「test data method」を含む例文一覧(459)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 次へ＞- A test observing system 1 comprises a first system 2 on a person responsible to test side who performs a test in the test field, a second system on the attester side who present in the position distant from the test field, and Internet 4 for data-communicably connecting the first system 2 to the second system 3, and this method is applied thereto.
試験立会いシステム１を、試験現場において試験を行う試験担当者側の第１のシステム２と、試験現場から離れた位置に居る立会者側の第２のシステム３と、第１のシステム２と第２のシステム３とをデータ通信可能に接続するインターネット４とから構成し、前記方法を適用した。 - 特許庁 - The data recording and reproducing method includes a step of recording in the recording medium a recording and reproducing unit block containing meaningless data for a disk test to test a disk with respect to part or the whole of the medium and a padding identifier which gives information that the data is meaningless data.
媒体の一部または全部についてのディスク検定のためにディスク検定のための無意味なデータと、前記データが無意味なデータであることを知らせるパディング識別子とを含む記録／再生単位ブロックを記録媒体に記録する段階を含むデータ記録／再生方法。 - 特許庁 - This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.
半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第１のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第２のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁 - To provide a print controller through which a user makes test printing easily without generating test print data in a printer where unnecessary data is deleted from received print data according to a prestored set value, and also to provide a program and a test print method of print controller.
受信した印刷データから、予め記憶した設定値に基づき不要データを削除する印刷装置において、ユーザがテスト印刷データを生成することなく容易にテスト印刷を行うことができる印刷制御装置、プログラム、および印刷制御装置のテスト印刷方法を提供することをその課題とする。 - 特許庁 - To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.
単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.
不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a system and a method for obtaining statistical data by using a high-speed and simple method in a wafer level while using a wafer level test device.
ウェーハ・レベルの試験装置を使用しながら、ウェーハ・レベルで高速で簡単な方法を使って統計データを得るシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁 - A graphical user interface is provided to make the data related to the standard test method or equipment and the evaluation method or equipment identifiable.
グラフィカルユーザインターフェースは、基準方法または機器および評価方法または機器に関連付けられたデータを識別可能にするために提供される。 - 特許庁 - To provide a data transmitter-receiver and its testing method for carrying out a test while miniaturizing a circuit scale.
本発明は、回路規模を小型化しながらテストを実行することができるデータ送受信装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a purification test method of soil capable of acquiring highly reliable data by supplying simulated contaminated ground water having a stable concentration.
安定した濃度の模擬汚染地下水を供給し、信頼性の高いデータが得られる土壌の浄化試験方法の提供。 - 特許庁 - To provide an IC memory device and an operation method that are configured to output data bits at a lower transfer rate in a test mode.
テストモードにおいてさらに低い転送速度でデータビットを出力するＩＣメモリ装置及びその動作方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.
データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TESTING ON/OF STATE OF ODT CIRCUIT DURING DATA READ MODE AND TEST METHOD OF STATE OF ODT CIRCUIT
データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法 - 特許庁 - To provide an accurate method for determining the acceptability of signal data collected from a prothrombin time (PT) test strip.
プロトロンビン時間（ＰＴ）検査ストリップから収集した信号データのアクセプタビリティを決定するための正確な方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor memory in which noise interference between signal lines transmitting data to a memory cell can be examined by an I/O degeneration test mode and a test method for a semiconductor memory.
メモリセルにデータを伝送する信号線間のノイズ干渉をＩ／Ｏ縮退テストモードで調べることができる半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法を得る。 - 特許庁 - To provide a pseudo call for a load test and a result-verifying information generation method, capable of easily generating data for verification and the pseudo call for the load test corresponding to a load after operation.
稼動後の負荷に相当する負荷テスト用擬似呼及び検証のためのデータを容易に生成可能な負荷テスト用擬似呼・結果検証用情報生成方法を提供する。 - 特許庁 - In the semiconductor memory device and its repair analyzing method, address data generated by the present test is stored in other one temporary buffer by storing selectively address data by a test using two temporary buffer 4 while one temporary buffer transmits address data generated by the previous test to a data buffer 5 and performs repair analysis, and a test and repair analysis can be performed simultaneously.
