「testing data」を含む例文一覧(668)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 13 14 次へ＞- INTEGRATED DATA JITTER GENERATOR FOR HIGH-SPEED SERIAL INTERFACE TESTING
高速シリアルインターフェースのテスト用の集積データジッター発生器 - 特許庁 - The network switching apparatus includes a signal determining device 1 for determining a testing data transmitted and received via lines among VLAN sites 100, a testing signal generating device 2 for generating testing data as a response of the testing data or testing data for requesting transmission via the lines, and a switching control device 3 for controlling switching transmission of this testing data.
ＶＬＡＮサイト１００の相互間で回線を介して送受信される試験用データを判断する信号判断手段１と、この試験用データの応答としての試験用データ又は回線を介して送信する要求としての試験用データを生成する試験信号生成手段２と、このデータのスイッチング送信を制御するスイッチ制御手段３とを備える。 - 特許庁 - ANALYZER FOR CLINICAL TESTING AND METHOD FOR TRANSMITTING SAMPLE DATA
臨床検査用分析装置およびサンプルデータの送信方法 - 特許庁 - STORAGE DEVICE, METHOD FOR TESTING BUS, AND METHOD FOR SWITCHING DATA TRANSFER MODE
記憶装置、バステスト方法、及びデータ転送モード切替方法 - 特許庁 - METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS
データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁 - To correct the measurement data of a material testing machine in a simple manner.
材料試験機の計測データの補正を簡単に実施する。 - 特許庁 - Can you send me the data so that it can be checked in the testing environment?
テスト環境チェックするために、データを送信してください。 - Weblio Email例文集 - OPERATIONAL TESTING SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD USED THEREIN
運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法 - 特許庁 - To manufacture a testing chip and analyze measurement data obtained by the testing chip in easy manner.
試験用チップの製造、及び当該試験用チップより得られる計測データの解析を簡易に行う。 - 特許庁 - To provide an exchange testing system which can prepare a testing procedure manual, even when the address of station data is not known.
局データのアドレスを知らなくても試験手順書を準備できる交換機試験システムを提供する。 - 特許庁 - The method for testing the moving simulation of the test model comprises a step of deciding next testing position of the test model from test data at a present position (S1).
現在の位置での試験データから試験模型の次の試験位置が決定される（Ｓ１）。 - 特許庁 - TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING SYSTEM, DATA STRUCTURE FOR SPECIFYING PHYSICAL MAP OF MEMORY BLOCK
半導体集積回路装置の試験方法、試験システム、メモリブロックの物理マップ特定用データ構造 - 特許庁 - The collected data is transmitted to the data processor 200 from the testing machine body 100.
採取されたデータは試験機本体１００からデータ処理装置２００に伝送される。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic testing device and an ultrasonic testing method capable of economical constitution and capable of testing with simple data collection.
安価に構成でき且つデータ採集の簡易な試験を行うことの可能な超音波試験装置及び超音波試験方法を提供すること。 - 特許庁 - METHOD FOR SECURING DATA IN MACHINE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS
電子構成部品を試験するための機械にデ—タを確保する方法 - 特許庁 - To provide a data transmission system test device that can accurately conduct testing by using time information.
時刻情報を用いた試験を正確に行えるようにする。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DATA PROCESSING SYSTEM
半導体装置、半導体装置の試験方法、及びデータ処理システム。 - 特許庁 - METHOD FOR MANAGING MEMORY RESOURCE IN DATA NETWORK TESTING DEVICE
データ・ネットワーク試験装置におけるメモリ資源を管理するための方法 - 特許庁 - To provide a tablet testing device of high reliability and high processing speed capable of monitoring testing data even after tablets are delivered to a patient, and reducing testing labor of a testing pharmacist.
信頼性が高く、処理速度が速いうえ、患者に手渡された後でも検査データを監視することができ、検査調剤師の検査労力を緩和できる錠剤検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of testing a semiconductor laser in which accurate data transmission characteristics can be evaluated, and a laser testing device.
正確なデータ伝送特性の評価を可能とするレーザの試験方法およびレーザ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To achieve high speed antenna testing and analysis where the size of data acquired during the antenna performance verification testing is reduced.
アンテナの性能確認試験で取得されるデータサイズを低減し、試験及び解析の高速化を図ること。 - 特許庁 - To provide a performance testing method capable of obtaining testing data with high reproducibility and reliability in a performance testing of a sludge incinerator.
汚泥焼却炉の性能試験において、再現性及び信頼性の高い試験データを取得することが可能な性能試験方法を提供する。 - 特許庁 - When test input data 5 are inputted from a client 2 for testing, the test input data 5 are transmitted to a server 3 for testing by a data transmission means 1b.
テスト用クライアント２からテスト入力データ５が入力されると、データ送信手段１ｂにより、そのテスト入力データ５がテスト用サーバ３に対して送信される。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR CONFIRMING/TESTING CALL INFORMATION DATA
呼情報データ確認試験装置及び呼情報データ確認試験方法 - 特許庁 - PRODUCING METHOD AND MACHINE FOR TEST DATA, AND WIRING TESTING MACHINE
検査データの作製方法及び検査データ作製機並びに布線検査機 - 特許庁 - IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁 - Sampling is performed on load data and displacement data at low speeds and at high speeds on a testing machine body 100 side.
