「test data」を含む例文一覧(3606)
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本発明のＴＤＭデータ比較試験回路は、アドレスカウンタから供給されるアドレスに応じて現用系メモリから読み出された現用データと予備系メモリから読み出された予備データとを比較し、同様に供給されるアドレスに応じて比較レジスタから読み出された選別子に基づいて当該比較したデータ比較結果を選別する。 - 特許庁 - In a test method for a semiconductor device in which measurement is performed for a plurality of cells varying measurement conditions and a plurality of measuring points deciding success or failure of the semiconductor device from obtained data of each cell are set, difference data of data of each cell between continuous measuring points of the plurality of measuring point are obtained, and the difference data are stored.
複数のセルに対して測定条件を変えて測定を行ない、得られた各セルのデータから半導体装置の合否を判定する測定ポイントが複数設定されている半導体装置の試験方法において、前記複数の測定ポイントの連続した測定ポイント間の各セルのデータの差分データを求め、その差分データを保存する。 - 特許庁 - To enable a receiver side to have suitable phase relation between data and a clock and to read data at a stable part thereof only by using a protocol which eliminates the need to supply a signal for commanding phase adjustment between the data and clock from a TEST terminal to a transmitter and a receiver and making the transmitter side output the same signal for the data and clock.
データとクロックとの位相調整を指令する信号をＴＥＳＴ端子から送信器および受信器に供給する必要がなく、送信器側でデータとクロックで同じ信号を出力させるプロトコルを使用するだけで、受信器側で、データとクロックの位相関係を最適にすることができ、データをその安定した部分で読み取ることが可能とする。 - 特許庁 - The core part receives the output data for each port of the multiplexer part and processes and generates a core internal data for each port, and outputs them with the scan system or subjects them to selective processing the core internal data for each port or a test vector, inputted serially from the outside for each port, and causes the core output data for each port to be generated.
コア部は前記マルチプレクサ部のポート別の出力データを受けて処理し、ポート別のコア内部データを生成し、ポート別のコア内部データをスキャン方式で外部に出力するか、ポート別のコア内部データまたは外部からシリアルに入力されたポート別のテストベクトルを選択的に処理し、前記ポート別のコア出力データを発生させる。 - 特許庁 - Here, the sending part 10 includes a parity adding part 12 for adding testing information (parity bits) to be used for testing an error of the image data to the unused bits of the serial data, and the receiving part 20 includes a parity check part 22 for using the testing information added to the unused bits of the received serial data to test the error of the image data.
ここで、送信部１０は、画像データのエラーを検査するために用いられる検査情報（パリティビット）を、シリアルデータの未使用ビットに付加するパリティ付加部１２を備えており、受信部２０は、受信したシリアルデータの未使用ビットに付加されている検査情報を用いて画像データのエラーを検査するパリティチェック部２２を備える。 - 特許庁 - A control circuit 391 controls peripheral circuits such as a column decoder 290 so that input/output of data for testing specific operation of a plurality of memory cells included in a memory cell array 320 is performed when receiving a L level test mode signal TM and a H level test mode signal TM.
制御回路３９１は、Ｌレベルのテストモード信号ＴＭおよびＨレベルのテストモード信号ＴＭを受けると、メモリセルアレイ３２０に含まれる複数のメモリセルに特殊動作をテストするためのデータの入出力を行なうようにコラムデコーダ２９０等の周辺回路を制御する。 - 特許庁 - Based on the image data of a test chart for printing black bars and white bars (spaces) for barcodes in a plurality of widths of varying dot numbers, the test chart printed by a particular printer is read, and its density values are binarized to measure the widths of the black bars and the white bars.
バーコード用の黒バーおよび白バー（スペース）をそれぞれ複数の異なるドット数の幅で印刷するためのテストチャートの画像データに基づいて特定の印刷装置で印刷されたテストチャートを読み取り、その濃度値を２値化することにより、黒バーおよび白バーの幅を測定する。 - 特許庁 - When the test on the first mobile communication system is conducted, test data are transmitted to the testing equipment through the second mobile communication system.
