「test program」を含む例文一覧(1631)
＜前へ 1 2 .... 8 9 10 11 12 13 14 15 16 .... 32 33 次へ＞- The test management device 600 outputs the execution situation of the test program notified from the test execution device 500 when a confirmation request of the execution situation of the test program is received from the outside.
試験管理装置６００は、テスト・プログラムの実行状況の確認要求が外部から受け付けられた際、試験実行装置５００から通知されたテスト・プログラムの実行状況を出力する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM
組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATING METHOD, DATA STRUCTURE OF TEST PATTERN, TEST PATTERN GENERATING DEVICE, DISPLAY PANEL INSPECTION SYSTEM, CONTROL PROGRAM, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON
テストパターン発生方法、テストパターンのデータ構造、テストパターン発生装置、表示パネル検査システム、制御プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a change or addition in test items, measuring instruments, devices under test, or the like occurs.
試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁 - To reuse a prepared program code even when a specification is changed, when a test program is prepared from the formal specification and when the program code is inserted manually into the test program.
形式的仕様からテストプログラムを生成し、そのテストプログラムに手作業でプログラムコードを挿入した場合、仕様が変更されたときでも作成されたプログラムコードを再利用可能とする。 - 特許庁 - To provide an automatic test tool program and an automatic test method capable of efficiently performing an operation test of a screen display accompanied by an operation.
操作に伴う画面表示の動作テストを効率的に行える自動テストツール・プログラム及び自動テスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a client-server system, a load test method, and a load test program capable of performing a proper load test using a simple structure.
簡易な構成で適切な負荷テストを行なうことが可能なクライアント−サーバシステム、負荷テスト方法、および負荷テストプログラムを提供する。 - 特許庁 - TEST VECTOR GENERATOR, TEST VECTOR GENERATING METHOD, FAILURE ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM FOR GENERATING TEST VECTOR
テストベクタの生成装置、テストベクタの生成方法、半導体集積回路の故障解析装置、およびテストベクタを生成するためのプログラム - 特許庁 - TEST ITEM GENERATION DEVICE AND METHOD, NETWORK TEST SUPPORT DEVICE AND METHOD, AND COMPUTER PROGRAM FOR ACHIEVING TEST ITEM GENERATING DEVICE AND NETWORK TEST SUPPORT DEVICE
試験項目生成装置及び方法、ネットワーク試験支援装置及び方法、試験項目生成装置及びネットワーク試験支援装置を実現するためのコンピュータプログラム - 特許庁 - To provide a test base apparatus, a test base program and a test base method for automating a test for a Web application for which a name of a parameter received at each access is varied.
アクセスの都度受け付けるパラメータの名前が変化するＷｅｂアプリケーションに対するテストを自動化するテスト基盤装置、テスト基盤プログラム、テスト基盤方法を提供する。 - 特許庁 - The test execution device 500 generates the test program according to the function recorded in the operation content file.
試験実行装置５００は、操作内容ファイルに記録された関数に応じてテスト・プログラムを生成する。 - 特許庁 - The unit test is executed in a host environment 320 for a further perfect and accurate test of a program unit.
ユニットテストは、プログラムユニットのより完全で正確なテストのためにホスト環境３２０において実行する。 - 特許庁 - SYSTEM FOR PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION, CENTRAL DEVICE, METHOD OF PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION AND COMPUTER PROGRAM
動物検査情報提供システム、中央装置、動物検査情報提供方法及びコンピュータプログラム - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING TEST PATTERN, PROGRAM FOR PRODUCING TEST PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING MASK, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
テストパターン作成方法、テストパターン作成プログラム、マスク作製方法、及び半導体装置製造方法 - 特許庁 - The near end monitor has tasks of starting a program to be tested, monitoring a test status, and recording test data.
ニヤエンドモニタはテストすべきプログラムを開始し、テストステータスを監視し、テストデータを記録する役目がある。 - 特許庁 - BURN-IN BOARD, BURN-IN TESTER, BURN-IN TEST METHOD AND MEMORY MEDIUM HAVING STORED BURN-IN TEST PROGRAM THEREON
バーンインボード、バーンイン試験装置、バーンイン試験方法、及び、バーンイン試験プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁 - DEVICE AND PROGRAM FOR SUPPORTING SELECTION OF TRAVELING ROUTE FOR TEST RIDE OF TEST VEHICLE
試乗車の試乗用走行路選定支援装置、及び試乗車の試乗用走行路選定支援プログラム - 特許庁 - AMPLIFICATION CONTROL DEVICE, TEST SIGNAL GENERATION MODULE, TEST DEVICE, AMPLIFICATION CONTROL METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
増幅制御装置、試験用信号生成モジュール、試験装置、増幅制御方法、プログラム、記録媒体 - 特許庁 - FREQUENCY ANALYSIS DEVICE, FREQUENCY ANALYSIS METHOD, FREQUENCY ANALYSIS PROGRAM, TAPPING TEST DEVICE AND TAPPING TEST METHOD
周波数解析装置、周波数解析方法、周波数解析プログラム、打検装置及び打検方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TELEGRAPHIC MESSAGE FOR TEST AND RECORDING MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PREPARING TELEGRAPHIC MESSAGE FOR TEST
試験用電文作成方法およびその装置、試験用電文作成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - In the test chart management system 1, a test chart management program 20 operates on the image-forming device 10.
