「testing」を含む例文一覧(14405)

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  • In an SIP 102 including a plurality of semiconductor chips, such as ASIC100 and SDRAM 101 mounted on a single package, a test circuit (SDRAMBIST 109) for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, to perform testing the SDRAM 101 from the outside of the SDRAM 101 or from the ASIC 100.
    ＡＳＩＣ１００およびＳＤＲＡＭ１０１など複数の半導体チップが単一パッケージ搭載されたＳＩＰ１０２において、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路（ＳＤＲＡＭＢＩＳＴ１０９）をＡＳＩＣ１００内に設けて、ＳＤＲＡＭ１０１の外部から、すなわちＡＳＩＣ１００からＳＤＲＡＭ１０１のテストを行うようにする。 - 特許庁
  • A fluidity testing device 1 comprises a molten metal port 11 through which a molten metal is injected, a flowing pathway 12 through which the injected molten metal flows, a standard pressure port 13 provided in the flowing pathway 12, and at least one pressure port for measurement 14 provided in the flowing pathway 12 downstream from the standard pressure port 13.
    流動性試験器１は、溶融金属を注入するための湯口１１と、注入された溶融金属が流れる流路１２と、流路１２に設けられた基準圧力ポート１３と、流路１２の基準圧力ポート１３よりも下流側に少なくとも一つ設けられた測定用圧力ポート１４とを有する。 - 特許庁
  • The ion conductive polymer composition whose value of scorching T5 (min) at 130.0°C±0.5°C is 1.5 to 20 in a Mooney scorch test in an unvulcanized rubber physical testing method mentioned in JIS K6300, and also, whose Mooney viscosity ML(1+4) at 100°C is 5 to 95 is extruded from an extrusion machine and continuously vulcanized.
    ＪＩＳ Ｋ６３００記載の未加硫ゴム物理試験方法中のムーニースコーチ試験において１３０．０℃±０．５℃におけるスコーチＴ５（分）の値が１．５以上２０以下であり、かつ、１００℃におけるムーニー粘度ＭＬ（１＋４）が５以上９５以下であるイオン導電性ポリマー組成物を、押出機から押し出しながら連続加硫する。 - 特許庁
  • To provide a chuck mechanism of a discharge and charge testing device for a thin type secondary cell that reduces conventional troublesome operation, namely, operation to store and fix many thin type secondary cells in a storage container etc., and also securely chuck the thin type secondary cells (electrodes).
    本発明は薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構に係り、従来の煩わしい作業、即ち、例えば多数の薄型二次電池を収納容器等に収納、固定するといった作業を軽減し、併せて薄型二次電池（電極）に対する確実なチャックを可能としたチャック機構を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The semiconductor testing device 10 tests each D/A conversion circuit and A/D conversion circuit of the semiconductor integrated circuits to be measured 20, 30, 40, 50, based on digital signals outputted from each A/D conversion circuit of the semiconductor integrated circuits to be measured 20, 30, 40, 50, to thereby discriminated between a quality product and a defective product.
    半導体試験装置１０は、被測定半導体集積回路２０，３０，４０，５０それぞれのＡ／Ｄ変換回路から出力されたデジタル信号に基づき、被測定半導体集積回路２０，３０，４０，５０それぞれのＤ／Ａ変換回路とＡ／Ｄ変換回路とをテストし、良品、不良品を判定する。 - 特許庁
  • In the case of forming oriented films 24, 32 on a TFT array substrate 10 and a counterposed substrate 20, the oriented film forming device 700 forms an oriented film on a testing substrate by a spin coater 300, and then measures the film thickness of the oriented film by a film thickness measuring device 50.
    ＴＦＴアレイ基板１０および対向基板２０に対して配向膜２４、３２を形成するにあたって、配向膜形成装置７００において、スピンコート装置３００で試験用基板に配向膜を形成した後、焼成装置４００で焼成し、しかる後に、配向膜の膜厚を膜厚測定装置５００で計測する。 - 特許庁
  • The testing power converter includes a power rectifying circuit section converting a commercial AC power into a DC; a system impedance simulation section simulating a system impedance arranged on a latter stage of the power rectification circuit section; and a plurality of upper and lower switching arms arranged on a latter stage of the system impedance-simulating section.
    また、前記試験用電力変換器は、商用交流電源を直流に変換する順変換回路部と、該順変換回路部の後段に設けられた系統インピーダンスを模擬する系統インピーダンス模擬部と、該系統インピーダンス模擬部の後段に設けられた複数の上下スイッチングアームと、を備える。 - 特許庁
  • This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body.