本発明においては、第１の移動通信システムについての試験を行う際には、第２の移動通信システムを介して試験装置に試験データを送信し、試験装置は、第２の移動通信システムを介してい受信した試験データに基いて、第１の移動通信システムについての試験を行う。 - 特許庁 - Test patterns to make ink impact positions in a reciprocating scanning agree with each other to a main scanning direction are prepared in two or more dot sizes, and ink discharge timing is corrected on the basis of data obtained from the respective test patterns prepared in the two or more dot sizes.
往復走査間の主走査方向に対するインク着弾位置を一致させるためのテストパターンを２以上のドットサイズによって作成し、その２以上のドットサイズによって作成したテストパターンそれぞれから得られるデータに基づいてインク吐出タイミングの補正を行う。 - 特許庁 - Here, when the conditions are not met, the A/V server performs backup TUR processing by issuing test unit ready(TUR) command data to hard disk drives(HDD) by the CPU of the RAID part in a step S13.
ここで、条件を満たしていないと判別した場合には、Ａ／Ｖサーバにおいては、ステップＳ１３において、ＲＡＩＤ部のＣＰＵによりテスト・ユニット・レディ（Test Unit Ready；以下、ＴＵＲと略記する。）・コマンドデータをハードディスクドライブ（以下、ＨＤＤと記す。）に対して発行してバックアップ・ＴＵＲ処理を実行する。 - 特許庁 - Test patterns for matching the ink impact position in the main scanning direction between going and returning stroke of scanning are formed of two colors or more of ink, and ejection timing of ink is corrected based on the data being obtained from test patterns formed of two colors or more of ink.
往復走査間の主走査方向に対するインク着弾位置を一致させるためのテストパターンを２色以上のインクによって作成し、その２色以上のインクによって作成したテストパターンそれぞれから得られるデータに基づいてインク吐出タイミングの補正を行う。 - 特許庁 - The semiconductor device having memory macros storing data according to instruction from a control circuit includes: a plurality of test circuits that perform operational tests of the respective memory macros; and a controller that enables operation of the test circuit corresponding to a dispersed memory macro among the memory macros.
制御回路からの命令によりデータを記憶する複数のメモリマクロを有する半導体装置は、該複数のメモリマクロの動作試験をそれぞれ行う複数の試験回路と、該複数のメモリマクロのうち離散したメモリマクロに対応した該試験回路の動作を有効にする制御部とを有する。 - 特許庁 - To provide a new method capable of reducing the nonspecific reaction caused by the presence of an analog and obtaining more precise clinical data- values of a test substance when it is likely that a specimen contains the test substance and its analog.
本発明の目的は、試料に被検物質およびその類縁体を含む可能性のある場合に、類縁体の存在に起因する非特異反応を軽減化させ、より正確な被検物質の臨床検査値を得ることを可能とする測定方法を提供することである。 - 特許庁 - Therefore, even when it is required that an internal address signal is supplied to a defective data storing memory 22 and an input address signal is supplied to a defect history storing memory 24, the requirement can be realized by only one time test without performing test for two times.
そのため、不良データ格納メモリ２２に内部アドレス信号を供給し、不良履歴格納メモリ２４に入力アドレス信号を供給する要求がある場合であっても、２度の試験を行うことなく、１度の試験により、上記要求を実現することが可能となる。 - 特許庁 - The A/D converters 133-1 to 133-m of a data driver 13 measure a test voltage VEL between both ends of the organic EL element 111 when the test current flows into the organic EL element 111 of each pixel 11_ij through the transistor T2 of each pixel 11_ij, respectively.
また、データドライバ１３のＡ／Ｄコンバータ１３３−１〜１３３−ｍは、それぞれ、各画素１１_ijのトランジスタＴ２を介して、各画素１１_ijの有機ＥＬ素子１１１に検定電流を流したときの有機ＥＬ素子１１１の両端間の検定電圧ＶＥＬを測定する。 - 特許庁 - A test support device 1 acquires format specification indicating a position on which description data necessary for an operation test regulated in accordance with the format of a design manual is set at inputting a design manual file 21 stored in a storage part and generates a format information file 22 (step S1).
テスト支援装置１は、記憶部に格納されている設計書ファイル２１が入力されると、この設計書の書式に応じて規定される動作テストに必要な記述データが設定されている位置を示す書式指定を取得し、書式情報ファイル２２を生成する（ステップＳ１）。 - 特許庁 - To provide a wavefront aberration measuring apparatus and a wavefront aberration measuring method which can measure the wavefront aberration of an optical system under test with high precision by checking the state of the interference fringes of photographed image data before performing image processing for calculating the wavefront aberration of the optical system under test.
