusting a binocular inclined observation angle for an eyepiece lens connectable with a stereo microscope and guiding at least one of both optical paths of stereo microscope into a camera connection pipe on the arbitrary place of inclined line of sight by means of a simple means.
    立体顕微鏡と連結できる接眼レンズに対する双眼傾斜観察角度を調整することができ、傾斜視線の任意の場所で立体顕微鏡両光路の少なくとも1つを簡単な手段によりカメラ接続管に導き入れることのできる三眼鏡筒を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a scanning probe microscope of a simple structure, in which a part being scanned is reduced in weight and a light beam follows a cantilever, depending on the bending deformation of a tubular piezoelectric body.
    走査される部分が軽量化された、円筒型圧電体の湾曲変形に応じて光ビームがカンチレバーを追従する簡単な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide an aberration corrector capable of correcting chromatic aberration of an electronic optical system of a transmission type electron microscope by a comparatively simple and convenient system and capable of achieving high resolution observation.
    比較的簡便な系で透過型電子顕微鏡の電子光学系の色収差補正を行うことができ、かつ高分解能観察を実現できる色収差補正装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an organic sample observation device which is equipped with both of the function of a vertical fluorescence image pickup device and the function of a stereoscopic microscope and which can be used by switching both functions by simple operation.
    落射蛍光撮像装置の機能と実体顕微鏡の機能とを併せ持ち、且つ簡単な操作で両機能を切り替えて使用できる生体試料観察装置を提供する。 - 特許庁
  • To align the optical axis of an objective with the optical axis of a microscope main body with a simple structure and to increase the number of fitted objectives in a small structure.
    対物レンズの光軸と顕微鏡本体の光軸とを一致させる心調整を簡単な構造で行うと共に、小さな構造として対物レンズの取り付け本数を増大させる。 - 特許庁
  • To provide an evaluation method of an optical fiber probe capable of measuring and evaluating the diameter of the leading end of a core by a simple constitution without using a scanning electron microscope.
    走査型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な構成によりコア先端の直径を測定、評価することのできる、光ファイバプローブの評価方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an illuminator for a microscope, capable of irradiating the same position as that of stimulus light with guide light for grasping the radiation position of the stimulus light, with excellent accuracy by a simple configuration.
    刺激光の照射位置を把握するためのガイド光を刺激光と同じ位置に比較的簡単な構成によって精度良く照射できる顕微鏡の照明装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a marking apparatus in a simple structure, capable of accurately marking on a target position without contacting with B subject to be marked at the time of microscope inspection, or the like.
    顕微鏡検査時等において被マーキング物に接触することなく目的位置に正確なマーキングを容易に行うことができ、しかも、構造が簡単なマーキング装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe tip evaluation method for scan type probe microscope capable of evaluating the degradation of sharpness of the probe tip with a simple procedure, when the tip of the probe under use is worn.
    使用中の探針の先端が摩耗したとき探針先端の太さの劣化を簡易な手順で評価できる走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a transmitted illumination device that enables the observation under the transmitted illumination as the cultivation environment is kept constant with a simple structure, a microscope equipped with the same and transmitted illumination method.
    簡単な構成で、培養環境を一定に保ちながら、透過照明観察を行うことのできる透過照明装置、それを備えた顕微鏡、及び透過照明方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a laser scanning type microscope which enables selective observation in a wide wavelength range and observation without deteriorating a wavelength selectivity with a simple mechanical structure.
    簡単な機械的構造で、広い波長範囲に対して選択的に観測でき、かつ波長選択性を落とすことなく観測できるレーザ走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁
  • To provide a wave front evaluation method applicable to various optical systems easily with a simple system, to evaluate quantitatively the flatness of a wave front, and to correct aberration in a microscope easily and surely.