試験機本体１００側で低速および高速で荷重データと変位データをサンプリングする。 - 特許庁 - When testing the semiconductor circuit (1), input data are processed by the plurality of data processing sections (10).
半導体回路（1）のテスト時において、入力データが複数のデータ処理部（10）で処理される。 - 特許庁 - To provide a device for testing, capable of accurately counting the number of fail data without reducing testing throughput.
試験のスループットを低下させることなく、正確にフェイルデータの数を計数することができる試験装置を提供する。 - 特許庁 - To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device.
エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁 - The selecting circuit is equipped with a clocked inverter to be input with normal data and a transmission gate to be input with scan testing data to select and output any one of the normal data or the scan testing data.
選択回路は、通常データが入力されるクロックドインバータと、スキャンテスト用データが入力されるトランスミッションゲートとを備え、通常データとスキャンテスト用データのいずれかを選択して出力する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING MASTER LOGIC UNIT IN DATA PROCESSOR
デ—タ処理装置内のマスタ—論理ユニットを試験するための装置および方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD INCLUDING EFFICIENT DATA TRANSMISSION FOR TESTING A/D CONVERTER
Ａ／Ｄ変換器試験用の効率的データ転送を含む装置及び方法 - 特許庁 - DATA OUTPUT COMPRESSION CIRCUIT FOR TESTING CELL IN BANK AND ITS METHOD
バンク内のセルをテストするためのデータ出力コンプレス回路及びその方法 - 特許庁 - A data of a testing body part is converted into a data of a format along an MIB to be stored in an MIB database, using an MIB conversion part for conducting mutual conversion between the data of the testing body part for testing the quality of a semiconductor and the data of the format along the MIB, the semiconductor testing device is controlled using the SNMP.
半導体の良否をテストするテスト本体部のデータとＭＩＢに沿った形式のデータとの相互変換を行うＭＩＢ変換部を用い、テスト本体部のデータをＭＩＢに沿った形式のデータに変換してＭＩＢデータベースに格納すると共に、ＳＮＭＰを用いて半導体テスト装置を管理できるようにした。 - 特許庁 - To provide a video data testing circuit for testing whether video data generated on the basis of a plurality of pieces of image data transferred from a plurality of image memories are normally generated.
本発明は、複数の画像メモリから転送された複数の画像データに基づき生成されたビデオデータが正常に生成されたか否か検査するビデオデータ検査回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus capable of improving testing efficiency by reducing the analysis time of fail data.
フェイルデータの解析時間を短縮することで、試験効率を向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.
データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁 - Thereby, a time required for testing data on the pipeline can be shortened.
ことによりパイプライン上のデータテストのための時間を短縮することができる。 - 特許庁 - To relieve a load on a person generating test data in the case of testing a communication terminal.
通信端末を試験する際にテストデータの作成者の負担を軽減する。 - 特許庁 - To provide an image display device capable of reducing the time of testing image data.
画像データの検査時間を短縮できる画像表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide users with analytical material data according to diagnostic results of testing apparatuses.
試験装置の診断結果に応じた解析資料データを使用者に提示する。 - 特許庁 - To speedily acquire data on the direction of height of a testing surface maintaining excellent resolution.
被検面の高さ方向のデータを分解能を保ちつつ高速に取得する。 - 特許庁 - A target data generation portion 11a of a 1st testing device 10 generates target data of a data pattern extracted through complicated operation.
第１の試験装置10のターゲットデータ生成部11aは、複雑な演算を元に抽出されるデータパターンのターゲットデータを生成する。 - 特許庁 - To provide a data transfer circuit and a semiconductor testing device equipped therewith which are capable of significantly reducing the waiting time during the semiconductor testing, and performing arithmetic operation processings on the data for testing which are now measured during the testing period.
本発明は、半導体試験における待ち時間を大幅に削減し、かつ試験中に現在測定している試験のデータの演算処理を行うことができるデータ転送回路、およびこれを備えた半導体試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - An input output interface 101 is provided to be fit to an input output interface provided in the inspection-objective LSI, and the testing data is stored in a memory 103 for the testing data.
検査対象ＬＳＩが有する入出力インターフェースに適合する入出力インターフェース１０１が設けられ、テストデータ用メモリ１０３にテスト用データが格納される。 - 特許庁 - LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD
無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁 - DATA PROCESSOR AND METHOD FOR TESTING STABILITY OF MEMORY CELL IN MEMORY DEVICE
メモリ・デバイス内のメモリ・セルの安定性をテストするためのデータ処理装置および方法 - 特許庁 - TRANSFER DEVICE FOR MULTICHANNEL TEST DATA AND TESTING DEVICE FOR RELAY DEVICE USING THE SAME
多チャネル試験データの転送装置およびそれを用いる継電装置の試験装置 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING AND CALCULATING PROTOCOL DATA UNIT RANGE APPLIED TO WINDOW-BASED POLLING
ウィンドウベースポーリングに適用されるプロトコルデータユニット範囲の試験および計算の方法 - 特許庁
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