「test pattern」を含む例文一覧(2179)
＜前へ 1 2 .... 28 29 30 31 32 33 34 35 36 .... 43 44 次へ＞- A latent image is formed on a toner carrier by exposing based on a 1st test pattern, and the latent image is developed by an AC voltage having various kinds of amplitude, then, density is detected.
トナー担持体に第１のテストパターンにもとづいて露光して静電潜像を形成し、種々の振幅の交番電圧によって、静電潜像を現像し、濃度を検出する。 - 特許庁 - On the other hand, in an irregular mode operation other than the regular image forming operation, a test pattern offset value Totn is extracted as the toner consumption corresponding to the operation (step S141).
一方、通常の画像形成動作ではない非通常モードでの動作では、動作に応じたトナー消費量としてテストパターンオフセット値Ｔotnを抽出する（ステップＳ１４１）。 - 特許庁 - A test pattern 33 of at least several dot width per line is printed in the main scanning direction and subscanning direction while developing each thermal coloring layer with maximum density.
主走査方向および副走査方向に、少なくとも１ライン分で数ドット幅からなり、各感熱発色層を最大濃度で発色させたテストパターン３３を印画する。 - 特許庁 - To provide a photosensitive composition which is excellent in TCT (thermal cycle test) resistance and insulation reliability, as well as a photosensitive laminate, a method for forming a permanent pattern, and a printed board.
ＴＣＴ（サーマルサイクルテスト）耐性及び絶縁信頼性に優れた感光性組成物、並びに、感光性積層体、永久パターン形成方法、及びプリント基板の提供。 - 特許庁 - The driver's aid auxiliary 5b displays progression of the travel test by changing color of a travel route based on the command value of a travel speed pattern.
そして、ドライバーズエイド補助装置５ｂは、走行速度パターンの指令値に基づいて走行経路の色を変化させる等により走行試験の経過状態を表示する。 - 特許庁 - The image-forming part 3 includes an image-reading part (A) which detects the color and surface reflection light quantity of the color image of the test pattern which has been output to the paper sheet in the image-forming part 3.
また、画像形成部３で用紙に出力されたテストパターンのカラー画像の色と表面反射光量とを検知する画像読み取り部Ａを備える。 - 特許庁 - Terrain information 13 of a road surface on which the travelling test is performed is displayed on a region (main screen 11) on which the traveling speed pattern 12 of the driver's aid display device 4 is displayed.
ドライバーズエイド表示装置４の走行速度パターン１２が表示される領域（メイン画面１１）に、走行試験を行う路面の地形情報１３を表示する。 - 特許庁 - To form a test pattern that determines the proper inkjetting amount even when a hygrothermal environment in which an inkjet recording device is placed varies.
インクジェット記録装置の置かれた温湿度環境が変動した場合にも、適正なインク打込み量を判断することができるテストパターンを作成できるようにする。 - 特許庁 - To provide an address pattern generation circuit in which a carry signal corresponding to the arbitrary maximum value address is generated and a test of a memory having the arbitrary maximum value address can be performed.
任意の最大値アドレスに対応した桁上げ信号を発生させ、任意の最大値アドレスを有するメモリの試験を可能にするアドレスパターン発生回路を提供する。 - 特許庁 - These recording heads 7a-7d and ultraviolet irradiation devices 8 and 8 can record a test pattern image which can detect whether or not a dot diameter D is a predetermined size.
これら記録ヘッド７ａ〜７ｄ及び紫外線照射装置８，８は、ドット径Ｄが所定の大きさであるか否かを判別可能可能なテストパターン画像を記録可能である。 - 特許庁 - The image processing means performs image processing on the test pattern signal according to a predetermined image processing mode out of a plurality of image processing modes related to gradation characteristics.
画像処理手段は、階調特性に関する複数の画像処理モードのうち、所定の画像処理モードにしたがってテストパターン信号に画像処理を実行する。 - 特許庁 - An inkjet image forming device records a test pattern 901 composed of a plurality of lines running along a nozzle array, at least one end positions of the lines being shifted in increments of one unit amount, using a first line recording head 202.
