「testing data」を含む例文一覧(668)
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ビデオデータ検査回路 - 特許庁 - DATA TRANSFER TESTING DEVICE
データ転送試験装置 - 特許庁 - DEVICE FOR TESTING USER DATA LOAD
ユーザデータ負荷試験装置 - 特許庁 - DATA TRANSMISSION SYSTEM TESTING DEVICE
データ伝送システム試験装置 - 特許庁 - TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR DIFFERENTIAL DATA DRIVER
差動型データドライバのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁 - TESTING METHOD FOR DATA PROCESSOR
データ処理装置の試験方法 - 特許庁 - TESTING DEVICE FOR DATA STORAGE DEVICE
データ記憶装置の試験装置 - 特許庁 - DATA PROCESSOR OF MATERIAL TESTING MACHINE
材料試験機のデータ処理装置 - 特許庁 - DATA-PROCESSING DEVICE OF MATERIAL-TESTING MACHINE
材料試験機のデータ処理装置 - 特許庁 - The testing data switching unit 144 transmits the testing data A selected from the testing data storage 141 to a switching unit 12.
試験データ切替部１４４は試験データ格納部１４１からの試験データを切替部１２に送信する。 - 特許庁 - FUNCTIONAL TESTING DEVICE OF DATA STORAGE DEVICE
データ記憶装置の機能試験装置 - 特許庁 - DATA TRANSMITTING EQUIPMENT FOR IC TESTING DEVICE
ＩＣ試験装置のデータ転送装置 - 特許庁 - A testing data control unit 145 retrieves a storage where [testing data A] are present based on an indication transmitted from a control unit 15 and indicates a testing data switching unit 144 to select the testing data A from a testing data storage 141 when the testing data A are present in the testing data storage 141.
試験データ制御部１４５は制御部１５からの送信指示に基づいて、「試験データＡ」がある格納部を検索し、試験データＡが試験データ格納部１４１にある場合、試験データ切替部１４４に試験データ格納部１４１からの試験データ選択を指示する。 - 特許庁 - DATA PROCESSOR AND ITS TESTING METHOD
データ処理装置及びその試験方法 - 特許庁 - DATA PROCESSOR AND TESTING METHOD THEREOF
データ処理装置およびそのテスト方法 - 特許庁 - DATA TRANSFER DEVICE AND ITS TESTING METHOD
データ転送装置及びそのテスト方法 - 特許庁 - To execute testing upon definitely incorporating data.
確実にデータを取り込んで試験する。 - 特許庁 - MATERIAL TESTING MACHINE AND DATA CORRECTION METHOD
材料試験機およびデータ補正方法 - 特許庁 - DATA PREPARATION SYSTEM FOR TESTING MEASURING INSTRUMENT, SERVER, PROGRAM AND METHOD FOR PREPARING DATA FOR TESTING MEASURING INSTRUMENT
計器検定用データ作成システム、サーバ、プログラム、及び計器検定用データ作成方法 - 特許庁 - METHOD OF TESTING PATTERN AND DATA PROCESSING SYSTEM
パターン検証方法及びデータ処理システム - 特許庁 - FAIL DATA MEMORY CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
半導体試験装置のフェイルデータメモリ回路 - 特許庁 - DATA TRANSMITTER-RECEIVER AND ITS TESTING METHOD
データ送受信装置及びそのテスト方法 - 特許庁 - DATA SAMPLING METHOD IN MATERIAL TESTING MACHINE AND MATERIAL TESTING MACHINE
材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置 - 特許庁 - DATA TRANSFER TEST SYSTEM AND ITS DATA TRANSFER TESTING METHOD
デ—タ転送試験システム及びそのデ—タ転送試験方法 - 特許庁 - DATA TRANSFER DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
データ転送装置及び半導体試験装置 - 特許庁 - TESTING DEVICE AND TEST DATA COLLECTING METHOD
試験装置及び試験データの収集方法 - 特許庁 - DATA TRANSFER CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
データ転送回路および半導体試験装置 - 特許庁 - DATA TRANSFER CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING APPARATUS
半導体メモリ試験装置のデータ転送回路 - 特許庁 - DATA TRANSFER UNIT, DATA TRANSFER METHOD, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