半導体メモリ装置及びそのリペア解析方法では、テストにより発生したアドレスデータを二つの臨時バッファ４を用いて選択的に貯蔵することにより、一つの臨時バッファが以前のテストにより発生したアドレスデータをデータバッファ５に伝送しリペア解析（repair analysis）を行う間、他の一つの臨時バッファには現在のテストにより発生したアドレスデータを貯蔵し、テストとリペア解析を同時に行うことができる。 - 特許庁 - In this method, a test tube group with bar codes stored in the test tube rack is photographed as it is from the oblique upside by a plurality of cameras, relative to each test tube without being interfered by adjacent test tubes, and a plurality of data are synthesized and corrected, to thereby read the bar codes.
本発明は試験管ラックに収められたバーコード付の試験管群をそのままの状態で、隣接する試験管に妨害されず、斜め上方から試験管一本毎複数のカメラで撮影し、その複数のデータを合成ないし補正して正確に読取る方法である。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device permitting to write a data pattern consisting of bit-string data including at least one or more zero logic, and to provide an electrical test method therefor.
少なくとも１つ以上の０論理を含むビット列データからなるデータパターンを書き込むことができる半導体メモリ素子およびその電気的検査方法を提供する。 - 特許庁 - In this browsing method, when a user seeing browsing data sent from a center unit make a request operation such as code entry, test data specifying Internet contents are sent to the center unit (P1).
センター装置から送られた閲覧データをみてユーザがコード入力等のリクエスト操作を行なうと、センター装置にインターネットコンテンツを特定するテキストデータが送られる（Ｐ１）。 - 特許庁 - The standard method of establishing the data rate was for one party to transmit test data at a given rate (usually the maximum available) and then receive a response from the other party.
通信速度を設定するための従来の手法では、一方から所定の速度（通常、利用可能な最大速度）でテストデータを送信し、他方から応答を受け取る。 - 特許庁 - To provide a system and method for determining data error of an optical network facility where the existence/non-existence of data error is automatically determined, by combining the result of light-receiving level confirmation test and the result of an optical network unit (ONU) state confirmation test, with respect to an ONU.
受光レベル確認試験の結果とＯＮＵに対するＯＮＵ状態確認試験の結果とを組み合わせてデータ誤りの有無を自動判定する光ネットワーク設備データ誤り判定システム及びその方法を提供する。 - 特許庁 - A similarity testing method is provided which compares sequence data transmitted from a malware performing wrong processing on other computers on the network and sequence data transmitted from software being a test object, with each other to test the similarity between them.
ネットワーク上で他のコンピュータに対して不正処理を行うマルウェアが送信する系列データと、検査対象のソフトウェアが送信する系列データとを比較してその類似性を検査する類似性検査方法を提供する。 - 特許庁 - To realize a practical IC test system and a data transfer method in the IC test system in which a suitable system corresponding to pattern data is selected in the conventional transfer system and the transfer speed is improved.
本発明の課題は、従来の転送方式をパタンデータに応じた適切な方式を選択し、かつ転送速度の向上を図った実用的なＩＣテストシステム及びＩＣテストシステムにおけるデータ転送方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide ultrasonic test equipment and a method capable of improving greatly the efficiency of an inspection work, and improving inspection accuracy and reliability, by enabling reduction of hard system noise filters and shortening of a data analysis processing time without requiring noise reduction processing from the vast amount of ultrasonic data at the data analysis processing time.
ハード方式ノイズフィルタの軽減、データ解析処理時に膨大な超音波データからノイズ低減処理を行う必要がなくデータ解析処理時間の短縮化が図れる。 - 特許庁 - In the shading data inspection method, shading correction is applied to the image data obtained by reading a test chart, and then, data is encoded by discrete cosine transform for each prescribed pixel block.
このシェーディングデータ検査方法では、テストチャートを読み取って得られた画像データに対し、シェーディング補正を施した後、所定の画素ブロックごとに離散コサイン変換によるデータの符号化を行う。 - 特許庁 - To improve the test quality, when test data are random numbers in a test method of a scanning base, by detecting a circuit description in an RTL where a failure is hardly detected by the test data of pseudo random numbers applied from the pseudo random number generator of a logic BIST, and alarming a designer to support the RTL improvement for the logic BIST.