第１のライン記録ヘッド２０２で、少なくとも一端の位置が単位量ずつ変化する、ノズル列に沿った複数のラインからなるテストパターン９０１を記録する。 - 特許庁 - After a probe A is moved so as to face the end face 61 of the circuit board 3, the probe A is brought into contact with a test pattern 62 exposed to the end face 61 of the circuit board 3.
回路板３の端面６１と対向するようにプローブＡを移動した後、回路板３の端面６１に露出したテストパターン６２にプローブＡを接触させる。 - 特許庁 - At the time of verifying a high speed operation logic circuit, a high speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register directly from a bypass signal 5 to the selector section 2.
一方、高速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）としての高速テストパターンをバイパス信号（５）からセレクタ部（２）へ直接に入力する。 - 特許庁 - A design verification tool 21 specifies an element whose output value is different between the circuit shown by an original circuit diagram and the circuit shown by the new circuit diagram by using a test pattern.
設計検証ツール２１は、テストパターンを用いて、元の回路図で示される回路と、新しい回路図で示される回路とで出力値が異なる素子を特定する。 - 特許庁 - To provide a material testing device capable of accurately capturing a moment of breakage without taking time and labor of forming a thin film pattern of a conductor on a surface of a test piece.
試験片の表面に導体の薄膜パターンを形成するような手間をかけず、破損の瞬間を正確に捉えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁 - To highly accurately evaluate a defect identification pattern without requiring any destructive analysis involving visual check with regard to a multilayer wiring board and its test method.
多層配線基板及び多層配線基板の試験方法に関し、目視を伴った破壊解析を要することなく欠陥識別パターンの評価を精度良く行う。 - 特許庁 - In the quality evaluating means 22, this reproduced test pattern data are sampled and taken in by an AD converter 23, the sample data are accumulated in a memory 24 to evaluate quality.
品質評価手段２２では、ＡＤコンバータ２３でこの再生テストパターンデータをサンプリングして取り込み、そのサンプルデータを、品質評価のために、メモリ２４に蓄積する。 - 特許庁 - The operator adjusts the amplification of an amplifying circuit 16 and a reference voltage of an A/D converter 18 so as to eliminate the difference between the white input picture and the luminance of the white test pattern.
オペレータは、白の入力画像と白のテストパターンの輝度の差がなくなるように、増幅回路の増幅率やＡ／Ｄコンバータの基準電圧を調整する。 - 特許庁 - To generate a combination test pattern for confirming that when an existing system is shifted into the other system environment, the business thereof operates correctly in the system environment after the shift.
既存システムを他のシステム環境へ移行する際に、その業務が移行後のシステム環境で正しく動作することを確認するための組み合わせテストパターンを生成する。 - 特許庁 - The electrostatic capacity between the electrode plates 11 and 12 is detected and the toner mass (toner deposition amount) of the test pattern TN is calculated from the detected electrostatic capacity.
電極板１１と１２との間の静電容量を検出し、検出された静電容量からテストパターンＴＮのトナー質量（トナー付着量）を演算する。 - 特許庁 - To provide a method and system used for the accurate profile characterization of a test pattern that can be executed, so as to be used in real time in a production line.
本発明は、製造ラインにおいてリアルタイムで使用するために実行されることが可能なテストパターンの正確なプロファイルキャラクタリゼーションのための方法およびシステムを提案する。 - 特許庁 - To provide a test pattern evaluating device and method shortening a development TAT (turn around time) and having high developing efficiency, and to provide a semiconductor inspecting device.
本発明は、開発ＴＡＴを短縮でき、開発効率の良いテストパターン評価装置及びその方法、半導体検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Moreover, even in the recording device which carries the recording head, the same test pattern can be executed, and deterioration in the performance of the recording head can be quantitatively judged.
又、記録ヘッドを搭載する記録装置においても、同様のテストパターンを実行できるようにして、記録ヘッドの性能劣化を定量的に判定出来るようにした。 - 特許庁 - When a compressed data pattern 107 in the test response analyzer is represented by using the logical variables (d), a conditional expression that should be satisfied by the logical variables (d) can be obtained.
