「testing frequency」を含む例文一覧(169)
＜前へ 1 2 3 4 次へ＞- The testing circuit 14 includes a variable ring oscillator, performs a series of parameter tests at a nominal operation frequency of the integrated circuit, and transmitting a test result to the testing unit 12 for analysis.
試験回路１４は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット１２に送信する。 - 特許庁 - To provide a testing circuit for measuring a frequency capable of accurately measuring a frequency not locked in phase and a semiconductor integrated circuit having it.
位相がロックされていない周波数の測定を高精度で行うことができる周波数測定用テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - The composite member, for example, is used in an electric testing commercial scene as a high performance dynamic probe/sensor for a frequency signal or a complex mixed frequency signal.
複合部材は、例えば周波数又は複雑な混合周波数信号のための高性能な動的プローブ／センサとして電気試験市場で用いることができる。 - 特許庁 - To provide a frequency characteristic measuring device capable of easily performing frequency characteristic evaluation test of a vibration sensor for testing in any heating state.
試験用の振動センサを、簡単に、任意の加熱状態において周波数特性評価試験を行うことができる周波数特性の測定装置を提供すること。 - 特許庁 - In the testing apparatus, a frequency counter 20 is provided at respective measurement units 13A-13N to measure the frequency of a response signal S2 by the respective measurement units 13A-13N.
本発明は、各測定ユニット１３Ａ〜１３Ｎに周波数カウンタ２０を設け、各測定ユニット１３Ａ〜１３Ｎで応答信号Ｓ２の周波数を測定可能とする。 - 特許庁 - To provide a low frequency sound generator for fitting testing capable of efficiently generating low frequency sound even when a frequency is low and faithfully reproducing an amplitude / phase for the pressure waveform of the low frequency sound desired to be reproduced.
周波数が低くても効率よく低周波音を発生することができ、再生したい低周波音の圧力波形に対して振幅・位相を忠実に再生できることができる建具試験用低周波音発生装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a performance test for a delay line circuit, using one testing clock for having a frequency lower than the one of a usual reference clock.
通常時の基準クロックより周波数の低い１本の試験用クロックによるディレイ・ライン回路の動作試験を可能とする。 - 特許庁 - To provide a compliant electrical contact which has a low self-inductance in a high frequency for connecting an IC on an IC testing unit.
ＩＣ試験装置にＩＣを接続するための高周波で低い自己インダクタンスを有する柔軟電気接点の提供。 - 特許庁 - Matters relating to methods, frequency, and timing of check, testing, inspection, repair, replacement, modification, etc.(check, etc.) of the nuclear installation-
原子炉施設の点検、試験、検査、補修、取替え及び改造等（点検等）の方法、実施頻度並びに時期に関すること。 - 経済産業省 - To provide an integrated circuit capable of testing efficiently a memory block, in an actually operated clock frequency, in a short time.
実動作のクロック周波数でのメモリブロックのテストを短時間で効率よく実行することができる集積回路を提供する。 - 特許庁 - To remarkably improve the measuring accuracy of an oscillation frequency by converting the oscillation frequency of several hundreds of MHz or more into frequency dividing output of several MHz or less at a product testing time of a laser drive LSI and measuring the frequency, and to prevent a yield from being lowered.
レーザドライブＬＳＩ の製品テスト時に数百ＭＨｚ以上の発振周波数を例えば数ＭＨｚ以下の分周出力に変換して測定することを可能とし、発振周波数の測定精度を大幅に向上させ、歩留まりの低下を防止する。 - 特許庁 - To provide a capacitor-testing device that can apply test electric power with a desired frequency and a sufficient high voltage to the capacitor of a test object to surely perform the testing needed.
試験対象となるコンデンサに対して、所望の周波数での試験電力を充分な高電圧で印加して、必要な試験を確実に行うことが可能なコンデンサ試験装置を提供する。 - 特許庁 - In this semiconductor testing device 11, a control part 10 forms a pattern file use frequency table in a pattern file use frequency table memory part 18 and determines the use frequencies of pattern files in the process of testing a preset number of semiconductors to be tested.
