To provide a nitrile rubber-metal laminated gasket material causing no adhesion peel even if used in an electrolyte simultaneously with a different kind of a metal in a practical use environment as a gasket and making it possible to evaluate the retention of sufficient adhesiveness even in a method for confirming and evaluating test solution resistance. ガスケットとしての実使用環境下において、電解質中で異種金属と同時に使用されても接着剥れを生ぜず、耐試験液性確認評価方法においても、十分な接着性を保持していると評価し得るニトリルゴム-金属積層ガスケット素材を提供する。 - 特許庁
This invention is related to a data transmission method and apparatus between a timing controller and a source driver, which additionally has a bit error rate test (BERT) function for sensing an error rate in real time when data is transmitted and received between the timing controller and the source driver. 本発明は、タイミングコントローラとソースドライバの間のデータ送受信時のエラー率をリアルタイムに感知するためのビットエラー率テスト(Bit Error Rate Test:BERT)機能が追加されたタイミングコントローラとソースドライバの間のデータ伝送方法及び装置に関する。 - 特許庁
To make a crack hard to occur in solder balls arranged at four corners below a semiconductor substrate even if a temperature cycle test is conducted in a mounting method of a semiconductor device for mounting the semiconductor device having a plurality of the solder balls arranged in a matrix shape below the semiconductor substrate on a circuit board. 半導体基板下にマトリクス状に配置された複数の半田ボールを有する半導体装置を回路基板上に実装する半導体装置の実装方法において、温度サイクル試験を行なっても、半導体基板下の4隅に配置された半田ボールにクラックが発生しにくいようにする。 - 特許庁
To provide a method of preventing leaching out of lead from molten slag which enables utilization of slag by reducing the amount of lead leaching out from slag, with a convenient treatment, to a level equal to or lower than the standard for the leaching test of ≤0.01 mg/l, the 19th public notice, the Environment Agency. 簡便処理により、スラグからの鉛の溶出量を低減し、環境庁公告第19号法の溶出試験による基準Pb0.01mg/l以下にすることにより、スラグが有効利用できる溶融スラグの鉛溶出防止方法を提供することを目的とすること。 - 特許庁
To provide a release film wherein high level accuracy in a test by a cross-nicol method of a deflection plate, and increasing production yield by a reduction of roll-cleaning and improvement of qualities by a reduction of foreign materials can be realized in a manufacturing process using a release film. 偏光板のクロスニコル法による検査において、高度な精度を実現でき、離型フィルムを用いた製造工程において、ロール清掃の低減による製造歩留まりの向上や、異物の低減による品質を向上させることのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁
To provide a method and a system for leak inspection which enable leak inspection with high accuracy, in a short time and by the simple system, by reducing the effect of compression heat generated on the occasion when the leak inspection is performed under test pressure higher than atmospheric pressure. 大気圧より高いテスト圧力の下で漏れ検査を行う際に発生する圧縮熱の影響を低減することにより、精度が高く、短時間で、簡単な装置により漏れ検査が行えるリーク検査方法およびリーク検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed. チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a device and method for a wind tunnel test allowing measurement of a wind environment around a model or the periphery of the model in a short time including turbulence intensity for reducing a measurement time and costs. 風洞内に設置した模型に風を供給する風洞実験装置に関し、模型または模型周辺の風環境を、乱流強度を含めて短時間で測定することが可能で、測定時間と費用を低減することができる風洞実験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁
This method includes a step to read out the DMA information to be generated or updated and a step to confirm the generated or updated DMA information read out by means of the reference DMA information that is previously decided for the test mode and then to supply the result of confirmation. この方法は、生成または更新されるDMA情報を読み出す段階と、テストモードのために予め定まった基準DMA情報を用いて読み出された生成または更新されたDMA情報を確認し、確認の結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁
