「test program」を含む例文一覧(1631)
＜前へ 1 2 .... 10 11 12 13 14 15 16 17 18 .... 32 33 次へ＞- When the test program is executed in an execution state of the product inspection program, a priority of a test task to be executed according to the test program is lowered than a priority of a product inspection task to be executed according to the product inspection program.
製品検査用プログラムの実行状態時にテスト用プログラムを実行する場合に、製品検査用プログラムに従って実行する製品検査タスクの優先度よりもテスト用プログラムに従って実行するテストタスクの優先度を低くする。 - 特許庁 - DC POWER SYSTEM, TEST METHOD THEREFOR, AND PROGRAM FOR IMPLEMENTING TEST METHOD THEREFOR
直流電源システムとその試験方法ならびに直流電源システムの試験方法を実行するためのプログラム - 特許庁 - Therefore, the test data completely covering a program logic are automatically created, and test data creation man-hours can be reduced.
従って、プログラムロジックを網羅するテストデータが自動的に作成されるので、テストデータ作成工数が削減される。 - 特許庁 - INFORMATION PROCESSOR, METHOD, AND PROGRAM FOR DETERMINING PRIORITY OF TEST CASE TO BE EXECUTED IN REGRESSION TEST
回帰テストにおいて実施すべきテストケースの優先度を決定するための情報処理装置、方法、及びプログラム - 特許庁 - LOAD TEST DEVICE, PSEUDO CALL FOR LOAD TEST USED THEREFOR, RESULT-VERIFYING INFORMATION GENERATION METHOD AND PROGRAM THEREFOR
負荷テスト装置及びそれに用いる負荷テスト用擬似呼・結果検証用情報生成方法並びにそのプログラム - 特許庁 - To provide an IC card test device by which a developer of an IC card program can easily prepare a test pattern.
ＩＣカードプログラムの開発者がテストパターンを容易に作成することができるＩＣカードテスト装置を提供する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD, AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM IN WHICH PROGRAM IS RECORDED
半導体試験装置及び半導体試験方法並びにプログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a join test system, a join test method, and a join test program for efficient join test by reducing a load during test in a system composed of a plurality of modules.
複数のモジュールから構成されたシステムにおいて、テスト実施時の負担を軽減することにより、効率的に結合テストを行なうための結合テストシステム、結合テスト方法及び結合テストプログラムを提供する。 - 特許庁 - In the case of executing the complied test program, a tester control part 110 executes the common program linked by the intermediate code independently of the test program, and even when the content of the common program are changed, the changed contents are reflected on the test program in common.
テスタ制御部１１０はコンパイルされたテストプログラムを実行する際に、中間コードによってリンクされている共通プログラムをテストプログラムとは独立して実行し、共通プログラムの内容が変更された場合でもその変更内容が、テストプログラムに共通に反映されるようにする。 - 特許庁 - To provide a test scenario creation program, test scenario creation apparatus, and test scenario creation method for creating a test scenario which not only covers paths of a screen transition diagram but also has a variety of perspectives.
画面遷移図のパスを網羅するだけでなく、様々な観点を持つテストシナリオを作成するテストシナリオ作成プログラム、テストシナリオ作成装置、テストシナリオ作成方法を提供する。 - 特許庁 - A test program generation device 20 converts a test pattern TP in such a predetermined format as to test a circuit to be tested into specific test programs A-C used by testers 31A-31C.
テストプログラム生成装置２０は、被テスト回路をテストするための所定の形式のテストパタンＴＰをテスタ３１Ａ〜３１Ｃで使用される固有のテストプログラムＡ〜Ｃに変換する。 - 特許庁 - To provide a computer system test device facilitating later cause analysis, in a test wherein a plurality of test programs are sequentially executed on a test target program.
試験対象プログラムに対して複数の試験プログラムを順次実行するような試験において、後の原因解析を容易とする計算機システム試験装置を得ることを目的とする。 - 特許庁 - To provide a test manhour estimation device and program capable of easily estimating test manhour even when an evaluator repeatingly performs the same type of a test to a test target.
テスト対象に対して、評価者が同種のテストを繰り返し実行する場合であっても、容易にテスト工数を見積もることができるテスト工数見積装置、およびプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method capable of preventing a reduction in the test efficiency and facilitating creation and administration of a test program.