半導体試験装置１１において、制御部１０は、パタンファイル使用頻度テーブル記憶部１８に、パタンファイル使用頻度テーブルを作成し、予め設定された個数分の被試験対象の半導体を試験する過程で、パタンファイルの使用頻度を求める。 - 特許庁 - To provide a test circuit for testing a synchronous memory circuit 3 which is operated with a high clock frequency and which is capable of adjusting test latency.
高クロック周波数で動作する、テストレイテンシーが調節可能な、同期メモリ回路３をテストするためのテスト回路を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing power transmission systems capable of sufficiently following high-frequency velocity variations of a dynamometer.
ダイナモメータの高周波の速度変動に対しても十分に追従させることが可能な動力伝達系の試験装置を提供する。 - 特許庁 - RECEIVER CONFIGURATION FOR RECEIVE FREQUENCY MODULATION WIRELESS SIGNAL, AND METHOD FOR TESTING RECEPTION BRANCHES OF THE RECEIVER CONFIGURATION THROUGH THEIR ADAPTATION
周波数変調無線信号を受信するための受信機構成及び受信機構成の受信ブランチを適合させテストする方法 - 特許庁 - To provide a vibration testing machine capable of oscillating objects to be tested at a high frequency by the drive of linearly extending and contracting fluid actuators.
直線的に伸縮する流体アクチュエータの駆動により被試験物を高周波で加振可能な振動試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide an IC test system for testing IC functioning at high speed in real functioning speed using a general-purpose tester with low functioning frequency without reducing the functioning frequency.
高速動作するＩＣを、動作周波数の低い汎用テスタを用いて、その動作周波数を低減させることなく、実動作速度にて試験を行なうことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁 - Ultrasonic axial loading fatigue testing which applies an axial load causing vibrations at a frequency in an ultrasonic region is applied to a sample piece of high-strength steel.
高強度鋼の試験片に、超音波領域の周波数の振動となる軸荷重を負荷する超音波軸荷重疲労試験に適用する。 - 特許庁 - To provide a vibration testing system that applies two-axis vibration, where vibration of high-frequency region up to at least 1,000 Hz can be applied in one axis.
２軸の振動を与え、１軸は少なくとも１０００Ｈｚまでの高周波領域の振動を与えることができる振動試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test circuit and a circuit testing method, which can perform the test for all clock cycles without omission, without decreasing the operational clock frequency.
動作クロック周波数を落とさずに全てのクロックサイクルについてのテストを漏らさずに行うことが可能なテスト回路及び回路テスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To obtain a connecting device for a flexible substrate, in which high frequency electric signals can be transmitted stably from a testing device to the flexible substrate, and to provide a connecting method.
検査装置からフレキシブル基板に高周波電気信号を安定に通すことができるフレキシブル基板用の接続装置及び接続方法を得る。 - 特許庁 - To stabilize the resistance between the electrode of a semiconductor device and the electrode of a testing substrate and suppress and adverse effect due to high frequency current and voltage.
半導体装置の電極と試験基板の電極間の抵抗値を安定させ、かつ高周波の電流や電圧による悪影響を抑制する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device testing device capable of measuring electric characteristics of a semiconductor device having many electrodes and operated in a high frequency.
多数の電極を有し、高周波で動作する半導体デバイスの電気特性の測定が行える半導体デバイス試験装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a test apparatus and a test method with a simple configuration for testing a device to be tested which outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals with one and the same frequency.
同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。 - 特許庁 - If an account is determined to have strong possibility of being used for testing counterfeit bills based on its past records such as cancel frequency, the account is treated as a suspicious account.
取消頻度等の実績に基づいて偽券のテストに利用されている可能性が高いと判断された口座は、要注意口座として扱う。 - 特許庁 - To provide a serial signal generating apparatus for generating a series signal capable of testing a receiving device in an actual operation frequency, and to provide a device-testing apparatus capable of performing efficiently various tests of the receiving device by using the series signal.
受信デバイスの実動作周波数での試験を可能とするシリアル信号を生成するシリアル信号生成装置、及び当該シリアル信号を用いて受信デバイスの多種多様な試験を効率的に行うことができるデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device supplying a test signal that is made to maintain an optional phase state by performing phase synchronization of a pseudo response signal and a transmission leakage signal with a reference signal of an R/W (Reader/Writer) when testing the R/W of an RFID (Radio Frequency Identification).