テスト応答解析器における圧縮データパターン１０７をこれらの論理変数ｄを用いて表すと、論理変数ｄが満足すべき条件式が得られる。 - 特許庁 - A test pattern recording and reproducing operation when optimum detrack amounts is obtained is performed by changing the detrack amount in recording and also the detrack amount in reproduction gradually.
最適なデトラック量を求める際のテストパターンの記録再生動作について、記録時のデトラック量と共に再生時のデトラック量も段階的に変化させて行う。 - 特許庁 - Signals fixed to the logic level H or L are inputted to input terminals INm+1 to INn of a functional macro 1 in at least one test pattern.
また、集積回路が複数の機能マクロを内蔵する場合に、試験用外部端子を少なくしてコストの削減を図るとともに、各機能マクロの試験時間の短縮を図る。 - 特許庁 - After skew adjustment, the skew file confirming pattern comparing part 27 is used to re-adjusting the skew, and then the corrected skew file is used for functional test of the DUT31.
スキュー調整後、スキューファイル確認用パターン比較部２７を用いてスキューの再調整を行い、修正したスキューファイルを用いてＤＵＴ３１の機能試験を行う。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device permitting to write a data pattern consisting of bit-string data including at least one or more zero logic, and to provide an electrical test method therefor.
少なくとも１つ以上の０論理を含むビット列データからなるデータパターンを書き込むことができる半導体メモリ素子およびその電気的検査方法を提供する。 - 特許庁 - The test pattern lines can be designed, to evaluate the effectiveness of a method used for correcting optical proximity effects, microloading effects, or other process effects.
テストパターン線は、光学近接効果、マイクロローディング効果、または、他のプロセス効果を補正するための方法の有効性を評価するように設計されることが可能である。 - 特許庁 - To provide a fast speed test pattern verifying apparatus for verifying without using an actual LSI tester or a device to be tested based on logic simulation data formed by a CAD.
ＣＡＤで作成された論理シミュレーションデータを基にして、実際のＬＳＩテスタや被試験デバイスを用いずに検証する高速テストパターン検証装置を提供する。 - 特許庁 - A correction data generating device 60 is coupled to a print sample reading device 70 for reading a test pattern on a print sample PS formed by using an LPH (light emitting diode print head) 14.
補正データ生成装置６０は、ＬＰＨ１４を用いて作成されたプリントサンプルＰＳ上のテストパターンを読み取るプリントサンプル読取装置７０に接続されている。 - 特許庁 - The image pickup device 11 picks up an image of a test pattern displayed in white on the color CRT 3 and a VRAM123 in a measurement device main body 12 stores the picked-up image.
カラーＣＲＴ３に白色表示させたテストパターンは撮像装置１１で撮像され、その撮影画像は測定装置本体１２内のＶＲＡＭ１２３に格納される。 - 特許庁 - When a power source is switched on, the luminous device displays a specific test pattern, and detects the luminance by a photoelectric transducing element 106 arranged on each pixel and stores it in a storage circuit 104.
電源投入時、特定のテストパターンを表示して、各画素に配置された光電変換素子１０６によって輝度を検出し、記憶回路１０４に格納する。 - 特許庁 - A specific test pattern is displayed when an electric power source is connected, brightnesses are detected by photoelectric conversion elements 106 arranged in each pixel and stored in a memory circuit 104.
電源投入時、特定のテストパターンを表示して、各画素に配置された光電変換素子１０６によって輝度を検出し、記憶回路１０４に格納する。 - 特許庁 - Temperature of the recording head is detected before the temperature of the recording head is detected and the test pattern to be used for correction of the image data is recorded on a recording medium by using the recording head.
記録ヘッドの温度を検出し、画像データの補正に使用するテストパターンを記録ヘッドを用いて記録媒体に記録する前に、記録ヘッドの温度を検出する。 - 特許庁 - When a user judges that image density irregularity is not proper and depresses an adjustment start key 104a, a CPU 1011 prints a first test pattern (S2).