被検光学系の波面収差の算出のための画像処理を実施する前に、撮像した画像データの干渉縞の状態をチェックすることによって、高精度に被検光学系の波面収差を測定することができる波面収差測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a producing method and a machine for test data, and a wiring testing machine that perform a wiring test of printed-wiring boards and semiconductor package substrates with various kinds and small quantity, very fine designs, and low prices.
多品種少量、高精細、低価格のプリント配線板や各種半導体パッケージ基板等の布線検査を効率的な検査スピードと低いランニングコストで布線検査を行うための検査データの作製方法、検査データ作製機及び布線検査機を提供することを目的とする。 - 特許庁 - When the semiconductor device 30 is tested, a calibration data acquiring circuit 18 measures the jitter width of each test signal, controls the delay amount of each comparison variable delay circuit 12 and regulates the skew such that the position at a specific ratio of the jitter width overlaps among the test signals.
半導体装置３０の試験に際して、キャリブレーションデータ取得回路１８は、各テスト信号のジッタ幅を測定し、各比較可変遅延回路１２の遅延量を制御して、各テスト信号のジッタ幅の特定比率位置が信号間で重なるようにスキュー調整を行う。 - 特許庁 - When the test viewing request of the stream broadcast is first, the stream relay apparatus acting as clients gives the test viewing request to a stream relay apparatus on the upstream or a stream server and finally receives and distributes the stream broadcast data to the clients on the downstream.
ストリーム放送の視聴要求が一番目の場合は、当該視聴要求をクライアントの代理でそのストリーム中継装置が上流のストリーム中継装置あるいはストリームサーバへ要求し、最終的に当該ストリーム放送データを受信して下流のクライアントへ配信する。 - 特許庁 - To extrapolate the drug disposition and toxicity test data obtained by using a dog filling important role in a bile acid-excreting test of a medicament to human beings by identifying a canine Bsep gene and analyzing basic functions as the gene product in a protein level.
薬物の胆汁酸排泄試験において重要な役割を担うイヌを用いた薬物動態・毒性試験データを、ヒトへ有効に外挿することを目的とし、イヌＢｓｅｐ遺伝子を同定し、その遺伝子産物について蛋白質レベルでの基礎的な機能を解析すること。 - 特許庁 - In the software development supporting device provided with a function for evaluating the quality/reliability of software in a development test on the basis of plural mathematical models, a CPU 11 generates an estimation curve from measured data obtained in a software development test in accordance with the sorts of mathematical models.
開発テスト中にあるソフトウェアの品質・信頼性を、複数の数理モデルに基づいて評価する機能を備えたソフトウェア開発支援装置であって、ＣＰＵ１１は、数理モデルの種類に応じてソフトウェアの開発テスト中に得られる観測データから推定曲線を生成する。 - 特許庁 - To enable accurate management of application/test work by storing application/test work information to be transmitted by a subscriber in a data base calculating it in a preliminarily specified method and providing an extracted result on a server, a client and a network to connect the server with the client.
サーバと、クライアントと当該サーバとクライアントを接続するネットワーク上で、提出者が送信する応募／課題作情報をデータベースに収納し、予め指定された方法で演算し、抽出した結果を提供できるので、応募／課題作の緻密な管理が可能となる。 - 特許庁 - In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained.
可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方法。 - 特許庁 - A server 100 has a source code file 2, a code clone output file 3, a test result file 4 and a code clone merging file 7, and includes a data setting part 8, a code clone detection/merge processing part 9 and a test result setting part 10 as function blocks implemented by hardware resources in the server 100.
サーバ100内に、ソースコードファイル２、コードクローン出力ファイル３、テスト結果ファイル４、コードクローンマージファイル７を備え、またサーバ100内のハードウェア資源により実現される、機能ブロックとしての、データ設定処理部８、コードクローン検出・マージ処理部９、テスト結果設定処理部10を備える。 - 特許庁 - To prevent the image deterioration of a solid-state imaging apparatus by preventing the generation of false signals such as flares by preventing the incidence of a reflected light by a test pad on a CCD image section while enabling to perform a predetermined internal circuit setting and to extract a characteristics evaluation data by using the test pad.