ＲＦＩＤのＲ／Ｗを試験する場合に、擬似的な応答信号及び送信リーク信号をＲ／Ｗの基準信号と位相同期させ、任意の位相状態に維持させた試験信号を供給できる試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a receiving device wherein high frequency performance is tested by using a testing device without high frequency output function, and multiple receiving devices are simultaneously arranged on a wafer by using a semiconductor process.
半導体プロセスを用いて複数個同時にウエハ上に実現した高周波信号の受信装置であって、高周波出力機能を備えていない試験装置を用いて高周波性能を試験できる受信装置を実現する。 - 特許庁 - This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.
試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for testing a phase locked loop (PLL) that can solve a task of conducting an enhanced test including verification and/or stop sequence of a frequency dynamic revision.
位相同期ループ（ＰＬＬ）のテストにおいて、周波数の動的変更の検証および／またはストップシーケンス・チェックを含む、改良されたテストを行うことが課題である。 - 特許庁 - When testing a frequency divider PS, a test control voltage signal TC and a RF test signal TS are supplied to input terminals IN1 and IN2 through a balun T1.
分周器ＰＳのテスト時に、バランＴ１を介してテスト制御電圧信号ＴＣおよびＲＦテスト信号ＴＳが入力端子ＩＮ１、ＩＮ２に供給される。 - 特許庁 - The waveform data stored in the memory 48 are selected by a load device 46 based on appearance frequency information 44 during the testing of each piece of the voice piece DB34.
メモリ４８に記憶される波形データは、音声素片ＤＢ３４の各素片のテスト時の出現頻度情報４４に基づいてロード装置４６により選択される。 - 特許庁 - A monitor electrode for testing of the predetermined area is provided at the area guided from the adjacent area of the natural circuit wires in the circuit structure for propagating high-frequency signals.
高周波信号が伝搬する回路構成の、本来の回路配線から近接して引き出したところに所定面積の検査用のモニタ電極を備える。 - 特許庁 - To improve a delay restriction problem, a testing problem and a hazard check problem in a circuit design using a clock subjected to frequency division by a flip flop based on definer design.
デファイナ設計によりフリップフロップにより分周化されたクロックを用いた回路設計で、遅延制約問題、テスト時の問題、及びハザードチェックの問題を改善する。 - 特許庁 - To provide a small-sized rotary vibration testing machine which is wide in a measurement frequency band by directly rotating and vibrating a turntable with the torque generated by an excitation source.
本発明は、加振源で発生したトルクで直接回転テーブルを回転振動させることにより、測定周波数帯域の広い、小型の回転振動試験機を得る。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of dispensing with use of an expensive transmission cable for a high-frequency characteristic and prevention of a mixed noise, when distributing a clock from a clock board.
クロックボードからのクロック分配の際に、高周波特性やノイズ混入防止のために高価な伝送ケーブルを使用する必要がない半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - By this scanning, a signal component of low frequency originating in the swell of the surface of the magnetic recording medium is separated from the signal emitted from the testing head.
この走査により、感熱素子を有する検査ヘッドから出力された信号から、磁気記録媒体表面のうねりに起因する低周波の信号成分を分離する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit which enables easy testing of variation in an output clock frequency of a built-in clock generator, outside an LSI chip, by a digital tester.
内蔵されたクロックジェネレータの出力クロック周波数の変動をＬＳＩチップ外部でデジタルテスタにより容易に試験できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a torsion testing device capable of applying torsional stresses to a test piece, using a servo motor and applying a torsional load to the test piece at high frequency.
サーボモータを用いて試験片にねじり応力を加え、且つ、高い繰り返し速度でねじり荷重を試験片に加えることができるねじり試験装置を提供する。 - 特許庁 - The apparatus for testing the power conversion apparatus used in place of the finished-product power converter includes a testing power converter having a lower output capacity than this power converter, and a high-frequency voltage application device applying a noise voltage to between a reference potential section of a control circuit and a ground potential section of the testing power converter.
提案する電力変換装置の試験装置は、最終製品の電力変換器に換えて用いられて、この電力変換器よりも出力容量が小さい試験用電力変換器と、制御回路の基準電位部と、前記試験用電力変換器の接地電位部との間にノイズ電圧を印加する高周波電圧印加装置と、を備える。 - 特許庁 - The amplifier 20 contained in a metallic housing and amplifying a high frequency signal is fixed to an outer wall of a waveguide 32 extendedly provided on a rear end side of a horn 34 in a horn antenna 30 for emitting the testing purpose radio wave, and the high frequency signal for emitting the testing purpose radio wave is given to the horn antenna 30 via the amplifier 20.