テストチャート管理システム１において、テストチャート管理プログラム２０は、画像形成装置１０上で動作する。 - 特許庁 - IMPACT TEST APPARATUS FOR CIRCUIT BOARD, IMPACT TEST METHOD FOR CIRCUIT BOARD, ACTUATOR HAMMER AND COMPUTER PROGRAM
回路基板の衝撃試験装置、回路基板の衝撃試験方法、アクチュエータハンマー、及びコンピュータプログラム - 特許庁 - A test program debug device includes a device under test simulator and a semiconductor testing apparatus simulator.
本発明のテストプログラムデバッグ装置は、被試験デバイスシミュレータ及び半導体試験装置シミュレータとを備える。 - 特許庁 - THUNDER IMPULSE WITHSTAND VOLTAGE TEST SYSTEM, REFERENCE WAVEFORM CALCULATION PROGRAM, AND THUNDER IMPULSE WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD
雷インパルス耐電圧試験システムおよび基準波形算出プログラム、並びに雷インパルス耐電圧試験方法 - 特許庁 - TEST PRIORITY DERIVATION SUPPORT METHOD FOR SOFTWARE SYSTEM, TEST CASE DESIGNING SUPPORT METHOD, AND ITS SUPPORT PROGRAM
ソフトウェアシステムのテスト優先度導出支援方法、テストケース設計支援方法、およびその支援プログラム - 特許庁 - To reduce the capacity of a multi-axis test program and at the same time easily execute a multi-axis test.
多軸試験プログラムの容量を小さくするとともに、多軸試験を容易に実行できるようにする。 - 特許庁 - BARCODE GENERATION SYSTEM, BARCODE GENERATION PROGRAM, PRINTING DEVICE, AND TEST CHART
バーコード生成システム、バーコード生成プログラム、印刷装置およびテストチャート - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR INQUIRING TEST RESULT AND COMPUTER PROGRAM
試験結果問い合わせシステムおよびその方法ならびにコンピュータプログラム - 特許庁 - TEST EQUIPMENT, ITS CONTROL METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM
試験装置及びその制御方法、並びにプログラム及び記憶媒体 - 特許庁 - LOOP BACK TEST SYSTEM, IN-HOUSE APPARATUS, CENTER APPARATUS, AND PROGRAM
折り返し試験システム、宅内装置、及びセンター装置、並びにプログラム - 特許庁 - PROGRAM, DEVICE, AND METHOD FOR SOFTWARE TEST MANAGEMENT
ソフトウェアテスト管理プログラム、ソフトウェアテスト管理装置、ソフトウェアテスト管理方法 - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT, LOGICAL CONNECTION INFORMATION GENERATING METHOD OF THE SAME, AND PROGRAM
スキャンテスト回路、その論理接続情報生成方法及びプログラム - 特許庁 - MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM
移動体通信端末試験システム、解析方法、及び解析プログラム - 特許庁 - SOFTWARE TEST/DEVELOPMENT SUPPORT DEVICE, AND PROGRAM FOR DEVICE
ソフトウェア試験及び開発支援装置並びに当該装置用プログラム - 特許庁 - SUPPORT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR CREATING TEST DATA
テストデータ作成支援装置、作成支援方法、及び作成支援プログラム - 特許庁 - LOAD TEST EXECUTION DEVICE AND SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM THEREOF
負荷テスト実行装置及びシステム、及びその方法、及びそのプログラム - 特許庁 - BURN-IN TEST PROGRAM SIMULATION DEVICE, ITS METHOD, AND STORAGE MEDIUM
バーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体 - 特許庁 - To grasp precise position on a test program when a warning is generated.
警報発生時の試験プログラム上の正確な位置を把握する。 - 特許庁 - To provide a production technique of test data for program operation confirmation.
プログラム動作確認のためのテストデータの生成技術を提供する。 - 特許庁 - TEST METHOD FOR ELECTRONIC EXCHANGE, SPEECH PATH SYSTEM SIMULATION DEVICE AND PROGRAM
電子交換機の試験方法、通話路系シミュレート装置及びプログラム - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR GENERATING ELECTRONIC TEST PROGRAM AND DATA STRUCTURE
電子テスト及びデータ構造を生成する為の方法及び装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST METHOD, INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM
半導体集積回路、試験方法、情報処理装置、及びプログラム - 特許庁 - The following are some of the features found in the Build Test program:
下記はこのビルド・テスト・プログラムに見られる特徴のいくつかである。 - コンピューター用語辞典 - COLOR CONVERTING DEVICE, COLOR CONVERTING METHOD, COLOR CONVERSION PROGRAM AND TEST PATTERN
色変換装置、色変換方法、色変換プログラムおよびテストパターン - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST CASE, AND COMPUTER PROGRAM
テストケース生成装置およびその生成方法、ならびにコンピュータプログラム - 特許庁 - To obtain a test program collating device which can check a test program by appropriate inspection standards and contributes to the quality assurance of a product.
適切な検査規格によるテストプログラムであることを確認でき、製品の品質保証に資するテストプログラム照合装置を得る。 - 特許庁 - Therefore, the test program for testing a simple body of the first memory chip can be utilized as a test program for the semiconductor device after assembly.
このため、第１メモリチップ単体を試験する試験プログラムを、半導体装置の組み立て後の試験プログラムとして流用できる。 - 特許庁 - After the application program is completed, the application program is run on the test environment using the virtual unit for performing an interlocking test.
アプリケーションプログラムが完成したなら、仮想ユニットを用いたテスト環境上でアプリケーションプログラムを動作させ、連動テストを実施する。 - 特許庁 - To provide a test item creation device which can be used in an upstream step of a software test, and to provide a test item creation system, a test item creation method, and a test item creation program.
ソフトウェア・テストの上流工程においても用いることの可能なテスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.
データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁
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