「test data」を含む例文一覧(3606)
＜前へ 1 2 .... 42 43 44 45 46 47 48 49 50 .... 72 73 次へ＞- In the test operation, the operation for storing data read out from the determination memory cells in the memory cells and then reading out the storage data from the memory cells to write them in the deciding memory cells, is performed for all memory cells.
試験動作時に、判定用メモリセルから読み出されたデータをメモリセルに記憶させた後で該記憶データをメモリセルから読みして判定用メモリセルに書き込む動作が、全てのメモリセルに対して行われる。 - 特許庁 - An inflection point determination unit 110 specifies an inflection point on the basis of capacity measurement data comprising a data group of a prescribed of number of battery capacity-cycle measurement values by a charging and discharging test of a lithium ion battery.
リチウムイオン電池の充放電試験による所定個数の電池容量−サイクルの測定値のデータ群からなる容量測定データから変曲点決定部１１０が変曲点を特定する。 - 特許庁 - By providing a vibration judging device body 11 with the simulation data storing means 15 storing the simulation data, the test can be easily performed without preparing a simulation signal generator at the external.
振動判断装置本体１１に模擬データを記憶する模擬データ記憶手段１５を設けることにより、外部に模擬信号発生器を用意することなく、容易に試験を行うことができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor storage device, in which a test pattern from the outside can be input easily and by which the data write, etc., of initial data to a RAM section can be conducted at high speed from the outside.
外部からのテストパターンの入力等が容易であり，また，ＲＡＭ部への初期データのデータ書き込み等も外部から高速に行うことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - The laser recording device 13 has a function for marking bar code data 17a and 17b serving as recording mediums, which are data of the performance characteristic test of the proportional solenoid valve 15 or the proportional solenoid device 16.
レーザ記録装置１３は、比例電磁弁１５または比例電磁弁装置１６の性能特性試験のデータを記録媒体であるバーコードデータ１７ａ、１７ｂを刻印する機能を有する。 - 特許庁 - To provide a fault diagnostic system and method which can determine a test chart to be used for diagnosing a fault that causes an image defect occurring without affecting machine data or job data.
機械データやジョブデータに影響を及ぼさずに生じる画像欠陥を引き起こす故障を診断する為に用いられるテストチャートを決定できる故障診断システム及び故障診断方法を提供する。 - 特許庁 - The comparator circuit 12 compares a test data signal input from the decoder circuit 11 with an expected value data signal input from the external and detects the existence/absence of an output error in the decoder circuit 11.
比較回路１２は、デコーダ回路１１から入力されるテストデータ信号と外部から入力される期待値データ信号とを比較し、デコーダ回路１１の出力エラーの有無を検出する。 - 特許庁 - A test pattern 20 which is generated, by compressing data corresponding respective pins of an LSI 70 by using an algorithm enabling the data to be decompressed (easily) in real time, is stored in a pattern memory 40 of a pattern generator 30.
パターンジェネレーター３０のパターンメモリ４０には、ＬＳＩ７０の各ピンに対応するデータがそれぞれリアルタイムに伸張可能（容易）なアルゴリズムで圧縮されたテストパターン２０が格納される。 - 特許庁 - At the time of data writing test to the EEPROM of a non- contact or contact type IC card, a writing data generation program and a command are transmitted from an IC card tester to the IC card (603).
非接触型または接触型ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込み試験において、ＩＣカードテスタから、ＩＣカードに対して書き込みデータ発生プログラムおよびコマンドを送信する（６０３）。 - 特許庁 - To improve a test pattern that is printed to distinguish the displacement of the alignment of print heads from a print head property that affects the ejection of ink from the print heads, and to provide a method for analyzing image data corresponding to the printed test pattern.
プリントヘッド配向のずれと、プリントヘッドからのインクの射出に影響を与えるプリントヘッド特性と、を識別するため、印刷されるテストパターンを改良、および印刷されるテストパターンに対応する画像データの分析法を提供する。 - 特許庁 - When repair is performed by a spare cell of an adjacent memory block for a defective cell of a self-block as this invention, a memory test time can be shortened by matching the cell data topology, and the complexity of a test program can be reduced.