テストパッドを用いて所定の内部回路用設定や特性評価用データ抽出を可能としつつ、テストパッドによる反射光のＣＣＤイメ−ジ部への入射を防止してフレア等の疑似信号の発生を防止することにより、固体撮像装置の画像劣化を防止する。 - 特許庁 - Then, the server 8 predicts traveling performance when the test vehicle travels on the traveling route on which the customer use vehicle 1 has traveled based on the data or information, and defines the traveling route on which a difference between the predicted traveling performance and the traveling performance of the customer use vehicle 1 is large as a traveling route for a test vehicle.
次に、これらのデータや情報に基づいて、試乗車が、顧客使用車１が走行した走行路を走行した場合における走行性能を予測し、この予測された走行性能と顧客使用車１との走行性能との差異が大きい走行路を試乗用走行路とする。 - 特許庁 - The defect analyzing memory 7 is composed of a multi-bit memory having plural data input/output terminals, and the device is provided with a control circuit 6 in which when uncoincidence is detected by the logical comparator 4, and uncoincidence detected signal detected by a test of the present time is added to a signal stored in the defect analyzing memory 7 in a test of the previous time.
不良解析メモリ７を複数のデータ入出力端子を持つ多ビットメモリで構成し、論理比較器４で不一致が検出されると前回のテストで不良解析メモリ７に記憶させた信号に今回のテストで検出された不一致検出信号を加える。 - 特許庁 - A reflection tape 25 indicating a rotation reference position of the color wheel 18 is stuck to a position deviated from a normal position and if the purity of the right and left test patterns differs, the timing for setting the data for the right and left test patterns in the DMD 14 is so adjusted as to be made faster or slower.
カラーホイール１８の回転基準位置を示す反射テープ２５が正規位置からずれた位置に貼られており、左右のテストパターンの赤色の純度が異なる場合は、ＤＭＤ１４に左右のテストパターン用のデータを設定するタイミングを早くするように、または遅くするように調整する。 - 特許庁 - The building berth support interference correcting method corrects an interference amount in a resulting half model test data based on an increase rate or a change amount of an effective aspect ratio in the half wind tunnel test using the building berth easily adaptable to a wind tunnel.
本発明の船台支持干渉の影響を修正する方法は、風洞に容易に適用可能な船台を用いた半裁風洞試験において、得られた半裁模型試験データに含まれる干渉量を有効アスペクト比の増加率又は変化量に基づいて修正するものとした。 - 特許庁 - In a rewriting test mode in which a test signal LPMAX is inputted, write-in operation of data of one page and verify-read-out operation confirming a write-in state are repeated until it is discriminated that a write-in cycle reaches the maximum number of times independently of a result of verify-read-out.
テスト信号ＬＰＭＡＸを入力した書き換えテストモードでは、１ページ分のテストデータの書き込み動作及び、書き込み状態を確認するベリファイ読み出し動作を、ベリファイ読み出しの結果の如何に拘わらず、書き込みサイクルが最大回数に達したことが判定されるまで繰り返す。 - 特許庁 - The instrument system includes a rotating carousel for incubation and indexing, multiple light sources each emitting different wavelength light, and a control processor for performing precision calorimetric and fluorometric detections and barcode test panel tracking and for making determinations based on measured test data.
この計器システムは、インキュベーションおよび位置合わせ用の回転カルーセルと、各光源が様々な波長の光を放出する複数の光源と、精密比色定量および蛍光比色検出、バーコード試験パネル追跡と、測定された試験データに基づいて判定を下す制御プロセッサとを含む。 - 特許庁 - The method mounted on one computer includes the determination of the three-dimensional map of a signal-to-noise ratio value to a test piece and data to be acquired for the potential defect of the test piece by the light-scattering inspection system over the entire scattering hemisphere of the inspection system.
一つのコンピュータに実装された方法は、検査システムの散乱半球全体に亘って、光散乱検査システムによって試験体および試験体の電位欠陥に対して取得されるであろうデータに対して、信号対雑音比値の三次元マップを決定することを含んでいる。 - 特許庁 - Meanwhile, in the case of a RAM disk or a hybrid disk, the length of the recording information is decided by a data amount decision part 78 and when it is not the required length, a test pattern generated in a test pattern generator 62 of a media side EN/D and servo circuit 60 is written into a RAM area of the disk.