To provide a focused ion beam device capable of producing a good cross section for observation having little streak and improving throughput, and a method of processing and observing a test piece which allows production of a good cross section of observation and provide a correct observation image. 筋引きの少ない良好な観察用断面を作製することができるとともに、スループットを向上させることが可能な集束イオンビーム装置、及び、良好な観察用断面を作製して、正確な観察像を得ることができる試料の断面加工・観察方法を提供する。 - 特許庁
In particular, the robust method of creating the parametric process model first collects process outputs on the basis of known test input signals or sequences, adds random noise to the collected process data, and then uses a standard or known technique to determine the process model from the collected process data. 特に、パラメトリック・プロセスモデルを生成するロバストな方法は、まず周知のテスト入力信号または系列に基づいてプロセス出力を収集し、収集されたプロセスデータにランダムノイズを添加し、該収集プロセスデータからプロセスモデルを決定するために標準または周知の技法を使用する。 - 特許庁
Of a plurality of pages of image data (first image data) disposed based on a set layout and a plurality of pages of image data disposed based on a setting method of another layout and the other layout, image data (second image data) indicating one of the data are printed for test. 設定レイアウトに基づいて配置された複数ページ分の画像データ(第1画像データ)及びその他レイアウトの設定方法及びその他レイアウトに基づいて配置された複数ページ分の画像データのうち少なくとも一方を示す画像データ(第2画像データ)をテスト印刷する。 - 特許庁
To provide a method of measuring the adhesive strength between a thin resin layer and a substrate so that the estimate and result in a reliability test or development coincide with each other in the measurement of the adhesive force (adhesive strength) between the thin resin layer and the substrate by reducing obscurity and removing the stage due to the giving of marks. 薄い樹脂層と下地の間の接着力(接着強度)を、曖昧さが少なく、なおかつ点数付けによる段階を取り払い、信頼性試験や現像における予測と結果が一致する薄い樹脂層と下地の間の接着強度を測定する方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a transparent conductive film which is superior in pen-input durability during use for a touch panel and in which deterioration of a transparent conductive thin film is eliminated even after running of sliding tests for 100,000 times under a load of 5.0 N using a pen made of polyacetal on the sliding durability test. タッチパネルに用いた際のペン入力耐久性に優れ、特に後述の摺動耐久試験に記載のポリアセタール製のペンを使用し、5.0Nの荷重で10万回の摺動試験後でも透明導電性薄膜の劣化がない、透明導電性フィルムの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a polyelectrolyte processing method that is useful for evaluating the durability of a polyelectrolyte, eliminates the need for conducting a long-term operation test of a fuel cell and is simple, and is capable of reproducing a state in which the fuel cell is close to the operating state. 高分子電解質の耐久性評価に有用な処理方法であって、長時間の燃料電池運転試験を行う必要がなく簡易であり、かつ燃料電池の運転状態に近い状態を再現可能な高分子電解質の処理方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for detecting an inclination azimuth of a principal plane of a silicon wafer which can test the number of all wafers without lowering a yield, and moreover can grasp and manage the inclination azimuth of the principal plane of the wafer without exerting an effect on a degree of planarity of the wafer. 歩留まりを低下させることなくウェーハの全数検査をすることが可能であり、且つ、ウェーハの平坦度に影響を及ぼすことなくウェーハ主面の傾斜方位を把握・管理することが可能である、シリコンウェーハの主面の傾斜方位の検出方法を提供する。 - 特許庁
To provide a device mounted wafer for which an energization test of each device formed thereon can be reliably performed in an on-wafer state even if the wafer is a bonded wafer, to provide a device chip that can be reliably tested for energization in an on-wafer state, and to provide a method of manufacturing the same. 張り合わせウェーハであっても、その上に形成された各デバイスをオンウェーハ状態で確実に通電検査を行うことができるデバイス搭載ウェーハの提供、オンウェーハ状態での通電検査を確実に行うことができるデバイスチップ及びデバイスチップの製造方法の提供を課題とする。 - 特許庁
