「simple microscope」を含む例文一覧(171)
＜前へ 1 2 3 4- To provide a microscope equipped with a light source image detection optical system capable of reducing the light intensity of a light source image with a simple constitution without increasing the number of components, and wherein, the light source can be easily positioned with desired accuracy without causing eye strain.
部品点数を増大させることなく簡易な構成で光源像の光の強度を低減可能な光源像検出光学系を備え、目に負担を招くことなく所望の精度で容易に光源の位置合わせを行うことができること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a near field opticalprobe which can be manufactured at low cost by simple process, a near field opticalprobe, a near field optical microscope, a near field light fine processing device and a near field optical record playback device.
単純な工程で、安価なコストで作製することが可能となる近接場光プローブの作製方法、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device capable of realizing with a simple constitution an illumination means for illuminating a sample which is an observation object and a space filter for removing a specific space frequency component of a pattern on the sample, and its illumination method.
本発明は観察対象である試料を照明する照明手段と、この試料上のパターンの特定の空間周波数成分を除去する空間フィルタとを簡単な構成で実現する顕微鏡装置及びその照明方法を提供する。 - 特許庁 - The subject method for observing the biological blood flow is to observe the image of the blood vessel of a micro-circulation system underneath the mucous membrane of an oral cavity by a PC or a TV monitor via the mucous membrane of the oral cavity by magnifying and displaying by a simple reflection illumination type optical microscope system having a magnification of more than 100.
口腔の粘膜を介して、その下にある微小循環系の血管の像を１００倍以上の倍率を持つ反射照明方式の単純な光学顕微鏡システムで拡大表示してＰＣ或いはＴＶモニターで見る。 - 特許庁 - To provide a light quantity adjusting mechanism which has a simple constitution, is low in cost and can conduct continuous light control and to provide an illumination unit having the mechanism and a microscope having the mechanism or the unit having the mechanism.
簡素な構成、かつ、低コストで、連続的な調光を行うことのできる光量調節機構、それを備えた照明ユニット、及び光量調節機構、又は光量調節機構を備えた照明ユニットを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a DLP type evanescence microscope capable of generating evanescent light by control of a DMD in order to attain efficient use of irradiation light, precision of a generation point, simple control and easy switching to other lighting system.
照射光の効率的な利用，発生位置の精度，簡易な制御，他の照明方式にも容易に切替え可能にするため、ＤＭＤの制御によってエバネッセント光を発生させることができるＤＬＰ式エバネッセンス顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Thus, the constitution of slide movement which hardly causes an error resulting from switching the objective lens 500 to form the image singly and which is simple is used, and then accurate observation is achieved while switching magnification according to the state of a subject to be observed by the microscope of the finite correction optical system.
単独で結像させる対物レンズ５００の切替による誤差が生じにくく簡単な構成のスライド移動の構成を利用でき、有限補正光学系の顕微鏡で被観察物の状態に応じて倍率を切り替えつつ高精度な観察ができる。 - 特許庁 - To provide a microscope with an imaging apparatus capable of rapidly determining an optimum exposure condition as a whole with simple constitution even when dividing a sample to many partial areas and performing microscopic imaging, and a method for calculating its exposure time.
試料を多数の部分領域に分割して顕微鏡撮像を行う場合においても、簡単な構成で迅速に全体最適な露出条件を決定できる撮像装置付顕微鏡、及びその露出時間を算出する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a microscope capable of promptly shaping second light of any wavelength to a desired beam shape and of superposing the beam on first light with simple and inexpensive constitution without using a phase plate and without forcing vexatious work to a user.
位相板を用いることなく、簡単かつ安価な構成で、しかもユーザーに煩雑な作業を強いることなく、第２の光をいかなる波長でも即座に所望のビーム形状に整形して第１の光と重ね合わせることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an interference microscope and a measuring apparatus, capable of measuring the surface shape of a sample (object to be measured) such as a wafer just by slightly inclining a reference mirror by a simple structure, identify accurate coordinate positions of dirt, pole pieces, etc., transmit and receive their accurate data to a charged particle beam device such as an electronic microscope and an image drawing device, and contribute more to an improvement in workability.
簡易な構成により、参照ミラーを僅かに傾斜させるだけで、ウェハなどの試料（被測定物）の表面形状を計測し、ごみやポールピースなどの正確な座標位置を特定し、電子顕微鏡、描画装置などの荷電粒子ビーム装置にその正確なデータを送受信して、作業効率の向上に一層貢献することができる干渉顕微鏡及び測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a vertical illumination optical system for a microscope having an adjusting function to adjust the image position of a light source to the rear focal position of each microscopic objective lens in response to replacement of the microscopic objective lens with a simple constitution, in a Koehler illumination system using a condenser lens array.
集光レンズアレイを用いたケーラー照明系において簡単な構成で顕微鏡対物レンズの交換等に対応して光源の像位置を各顕微鏡対物レンズの後側焦点位置に調整する調整機能を有する顕微鏡用落射照明光学系。 - 特許庁 - To provide a probe capable of accommodating for various kinds of measurement when being used in a microscope and applying to a recorder, and provide an optical head using the probe, and inexpensive, simple manufacturing method of the probe.