しかし、ＲＡＭディスクやハイブリッドディスクの場合は、データ量判定部７８によって記録情報の長さが判定され、これが必要な長さでない場合は、メディア側ＥＮ／Ｄ＆サーボ回路６０のテストパターン発生器６２で発生したテストパターンをディスクのＲＡＭ領域に書き込む。 - 特許庁 - To provide a penetration testing device securing high reliability of measurement data as the penetration testing device applied to a Swedish sounding test, the penetration testing device being capable of penetrating a penetration test rod into the ground in a mechanically clamped state and automatically conducting loading, load separation, and rotary excavation by mechanical means.
スウェーデン式サウンディング試験に適用する貫入試験装置として、貫入試験用ロッドを機械的にクランプした状態で地盤中に貫入でき、荷重の負荷及び切り離し、回転掘進を機械的手段で自動的に行って測定データの高い信頼性を確保する。 - 特許庁 - A plurality of primitives are sorted, based on data stored in a primitive buffer 21 about a plurality of primitives, into first primitives to be displayed on a display 41 and second primitives not to be displayed, which is accomplished by an XYZ clip section 23, a Z-test section 25, and a stencil test section 27.
複数のプリミティブを、プリミティブバッファ２１に格納されている複数のプリミティブについてのデータに基づいて、ＸＹＺクリップ部２３、Ｚテスト部２５、ステンシルテスト部２７により、ディスプレイ４１に表示される第１のプリミティブと表示されない第２のプリミティブとに選別する。 - 特許庁 - A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.
前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁 - In the protective relay 1, a processing unit 11 inputs a digital signal of a DC voltage which is converted from an AC voltage of the power transmission system L1 from an analog/digital converter A/D, inputs an output voltage of an AC from a power supply unit 15, and inputs inspection data (test current, test voltage and operation time) from a test device 2 which is connected at inspection via an external interface 14.
保護継電器１において、処理部１１は、アナログデジタル変換器Ａ／Ｄから送電系統Ｌ１の交流電圧を変換した直流電圧のデジタル信号を入力し、電源ユニット１５から直流の出力電圧を入力し、点検時に接続される試験装置２から外部インタフェース部１４経由で点検データ（試験電流、試験電圧、動作時間）を入力する。 - 特許庁 - To provide a test piece carrier for a transmission type electron microscope and its manufacturing method, a test piece for the transmission type electron microscope and its manufacturing method, as well as observation and crystal structure analysis methods using the test piece for the transmission type electron microscope, wherein observation using the transmission type electron microscope can obtain observation data of an object to be observed in various directions.
透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。 - 特許庁 - During a shift mode of a scanning test, selectors SEL1-SEL3 select the path of inputting an input signal for a test pattern of a macro cell 23 from data input terminals 41-43 and supplying it to the macro cell 23, and test signals for scan path inputted from scan input terminals 44 are supplied to registers FF1-FF6 for scan path arranged in a user logic circuit.
スキャンテストのシフトモード時において、セレクタＳＥＬ１〜ＳＥＬ３は、データ入力端子４１〜４３からマクロセル２３のテストパターン用の入力信号を入力してマクロセル２３に供給するパスを選択すると共に、スキャン入力端子４４から入力されるスキャンパス用のテスト信号がユーザ論理回路中に配されるスキャンパス用レジスタＦＦ１〜ＦＦ６へ供給される。 - 特許庁 - A CPU 120 detects an expected value having the same value as a top test CRC value calculated by the CRC calculator 144 among expected values of the CRC value of at least partial continuous pictures in a moving image corresponding to the test stream data and with the detected expected value as an origin, the test CRC value is sequentially compared with expected values, thereby diagnosing the moving image processing device 110.
ＣＰＵ１２０は、テスト用ストリームデータに対応する動画像の少なくとも一部の連続したピクチャのＣＲＣ値の期待値のうちの、ＣＲＣ算出部１４４が算出した先頭のテストＣＲＣ値と同値を有する期待値を検出し、検出した期待値を起点にし、テストＣＲＣ値と期待値との順次比較を行うことにより動画像処理装置１１０を診断する。 - 特許庁 - The mounting substrate has connecting wiring (50) connecting a data input-output terminal (10c) for the first semiconductor device (3) and the data input-output terminal (11d) for the second semiconductor device (4), and has branch wiring (51) to a test terminal (12t) from an intermediate section.
