「testing frequency」を含む例文一覧(169)

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  • HIGH FREQUENCY DELAY CIRCUIT, AND TESTING APPARATUS
    高周波遅延回路、及び試験装置 - 特許庁
  • LOW FREQUENCY SOUND GENERATOR FOR FITTING TESTING
    建具試験用低周波音発生装置 - 特許庁
  • Now, look, I can cut down the frequency of testing, but it's got to be a part of the overall...
    試験頻度は減らせるが... - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MULTIPLE-FREQUENCY ENCODER
    多周波符号器の試験システムおよび試験方法 - 特許庁
  • INTERFACE DEVICE AND METHOD FOR TESTING FREQUENCY FLUCTUATION
    インタフェース装置及び周波数変動試験方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR TESTING HIGH FREQUENCY MODULE
    高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
  • TESTING APPARATUS FOR HIGH-FREQUENCY CHARACTERISTIC OF CHIP-TYPE ELECTRONIC COMPONENT
    チップ型電子部品の高周波特性試験装置 - 特許庁
  • FILTER FREQUENCY CHARACTERISTIC DETECTING APPARATUS AND FILTER FREQUENCY CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS
    フィルタ周波数特性検出装置及びフィルタ周波数特性テスト装置 - 特許庁
  • HIGH-FREQUENCY SIGNAL OUTPUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE
    高周波信号出力試験方法および半導体装置 - 特許庁
  • To reduce testing time for testing a semiconductor integrated circuit using an actual operation frequency.
    実動作周波数を用いて半導体集積回路をテストする際のテスト時間を短縮すること。 - 特許庁
  • To solve the problem, wherein calculation and the setting of a testing device are inconvenient, when testing a frequency converter device.
    周波数変換器装置の試験において、計算や試験装置の設定が不便である。 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT
    無線周波数集積回路を試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁
  • CONNECTION STRUCTURE OF HIGH-FREQUENCY DEVICE, HIGH- FREQUENCY MODULE USING THE SAME, AND TESTING METHOD OF HIGH-FREQUENCY DEVICE USING THE HIGH-FREQUENCY MODULE
    高周波デバイスの接続構造およびこれを用いた高周波モジュール並びにこの高周波モジュールを用いた高周波デバイスの検査方法 - 特許庁
  • To provide an integrated circuit capable of testing a first frequency dividing circuit and a second frequency dividing circuit respectively without adding newly a testing terminal.
    新たなテスト用端子を付加することなく第１の分周回路と第２の分周回路のそれぞれをテストできる集積回路を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a semiconductor testing apparatus by which a semiconductor testing operation can be performed at a frequency exceeding a maximum frequency for hardware.
    本発明は半導体テスト装置に関し、ハードウェアにとっての最大周波数を超える周波数で半導体テストを行うことを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of testing test elements with high frequency modulation drive.
    高周波変調駆動により被試験素子の試験を行うことができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method of testing a radio frequency integrated circuit (RFIC).
    無線周波数集積回路（ＲＦＩＣ）を試験する方法を提供する。 - 特許庁
  • TESTING CIRCUIT FOR MEASURING FREQUENCY AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING THE SAME
    周波数測定用テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路 - 特許庁
  • MICRO-WAVE DRYING EQUIPMENT FOR MOISTURE PERCENTAGE AND MOISTURE CONTENT TESTING USING HIGH FREQUENCY TREMBLER
    高周波振動子を使った水分率、含水率試験用高周波乾燥機 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR APPLYING TRIGGER AND FREQUENCY AREA TESTING AND MEASURING DEVICE
    トリガをかける方法及びシステム並びに周波数領域試験測定装置 - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT, RADIO FREQUENCY TECHNOLOGY STRUCTURE FOR TESTING WAFER AND METHOD
    集積回路およびウェーハを試験する無線周波数技術構造および方法 - 特許庁
  • APPARATUS FOR INCREASING OPERATING FREQUENCY OF SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES
    電子デバイスをテストするためのシステムの動作周波数を増加させるための装置 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING PLASMA REACTOR MULTI-FREQUENCY IMPEDENCE MATCHING NETWORK NETWORK AND MULTI-FREQUENCY DYNAMIC DUMMY LOAD
    プラズマリアクタ用多周波数インピーダンス整合回路網を試験する為の方法および多周波数ダイナミックダミー負荷 - 特許庁
  • The audiometric testing apparatuses 3 and 3' stores: a sound file for an audiometric testing to which testing sound of a prescribed frequency and sound pressure is set for carrying out the audiometric testing; and an audiometric model showing the average audiometric level of each frequency of a normal hearing listener.