To provide a system and method for measuring wind tunnel internal phase pair distance, capable of quantitatively conducting proximity decision of a plurality of mutual testing bodies with high accuracy, while contactlessly measuring a relative distance of the testing bodies used for internal test of a wind tunnel measurement unit in a short time. 風洞測定部内試験に用いられる複数の試験体の相対距離を非接触かつ短時間で計測しつつ、試験体同士の近接判定を高精度かつ定量的に行うことができる風洞内相対距離計測システム及び風洞内相対距離計測方法を提供する。 - 特許庁
To provide a heat source system which enables checking of a trial effect of a heat pump by temporarily installing the heat pump and enabling a test operation, which enhances customer satisfaction and which can promote the introduction of the heat pump, and to provide a heat supply method. ヒートポンプを一時的に設置して試運転可能にすることにより、ヒートポンプの試用効果を確認することができ、顧客満足度を向上させ、ひいてはヒートポンプの導入促進を図ることが可能な熱源システムおよび熱供給方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and a method of testing the same, wherein a test mode entry can easily and securely be performed without making circuits in the semiconductor device large in scale nor lowering the degree of integration without reference to whether the semiconductor device is a synchronous type or an asynchronous type. 本発明は、半導体装置及びその試験方法に関し、半導体装置が同期型であるか非同期型であるかに関わらず、半導体装置内の回路を大規模化及び集積度の低下を招くことなく、簡単、且つ、確実にテストモードエントリを行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁
This method for measuring metal components eluted from a polishing pad comprises steps of immersing the polishing pad in an alkaline solution to elute metal components from the polishing pad, adding acidic components to an eluate, and then measuring metal components in the eluate by a test device. 研磨パッドをアルカリ溶液中に浸漬して、研磨パッドから金属成分を溶出させる工程、溶出液に酸性成分を添加した後、溶出液中の金属成分を検査装置にて測定する工程、を包含する、研磨パッドから溶出される金属成分の測定方法。 - 特許庁
To provide a simple and safe printing testmethod of a gravure ink for evaluating the quantity of a gravure ink without causing whitening even under high humidity condition in a manufacturing site of the gravure ink which is a dangerous object manufacturing factory and a printing testing machine used for the same. 本発明は、危険物製造所であるグラビアインキの製造現場において、高湿度下においてもブラッシングを起こすことなく、グラビアインキの品質を評価するための簡便かつ安全な印刷試験方法と、その方法に用いる印刷試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁
The method is characterized in that human single nucleus cell, together with human lever S9 mix and test substance supposed having sensitization are incubated, CD 86 molecule appeared on the surface of the human single nucleus cell is detected. 本発明は、ヒト単核球細胞と、ヒト肝S9ミックスと、感作性を有すると予想される被験物質とを一緒にインキュベートし、該ヒト単核球細胞の表面に発現されたCD86分子を検出することを特徴とする感作性物質のインビトロ評価方法又はスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
The irradiation testmethod for a semiconductor device 10 includes disposing a plurality of semiconductor devices 10 at overlapping positions, as viewed from one direction 50; and delivering irradiation along the one direction 50, at such an intensity as to penetrate all of the plurality of semiconductor devices 10. 半導体装置10の放射線照射試験方法であって、複数の半導体装置10を一方向50からみたときに重なるように配置し、前記一方向50に沿って複数の半導体装置10の全てを貫通する強度で放射線を照射する。 - 特許庁
To provide a method simply, quickly and previously concentrating a sample including fungus body belonging to genus Legionella in high reproducibility and in high recovery enabling the Legionella test capable of quickly and precisely obtaining the results even from a sample having low concentration of fungus body belonging to genus Legionella. レジオネラ検査において菌体濃度が低いレジオネラ属菌菌体含有試料からでも迅速かつ正確に結果が得られるように簡便に、再現性が高く、しかも迅速かつ回収率高く該レジオネラ属菌菌体含有試料を事前に濃縮する方法およびキットを提供する。 - 特許庁