    試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。 - 特許庁
  • Separately, an accelerated deterioration test is performed in an accelerated deterioration testing chamber indoor simulating the corrosion factor in the periphery of the aerial strip held on the support with respect to the same sample strip as the aerial strip being the deterioration diagnosing target to form a master curve of a line deterioration degree formed by measuring the capacity deterioration degree.
    別途に、支持物に保持された架空条体の周辺の腐食因子を室内で模擬させた加速劣化試験室で、劣化診断対象の架空条体と同様なサンプル条体に対し加速劣化試験を行って性能劣化度を測定し作成した条体劣化度のマスターカーブを作成する。 - 特許庁
  • This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.
    ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁
  • To provide a suitability testing apparatus of a tire slip preventing apparatus for simplifying a work process, reducing a workload of a worker, ensuring safety when the worker works, reducing a noise due to work, and precisely inspecting the suitability between a tire slip preventing member and a tire.
    作業工程を簡易にして、作業者の作業労力を軽減し、作業者の作業時における安全性を確保するとともに、作業に伴う騒音を低減し、高い精度をもって、タイヤ滑り止め部材とタイヤとの適合性を検査することができるタイヤ滑り止め装置の適合性試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In testing the RAM, by not performing the failure detection about an address other than the focused address or an expected value other than the focused expected value, occurrence of the failure to the focused address or the focused expected value defined in advance is easily determined when the failure is detected.
    本発明は、ＲＡＭ試験において着目アドレス以外のアドレス又は着目期待値以外の期待値については故障検出を行わないことにより、故障が検出された場合には予め決められた着目アドレス又は着目期待値について故障が発生したことを容易に判別することを目的とする。 - 特許庁
  • To solve such problems that accumulation and development of knowledge and techniques useful for ameliorating diseases considered to be caused by a signal transduction abnormality through a CRMP2 protein, e.g. disease symptoms such as Alzheimer's disease, schizophrenia and axonal injury are pressing need; and the development of testing tools etc., in relation thereto is expected.
    CRMP2タンパク質を介したシグナル伝達異常に起因すると思われる疾患、例えば、アルツハイマー病、統合失調症及び軸策損傷等のような疾患症状を改善させるために有用な知識・技術の蓄積・開発が急務であり、これに関連する試験ツール等の開発が期待されている。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.
    テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is also provided with: an input device 330 for designating a reference area of the cross section image of a reference body 200 and the concerned area of the object to be tested in the image; and a CPU 300 for calculating the ratio of the MRI signal intensity of the concerned area to the MRI signal intensity of the reference area.
    又、核磁気共鳴検査装置１０は画像の中で、基準体２００の断面画像の基準領域と、前記検査対象の関心領域を指定する入力装置３３０と、基準領域のＭＲＩ信号強度に対する関心領域のＭＲＩ信号強度の比を演算するＣＰＵ３００を備える。 - 特許庁
  • Article 14 No person shall use a Class I Specified Chemical Substance for any usages other than those specified by a Cabinet Order for each Class I Specified Chemical Substance as being compliant with the following requirements; provided, however, that this shall not apply to the case where a person uses a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes:
    第十四条　何人も、次に掲げる要件に適合するものとして第一種特定化学物質ごとに政令で定める用途以外の用途に第一種特定化学物質を使用してはならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を使用するときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (3) The competent ministers may, to the extent necessary for enforcing this Act, have their officials enter the offices or any other places of business of a person prescribed in Article 22, inspect the books, documents and any other articles, ask questions of the relevant persons, or sample the smallest quantity of chemical substances necessary for testing.
    ３　主務大臣は、この法律の施行に必要な限度において、その職員に、第二十二条に規定する者の事務所その他の事業所に立ち入り、帳簿、書類その他の物件を検査させ、関係者に質問させ、又は試験のために必要な最小限度の分量に限り化学物質を収去させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • A material testing method or a material test according to the present invention in which a loading rate is given to a test member and the strength test of the material member is performed has a first feature including: previously applying a preload once or more repeatedly and subsequently applying a main load for use in the material characteristic evaluation thereto to acquire a prescribed loading rate.
    本発明は、試験部材に負荷速度を与え前記材料部材の強度試験を行う材料試験方法又は材料試験において、予め一回以上の繰返し予負荷を付与し、その後続けて材料特性評価に用いる主負荷を与え所定の前記負荷速度をえることを第１の特徴とする。 - 特許庁
  • The drop testing apparatus comprises a clamp mechanism for locking a rope when the steel ball is pulled up to a specific height by a rope, and a locking mechanism for pushing the rope between the rollers to the roller side for preventing the second collision when a clamp mechanism cancels locking and the steel ball drops on the object for rebounding.