    簡単なシステムで、容易に様々な光学系に適用することができ、波面の平坦度を定量的に評価して、容易かつ確実に顕微鏡における収差の補正を行う。 - 特許庁
  • To provide a simple and inexpensive stereoscopic microscope which suppresses a stay light without degrading the workability neither making the optical system complicated and enables a user to observe a sample image of high contrast.
    作業性の悪化を招いたり光学系の複雑化を図ることなく迷光を抑え、コントラストの高い標本像を観察できる簡素で安価な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a microscope apparatus designed so that one part of a light shield body can be opened/closed by a simple operation, and a specimen can be easily replaced while the one part of the light shield is kept open, and the specimen can be easily viewed from above.
    簡易な操作で遮光体の一部を開閉することができ、遮光体の一部を開放した状態で標本の交換と上方からの視認とを容易に行うことができること。 - 特許庁
  • To provide a revolver rotational position detecting device which can accurately detect the rotational position of a revolver with simple structure and can be made small in size and low in cost and to provide a microscope provided with the device.
    簡単な構造でレボルバの回転位置を正確に検出することができ、小型化および低コスト化が可能なレボルバ回転位置検出装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide an imaging apparatus that is easily manufactured, has a simple configuration, and is easily operated, in order to observe images of a plurality of specimen cross-sections of different focusing positions in the direction of an optical axis, and to provide a microscope device.
    光軸方向に合焦位置の異なる複数の標本断面の画像を観察するため、装置の製造や構成が簡単で操作の容易な結像装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an object positioning apparatus that improves spatial resolution of a charged particle beam apparatus such as an electron microscope by suppressing minute vibration of an object such as a sample by a simple means.
    試料等の物体の微小な振動を簡便な手段によって抑制し、以って電子顕微鏡等の荷電粒子線装置の空間分解能を向上させる物体位置決め装置の提供する。 - 特許庁
  • To provide a microscope device capable of illuminating the entire field of view, using a comparatively simple structure, even if objective lens is moved so as to have a component in a direction orthogonal to an optical axis of the objective lens.
    対物レンズをこの対物レンズの光軸と直交方向の成分を持つように移動させても、比較的簡易な構成で、視野全体を照明することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
  • To realize, in a detecting device and a confocal microscope having the detecting device, high resolution and high detection efficiency regardless of detected light rays of different wavelengths by using a simple structure means.
    検出装置と該検出装置を備えた共焦点顕微鏡において、波長が異なる検出光でも高解像度と高検出効率とを構造的に簡単な手段により実現する。 - 特許庁
  • To provide a maceration medium supply apparatus, a fluorescent analytic inspecting device, and an incubation microscope which can stably perform temperature control over a sample and have simple constitution, and are reduced in cost.
    標本の温度制御を安定して行うことができる、構成が簡単で、価格的にも安価な液浸媒質供給装置、蛍光分光検査装置及び培養顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a scanning probe microscope constituted so as to accurately and quantitatively evaluate the leading end shape of its probe by simple work, and also to provide an evaluation method of its probe.
    簡単な作業を行うことで探針の先端形状を評価でき、定量的な評価を正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an objective enabling an operator to surely recognize the contact of the edge of the objective with a sample or the state change of the sample with simple constitution, and a microscope equipped therewith.
    簡単な構成で対物レンズの先端と試料との接触又は試料の状態変化を確実に認識することができる対物レンズ及びその対物レンズを備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a microscope system for operation that can be protected certainly from irregularly reflected laser light rays with a simple constitution and, in addition, can be improved conveniently and easily in color reproducibility and high resolution.
    この発明は、簡易な構成で、レーザー光の乱反射からの確実な保護を実現し得、且つ、簡便にして容易に色再現性及び高解像度化の促進を図り得るようにすることにある。 - 特許庁
  • To provide an illuminator for a laser microscope in which a wavelength width of light selected from light which is spectrum spread can be freely set and loss of amount of light can be suppressed with a simple structure.
