「test data method」を含む例文一覧(459)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 次へ＞- DEVICE, METHOD, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM FOR FORMING TEST DATA FILE
テスト用データファイル作成装置、方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁 - DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING TEST DATA IN TELEGRAM PROCESSING SYSTEM
電文処理システムのテストデータの生成装置、方法、及びプログラム - 特許庁 - TEST CHART, IMAGE DATA, AND IMAGE FORMING DEVICE AND METHOD
テストチャート、画像データ、画像形成装置、及び画像形成方法 - 特許庁 - EVALUATION TEST SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-PLY MATERIAL, STORAGE MEDIUM STORING EVALUATION TEST PROGRAM FOR MULTI-PLY MATERIAL, EVALUATION TEST DATA MANAGEMENT SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-PLY MATERIAL, AND STORAGE MEDIUM STORING EVALUTATION TEST DATA MANAGEMENT PROGRAM FOR MULTI-PLY MATERIAL
多層材料の評価試験システム、方法及びプログラムを記録した記録媒体、並びに多層材料の評価試験データ管理システム、方法及びプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide a test data generating program, a test data generating device, and a test data generating method, capable of improving exhaustiveness in validation for logic verification.
論理検証における検証網羅性を向上させることが可能なテストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - TEST MEASUREMENT APPARATUS AND DATA ACQUISITION METHOD IN SAME
試験測定装置及び試験測定装置におけるデータ取得方法。 - 特許庁 - SUPPORT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR CREATING TEST DATA
テストデータ作成支援装置、作成支援方法、及び作成支援プログラム - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR BUILT-IN SELF-TEST FOR RECOVERY TYPE DATA TRANSMISSION SYSTEM
再生型データ伝送システムの内部自己検査方法及びシステム - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST PATTERN DATA GENERATING METHOD FOR THE DEVICE
半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING ELECTRONIC TEST PROGRAM AND DATA STRUCTURE
電子テスト及びデータ構造を生成する為の方法及び装置 - 特許庁 - METHOD FOR DIAGNOSING DATA PACKET TRANSFER FAILURE IN SYSTEM UNDER TEST
被試験システムにおいてデータパケット転送障害を診断する方法 - 特許庁 - Selective test data log method related to one embodiment includes a step for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data, and a step for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.
一実施形態に係る選択的テストデータログ方法は、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成することと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正することとを含む。 - 特許庁 - To provide an electrode tension test method, which can lead accurater data to an electrode tension test, a device for the electrode tension test method and a substrate/probe support device for an electrode tension test.
より正確なデータを導くことのできる電極引張試験方法及びその装置並びに電極引張試験用の基板／プローブ支持装置を提供すること。 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM
被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁 - To provide a data generation method that dynamically generates test data to be used in a model inspection.
モデル検査で用いるテストデータを動的に生成するデータ生成方法を提供する。 - 特許庁 - The testing method can reduce man-hours for generating the test specifications and test data to reduce human errors in generating the test specifications and test data.
このようなテスト方法は、そのテスト仕様書とテストデータとを生成する工数をより低減することができ、そのテスト仕様書とテストデータとの生成時の人手によるミスを低減することができる。 - 特許庁 - METHOD FOR SYNTHESIZING FULL APERTURE NUMERICAL DATA MAP OF OBJECT TEST SURFACE
物体試験表面の完全アパーチャ数値データマップを合成する方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR INJECTING TEST JITTER INTO DATA BIT STREAM
データビットストリーム中にテストジッタを注入するためのシステムおよび方法 - 特許庁 - BUILT-IN DATA ACCESS DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE
境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR WRITING DATA IN MEMORY OF INTEGRATED CIRCUIT TEST APPARATUS
集積回路試験装置のメモリにおけるデータ書込方法及び装置 - 特許庁 - PRODUCING METHOD AND MACHINE FOR TEST DATA, AND WIRING TESTING MACHINE
検査データの作製方法及び検査データ作製機並びに布線検査機 - 特許庁 - BUILT-IN DATA TRANSMITTING DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE
境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法 - 特許庁 - To provide an error correction test method capable of executing a test based on an accurate data error.
正確なデータエラーに基づいてテストを実行することができるエラー訂正試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sterilization/disinfection test system and a control method suitable for collecting test data.
検査データを収集するのに適した殺菌・消毒検査システムおよび制御方法を提供する。 - 特許庁 - TEST SIGNAL FAN-OUT DEVICE, AND METHOD OF SUPPLYING SIMULTANEOUSLY TEST DATA BLOCK TO AT LEAST ONE DEVICE
テスト信号ファンアウト装置および少なくとも一つのデバイスにテストデータブロックを同時に供給する方法 - 特許庁 - To provide a test data generation device and method that enable generation of test data capable of controlling processing branching by arriving at and solving a constraint satisfaction problem.