ロジックＢＩＳＴの擬似乱数発生器から印加される擬似乱数のテストデータによって故障検出がされにくいＲＴＬ中の回路記述を検出して、設計者に警告し、ロジックＢＩＳＴ向けのＲＴＬ改善を支援し、スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質を向上させること。 - 特許庁 - Of a plurality of pages of image data (first image data) disposed based on a set layout and a plurality of pages of image data disposed based on a setting method of another layout and the other layout, image data (second image data) indicating one of the data are printed for test.
設定レイアウトに基づいて配置された複数ページ分の画像データ（第１画像データ）及びその他レイアウトの設定方法及びその他レイアウトに基づいて配置された複数ページ分の画像データのうち少なくとも一方を示す画像データ（第２画像データ）をテスト印刷する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data.
データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁 - RECORDING MEDIUM FOR RECORDING CONVERSION PROCESSING PROGRAM CONVERTING ORIGINAL SIGNAL INTO DATA OF N-BIT AND CHAOS THEORY TEST EQUIPMENT AND METHOD
原信号をｎビットのデータに変換するための変換処理プログラムを記録した記録媒体並びにカオス理論実験装置及び方法 - 特許庁 - To provide a method for verifying a defect (a bug) of software difficult to detect by test data check or logic check from a mathematical standpoint.
テストデータチェックやロジックチェックでは検出が困難なソフトウェアの不具合(バグ)を数学的見地から検証する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a printing correction method for photographing with a digital camera a printing correction test pattern printed by a printer, and generating data for printing correction.
プリンタが印刷した印刷補正テストパターンをデジタルカメラで撮影し、印刷補正のデータを生成する印刷補正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a subsurface exploration method, enabling quick water sampling at selective depths while ensuring cone penetration test data.
本発明はコーン貫入試験データを確保しながら任意深度で迅速な採水を可能とする地盤調査法とその装置を提供する。 - 特許庁 - In the test implementation method, a problem content data is distributed to terminals 12 used by examinees via a network 200.
本発明にかかる試験の実施方法は、ネットワーク２００を介して受験者が使用する端末１２に問題コンテンツデータを配信する。 - 特許庁 - In one embodiment, a method for processing the test data selectively by using the subscription in the multi-format architecture is disclosed.
一実施形態において、マルチフォーマットアーキテクチャにおいてサブスクリプションを用いて試験データを選択的に処理する方法を開示する。 - 特許庁 - In the system for voluntary test for communication facility, a server 10 for voluntary testing the communication facility, generates a plan for the voluntary test by referring a selection table for testing items stored in a voluntary test database 20, a data for test team members stored in a tester name list database 30, and items, purposes, and method of the voluntary test and a desision criterion stored in a decision criterion database 40.
設備自主検査サーバ１０は、自主検査データベース２０に格納された検査項目選定表，検査実施者名簿データベース３０に格納された検査体制の構成員のデータおよび判定基準データベース４０に格納された自主検査の項目とその目的，方法および判定基準を参照して自主検査計画書を作成する。 - 特許庁 - ANALYSIS RESULT DISPLAYING DATA GENERATOR, METHOD AND PROGRAM, PROGRAM GENERATOR WITH TEST FUNCTION, METHOD AND PROGRAM, CONTROL OPERATION DETERMINING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM, AND CONTROL OPERATION DETERMINING SYSTEM
分析結果表示用データ生成装置、方法及びプログラム、テスト機能付きプログラム生成装置、方法及びプログラム、制御動作判定装置、方法及びプログラム、並びに、制御動作判定システム - 特許庁 - This semiconductor device and the testing method therefor has a rank data 11 for indicating a test result of a ranking test executed based on a plurality of reference values in a wafer condition, a fuse part 15 storing the rank data 11, and a control circuit 16 for reading out the rank data 11 from the fuse part 15, for use in a product test carried out after packaged.
本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、ウェハ状態において複数の基準値に基づいて行われるランク分けテストのテスト結果を示すランクデータ１１と、ランクデータ１１が格納されたヒューズ部１５と、パッケージング後に行われる製品テストで利用するために、ランクデータ１１をヒューズ部１５から読み出す制御回路１６を有する。 - 特許庁 - In this screen printing method, the actual results of printing to a production substrate are accumulated as templates and the templates are used or the results of test printing are analyzed using a test substrate, a test screen mask and a test paste, and the analytical results are registered as the templates; and the printing conditions are set up based on the template data, when the actual production is started.