本発明の目的は、顕微鏡などに用いられた場合に様々な測定に対応することができ、記録装置にも応用することができるプローブ及びそれを用いた光ヘッドを提供すること、及びこのようなプローブの安価で簡単な製造方法を提供することである。 - 特許庁 - To realize the reciprocation without the tilt of components to be positioned with simple means in a device for precisely positioning, in particular, the objective lens or the objective lens revolver of a microscope in a vertical direction.
構成部品を精密位置決めするための装置、特に顕微鏡の対物レンズまたは対物レンズレボルバーを鉛直方向に精密位置決めするための装置において、位置決めされる構成部品の傾動のない往復運動が簡単な手段により可能であるように構成し、改良する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive device with a simple structure and an easy operation capable of enlarging an analyzing area of sample and enhancing a resolving power of ion at an electric field evaporation position to an atom level in an atom probe or a scanning type atom probe in which an electric field ion microscope and an ion detector are combined.
電界イオン顕微鏡とイオン検出器を組み合わせたアトムプローブあるいは走査型アトムプローブにおいて、試料の分析領域を拡大すると共にイオンの電界蒸発位置の分解能を原子レベルまで向上させ得る、簡素な構造で安価で操作が容易な装置を構成する。 - 特許庁 - To determine steps or unevenness formed on a sample by a simple technique or obtain three-dimensional information by using a charge particle beam device such as a scanning electron microscope, and particularly to provide a determination method or its device suitable for unevenness determination of a line and space pattern formed on a sample.
走査電子顕微鏡等の荷電粒子線装置で、簡単な手法で試料上に形成された段差及び凹凸の判定、或いは３次元情報を得ることにあり、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a cylinder piezoeletric element and a scanning probe microscope, with which an error of straightness can be corrected with a simple structure on an expansion and contraction operation in an axial direction, high straightness is realized, measurement precision is improved and a measurement object with a high aspect ratio can securely be measured.
軸方向の伸縮動作に関して簡単な構成で真直度の誤差を補正することができ、高い真直度を実現し、測定精度を高め、高アスペクト比の測定対象物も確実に測定できる筒型圧電素子および走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for identifying and inspecting a simple easy phase object image, whereby a wide, deep measurement visual field is provided and a phase difference interference image is sharply obtained in the place of conventional phase difference microscope used for observing a phase object such as a biological cell.
生体細胞のような位相物体の観察に用いられてきた従来の位相差顕微鏡に代わって、広くて深い測定視界を持ち、位相差の干渉画像が鮮明に得られる、単純で簡便な位相物体画像の識別、検査の方法と装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid medium for sample observation by an electron microscope and a sample observation method using the liquid medium, capable of preventing charge of a sample observation surface by a simple means, suppressing deformation caused by contraction or the like even after being dried, in a biosample or the like, and restraining an original image of the sample from being obstructed by partial remaining of ion liquid on a contraction impression.
試料観察面の帯電を簡易な手段で防止でき、生体試料等において、乾燥後も収縮等の変形を抑制でき、さらに収縮痕へのイオン液体の部分的な残留により試料本来の像が妨げられることを抑制できる電子顕微鏡による試料観察用の液状媒体とそれを用いた試料観察方法を提供する。 - 特許庁 - The method for manufacturing the concentrated composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt comprises concentrating the composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt to a water content of 13% or lower by a simple concentration operation so that the phase state of the composition has been converted, after concentrated, into a hexagonal phase state at 70°C as confirmed by observation by a polarization microscope.
α−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩を含有する組成物を簡易濃縮操作により水分量を１３％以下に濃縮するにあたり、濃縮後の組成物の相状態が偏光顕微鏡観察で確認した際に７０℃の温度でヘキサゴナル相状態となっていることを特徴とするα−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩含有濃縮組成物の製造方法。 - 特許庁 - To provide a laser scanning microscope in which an optical filter and a mechanical driving part requiring high position reproducing accuracy are not necessitated and the change of a device constitution is not necessitated for the various kinds of the combinations of exciting wavelength and a fluorescent pigment, by which the multiexcited fluorescent image of a sample multi-colored can be obtained by one photodetector by having a high S/N and whose constitution is simple.
光学フィルタや高度な位置再現精度を要する機械駆動部を必要とせず、励起波長や蛍光色素の各種組み合わせに対しても装置構成の変更を必要としない、多重染色された標本の多重励起蛍光像を一つの光検出装置でも高いＳ／Ｎをもって得ることの出来る、簡易な構成のレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional shape measuring device for measuring and displaying a three-dimensional shape efficiently by relating surface optical image information acquired by a confocal laser scanning type microscope with a simple configuration to height information acquired by a microscopic interference measurement method for management and easily acquiring the three-dimensional shape of a high-definition and high-resolution sample over a wide magnification range.
簡単な構成で共焦点レーザ走査型顕微鏡によって取得される表面光学像情報と顕微干渉計測法によって取得される高さ情報を関連付けて管理し、広い倍率範囲に渡って高精細、高分解能な試料の３次元形状を容易に取得し、効率的にこの３次元形状を測定、表示する３次元形状測定装置を提供する。 - 特許庁
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