処理の分岐を制御できるようなテストデータを制約充足問題に帰着して解くテストデータの生成を可能にする。 - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING TEST DATA OF FORM PROGRAM, FORM PROGRAM PREPARING DEVICE, AND STORAGE MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PREPARING TEST DATA
帳票プログラムのテストデータ作成方法、帳票プログラム作成装置及びテストデータを作成するプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TRANSFER OF DATA AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR TEST OF MEMORY DEVICE
データ転送装置、メモリデバイス試験装置、データ転送方法及びメモリデバイス試験方法 - 特許庁 - IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁 - SYSTEM, METHOD AND DEVICE FOR COMPOSITING STATE EVENT WITH RESPECT TEST DATA STREAM
テストデータストリームに対して状態イベントを合成するシステム、方法、及び装置 - 特許庁 - HIGH-SPEED SERIAL DATA RECEIVING DEVICE, TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
高速シリアルデータ受信装置とテスト方法並びに半導体集積回路 - 特許庁 - SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR INPUTTING FINDING DATA OF CHEMICAL SUBSTANCE TOXICITY TEST
化学物質毒性試験の所見データ入力システム、方法及びプログラム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SELECTIVELY SUPPLYING DATA FROM TEST HEAD TO PROCESSOR
テストヘッドからプロセッサへデータを選択的に供給する方法及び装置 - 特許庁 - The method of forming the test print material comprises a test data formation process for acquiring the test data, a raster image data forming process for acquiring raster image data, and a print-out process for providing the test print material by printing the raster image data by means of a print-out means.
また、テストデータを得るテストデータ生成過程と、ラスターイメージデータを得るラスターイメージデータ生成過程と、ラスターイメージデータを入力して印刷出力手段によって印刷しテスト印刷物を得る印刷出力過程とを有するテスト印刷物作成方法。 - 特許庁 - DEVICE FOR GENERATION OF TEST DATA, METHOD FOR GENERATING TEST DATA AND STORAGE MEDIUM WHICH STORES PROGRAM TO HAVE COMPUTER TO PROCESS ON THE SYSTEM
テストデータ生成装置、テストデータ生成方法及びそのシステムでの処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁 - To provide a ground test machine and a ground test method capable of obtaining data concerning the settlement characteristic of ground.
地盤の沈下特性についてのデータを得ることができる地盤試験機及び地盤試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.
データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁 - INFORMATION PROCESSOR, TEST PATTERN DATA COMPRESSION METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM
情報処理装置、情報処理装置のテストパターンデータ圧縮方法及びプログラム - 特許庁 - DATA PROCESSING METHOD FOR PSYCHOLOGICAL TEST RESULT, AND DISPLAY METHOD, DATA PROCESSING PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM THEREFOR
心理検査結果のデータ処理方法、その表示方法及びデータ処理プログラム並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - This method is applied for read/write test on a check data, part and at the writing time of memory test, it is constituted so as to concurrently write the same date on a check data part as a data and certain specific part in the check data part.
チェックデータ部分のリード・ライト試験の方法であって、メモリ試験のライト時に、チェックデータ部分にはデータ部のある特定部分と同じデータを同時にライトするように構成する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM
組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁 - To provide a test method of an IC capable of processing data at two or more different data rates.
２つまたはそれ以上の異なるデータ・レートでデータを処理することができるＩＣのテストに関する。 - 特許庁 - To provide a scan test device of which the number of input terminals for inputting test data can be reduced without increasing a circuit scale, and to provide a scan test method.
回路規模が増大することなく、テストデータを入力する入力端子の個数を削減できるスキャンテスト装置及びスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide test data for allowing anyone to adequately judge good or bad of a processed result in an RIP (Raster Image Processor), a test print material, and a method of forming the test print material.
誰でもがＲＩＰにおける処理結果の良否を正しく判断できるようにするためのテストデータ、テスト印刷物と、その作成方法を提供する。 - 特許庁 - TEST PATTERN HARDLY-PERCEPTIBLE TO HUMAN OBSERVATION, AND METHOD FOR ANALYZING IMAGE DATA CORRESPONDING TO TEST PATTERN OF INKJET PRINTER
人間観察に知覚されにくいテストパターン、およびインクジェットプリンタのテストパターンに対応する画像データの分析方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device and a test pattern data generating method for the device.
半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法を提供する。 - 特許庁 - LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD
無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING DATA CACHE AND AT-SPEED TEST METHOD THEREOF
データキャッシュが内蔵された半導体集積回路およびそれの実速度テスト方法 - 特許庁 - To provide a built-in data access device and method in a boundary scanning test interface.
境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法の提供。 - 特許庁 - To provide a memory device in which data stored in a memory cell array are compared with test data stored in the memory device or inverted data of the test data to detect defect of the memory device and to provide a parallel bit test method of the memory device.
メモリセルアレイに貯蔵されたデータをメモリ装置の内部に貯蔵されたテストデータまたはテストデータの反転データと比較してメモリ装置の不良を検出するメモリ装置及びこの装置の並列ビットテスト方法を提供する。 - 特許庁
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