To provide a very epock-making abrasion tester and abrasion testmethod by which abrasion can be measured through a very simple operation procedure in a short time, the measurement error is reduced, good reproducibility is attained, and the device can be reduced in size. 試験片に噴射された噴射材が飛散したりせず、極めて簡易な操作手順で短時間に摩耗性を測定することができ、測定誤差が小さくて再現性に秀れ、しかも、装置を小型化し得ることもできる極めて画期的な摩耗試験機及び摩耗試験方法を提供するものである。 - 特許庁
To provide an image sensor adjusting method and apparatus, capable of adjusting optical characteristics of the image sensor efficiently and stably, without affecting the adjustment of the optical characteristics of the image sensor, even while any contamination is deposited on a test chart, and to provide an image sensor. テストチャート上に異物が付着した状態であっても、イメージセンサの光学特性の調整に影響を与えず、効率よく安定的にイメージセンサの光学特性を調整できるイメージセンサ調整方法、イメージセンサ調整装置およびイメージセンサを提供することを目的としている。 - 特許庁
To provide a method for fabricating a semiconductor device in which a short circuit caused by fragments of a test pattern is prevented at the time of mounting the semiconductor device by improving the dicing process of a semiconductor wafer, and the yield of an electrooptic device mounting the semiconductor device can be enhanced. 半導体ウエハの分割工程を改善することによって、半導体装置を実装する場合のテストパターンの破片に起因する短絡不良を防止し、さらに、半導体装置を実装した電気光学装置の歩留まりを向上させることのできる製造方法を提供する。 - 特許庁
When a power steering characteristic testmethod for an automobile is performed, a load L is produced by pressing to an output shaft 3 with air pressure through a pressure sensor 13, and pressing force of the air pressure is normally controlled in response to an output of the pressure sensor 13, and then a constant load L is produced at all times. 自動車用パワーステアリングの特性試験をする際、出力軸3を圧力センサ13を介して空気圧で押圧することにより負荷Lを発生させ、圧力センサ13出力に応じて空気圧の押圧力を制御して常に一定の負荷Lを発生させる。 - 特許庁
A test piece to be evaluated is prepared by using a galvanized, trivalent chromate steel sheet of 150 mm long, 70 mm wide, and 0.8 mm thick as a substrate, applying the aqueous coating agent to the substrate by an air spraying method so as to obtain a coating film of a thickness of 30 μm, and drying it at 140°C for 5 min. 評価する供試体は、基材として長さ150mm×幅70mm×厚さ0.8mmの亜鉛めっき/3価クロメート鋼板を用いて、これに水性コーティング剤をエアスプレー法で塗装膜厚30μmになるように塗装し、140℃×5分間乾燥して作製した。 - 特許庁
To provide X-ray diagnostic equipment that can prevent skin trouble caused by X rays from occurring even in the case that an irradiation dose to a test subject with the X rays can reach a threshold level that may cause skin trouble, and to provide a data processing method of the X-ray diagnostic equipment. 被検体へのX線の照射線量値が皮膚障害が発生する恐れのある閾値に達する可能性がある場合であっても、X線による皮膚障害の発生を未然に防止することが可能なX線診断装置およびX線診断装置のデータ処理方法である。 - 特許庁
The manufacturing method of the piezoelectric device includes a test coating stage of applying the adhesive from the needle and a second measurement stage of measuring a coating amount deviation due to difference between the coating amount of the applied adhesive and a reference coating amount, and therefore a proper amount of adhesive can be applied to a proper position. ニードルから接着剤を塗布するテスト塗布工程、及び塗布された接着剤の塗布量と基準塗布量との塗布量ずれを測定する第2測定工程を備えているので、適切な位置に接着剤を適正な塗布量を塗布することができる。 - 特許庁
In a conventional method, a complicated procedure such as a well-known integral calculus is needed, since the system parameter is computed from center-point positions and radii of three circles on a complex plane at the input port complex amplitude ratio W=a2/a1. VNAでDUT(Device Under Test)を測定するにはシステムパラメータが必要であるが、従来は、入力ポートの複素振幅比W=a2/a1の複素平面における3つの円の中心点の位置と半径からシステムパラメータを算出したので、公知の積分法のように複雑な手順が必要であった。 - 特許庁
