「test current」を含む例文一覧(683)

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  • DIRECT CURRENT TEST APPARATUS
    直流試験装置 - 特許庁
  • CURRENT-TEST TERMINAL DEVICE
    電流試験端子装置 - 特許庁
  • PROBE FOR EDDY CURRENT TEST
    渦流探傷試験用プローブ - 特許庁
  • DIGITAL EDDY CURRENT DEFECT DETECTION TEST DEVICE
    デジタル式渦流探傷試験装置 - 特許庁
  • EDDY-CURRENT TEST PROBE AND EDDY-CURRENT TEST METHOD USING THE PROBE
    渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いた渦流探傷検査方法 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR EDDY CURRENT TEST
    渦電流探傷検査方法及びシステム - 特許庁
  • CORROSION EVALUATION METHOD USING EDDY CURRENT TEST
    渦流探傷を用いた腐食評価方法 - 特許庁
  • To solve a problem that error check of the ratio of current transformation of a current transformer can not be executed by a test by a kick test method.
    キックテスト法による試験では、変流器の変流比の正誤チェックができない。 - 特許庁
  • EDDY CURRENT FLAW TEST EQUIPMENT, AND DETERMINATION METHOD THEREFOR
    渦流探傷装置およびその判定方法 - 特許庁
  • EDDY CURRENT TEST METHOD AND DEVICE OF METAL BAND
    金属帯の渦流探傷方法および装置 - 特許庁
  • CURRENT MEASURING DEVICE, TESTING DEVICE, CURRENT MEASURING METHOD, AND TEST METHOD
    電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 - 特許庁
  • CURRENT-CARRYING TEST DEVICE FOR ARRAY TYPE SEMICONDUCTOR LASER ELEMENT
    アレイ型半導体レーザ素子の通電試験装置 - 特許庁
  • EDDY CURRENT TEST METHOD FOR ROLLING BEARING COMPONENT
    転がり軸受部品の渦流探傷検査方法 - 特許庁
  • CURRENT MEASURING APPARATUS, TESTING DEVICE AND TEST METHOD
    電流測定装置、試験装置、及び試験方法 - 特許庁
  • HARD DISK CURRENT TEST SYSTEM AND ADAPTER BOARD THEREFOR
    ハードディスク電流のテストシステム及びそのアダプターボード - 特許庁
  • A test voltage V_T and a test current I_T to be applied at the time of a switching test of contact points are predetermined.
    接点の開閉試験時に印加する試験電圧Ｖ_Ｔと試験電流Ｉ_Ｔを予め規定する。 - 特許庁
  • POWER SUPPLY CURRENT MEASURING UNIT AND SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM
    電源電流測定ユニット及び半導体テストシステム - 特許庁
  • To accurately measure current consumption of a device under test.
    被試験デバイスの消費電流を精度良く測定する。 - 特許庁
  • TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF CURRENT MEASURING CIRCUIT
    電流計測回路の試験装置および試験方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING EDDY CURRENT TEST SIGNAL
    渦電流検査信号分析装置及びその方法 - 特許庁
  • To suppress consumption current in a memory test and increase the frequency during the memory test.
    メモリのテスト時の消費電流を抑え、メモリテスト時の周波数を高速化する。 - 特許庁
  • Respective current supply circuits supply data write current being less than the current during data writing at the test time.
    各電流供給回路は、テスト時にデータ書込時よりも少ないデータ書込電流を供給する。 - 特許庁
  • VOLTAGE GENERATING APPARATUS, CURRENT GENERATING APPARATUS, AND TEST APPARATUS
    電圧発生装置、電流発生装置および試験装置 - 特許庁
  • To improve efficiency of a current/new matching test related to an online system.
    オンラインシステムに関する現新一致テストを効率化する。 - 特許庁
  • To reduce an increase in current consumption during a stress test.
    ストレス印加テスト時の消費電流の増大を抑制する。 - 特許庁
  • CURRENT TRANSFORMER SECONDARY OPENING PROTECTION CIRCUIT, ELECTRIC BOARD, AND TEST PLUG
    変流器二次側開放保護回路、電気盤及びテストプラグ - 特許庁
  • A polarity test of the current transformer 15 is implemented.
    これにより、計器用変流器１５の極性試験を行う。 - 特許庁
  • PROBE FOR CURRENT-CARRYING TEST, PROBE CARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD
    通電試験用プローブ、プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁
  • The test signal generating section 811a generating current, the absolute value of which increases for every one period, only for a predetermined period as the positive test current and the negative test current.
    また、検査信号生成部８１１ａは、正検査電流及び負検査電流として、その絶対値が１周期毎に増大する電流を所定周期分だけ生成するものである。 - 特許庁
  • A load current application circuit supplies a load current to the first node during a test period, and stops supply of the load current after finish of the test period.