    聴力検査装置３，３’には、聴力検査を実行するために所定の周波数及び音圧の検査音が設定された聴力検査用サウンドファイルと、健聴者の各周波数毎の平均的聴力レベルを示す聴力モデルとが記憶される。 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPONENT IN COMPUTER SYSTEM USING FREQUENCY MARGIN
    周波数マージンを使用してコンピュータシステム内のコンポーネントをテストするシステムおよび方法 - 特許庁
  • To provide a method of testing a plasma reactor multi-frequency matching network capable of testing all active operation frequencies simultaneously, and provide a multi-frequency dynamic dummy load.
    同時にアクティブな全ての動作周波数に対して試験可能なプラズマリアクタ多周波数整合回路網を試験する為の方法および多周波数ダイナミックダミー負荷を提供すること。 - 特許庁
  • To attain downsizing and retaining of high-frequency characteristics, and to improve the easiness of testing and a design alteration.
    小型化、高周波特性の維持を図り、試験や設計変更の容易性を高めること。 - 特許庁
  • In the testing of the frequency converter, a plurality of mixed products are displayed in a label.
    周波数変換器の試験において、複数の混合生成物についてラベル表示され、る。 - 特許庁
  • To provide a frequency monitoring apparatus for normally operating even in the case that a testing frequency set value is sequentially switched at a high speed.
    試験周波数設定値が次々に高速で切り替わるような場合であっても正常に動作する周波数監視回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide fatigue testing equipment capable of performing a speed amplitude constant sweep test in a wide frequency band including a high frequency region.
    高周波域を含めた広い周波数帯において速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide fatigue testing equipment capable of performing an acceleration amplitude constant sweep test in a wide frequency band including a high frequency region.
    高周波域を含めた広い周波数帯において加速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a socket which can make testing or evaluation of a semi conductor package at a high-frequency region.
    高周波領域で半導体パッケージの試験又は評価を行うことが可能なソケットを提供する。 - 特許庁
  • The engine testing device includes a heating coil 5 connected to a high-frequency power supply in the circumference of the oil pan section 2a of the engine 2.
    エンジン２のオイルパン部２ａの周囲に高周波電源に接続された加熱コイル５を設ける。 - 特許庁
  • The audiometric testing apparatuses 3 and 3' calculate the corresponding relation of the sound pressure of the testing sound set to the sound file and the sound pressure of the testing sound which is actually generated by reproducing the sound file by the audiometric testing apparatuses 3 and 3' and listened by each frequency based on the audiometric level and the audiometric model of each frequency obtained by the audiometric testing to the normal hearing listener.
    聴力検査装置３，３’は、健聴者に対する聴力検査によって得られた各周波数毎の聴力レベルと聴力モデルとに基づき、サウンドファイルに設定された検査音の音圧と、聴力検査装置３，３’でサウンドファイルを再生することにより実際に発生し聴き取られる検査音の音圧との対応関係を各周波数毎に算出する。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for testing a high frequency module for a stable inspection even if the height of the high frequency module varies.
    高周波用モジュールの高さがばらついた場合でも、安定した検査ができる高周波用モジュールのテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • The projecting parts 50a are lighted on and off with a driving frequency of several hundred Hz higher than the frequency of a commercial AC power supply to emit testing light.