To provide a laminated piezoelectric element that reduces a rate of change in the degree of orientation of a crystal particle for composing a piezoelectric substrate layer before and after drive, and has a small decrease in piezoelectric characteristics even after a long-term drive test, and also to provide a method for manufacturing the laminated piezoelectric element and an ejector using the laminated piezoelectric element. 圧電体層を構成する結晶粒子の、駆動前後の配向度の変化率を小さくして、長期間の駆動試験においても、圧電特性の低下が小さい積層型圧電素子およびその製法、並びにそれを用いた噴射装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor substrate having a semiconductor formed thereon or a semiconductor substrate is arranged on which a metallic film whose grain size is large, wherein a TEG (Test Element Group) for foreign matter detection, a foreign matter detection device, and a foreign matter detection method, for much more surely detecting any foreign matters are provided. 半導体装置が形成されている半導体基板あるいはグレインサイズが大きい金属膜を有する半導体基板においてより確実に異物の検出を行うことができる異物検出用TEG、異物検出装置及び異物検出方法を提供する。 - 特許庁
To provide a steel high pressure container which does not show an abnormal value in a pressure test after use as long as a steel material is sound, without producing red rust in long-time use, and to provide its manufacturing method. 鋼製高圧容器にかかる上記問題を解決すること、具体的には、長期間の使用期間に亘って赤錆を発生することなく、かつ、使用後の耐圧試験において鋼材が健全である限り、異常値を示さない鋼製高圧容器及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
A method for specifically detecting the analyte is provided, which employs the test chip 4, includes: the working electrode 21 equipped with a conductive layer 32 and an electron acceptor layer 33; a probe 34 fixed on the electron acceptor layer 33; the counter electrode 24; and the reducing electrode 26. 本発明の被検物質の特異的検出方法は、導電層32および電子受容層33を備えている作用電極21と、電子受容層33上に固定されたプローブ34と、対極24と、還元電極26と、を備えている検査チップ4を使用する。 - 特許庁
To provide a method for a pot treatment, which is capable of treating samples such as cloth under treating conditions relatively close to those of an actual machine and also capable of performing an excellent test treatment without forming wrinkles or causing treatment unevenness during the treatment, and to provide an apparatus for the pot treatment, which is used for the same. 比較的実機に近い処理条件で生地等の試料を処理することができ、しかも、その処理において、試料にしわがつかず、処理むらも生じない、優れた処理試験を行うことのできるポット処理方法と、それに用いるポット処理装置を提供する。 - 特許庁
In this method, the magnetic beads of the concentration capable of integrating the magnetic beads integrated to 60% or more when the magnetic beads dispersed in a solution of 100 μL in a test tube having an inner diameter of about 7 mm and an outer diameter of about 8 mm are integrated by the magnet for 5 s, are used partly or all of the steps. 内径約7mm、外径約8mmのテストチューブ中の溶液100μLに分散された磁性ビーズを5秒間磁石により集積した際に60%以上集積しうるような濃度の磁性ビーズを工程の一部またはすべてにおいて使用することを特徴とする。 - 特許庁
To provide a nerve conduction transmitter and an inspection method which enable to perform the test sequences (examination items) corresponding to the cases without omission while shortening the inspection time in the practice of inspecting the nerve conduction with an induced potential-electromyograph (electromyograph). 誘発電位・筋電図検査装置(筋電計)によって神経伝導検査を実行するに際して、検査時間の短縮を図ると共に、症例に対応したテストシーケンス(検査項目)をもれなく実行することが可能な神経伝導伝送装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
One aspect of the invention provides a method for identifying and/or obtaining a compound for the treatment of a condition associated with decreased endogenous apo E activity in an individual comprising: determining the ingestion of apoptotic cells by a macrophage in the presence of a test compound. 本発明の1つの側面は、個体における減少した内因性アポE活性に関連する状態の治療のための化合物を同定及び/又は得るための方法であって、被験化合物の存在下においてマクロファージによるアポトーシス細胞の摂取を測定すること、を含む上記方法である。 - 特許庁