試験効率の低下を防止することができるとともに、試験プログラムの作成及び管理を容易にすることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test case relation extracting method, a test case relation extracting device and a test case relation extracting program which can easily extract relation between test cases.
テストケース間の関係を容易に抽出できるテストケース関係抽出方法、テストケース関係抽出装置及びテストケース関係抽出プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁 - An inter-device test program parallel execution means 24 and a test program manual operation parallel execution means 25 respectively leave start for the test program stored in each device of the test device group 4 together with the required start information.
装置内連続試験プログラム並列実行手段２３、装置間試験プログラム並列実行手段２４、及び試験プログラム手操作並列実行手段２５はそれぞれ必要な起動情報とともに試験装置群４の各装置に格納された試験プログラムに起動を渡す。 - 特許庁 - To provide a program inspection device, a program inspection method, and a program inspection program, shortening test time while reducing an inspector's labor.
検査者の労力を減じ、また、テスト時間を短縮することができる、プログラム検査装置、プログラム検査方法、及びプログラム検査プログラムを提供する。 - 特許庁 - SIMULATION SUPPORT TOOL, VERIFICATION SYSTEM OF LADDER PROGRAM, GENERATION METHOD OF PROGRAM PRODUCT AND TEST INPUT LADDER PROGRAM, AND VERIFICATION METHOD OF THE LADDER PROGRAM
シミュレーション支援ツールおよびラダープログラムの検証システムならびにプログラム製品およびテスト入力ラダープログラム生成方法ならびにラダープログラムの検証方法 - 特許庁 - MUSIC RECORDING/REPRODUCING SYSTEM EVALUATION METHOD AND TEST PROGRAM GENERATING PROGRAM FOR MUSIC RECORDING/REPRODUCING SYSTEM EVALUATION
音楽録音再生システム評価方法および音楽録音再生システム評価用テストプログラム生成プログラム - 特許庁 - The test program 10 starts testing on the program 20 after selecting the real table 110 to be used (S4-S7).
テストプログラム１０は、使用する実テーブル１１０を選択した後、プログラム２０のテストを開始する（S4〜S7）。 - 特許庁 - Each "program" is associated with a test case which must be executed when the program is corrected.
また、「プログラム」と、当該プログラムが修正された場合に実施しなければならないテストケースとを関連付ける。 - 特許庁 - To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.
追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a test support system, a test support method, and a program capable of easily generating a test satisfying requirements of a software structure coverage analysis.
ソフトウェア構造カバレッジ分析の要件を満たすテストを容易に生成することができるテスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラムを提供すること - 特許庁 - To provide a test planning support apparatus and a test planning support program that can plan such a test as reduces a difference between scheduled and actual performance.
予定と実績との差異が小さくなるようにテストの計画を作成することのできるテスト計画支援装置およびテスト計画支援プログラムを提供する。 - 特許庁 - To quickly and also accurately extract the test place of a program module being an object and to present it to a person in charge of a test when a software test is performed.
ソフトウェア試験を実施する際、対象となるプログラムモジュールの試験箇所を迅速かつ的確に抽出して試験担当者に提示する。 - 特許庁 - When starting the test, the file of the test program stored in the product directory 22 is installed in a main storage device 23 and the test is started.
そして、試験を開始する際に、製品ディレクトリ２２に格納されている試験プログラムのファイルを主記憶装置２３にインストールして試験を開始する。 - 特許庁 - To solve the problem that test design is difficult because attention should be paid to the whole of a test in the case of designing or altering a specified part of a test program.
テストプログラムの特定の部分を設計又は変更する場合に、テスト全体に注意を払わなければならない為、テスト設計が困難である。 - 特許庁 - A running frequency calculation means 12 calculates average running frequency per test data until completing the test for every single body program based on the test execution information.
ラン回数算出手段１２は、テスト実行情報をもとに、単体プログラムごとのテスト完了までのテストデータ１件あたりの平均ラン回数を算出する。 - 特許庁 - To provide a method, device and program for creating the test scenario, capable of effectively obtaining the test scenario meeting to the test object of high level importance.