実際の生産基板の印刷結果をテンプレートとして蓄積し、これを利用するかまたはテスト用基板とテストスクリーンマスクおよびテストペーストを使用しテスト印刷の結果を解析し、その結果をテンプレートとして登録し、実生産を始める際にはそのテンプレートデータをもとにして印刷条件を設定する。 - 特許庁 - To provide a shading data inspection method capable of detecting lines with a similar margin, even near the center region and the end parts of a test chart.
中央付近でも端の部分でも同じようなマージンで線の検出を行うことが可能なシェーディングデータ検査方法を提供する。 - 特許庁 - A bootstrap circuit relating to a word line is made disable when data is written in a memory cell during a test operation period by this method.
本発明によれば、テスト動作期間中にメモリセル内にデータを書込む場合にワード線に関連するブートストラップ回路をディスエーブルさせる。 - 特許庁 - The test method for a network includes a step of analyzing a cell 200 from the network and a step of acquiring network performance data, based on cell.
ネットワークのテスト方法は、ネットワークからのセル２００を解析するステップと、そのセルに基づいてネットワーク性能データを取得するステップとを含む。 - 特許庁 - To provide a biological data processing apparatus enhancing the reliability, efficiency and safety of an ischemic heart disease by an exercise tolerance test, a biological data processing method and a biological data processing program.
運動負荷試験による虚血性心疾患の信頼性や効率性、安全性を向上させることができる生体情報処理装置、生体情報処理方法及び生体情報処理プログラムを提供すること。 - 特許庁 - This method and this apparatus for data analysis are configured to automatically identify a characteristic of an assembly process in accordance with components based on the test data for the components.
さまざまな態様によるデータ分析のための方法および装置は、組立プロセスの特徴を、コンポーネントの試験データに基づき、コンポーネントに合わせて自動的に識別するよう構成。 - 特許庁 - To provide a processing method of semiconductor chip test data which does not increase the data volume more than necessary and can easily and quickly conduct a comparative analysis of each wafer within a lot.
データ容量を必要以上に大きくすることなく、またロット内の各ウェーハの比較解析が容易且つ速やかに行える半導体チップ検査データの処理方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a system and a method for storing/displaying test data that easily confirm results of wafer tests/categories/wafer maps/measurement data of chips in a lot when a lot number is specified.
ロットＮＯを指定すれば、ロット内のウエハテスト結果・カテゴリ・ウエハマップ、チップ測定データが、連続した形式で簡単に確認できる蓄積表示システム及び表示方法を提供する。 - 特許庁 - A test method comprises writing a first data signal which is an input data signal representing a first logical level in each of memory banks in series, and simultaneously writing a second data signal which is an input data signal representing a second logical level in each of the memory banks.
テスト方法は、第１の論理レベルを示す入力データ信号である第１データ信号を各メモリバンクに順番に書き込み、第２の論理レベルを示す入力データ信号である第２データ信号を各メモリバンクに同時に書き込む。 - 特許庁 - To provide a security medium test method and device, capable of stably performing in bulk data matching confirmation and separate data authentication of a security medium having visual separate data and secrete data which can be seen only by a transmitted light.
視認可能な個別データと透過光でしか視認できない秘匿データを備えたセキュリティ媒体のデータマッチング確認や個別データの認証を、大量且つ安定的に実施することの可能なセキュリティ媒体検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test support apparatus which can streamline the data verification of a database (RDB) across program introduction by information system development, a test support system, a method of controlling the test support apparatus, a program and a recording medium.
情報システム開発におけるプログラムの導入前後におけるデータベース（ＲＤＢ）のデータ検証作業を効率的に行うことが可能なテスト支援装置、テスト支援システム、テスト支援装置の制御方法、プログラム、及び記録媒体を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a channel data transmission method by which quick data transmission is possible, to provide a controller using the method, to provide a control object device, to provide a control system with the same, and to provide a charge/discharge test system.
迅速なデータ伝送が可能なチャンネルデータ伝送方法とその方法を用いた制御装置、及び制御対象装置とそれらを備える制御システム、及び充放電試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