    商用交流電源の周波数より高い数百ヘルツ以上の駆動周波数にて投光部５０ａを明滅させて検査光を発射する。 - 特許庁
  • The frequency of testing is checked at a step S6, and after the testing is conducted nine times, the optimum massaging conditions are determined from the subjective evaluation and the degree of satisfaction through all examinations at a step S7.
    ステップＳ６にて試験回数をチェックし、試験を９回行うと、ステップＳ７にて全試行での主観評価と満足度から最適マッサージ条件を決定する。 - 特許庁
  • The audiometric testing apparatuses 3 and 3' correct the audio metric level of each frequency obtained by the audiometric testing to a patient based on the calculated corresponding relation.
    聴力検査装置３，３’は、被検者に対する聴力検査によって得られた各周波数毎の聴力レベルを前記算出した対応関係に基づいて補正する。 - 特許庁
  • To perform delay testing in an actual operating condition for a semiconductor integrated circuit having a plurality of logical circuits that respectively operate on the basis of testing clocks having different frequencies without trouble which may occur when the testing clocks are set to a high-frequency side or a low-frequency side.
    テストクロックを高周波側及び低周波側のいずれかに設定した場合に生じる不都合を伴うことなく、互いに異なる周波数のクロックに基づいて動作する複数の論理回路を備える半導体集積回路に対して実動作条件で遅延テストを実行すること。 - 特許庁
  • To provide diagnostic testing result reader that includes a means for inhibiting frequency of usage beyond its limits.
    限度使用回数を超えた使用を禁止する手段を備えた診断検査結果読取り装置を提供すること。 - 特許庁
  • A light irradiating part 11 in the biological testing device applies light with a specified frequency to the inside of a living body.
    生体検査装置における光照射部１１は、生体内に特定周波数の光を照射する。 - 特許庁
  • HIGH-FREQUENCY IC SOCKET, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    高周波ＩＣソケット、半導体試験装置および半導体試験方法ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • To expand an oscillatable frequency band range in a vibration testing device for improving performance of a hybrid vibration test.
    振動試験装置において、加振可能な周波数帯域を拡大し、ハイブリッド振動試験の性能を向上すること。 - 特許庁
  • Measured values peculiar to a moving object under testing are sampled by at least two frequencies or frequency channels.
    テスト中の移動体に特有の計測値が、少なくとも２つの周波数または周波数チャネルにおいてサンプルされる。 - 特許庁
  • To provide an appropriate testing method of determining conducted radio frequency receiver sensitivity with respect to a plurality of channels.
    複数のチャネルに対し、伝導されたラジオ周波数受信器感度を決定する好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an appropriate testing method of determining radiated radio frequency receiver sensitivity with respect to a plurality of channels.
    複数のチャネルに対し、放射されたラジオ周波数受信器感度を決定する好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a connection technique capable of testing a semiconductor wafer, LSI package, etc., by using high frequency at high speed.
    高速で高周波数で半導体ウエハ，ＬＳＩパッケージその他をテストすることができる接続技術を提供する。 - 特許庁
  • The cycle of heating step-holding process-cooling step is repeated by a prescribed frequency, and the damage of the testing object 12 is confirmed thereafter.
    加熱工程−保持工程−冷却工程を所定回数繰り返した後、試験体１２の損傷を確認する。 - 特許庁
  • The user is prompted to listen to various signals thereby testing the frequency response of each ear and headphone combination.
    ユーザは各種の信号を聞くためにプロンプトされることにより各耳およびヘッドホン組合せの周波数応答をテストする。 - 特許庁
  • To enable a tester to arbitrarily change testing conditions except the fixed code transmitting-receiving condition specified by an exchange at the time of testing a multiple-frequency encoder used for the exchange.
    交換機に使用される多周波符号器の試験を、交換機が規定している固定の符号送受信条件以外に、試験者が任意に条件を変動させて行えるようにする。 - 特許庁
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