「test current」を含む例文一覧(683)

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  • To reduce greatly a heavy current flowing momentarily at a scan test time.
    スキャンテスト時に瞬間的に流れる大電流を大幅に低減する。 - 特許庁
  • To perform a voltage applying current measurement test and a current applying voltage measurement test simultaneously for the I/O pins of an electronic device.
    電気部品１６が有する入出力ピンに対して、同時に電圧印加電流測定試験または、電流印加電圧測定試験をする。 - 特許庁
  • EDDY CURRENT TEST SIGNAL DISCRIMINATING METHOD AND DEVICE USING IT
    渦電流検査信号識別方法及びこの方法を用いる装置 - 特許庁
  • The power supply line 9 connected to the zero-phase current transformer 2 is also used in common with a test circuit 10 connected to the zero-phase current transformer 2 for shielding test.
    零相変流器２に通す電源線９を、遮断テストをする為に零相変流器２に通したテスト回路１０と共用させた。 - 特許庁
  • Therefore, current consumption of the test circuit 24 is included in a standby leak current of the memory 30.
    したがって、メモリ３０のスタンバイリーク電流にテスト回路２４の消費電流が含まれることはない。 - 特許庁
  • To monitor a current flowing to a device to be measured, even in tests which are other than a test for measuring current consumption.
    消費電流を測定する以外の試験でも被測定デバイスに流れる電流を監視する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test apparatus which can reduce the measurement time of a current test on a semiconductor device, and semiconductor test method.
    半導体素子の電流試験の測定時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method of processing a test current for measuring an analyte in a fluid by using a test strip and a test meter.
    テストストリップと、検査計測器とを使用して、液体の中の分析物の測定のために検査電流を処理する方法を提供すること。 - 特許庁
  • As another test method, various different voltages are applied to the test pad 2 to detect a current value.
    また別の試験方法として、試験パッド２にそれぞれ異なる電圧を印加して電流値を検出する。 - 特許庁
  • A test mode is set in this D/A converter 100 and a current switch 50 for a test is turned ON and OFF in linkage with the current switch 20-1 of the constant current source 10-1 of a lowest order.
    Ｄ／Ａコンバータ１００でテストモードに設定し、テスト用の電流スイッチ５０が最下位の定電流源１０−１の電流スイッチ２０−１と連動してオン、オフする。 - 特許庁
  • A tester judges the standby current test based on the monitor signal M.
    テスタは、モニタ信号Ｍに基づいてスタンバイ電流テストの判定を行う。 - 特許庁
  • IC-MOUNTED ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING SUBSTRATE AND LEAKAGE CURRENT TEST METHOD THEREFOR
    ＩＣ実装済み電子部品実装基板及びそのリーク電流試験方法 - 特許庁
  • To provide a power supply current measuring unit arranged on a semiconductor test system and capable of accurately measuring the power supply current of a device under test at a high speed.
    半導体試験システムに備えられ、被試験デバイスの電源電流を高速でかつ正確に測定できる電源電流測定ユニットを提供する。 - 特許庁
  • An alternating current test voltage generating circuit 8 outputs alternating current test voltage to a high voltage battery 2 through an impedance element 7 and a coupling capacitor 6.
    交流試験電圧発生回路８はインピーダンス素子７とカップリングコンデンサ６とを通じて高電圧バッテリ２に交流試験電圧を出力する。 - 特許庁
  • A gap adjustment test is carried out by passing a test current set in a range, corresponding to 1/2 to 1/10 of a rated current of the series reactors 24u to 24w therethrough.
    ギャップ調整試験は、直列リアクトル２４ｕ〜２４ｗにその定格電流の１／２〜１／１０の範囲で設定された試験電流を流して行われる。 - 特許庁
  • A consumption current value within a prescribed test time is calculated on the basis of the monitoring current value and the maximum load current value of the system, and the battery 8 is subjected to a capacity test by dummy load on the basis of the consumption current value.
    システムの監視電流値及び最大負荷電流値を基に、所定の試験時間内の消費電流値を求め、その消費電流値を基にして、疑似負荷による電池８の容量試験を行う。 - 特許庁
  • According to this constitution, it is possible, for instance, to inject the test current so that the reactive leakage current may increase, to make the test current reach a prescribed current value and thereby to check that the insulation monitoring device I does not perform an alarming operation.
    これにより、例えば、無効漏れ電流が増加するように試験電流を注入し、所定の電流値に到達させて、絶縁監視装置Ｉが警報動作しないことを確認することができる。 - 特許庁
  • In operation of the eddy current test on a bearing ring surface part or a rolling element surface part of the rolling bearing, the eddy current test is carried out on the surface part by using an eddy current test probe with a detection coil diameter of 1 mm or less.