実装基板に第１の半導体デバイス（３）のデータ入出力端子（１０ｃ）と第２の半導体デバイス（４）のデータ入出力端子（１１ｄ）と接続する接続配線（５０）を有し、途中からテスト端子（１２ｔ）に至る分岐配線（５１）を有する。 - 特許庁 - To prevent the decrease of a data transfer speed depending upon a test data bus for single-DRAM-part evaluation and to suppress an increase in the number of pads for testing the single DRAM part as to the semiconductor storage device having an MPU and a secondary cache DRAM on one chip.
ＭＰＵと２次キャッシュ用ＤＲＡＭとを１チップ化した半導体記憶装置において、ＤＲＡＭ部単体評価のためのテスト用データバスに基づくデータ転送速度の低下を防止し、ＤＲＡＭ部単体テスト用のパッド数の増加を抑制する。 - 特許庁 - At a burn-in test, each read selection gate 20, each write selection gate 30, a write control circuit, and a sense amplifier 50 are activated, and a read-data bus pre-charge equalizing circuit 70 and a global read-data bus pre-charge equalizing circuit 80 are non-activated.
バーンイン試験時に、各読出選択ゲート２０、各書込選択ゲート３０、書込制御回路４０、およびセンスアンプ回路５０は活性化され、リードデータバスプリチャージ・イコライズ回路７０およびグローバルリードデータバスプリチャージ・イコライズ回路８０が非活性化される。 - 特許庁 - To provide an automatic test device easily installed and removed, synchronously and automatically providing measurement data of good quality, measuring without enlarging the device, even if the number of measurement target signals is increased, and facilitating the handling of the measurement data.
設置および撤去が簡便で品質の良い測定データが同期して自動的に得られ、測定対象の信号の数が増加しても、装置を大型化することなく測定でき、測定データの取り扱いが簡便である自動試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device capable of carrying out a parallel test which compares outputs of a plurality of data output lines in a short period of time, in the semiconductor memory device in which the data output lines such as MIO lines are commonly used by a plurality of BANKs.
複数のＢＡＮＫでＭＩＯ線等のデータ出力線を共通化した半導体記憶装置において複数のデータ出力線の出力を比較するパラレルテストを短時間で行うことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for monitoring partial discharge generation, reducing a data quantity of partial discharge in a charge lifetime test by a charge sample for evaluating insulation performance, and reducing a storage capacity for storing partial discharge data.
絶縁性能を評価する課電試料による課電寿命試験での部分放電のデータ量が低減でき、部分放電のデータを記憶するための記憶容量が少なくて済む部分放電発生監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - By a default request generation means 6, request data for accessing a test target page are generated based on link identification information stored in a link identification information storage means 2, and the generated request data are outputted as a default request 6a.
デフォルトリクエスト生成手段６により、リンク識別情報記憶手段２に記憶されたリンク識別情報に基づいてテスト対象ページにアクセスするためのリクエストデータが生成され、生成されたリクエストデータがデフォルトリクエスト６ａとして出力される。 - 特許庁 - A CPU 30 outputs test signals (TSP) from a plurality of loudspeakers (and sub-woofers), acquires frequency characteristic data thereof, and determines on the basis of the relevant frequency characteristic data whether or not a sub-woofer is connected to an audio system 100.
ＣＰＵ３０は、複数のスピーカ（及びサブウーハ）からテスト信号（ＴＳＰ）を出力してその周波数特性データを取得し、当該周波数特性データに基づいてオーディオシステム１００にサブウーハが接続されているか否かを判断する。 - 特許庁 - The disk device 1 writes test data with error detection data without consistency added therein, directly into a physical disk 110 not via a cache unit 105 in response to a direct write request to the physical disk 110 from a host 2 (procedure 5).
ディスク装置１は，ホスト２からの，物理ディスク１１０への直接ライトの要求に応じて，整合性がないエラー検出用データが付加された試験データを，キャッシュ部１０５を経由させないで，物理ディスク１１０に直接に書き込む（手順５）。 - 特許庁
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