データ転送装置、データ転送方法および半導体試験装置 - 特許庁 - TESTING MACHINE FOR FILM, AND METHOD FOR VACUUM FILM FORMATION BASED ON MEASUREMENT DATA PROVIDED BY TESTING MACHINE
フィルム試験機及び試験機測定データに基づいた真空成膜方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING DATA FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR
半導体試験用デ—タ処理装置及び方法並びに半導体試験装置 - 特許庁 - MATERIAL-TESTING DEVICE AND DATA DISPLAY METHOD
材料試験装置およびそのデータ表示方法 - 特許庁 - SPECIFIC COMPONENT TESTING DEVICE, DATA STORAGE METHOD AND DATA PROCESSING METHOD
特定成分検査装置、データ格納方法およびデータ処理方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING SIMILARITY BETWEEN SEQUENCE DATA
系列データ間の類似性検査方法及び装置 - 特許庁 - DATA DAMAGE TESTING METHOD FOR HIERARCHICAL STORAGE SYSTEM
階層的記憶システム用のデータ破損試験方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING SYSTEM BETWEEN DATA COMMUNICATION EQUIPMENT
データ通信装置間システム試験装置および方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING RADIO PART IN RADIO DATA COMMUNICATION SYSTEM
無線データ通信システムにおける無線部テスト方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD FOR DATA TRANSFER APPARATUS, AND DATA TRANSFER APPARATUS
データ転送装置の製造方法、試験方法、及びデータ転送装置 - 特許庁 - TEST-CONDITION DATA GENERATING METHOD AND TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR-WAFER VISUAL TESTING APPARATUS
半導体ウエーハ外観検査装置の検査条件データ生成方法及び検査システム - 特許庁 - FAST SSL TESTING USING PRE-CALCULATED CRYPTOGRAPHIC DATA
プレカルキュレーテッド暗号データを用いた迅速なＳＳＬ検査 - 特許庁 - DATA INVERSION REGISTER TECHNIQUE FOR INTEGRATED CIRCUIT MEMORY TESTING
集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術 - 特許庁 - DATA SAMPLING SYSTEM OF PIPING ULTRASONIC FLAW DETECTION TESTING DEVICE
配管超音波探傷試験装置のデータ採取システム - 特許庁 - When testing command is received from the testing board, control data for checking data are set on the cue of an RAM 122.
テスト基板からテストコマンドを受信すると、ＲＡＭ１２２のキューにデータチェック用の制御データが設定される。 - 特許庁 - When testing command is received from the testing board, the control data for checking data are set on the cue of an RAM 122.
テスト基板からテストコマンドを受信すると、ＲＡＭ１２２のキューにデータチェック用の制御データが設定される。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DATA COLLECTION METHOD AND PROGRAM
半導体試験装置、データ収集方法及びプログラム - 特許庁 - TESTING AND MEASURING INSTRUMENT, AND METHOD FOR IDENTIFYING SIGNAL DATA
試験及び測定機器並びに信号データ識別方法 - 特許庁 - When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result.
任意の外部装置や伝送路を経由して試験部１４に試験データが戻ってくると、試験データ制御部１４５は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部１４５１に予め記憶しておいた試験データＡと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部１５に通知する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FUNCTION OF DATA STORAGE APPARATUS
データ記憶装置の機能試験方法及び機能試験装置 - 特許庁 - DATA OUTPUT DEVICE FOR CREATION OF TESTING JIG OF PRINTED WIRING BOARD
印刷配線板試験治具作成用データ出力装置 - 特許庁 - DATA PROCESSOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME
データ処理装置およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
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