本発明のように自己ブロックの不良セルを隣接したメモリブロックのスペアセルでリペアーした場合セルデータトポロジーを合わせることでメモリテスト時間を短縮させることができテストプログラムの複雑度を減少させることができる。 - 特許庁 - The updated test point list data is finally referred to, a covering rate calculating part 16 calculates the rate of executed tests in test object points, and calculated results are outputted from a covering rate outputting part 17.
最終的に更新された試験ポイント一覧データを参照し、網羅率算出部１６で試験対象ポイントのうち試験実施済みのものの割合を算出し、算出結果を網羅率出力部１７から出力する。 - 特許庁 - Upper and lower test circuit parts 8a and 8b for data line control left and right test circuit parts 9a and 9b for scanning line control 9a, 9b are formed between the display region 3 and the attaching region Z1 on the transmissive substrate 2.
表示領域３と接着領域Ｚ１との間の透明基板２には、上側及び下側データ線制御用検査回路部８ａ，８ｂ、及び、左側及び右側走査線制御用検査回路部９ａ，９ｂが形成される。 - 特許庁 - For tests to confirm the connection between the output terminal 16 of a macro 1 and the input terminal 25 of a macro 2, a register 12 to hold test data is provided, and a means to output a value of the register 12 as it is at the time of test operation is provided.
マクロ１の出力端子１６とマクロ２の入力端子２５との間の接続確認テストのために、テストデータを保持するレジスタ１２を設け、テスト動作時にはレジスタ１２の値をそのまま出力する手段を設ける。 - 特許庁 - Also, by multiplying the data of a clinical test participation rate stored by then with the member information of the medial history/sex or the like, how many people can participate is predicted approximately beforehand, and thus a clinical test execution schedule is smoothly planned.
また、病歴・性別等の会員情報に、これまでに蓄積された治験参加率のデータを掛け合わせることで、何名程度の参加が可能かを事前に予測できるために、円滑な治験実施計画の立案が可能になる。 - 特許庁 - The electronic device 10 has BIST hardwares 102, 104 provided with a production test mode and a diagnostic testing mode, outputs a response signature by the production mode, and outputs a raw response data by the diagnostic test mode, when the scanning pattern is provided.
電子デバイス（１００）は、生産テストモードと診断テストモードを備えたＢＩＳＴハードウェア（１０２、１０４）を有し、スキャンパターンを提供すると、生産テストモードで応答シグネチャを出力し、診断テストモードで生応答データを出力する。 - 特許庁 - As the level shifter 77 and the N channel MOS transistor 78 are shared by the internal data signal ZRDH1 and the test mode signature TMSIG1, layout area can be reduced, and the test mode signature TMSIG1' of a high level can be outputted.
内部データ信号ＺＲＤＨ１とテストモードシグネチャＴＭＳＩＧ１でレベルシフタ７７およびＮチャネルＭＯＳトランジスタ７８を共用するので、レイアウト面積が小さくてすみ、高レベルのテストモードシグネチャＴＭＳＩＧ１′を出力できる。 - 特許庁 - The optical disk device is provided with rotational drive mechanism to mount an optical disk having the test area in which the test write is performed and to rotate it and an optical head capable of recording data by irradiating the optical disk with laser light.
本発明の光ディスク装置は、試し書きを行うテストエリアを有する光ディスクを装着して回転させる回転駆動機構と、前記光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録し得る光学ヘッドとを有している。 - 特許庁 - In this invention, an IC tester is improved, wherein an address is given to the timing memory, and a timing of a signal to be given to a test object is adjusted by timing data output from the timing memory, and the test object is tested.
本発明は、タイミングメモリにアドレスが与えられ、タイミングメモリが出力するタイミングデータにより、被試験対象に与える信号のタイミング調整を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - Test print data is generated in such a pattern as a character group C, i.e. an aggregate of a plurality of characters, is arranged while being distributed in the row and column directions on a receipt R and superposed on a watermark WM at the time of test print.