    転がり軸受の軌道輪表層部または転動体表層部を渦流探傷検査するに際して、検出コイル径が１ｍｍ以下の渦流探傷プローブを用いて前記表層部を渦流探傷検査する。 - 特許庁
  • The test circuit 14 flows test current when a test switch 15 closes, stops the test current after elapse of a given time in case the leak detection circuit 7 does not output signals, and stops the test current before elapse of the given time in case the leak detection circuit 7 keeps on outputting signals.
    テスト回路１４は、テストスイッチ１５が閉極するとテスト電流を流し、漏電検出回路７が信号を出力していない場合には所定の時間経過後にテスト電流を停止させ、漏電検出回路７が信号を出力している場合には所定の時間が経過する前にテスト電流を停止させる。 - 特許庁
  • To decide whether an over current protection value of a main current is within a normal range without a special test facility.
    特殊なテスト設備を要せず、メイン電流の過電流保護値が正常範囲に収まっているか判定する。 - 特許庁
  • Each time the test is run, the current output is compared to the content of Output.xml.
    テストを実行するたびに、現在の出力が Output.xml の内容と比較されます。 - NetBeans
  • Each time the test is run, the current output is compared to the contents of Output.xml.
    テストを実行するたびに、現在の出力が Output.xml の内容と比較されます。 - NetBeans
  • A voltage or current from the test transistor 145 is applied to each pixel row.
    各画素行には、テストトランジスタ１４５からの電圧または電流が印加される。 - 特許庁
  • Therefore, a leak current is not made to flow in a boosting circuit even if a test voltage pad is cut off after finish of a test.
    したがって、テスト終了後にテスト電圧パッドを切断しても、昇圧回路にリーク電流が流れなくなる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device in which current consumption of a memory can be measured accurately without being affected by current consumption of a test circuit used only at the time of a test.
    テスト時にのみ使用するテスト回路の消費電流に影響されずにメモリの消費電流を正確に測定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • ORGANIC EL DRIVE CIRCUIT AND PROPRIETY TEST METHOD FOR DRIVE CURRENT OF THE DRIVE CIRCUIT
    有機ＥＬ駆動回路およびこの駆動回路の駆動電流の適否検査方法 - 特許庁
  • Each time the test is run, the current output is compared to the contents of Output.
    テストを実行するたびに、現在の出力が「出力」の内容と比較されます。 - NetBeans
  • To suppress an increase of an electric current flowing through a circuit when the scan path test is implemented.
    スキャンパステストを行うときに回路内を流れる電流の増加を抑制する。 - 特許庁
  • To provide an eddy current probe for nondestructive test of electrically conductive materials.
    本発明は、導電性材料の非破壊試験のための渦電流プローブに関する。 - 特許庁
  • Each time the test is run, the current output is compared to the content of Output.
    テストを実行するたびに、現在の出力が「出力」の内容と比較されます。 - NetBeans
  • To enable stable test at the actual operating frequency by controlling, during the test of semiconductor device, power source noise and power source voltage drop due to heavy current in the test mode for operating a test circuit.
    半導体装置の試験において、テスト回路を動作させるテストモード時の大電流による電源ノイズや電源電圧降下を抑制し、実動作周波数での安定した試験の実施を可能にする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device in which large current characteristic of high precision can be obtained by a probe test using a low current.
    低電流によるプローブテストにより高精度の大電流特性を得ることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • BULK CURRENT INJECTION TRANSFORMER, BULK CURRENT INJECTION TEST METHOD, CONDUCTOR EXCITATION MODE MEASURING METHOD, AND TRANSFORMER TESTING DEVICE
    バルク電流注入トランス、バルク電流注入試験方法、導体励起モード測定方法、およびトランス試験装置 - 特許庁
  • The impressed voltage of the test object is measured simultaneously with measurement of the charge current thereof; the measurement value of the impressed voltage is used for calculating the leak current in charging the test object, and the leak current in charging is used for calculating a capacitance value of the test object based on the fact that leak current in charging the test object is proportional to the impressed voltage.
    被測定対象の充電時のリーク電流が印加電圧に比例することから、被測定対象の充電電流の測定と同時に印加電圧の測定を行って、この印加電圧の値を被測定対象の充電時のリーク電流値の算出に利用し、この充電時のリーク電流値を被測定対象の容量値の算出に利用する。 - 特許庁
  • Therefore, a sufficient burn-in test can be executed for the digit line being a current line, while a test time of the burn-in test can be shortened.
    したがって、電流線であるデジット線に対して十分なバーンイン試験を実行することができるとともに、いわゆるバーンイン試験の試験時間も短縮することができる。 - 特許庁
  • To provide an IC test device for suppressing IC to be tested from deteriorating due to discharge current of a capacitor in an IC test, and to provide an IC test method.