使用者によって画像濃度ムラが良くないと判断され、調整スタートキー１０４ａが押下された場合、ＣＰＵ１０１１は、第１のテストパターンを印字する（Ｓ２）。 - 特許庁 - The recording device corrects the transfer amount at the time when the sheet material gets out from the transfer roller and the pinch roller on the basis of the correction amount set in accordance with the result of recording of the test pattern.
このテストパターンの記録結果に応じて設定される補正量に基づいて、シート材が搬送ローラーおよびピンチローラーから外れる際の搬送量を補正する。 - 特許庁 - The pattern wiring 11 of the test coupon on each signal wiring layer is composed of linear portions 12 extending in parallel with each other, and fold-back portions 13 connecting the linear portions 12 to each other.
各信号配線層のテストクーポンのパターン配線部１１は、並行に延びる直線部１２と直線部１２を相互につなぐ折り返し部１３とから構成する。 - 特許庁 - To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.
可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁 - Set times Ta1 and Ta2 consider jitter generated on the belt by contact and separation operation in contact and separation and secure transfer of the normal images and transfer braking of the test pattern.
設定時間Ｔa1、Ｔa2は、接離時に接離動作によりベルトに発生するジッタを考慮し、通常画像の転写とテストパターンの転写制動を確保する。 - 特許庁 - A test pattern is applied simultaneously to all the semiconductor devices 81 to 84, and the result of the measuring operation is processed.
ここで、ＡＣパラメトリック試験が終了していないと判定された半導体装置に対しては、次回のパターン印加のタイミングが設定され、パターン印加処理が繰り返し実行される。 - 特許庁 - To enhance a judging precision of an adjustment test pattern even when a paper meanders in adjustment of a tilting amount or alignment of an ink delivering section in a printing apparatus.
印刷装置におけるインク吐出部の傾き量又はアライメントの調整において、用紙が蛇行する場合でも、調整用テストパターンの判定精度を高める。 - 特許庁 - A pattern matching part 502 compares the image data of an image outputted by a test object device according to the transmitted signal with the image data of the reference image.
パターンマッチング部５０２は、送信された信号に対応してテスト対象装置が出力する画像の画像データと、基準画像の画像データとを比較する処理を行う。 - 特許庁 - Thus, a laser diode in the optical module section 3 is driven via an analog IC interface circuit 12 and an analog IC 2 and an optical signal corresponding to the test pattern is transmitted.
これにより、アナログＩＣインタフェース回路１２及びアナログＩＣ２を介して光モジュール部３内のレーザダイオードが駆動され、テストパターンに対応した光信号が送出される。 - 特許庁 - Respective patterns K1 to Y1 constituting the test pattern T1 are formed so that density near both ends in a width direction (main-scanning direction) may be higher than that on the inside.
テストパターンＴ１を構成する各パターンＫ１〜Ｙ１は、幅方向（主走査方向）両端部近傍の濃度がその内部よりも大きくなるよう形成されている。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TEST PATTERN GENERATING METHOD FOR IT, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE
半導体集積回路装置のテストパターン作成方法、半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、および、半導体集積回路試験装置 - 特許庁 - The variation of the misalignment amounts of an interlayer pattern is monitored from the occurring amounts of defects in the misalignment amounts of a plurality of test patterns having different misalignment amounts.
異なる合わせずれ量を持った複数のテストパターンのそれぞれの合わせずれ量に対する欠陥の発生量から層間パターンの合わせずれ量の変動をモニタする。 - 特許庁 - By constituting the register mark RM of a halftone toner image, the temperature variation of output from a test pattern sensor (optical sensor) 18 for detecting the register mark RM is restrained.
レジストマークＲＭを中間調トナー像により構成することで、レジストマークＲＭを検出するテストパターンセンサ（光学センサ）１８の出力の温度変動を抑制している。 - 特許庁 - A net list simulation means inputs the working rate calculation test pattern of the gate and a net list edited for operation rate calculation, and calculates the working rate data of the gate.
ネットリストシミュレーション手段は、ゲートの動作率算出用テストパタンと動作率算出用に編集されたネットリストを入力し、ゲートの動作率データを算出する。 - 特許庁
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