複数のキャラクタの集合体であるキャラクタ群Ｃを、レシートＲ上の行および列方向に分散配置する配置パターンでテスト印刷データを生成し、ウォーターマークＷＭと重ねてテスト印刷を行うものである。 - 特許庁 - Further, a LSI tester 25 is provided with test patterns 29a, 29b being original data of the ROM code previously loaded for inspection, parity bits 30a, 30b corresponding to the test patterns 29a, 29b, and a comparison operation part 31.
さらにＬＳＩテスタ２５には、検査のために予めローディングされたＲＯＭコードの元データであるテストパターン２９ａ、２９ｂと、テストパターン２９ａ、２９ｂに対応したパリティビット３０ａ、３０ｂと、比較演算部３１が設けられている。 - 特許庁 - The printing device prepares test data to output a sample of a letter or graphics (circle, rectangle, image or the like), reads the printed test pattern by a scanner or the like, measures the amount of extension of a sheet by dividing the sheet into appropriate blocks and stores the measured results in a storage device.
文字や図形（円、矩形、イメージ等）のサンプルの出力されるテストデータを用意し、印刷されたテストパターンをスキャナ等で読み込ませ、用紙を適当なブロック毎に分割して用紙の伸び量を測定し記憶装置に格納する。 - 特許庁 - All bit lines BL in one word line WL are opened by logical combination of a column activation signal CAS and a test mode signal TM, a test data pattern is written simultaneously in all cells in the word line ML.
本発明では、１つのワード線ＷＬにおける全ビット線ＢＬを、カラム活性化信号ＣＡＳと試験モード信号ＴＭとの論理的な組み合わせにより開いて、該ワード線ＷＬにおける全セルにテストデータパターンを同時に書き込む。 - 特許庁 - Thus, in a burn-in test, for example, data such as a program for a logic test written to the nonvolatile memory of one microcomputer 10A are saved to the other microcomputer 10B and the nonvolatile memory of each microcomputer is effectively operated.
これにより、バーインテストにおいて、例えば一方のマイコン１０Ａの不揮発性メモリに書き込まれたロジックテスト用のプログラムなどのデータを他方のマイコン１０Ｂに待避させて、各マイコンの不揮発性メモリを有効に動作させる。 - 特許庁 - To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.
特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - The output signal of the FF3 is inputted into the sequencer SQ as a test input signal TIN0, and compared with the test output data TOUT0, to thereby certify the passing state of the signal through the input/output circuit.
ＦＦ３の出力信号をテスト入力信号ＴＩＮ０としてシーケンサＳＱに入力し、これとテスト出力データＴＯＵＴ０とを比較することにより、信号の入・出力回路の通過状態を検証する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.
パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method of a magnetic head, and a magnetic head tester in which test data is written without being affected by thermal drift even if servo information is not set to a magnetic disk or even if servo following is not performed.
磁気ディスクにサーボ情報を設定しなくても、あるいはサーボフォローイングをしなくても熱ドリフトに影響されずにテストデータの書込ができ、磁気ヘッドの検査が可能な磁気ヘッドのテスト方法および磁気ヘッドテスターを提供することにある。 - 特許庁 - At the time of preparing a patch sheet 120, an output medium information 124 (kind of printing paper, magazine ID, etc.), and an output condition information 128 (data and time, temperature at the time of outputting a test pattern for correction) are exposure-recorded together with the test pattern for correction.
パッチシート１２０作成時に、較正用テストパターンとともに、出力媒体情報１２４（印画紙種、マガジンＩＤ等）、及び出力条件情報１２８（較正用テストパターン出力時の日時、温度）を露光記録する。 - 特許庁 - The operation of an internal circuit 2 is switched to a test mode for burn-in by a test terminal 1 of the semiconductor device 25 during burn-in, and data in the internal circuit 2 are outputted not to an ordinary output terminal 3 but to an output terminal 4 for burn-in.
バーンイン中に、半導体装置２５のテスト端子１により、内部回路２の動作をバーンイン用テストモードに切り替え、内部回路２のデータを通常の出力端子３ではなくバーンイン用出力端子４に出力する。 - 特許庁 - To perform an excellent failure/no-failure test of devices by measuring the cross point of a differential clock signal output from a device under test (DUT) and the timings of two data signals to obtain a relative phase difference between the two signals.