    ＩＣの試験において、コンデンサの放電電流によって被試験ＩＣが劣化するのを抑止することができるＩＣテスト装置およびＩＣテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • The dielectric loss tangent tanδ' from which an influence of a leakage current component I2 is removed by a CPU 25 is calculated based on the output current from the current adder 16 when the direct-current component in the output current is adjusted to be zero by the variable resistor 14 and on the test current by the test power supply 2.
    そして、可変抵抗器１４によって出力電流のうちの直流成分が零になるようにされたときの電流加算器１６の出力電流と、試験電源２による試験電圧とに基づき、ＣＰＵ２５により漏れ電流成分Ｉ２の影響を除いた誘電正接ｔａｎδ’が算出される。 - 特許庁
  • To provide a test jig for a metal-enclosed switch gear which is used for testing a current transformer.
    変流器試験などを試験する金属閉鎖型スイッチギヤ用試験治具を提供する。 - 特許庁
  • The eddy current flaw test device includes an encircling coil, a plurality of delivery rolls and a flaw detector.
    渦流探傷装置は、貫通コイルと、複数の搬送ロールと、探傷器とを備える。 - 特許庁
  • A microcomputer 30 makes test current flow for use to detect the disconnection failure of an inductive load circuit.
    マイコン３０は、誘導負荷回路の断線異常検出用として、試験電流を流す。 - 特許庁
  • The microcomputer 32 controllably outputs a test current to the electromagnetic solenoid 22 after the time is counted.
    マイコン３２は、前記計時した後、試験電流を電磁ソレノイド２２に出力制御する。 - 特許庁
  • The test execution control section 231 repeats same processing by changing the write current value.
    テスト実行制御部２３１は、ライト電流値を変化させて同様の処理を繰り返す。 - 特許庁
  • The method for deciding the write current for the magnetic memory cell includes a step for supplying test write current for the test magnetic memory cell, a step for determining the response to the switching for the test magnetic memory cell by detecting a magnetization state for the test magnetic memory cell and a step for generating the write current having the quantity dependent on the switching response.
    磁気メモリセルのための書込み電流を決定するための方法は、テスト磁気メモリセルにテスト書込み電流を供給するステップと、テスト磁気メモリセルの磁気状態を検知してテスト磁気メモリセルの切替え応答を判定するステップと、切替え応答に依存する量を有する書込み電流を生成するステップを含む。 - 特許庁
  • Test current is outputted from a test current output circuit 28 to a tertiary winding 12 of the zero phase current transformer 3 so that the micro controller 26b automatically regulates the sensitivity from the input from an input from the secondary winding 11 and the theoretical value.
    また、テスト電流出力回路２８から零相変流器３の３次巻線１２にテスト電流を出力し、２次巻線１１からの入力と理論値とからマイコン２６ｂは感度を自動調整する。 - 特許庁
  • Current limiting circuits 23, 24 are arranged on the side of a test head 22, and an excessive current which flows when a short circuit occurs is limited by the limiting circuits 23, 24, at least in an interval up to when the current mechanism of a test power supply device starts to function.
    テストヘッド２２側に電流制限回路２３、２４を設け、少なくとも試験電源装置の電流機構が機能するまでの間、電流制限回路２３、２４で短絡時の過大な電流を制限する。 - 特許庁
  • During the test mode, the detection circuits detect whether or not the current running through the current detecting resistors is outside an expected range.
    テストモードの間に、検出回路は、電流検知抵抗を流れる電流が予想範囲外にあるか否かを検出する。 - 特許庁
  • To provide a short-circuit tool for a test plug capable of easily and rapidly measuring a current, and to provide a short-circuit structure for the test plug.
    容易かつ迅速に電流測定を行うことができるテストプラグ用短絡具及びテストプラグの短絡構造を提供すること。 - 特許庁
  • To realize an IC tester capable of correctly test even supplying or drawing current to/from the test object.
    被試験対象に電流供給または吸引しても、正確に試験を行うことができるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁
  • A static power current IDDQ is measured at a plurality of strobe points with application of a test signal to a CMOS integrated circuit 50 under test.
    試験対象のＣＭＯＳ集積回路５０にテスト信号を印加して静止電源電流Ｉ_DDQ を複数のストローブ点で測定する。 - 特許庁
  • First, a test (20) is performed of items which are assumed to be unrepairable and to be unrecoverable to normal one even if switched over to a redundant cell including the test of circuit current with power supply applied, and a test (30) of a circuit current after writing '0' to all cells is performed.
    まず、セルの切り替えにより修復し良品化することが出来ない項目を電源投入時の回路電流を含んで検査（２０）し、パス品に対して、全セルに「０」を書き込み後の回路電流の検査３０を行う。 - 特許庁
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