    スペクトル拡散された光から選択する光の波長幅を自由に設定でき、簡単な構成で光量のロスを抑えることができるレーザ顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope for analysis having an analyzing function accurately performing element analysis and element mapping at a specific area of a sample at a correct analysis position (consonance of electron beam) with a simple constitution without providing an equivalent circuit on a scanning electron microscope side and an external analyzer side.
    走査電子顕微鏡本体側と外部分析装置側に同等の回路を備えることなく、簡単な構成により、試料の特定領域の元素分析や元素マッピングを正しい分析位置(電子ビーム一致)で正確に行うことができる分析機能を有した分析走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁
  • To provide an autofocus microscope capable of visualizing a focusing position on the sample surface with a simple constitution without adding a new light source for illuminating a mark indicating the focusing position on the sample surface and without changing the conventional optical system disposed in the microscope in the least.
    標本の表面上の合焦点位置を示す指標を照明するための新たな光源を追加することなく、また、顕微鏡が備える既存の光学系を何ら変更することなく、標本の表面上の合焦点位置を簡単な構成で視認することができる自動焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a microscope which is suitable for the high-resolution three-dimensional viewing of millimeter-size biological objects, wherein fast acquisition of data is possible and a structure is technically as simple as possible to implement.
    データの迅速な撮影が可能であって、構成が技術的にできるだけ簡単に実現されるような、ミリメータサイズの生物学的な対象物の高解像度による3次元的な観察に適した顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope which can switch in a simple operation a low vacuum secondary electron detection to other detections like a reflector electron detection without exposing a test piece chamber to an atmosphere.
    試料チャンバを大気開放することなく、低真空二次電子検出とそのほかの例えば反射電子検出等との切り換えを簡便な操作で以て行うことができる走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a fluorescent microscope in simple structure which can form an image of an ultraviolet area by directly detecting fluorescent light of an ultraviolet part generated by short-wavelength ultraviolet-ray excitation and is adaptive to the ultraviolet area.
    短波長の紫外線励起によって生じる紫外部の蛍光を直接検出し、紫外領域の像を形成することのできる、簡単な構造を持つ紫外領域対応の蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To obtain confocal effect for improving the picture quality of a simple laser scanning microscope which has its Y-directional scan fixed (linear scan type) and picks up an image formed by an objective at a return destination directly by a television camera.
    レーザー走査顕微鏡で、Y方向走査を固定型(線走査型)とし、戻り先の対物レンズによる結像を直接テレビカメラに写し込む簡易化型レーザー走査顕微鏡の画質を向上させるため共焦点効果をだすこと。 - 特許庁
  • To provide a microscope with a focus adjusting mechanism having a simple structure capable of performing coarse and fine motion adjustments of a focal point and facilitating the focusing, and capable of suppressing the production cost.
    焦点の粗動調整と微動調整とを行うことができると共に焦点を容易に合わせることができる簡易な構成を有し、製造コストを抑えることができる焦点調整機構を備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an optical system equipped with a focusing optical system capable of easily focusing with a simple constitution, dispensing with a mechanically complicated configuration for adjusting a pupil position, and to provide a laser microscope using the optical system.
    瞳位置の調整のための機械的に複雑な構成を必要とせずに簡単な構成で、フォーカシングを容易に行うことができるフォーカシング光学系を有する光学系およびこれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To realize a detection optical path made as short as possible by the assist of a structurally simple means concerning the design of a microscope, especially, a confocal scanning type microscope having a light source for irradiating an object to be inspected, a spectroscopic device for separating transmitted light passing through the object and fluorescence formed by the object and a separating device acting on the transmitted light.
    検査される対象物を照射するための光源と、対象物を通過する透過光および対象物で形成される蛍光を分離するための分光装置と、透過光に作用する分離装置とを有する特に共焦点走査型顕微鏡のための顕微鏡設計に関し、できる限り短い検出光経路が、構造的に簡素な手段の助けによって実現される。 - 特許庁
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