ＤＵＴから出力される差動のクロック信号のクロスポイントとデータ信号の両信号のタイミングを測定し、両信号間の相対的な位相差を求めることで良好なデバイスの良否判定が実現可能とする。 - 特許庁 - A correction arithmetic calculation part 62 arithmetically calculates the average value AV(X) of output gradation values between the respective test images at respective pixel positions X in a main scanning direction for every density pattern based on the image data of the respective read test images.
補正演算部６２は、読み取った各テスト画像の画像データに基づいて、各濃度パターン毎に、主走査方向の各画素位置Ｘにおける各テスト画像間の出力階調値の平均値ＡＶ（Ｘ）を演算する。 - 特許庁 - When a reading section 10 reads the test pattern, a data processing section 20 determines the necessity of adjusting the recording head 60 based on the test pattern read by the reading section 10, and a printing adjusting section 90 adjusts the recording head.
さらに読み取り部１０が前記テストパターンを読み取ると、前記読み取り部１０で読み取ったテストパターンに基づき記録ヘッド６０の調整の要否をデータ処理部２０が判断し、印字調整部９０が記録ヘッドを調整する。 - 特許庁 - By changing the level of a control signal C2 from a mode selection part 40, the operation mode of a function part 10 is changed over from normal mode to test mode for reading data from a ROM 30 in which command codes for test are stored.
モード選択部４０からの制御信号Ｃ２のレベルを変えることによって、機能部１０の動作モードを通常モードから、テスト用の命令コードを格納したＲＯＭ３０からデータを読み出すテストモードに切り替える。 - 特許庁 - A system controller 32 records test data in the test area of an optical disk 10 while changing recording power, selects recording power Po based on a γ value and a modulation factor and temporarily sets an optimum recording power Pw by Pw=ρPo.
システムコントローラ３２は、光ディスク１０のテストエリアに記録パワーを変化させてテストデータを記録し、γ値や変調度に基づき記録パワーＰｏを選択し、Ｐｗ＝ρ・Ｐｏにより最適記録パワーＰｗを仮設定する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit test device and its method capable of efficiently performing a test of an object of writing, reading and eliminating the data, by a unit of a block of a specific size of a flash memory and the like.
フラッシュメモリ等の特定の大きさのブロックを単位として、データの書き込み、読み出し、及び消去を行う被試験対象の試験を効率的に行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - In the external test device 150, the external output data outputted by the output creating circuit 106 is compared with an expected value in the one test period, thereby recognizing the goodness/badness of the a-memory 110, b-memory 111, c-memory 112, and d-memory 113.
外部試験装置150において、前記１試験周期中において、出力作成回路106より出力される外部出力データと期待値とが比較されることにより、aメモリ110、bメモリ111、cメモリ112、dメモリ113の良否が確認される。 - 特許庁 - The duplex control system having a comparing means which compares communication data of duplexed controllers communicating with a control object is provided with a test signal input means which supplies the same test signal to the comparing means.
制御対象と通信する二重化されたコントローラの通信データを比較する比較手段を有する二重化制御システムにおいて、 前記比較手段に同一のテスト信号を供給するテスト信号入力手段を備える。 - 特許庁 - If the precision of its test run is confirmed, the reference data defining the test run is stored as a reference standard.
自動化システムに変更があった場合、高コストの検証を新たに実施する必要がないように、テストランの正確さを一度だけ検査して、正確であることが確認された場合、そのテストランを定義する基準データを基準規格として保存する。 - 特許庁 - A plurality of systems of test signal forming circuit (10, 50) and test signal transmitting circuit (20, 60) are provided, and data of different portable telephone systems is written in respective transmission systems so that test signals of a plurality of different portable telephone systems can be transmitted to a portable terminal 100 simultaneously or in combination.
テスト信号形成回路（１０、５０）とテスト信号送信回路（２０、６０）を複数系統設け、それぞれの送信系統に異なる携帯電話システムのデータを書き込み、これによって複数の異なる携帯電話システムのテスト信号を同時にあるいは組み合わせて携帯端末１００へ送信可能とする。 - 特許庁 - A pattern forcibly finishing circuit 31 stops generation of a test data before the finish of the test based on the FAILAND signal output selectively in response to the measuring mode by a selection circuit 23 and indicating that all the objective measuring devices are not acceptable, to finish the test forcibly.