試験用電波を放射するホーンアンテナ３０において、ホーン３４の後端側に延設された導波管３２の外壁に、金属筐体内に収納されて高周波信号を増幅する増幅器２０を固定し、ホーンアンテナ３０には、この増幅器２０を介して試験用電波放射用の高周波信号を入力する。 - 特許庁 - By posing negative pressure at frequency corresponding to rainfall the enclosure experiences, from the air leak testing arrangement 20, and, after that, by implementing air leak tests of the enclosure 10 with the air leak testing arrangement 20, thus pass or fail of waterproof function is checked from the result.
そして、エアリーク試験装置２０から密閉筐体１０が遭遇する降雨回数に対応する回数の負圧を加え、その後に密閉筐体１０のエアリーク試験をエアリーク試験装置２０により実行して、その結果により防水機能の合否を確認する。 - 特許庁 - To use a ceramic piezoelectric element as a driving source for vibration of a driving rod in a testing machine for generating high-frequency vibration in a material of a test piece, when imparting the high-frequency vibration to the test piece to conduct a fatigue test.
試験片に高周波振動を付与して疲労試験を行う際に、その材料に高周波振動を発生させるための試験機のにおける駆動棒の振動駆動源としてセラミック圧電素子を使用するセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 特許庁 - The frequency characteristic measuring device includes a heating furtherance 1 and a waveguide bar 2 having a vibration sensor S1 for fixing at one end and a vibration sensor S2 for testing at the other end, wherein the vibration sensor S2 for testing is disposed in the heating furtherance 1 and the vibration sensor for fixing is opened to the outside of the heating furnace.
加熱炉１と、一方端に固定用の振動センサＳ１を且つ他方端に試験用の振動センサＳ２を有する導波棒２とを備え、試験用の振動センサＳ２が加熱炉１内に配置され、固定用の振動センサが加熱炉外に開放されてなる周波数特性測定装置。 - 特許庁 - By utilizing a high-frequency module, using this connecting structure as a selection testing instrument of the device 1, improvement in device productivity and module assembling productivity, shortening of manufacture period by reducing testing processes, and improvement in efficiency of module development are carried out, and low cost manufacturing is realized.
また、この接続構造を用いた高周波モジュールをデバイス１の選別試験用治具として用いることにより、デバイス歩留及びモジュール組立歩留の向上、検査工程の削減による工期短縮及びモジュール開発効率の向上が図られ、製造の低コスト化が実現する。 - 特許庁 - The method for estimating the fundamental frequency of the harmonic signal comprises the steps: - forming a fundamental frequency hypothesis (f0'); - providing a comb filter based on the fundamental frequency hypothesis; - filtering the given harmonic signal using the comb filter; and - testing the fundamental frequency hypothesis for each tooth in the comb filter.
本発明によると、高調波信号の基本周波数を推定する方法は、基本周波数仮定値（ｆ０´）を形成するステップと、基本周波数仮定値に基づいて、くし型フィルタを提供するステップと、くし型フィルタを用いて、与えられた高調波信号のフィルタリングを行うステップと、くし型フィルタにおける各歯毎に、基本周波数仮定値のテストを行うステップと、を備える。 - 特許庁 - To provide a material testing machine capable of conducting a smooth material test even when a pump becomes low in rotational frequency so as to conduct the material test in a low-speed area.
低速度領域で材料試験を行うためにポンプの回転数が低速となった場合にも、スムースな材料試験を実行することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a load testing device having a simple constitution capable of verifying the degree of keeping a rotational frequency in the fixed state, against fluctuation of a load torque.
負荷トルクの変動に対して、回転数がどの程度一定で保持することができるのかを検証することができる簡易な構成の負荷試験装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit in which a determination can be made about a frequency of an output pulse of a class-D amplifier within a short required time while utilizing a semiconductor testing apparatus.
半導体試験装置を利用して、短い所要時間でＤ級増幅器の出力パルスの周波数に関する判定を行うことが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