To provide a solder ball forming method, with which stress to a solder ball connecting part after packaging onto a circuit board can be buffered and a deterioration mode to occur in a temperature cycle test to be performed after packaging of a BGA can be reduced, concerning a BGA package. BGAパッケージにおいて、回路基板への実装後にはんだボール接続部に加わる応力を緩衝することができ、BGAを実装した後に行う温度サイクル試験で発生する劣化モードを軽減させることができるはんだボール形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide an optical disk drive and its control method in which a laser diode is controlled stably without affecting to other data by recording a test pattern in at least one region out of a run-in area and a run-out area of a recording unit block and detecting the characteristics of the laser diode. 記録単位ブロックのラン−イン領域とラン−アウト領域のうち少なくとも一つにテストパターンを記録し、レーザーダイオードの特性を検出することで、他のデータに影響を及ぼすことなく、レーザーダイオードを安定的に制御する光ディスクドライブ及びその制御方法を提供する。 - 特許庁
A stress-strain characteristic model on the terminal-forming material after the work hardening is obtained by applying the work hardening database to the stress-strain correlation obtained by a tensile test, and the strength of the terminal manufactured of the material is analyzed by the finite element method. そして、引張試験により得られた応力歪み相関関係に加工硬化のデータベースを加味することによって、加工硬化が生じた後の端子構成材料についての応力−歪み特性モデルを得て、その材料によって作製される端子の強度を有限要素法により解析する。 - 特許庁
To provide a coated untreated steel plate article excellent in anticorrosion property, especially in warm salt water immersion resistance at 55°C and in anticorrosion resistance in a multiple corrosion cycle test on a multi-layered coating film by a 3 coat 1 bake coating method on an electrodeposition coating film formed on a non-treated steel plate. 無処理鋼板上の耐食性、特に、55℃での耐温塩水浸漬性、無処理鋼板上に形成された電着塗膜上の3コート1ベーク塗装方式における複層塗膜上の複合腐食サイクル試験による耐食性に優れる塗装物品を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method and a semiconductor integrated circuit design program capable of reducing the number of test patterns with respect to a semiconductor integrated circuit including an internal clock domain having data path dependency operated in the same frequency. 同一の周波数で動作するデータパス依存関係を有する内部クロックドメインを含む半導体集積回路に対して、テストパターン数を削減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法及び半導体集積回路設計プログラムを提供すること - 特許庁
To provide a method capable of examining quickly a body state of a subject (or a test animal) by analyzing exhalation quickly and accurately in a short time without drying or concentrating VOCs component in human or animal exhalation including much moisture. 多くの水分を含むヒト又は動物の呼気中のVOCs成分を、乾燥や濃縮することなく、迅速に分析短時間に精度よく呼気を分析して、迅速に被験者(又は被験動物)の身体状態を調べることを可能にする方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a double refraction measuring method and device capable of providing an image having little effect of optical distortion and transmitted through a lens under test, performing accurate double refraction measurement overt the whole surface of the lens, facilitating the change of kinds of lens and improving the flexibility. 光学的な歪みの影響の小さな被検レンズ透過像を得られ、被検レンズ全面に渡って正確に複屈折測定を行える上に、被検レンズの種類の変さらに、も容易に対応可能で汎用性を向上させ得る複屈折測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for appropriately evaluating the degree of influence of a chemical substance in each hormone system in a single test (for example, without allowing operation to an angrogen receptor to interfere with influence to thyroid gland) without independently executing a plurality of tests. 複数の試験を独立して実施することなく、単一試験の中で(例えば、雄性ホルモン受容体に対する作用と甲状腺に対する影響とを互いに干渉することなく)各ホルモン系における化学物質の影響度を適正に評価できる方法を提供すること。 - 特許庁
To prevent a pallet from rising up to the upper side of an installation plate and continuously transfer the pallet where a test tray or a customer tray is placed by improving the transfer method of the pallet in a module IC handler for testing a module IC. 本発明は、モジュールICをテストするモジュールICハンドラーに関するもので、パレットの移送方法を改善して、設置板の上側にパレットが上昇しないようにして、なお、テストトレイ又はカストマトレイが載置されるパレットの移送が連続的に行われるようにしたものである。 - 特許庁