そして、セレクト回路２３が測定モードに応じて選択し出力するものであって、全測定対象デバイスが不合格であることを示すＦＡＩＬＡＮＤ信号によって、パターン強制終了回路３１が試験終了前に試験データの発生を中止し、試験を強制的に終了させる。 - 特許庁 - When a print control device is commanded to print multiple copies of the same image as test printing, it generates print data of the same image as an actual print, and prints the image in a first test print run (S120-S140, S210-S230) and extracts only the outline of the image and prints the simplified image in test print runs after the first run (S170-S230).
同一画像の試し刷りが複数部指示された場合に、１部目では本印刷と同一の画像により印刷データを生成して試し刷りし（Ｓ１２０〜Ｓ１４０，Ｓ２１０〜Ｓ２３０）、２部目以降では輪郭部分だけを抽出して簡素化した画像により試し刷りする（Ｓ１７０〜Ｓ２３０）。 - 特許庁 - The transfer of the verification/test pattern of the DUT (external computer→FPGA for control→pattern storage memory), the transfer of the verification/test control data of the DUT (external computer→FPGA for control), and the transfer of the verification/test result (result storage memory→FPGA for control→external computer) are instructed by software for control through a microcomputer.
ＤＵＴの検証／テストパターンの転送（外部コンピュータ→制御用ＦＰＧＡ→パターン格納メモリ）と、ＤＵＴの検証／テスト制御データの転送（外部コンピュータ→制御用ＦＰＧＡ）と、検証／テスト結果の転送（結果格納メモリ→制御用ＦＰＧＡ→外部コンピュータ）は、共にマイコンを介して制御用ソフトウェアによって指示される。 - 特許庁 - Test data is recorded in the inner peripheral trial writing areas of an optical disk from an optical pickup side by a plurality of test recording power values, and a recording power value is set for an inner periphery OPC according to recording power value characteristics obtained from an asymmetry value for each test recording power value obtained from its reproduced signal.
光ピックアップ側から光ディスクの第１記録層の内周試し書き領域に対して複数のテスト記録パワー値によってテストデータを記録し、その再生信号から求めたテスト記録パワー値毎のアシンメトリ値から得られる記録パワー値特性に応じて内周ＯＰＣでの記録パワー値を決定する。 - 特許庁 - In a load test terminal 140, a virtual client is created for each of users designated on the load test terminal 140 by using the load test data 142 distributed from the GW server 120; and to the GW server 120, a request is made which is identical to a request transmitted from the client terminal 100 during the normal operation.
負荷試験端末１４０には、ＧＷサーバ１２０から配信された負荷試験データ１４２を利用して、負荷試験端末１４０上で指定されたユーザ数分の仮想クライアントを生成し、ＧＷサーバ１２０に対して通常運用時のクライアント端末１００から送信される要求と同様の要求を行う。 - 特許庁 - The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.
本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁 - A test rejection rate in every piece of standpoint information is calculated according to the screen quality evaluation standpoint information and screen test data information, and a defective factor is set larger or smaller for the standpoint information in which the test rejection rate is larger or smaller than a predetermined criterion, respectively.
前記画面品質評価観点情報および前記画面テストデータ情報とを基に、観点情報毎のテスト不合格率を算出し、該テスト不合格率が予め定めた判定基準と比して大きい観点情報の不良係数を大きくし、小さい観点情報の不良係数を小さく設定するもの。 - 特許庁 - The storage section then stores, as the image data, a test pattern for determining whether to correctly display a video image on the screen on the basis of the video signal, and the video signal generation section extracts a test pattern stored in the storage section and outputs it as a test pattern video signal.
そして、前記記憶部は、前記画像データとして、前記映像信号に基づいて前記画面に正しく映像が表示されるか否かを判断するためのテストパターンを格納し、前記映像信号生成部は、前記記憶部に格納されているテストパターンを抽出してテストパターン映像信号として出力する。 - 特許庁 - A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.
被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁 - This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.
不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
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