    負荷電流印加回路は、テスト期間中に負荷電流を第１ノードに供給し、テスト期間終了後に負荷電流の供給を停止する。 - 特許庁
  • The current detection circuit 19a can detect the driving current to the data current Vdata for test.
    電流検出回路１９ａはテスト用のデータ電流Ｖｄａｔａに対する駆動電流を検出できる。 - 特許庁
  • VOLTAGE-APPLIED CURRENT MEASUREMENT DEVICE AND TEST EQUIPMENT USING IT
    電圧印加電流測定装置とそれを用いた試験装置 - 特許庁
  • TEST CURRENT GENERATOR AND TESTER FOR INSULATION MONITOR
    試験電流発生装置及び絶縁監視装置用の試験装置 - 特許庁
  • In a test mode, current switching circuits 120 and 130 makes the same test current It flow in the nodes Nc and Nd in stead of the access current Iac and the reference current Ir.
    テストモードにおいて、電流切換回路１２０および１３０は、アクセス電流Ｉａｃおよび基準電流Ｉｒに代えて、同一のテスト電流ＩｔをノードＮｃおよびＮｄへ流す。 - 特許庁
  • The two test pads are used as test pads for measuring current, by cutting wiring for connecting the two test pads.
    そして、２つのテストパッド間を接続する配線を切断することで、該２つのテストパッドを電流測定用テストパッドとして利用する。 - 特許庁
  • To provide a test circuit which performs a test of an amplifier part and a test of a leak current between light receiving elements, of which the chip size is small.
    増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.
    被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁
  • When a switching element 28 is put into an ON state by a control signal from a control section 14, test current is supplied to the test line 26 for making the test current flow from a power supply 27 for test to the primary side of the zero-phase current transformer 24.
    制御部１４からの制御信号により、スイッチング素子２８がオン状態になると、テスト用電源２７から零相変流器２４の一次側にテスト電流を流すためのテストライン２６にテスト電流が供給される。 - 特許庁
  • In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty.
    スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。 - 特許庁
  • To provide an inexpensive digital eddy current defect detection test device capable of performing efficiently an eddy current defect detection test of a pipe.
    パイプの渦流探傷試験を効率よく実施することができる安価なデジタル式渦流探傷試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To precisely discriminating a part representing a damaged part in a tested body from an eddy current test signal obtained by an eddy current test.
    渦電流検査により得られた渦電流検査信号から、被検査体に存在する損傷を表す部分を精度よく識別する。 - 特許庁
  • To perform a discharge test based on a constant current value.
    一定の電流値による放電試験を行うことを課題とする。 - 特許庁
  • FIELD TEST METHOD FOR DIFFERENTIAL RELAY USING EXCITATION INRUSH CURRENT
    励磁突入電流を用いた差動継電器の現地試験方法 - 特許庁
  • TURN-ON TEST CIRCUIT FOR CURRENT DRIVING TYPE POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT
    電流駆動形電力用半導体素子のターンオン試験回路 - 特許庁
  • current usage also applies this term to any genetic test.
    現在では、この用語はあらゆる遺伝子検査に適用されている。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • A DC unit 3 performs a DC test (DC current precision test) for measuring the output voltage, current applied voltage, and voltage applied current of the measured device 2.
    ＤＣユニット３は、被測定デバイス２の出力電圧測定，電流印加電圧測定及び電圧印加電流測定を行うＤＣテスト（直流精度試験）を行う。 - 特許庁
  • To significantly shorten the test time required for a standby current test and to detect failure with precision.
    スタンバイ電流テストにおけるテスト時間を大幅に短縮し、かつ高精度に不良を検出する。 - 特許庁
  • To provide a current applying test method of a power cable hardly influenced by a change of the outside air temperature, capable of performing a current applying test excellently, and to provide a current applying test system of the power cable utilized for execution of the test method.
    外気温の変化に伴う影響を受け難く、良好に課通電試験を行うことができる電力ケーブルの課通電試験方法、及びこの試験方法の実施に利用される電力ケーブルの課通電試験システムを提供する。 - 特許庁
  • In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.
    次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁
  • The current applying test system 1 includes a CT (Current Transformer) 3 for a conductor for sending a current into a conductor 20 of a test cable 2 arranged in a closed loop shape, and a dummy cable 4 for conductor current application utilized for measurement of a conductor 20 temperature.
    課通電試験システム1は、閉ループ状に配置された供試ケーブル2の導体20に電流を流す導体用CT3と、導体20の温度の測定に利用される導体通電用ダミーケーブル4とを具える。 - 特許庁
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