テスト目的に即した重要度の高いテストシナリオを効率的に得ることができるテストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁 - SCAN TEST DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT, SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, CAD PROGRAM FOR SCAN TEST CIRCUIT INSERTION, LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUIT, AND MOBILE DIGITAL DEVICE
スキャンテスト設計方法、スキャンテスト回路、スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路挿入用ＣＡＤプログラム、大規模集積回路及び携帯デジタル機器 - 特許庁 - To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program.
高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。 - 特許庁 - A test data generation device 100 includes: a test case storage part 101 for storing test cases; a test input data generation part 102 for generating new test cases; a program execution part 103 for executing a program (hereafter called application 110) to be tested according to a test case; and a test case generating part 104 for generating new test cases.
上記課題を解決するために、テストデータ生成装置１００に、テストケースを記憶するテストケース記憶部１０１と、新たなテストケースを生成するテスト入力データ生成部１０２と、テストケースにしたがってテスト対象のプログラム（以下、「アプリケーション１１０」という）を実行させるプログラム実行部１０３と、新たなテストケースを生成するテストケース生成部１０４と、を備える。 - 特許庁 - To improve inspection quality in a test program used for semiconductor manufacturing inspection.
半導体製造検査に用いるテストプログラムにおける検査品質の向上。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR SUPPORTING CREATION OF TEST VIEWPOINT FOR PROGRAM
プログラムのテスト観点作成支援方法およびテスト観点作成支援システム - 特許庁 - Test terminals 21-4 correspond to the data program terminals of FPGA.
テスト用端子２１−４は、ＦＰＧＡのデータプログラム用端子に対応している。 - 特許庁 - TESTING DEVICE, QUALITY DETERMINATION REFERENCE SETTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM
試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラム - 特許庁 - To provide a test specification generation device and a program, generating test specifications of a conversion program executing conversion processing imparted with priority order.
優先順位を付与した変換処理を実行する変換プログラムのテスト仕様書を生成するテスト仕様生成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁 - METHOD, APPARATUS AND PROGRAM FOR TIRE ENDURANCE TEST
タイヤ耐久試験方法、タイヤ耐久試験装置およびタイヤ耐久試験プログラム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR EXECUTING TEST PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
試験プログラム実行装置および試験プログラム実行方法、並びに記録媒体 - 特許庁 - NETWORK SUPERVISION DEVICE, NETWORK TEST METHOD, PATH INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND PROGRAM
ネットワーク監視装置、ネットワーク試験方法、パス情報管理方法、及びプログラム - 特許庁 - TEST CIRCUIT, AND DESIGN SUPPORT DEVICE, DESIGN SUPPORT METHOD, AND DESIGN SUPPORT PROGRAM
テスト回路、設計支援装置、設計支援方法、および設計支援プログラム - 特許庁 - SIMULATOR FOR SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND RECORDING MEDIUM STORING SIMULATION PROGRAM
半導体試験装置用シミュレータ及びシミュレートプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - METHOD FOR RESISTANCE VALUE COMPENSATION, CIRCUIT HAVING RESISTANCE VALUE COMPENSATION FUNCTION, TEST METHOD OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, RESISTANCE VALUE COMPENSATION PROGRAM, TEST PROGRAM OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, AND SYSTEM
抵抗値補償方法、抵抗値補償機能を有する回路、回路の抵抗値試験方法、抵抗値補償プログラム、回路の抵抗値試験プログラム及びシステム - 特許庁 - BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM
ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁 - She appeared as a guest on a program titled "Shohei KUWABARA's Omoshiro Kyoto Kentei" (fun test on Kyoto).
桑原征平のおもしろ京都検定 ゲスト回答者として出演。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス - FUNCTION TEST REINFORCED BY UNDETAILED MUTATION FILTERING OF COMPUTER PROGRAM
コンピュ—タプログラムの微細でない変異のフィルタリングによる強化された機能テスト - 特許庁 - A workstation is provided with a regression test program 62 for testing an application program developed by a workstation by using a stored test script 66.
ワークステーションが、格納された試験スクリプト（６６）を利用して、ワークステーションで開発されたアプリケーション・プログラムを試験する回帰試験プログラム（６２）を備える。 - 特許庁 - SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR INPUTTING FINDING DATA OF CHEMICAL SUBSTANCE TOXICITY TEST
化学物質毒性試験の所見データ入力システム、方法及びプログラム - 特許庁 - METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST PROGRAM, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE
半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置 - 特許庁 - A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.
半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁
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