    鋼球をロープで所定高さに引き上げたときに当該ロープをロックするクランプ機構と、クランプ機構がロックを解除して鋼球が被試験体上に落下して跳ね返ったときにローラの間にあるロープを当該ローラ側に押し込んで引き上げ、２度衝突を防止するロック機構とを備えた落下試験装置である。 - 特許庁
  • The semiconductor testing apparatus is configured such that measurement data of a large number of objects to be measured are taken in the control unit 12 through a large number of pin electronics cards 11 which are controlled by the control unit 12, wherein each pin electronics card 11 is configured to directly write corresponding measurement data in the control unit 12.
    制御ユニット１２により制御される多数のピンエレクトロニクスカード１１を介して、多数の被測定対象の測定データを前記制御ユニット１２に取り込むように構成された半導体試験装置において、前記各ピンエレクトロニクスカード１１は、それぞれの測定データを前記制御ユニット１２に直接書き込む。 - 特許庁
  • In this burn-in test method for collectively testing two or more objects to be tested having test patterns, at least two objects to be tested are simultaneously designated during burn in, the test patterns are read from the parts to be tested, and the test patterns read after the burn in are compared with an expectation value pattern.
    テストパターンを有する被試験対象物を複数個まとめてテストするバーンインテスト方法において、バーンインの間、少なくとも２以上の該被試験対象物を同時に指定し、当該被試験対象部品から該テストパターンを読み出し、該バーンイン後に読み出したテストパターンと、期待値パターンとの比較を行うよう、構成する。 - 特許庁
  • This horizontal balancing machine 10 for testing a balancing condition of a body W to be tested when rotating the body W is provided with a support part 1 for supporting the body W to be tested, a driving means for rotating the body W to be tested, and the belt 3 for transmitting driving force of the driving means to the body W to be tested.
    被試験体Ｗを回転させたときの被試験体Ｗの釣合い状態を試験する横型釣合い試験機１０は、被試験体Ｗを支持する支持部１と、被試験体Ｗを回転させる駆動手段と、駆動手段の駆動力を被試験体Ｗに伝達するベルト３と、を備えている。 - 特許庁
  • The tensile testing machine 1 comprises a measuring mechanism 6 for measuring the state of the test strip 2 held by the holding jig 322; a holding unit 32 for housing the test strip 2, along with the holding jig 322; and a moving mechanism 12 for moving the holding unit 32 in a plane perpendicular to the direction, inside which the irradiation with the electromagnetic wave M is carried out.
    引張試験装置１は、把持治具３２２に保持された試験片２の状態を測定する測定機構６と、把持治具３２２とともに試験片２を収容する保持ユニット３２と、保持ユニット３２を電磁波Ｍの照射方向に垂直な面内で移動する移動機構１２とを備えている。 - 特許庁
  • In this testing device 50 for the differential assembly, since the vibration is detected in the state where the coupling device 30 is assembled into the part of the differential assembly 15, the vibration of the coupling device 30 including the vibration caused by the assembly accuracy can be measured, to thereby detect more accurately than hitherto according to actual use.
    本実施形態のデフアッシ用試験装置５０によれば、カップリング装置３０をデフアッシ１５の一部として組み付けた状態で振動を検出するから、組み付け精度による振動を含めたカップリング装置３０の振動を測定することができ、実際の用途に沿って従来より正確に検出する。 - 特許庁
  • To provide a testing device and method for a differential assembly capable of detecting more accurately than hitherto vibration caused by the rotation of a coupling device, and measuring also vibration caused by assembly accuracy when assembling the coupling device into a part of the differential assembly, and provide a manufacturing method of the differential assembly having little vibration.
    カップリング装置の回転による振動を従来より正確に検出しかつ、カップリング装置をデフアッシの一部に組み付けた場合の組み付け精度による振動も測定可能なデフアッシ用試験装置及び試験方法を提供すると共に、振動の少ないデフアッシの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • This penetration testing machine includes: an elevating table 3 elevated along an erected column 2, a chuck 4 provided on the elevated table 3 and holding a penetration rod 6 to freely rock, a rotation driving means 5 for driving the chuck 4 to rotate, and a level member 10 showing the rocking position of the penetration rod 6 held on the chuck 4.
    本発明は、立設されたコラム２に沿って昇降可能な昇降台３と、この昇降台３に設けられ貫入ロッド６を揺動自在に保持するチャック４と、このチャック４を回転駆動する回転駆動手段５と、前記チャック４に保持された貫入ロッド６の揺動位置を示すレベル部材１０とを有して成る。 - 特許庁
  • For realizing the running environment with a lot of dust not by a dust prevention performance test by actual test course running, road surface conditions and operation motion scattering of a driver is excluded and reproducibility of the running environment with a lot of dust is improved, and repetition of a plurality of testing which may occur in the dust prevention performance test by actual test course running, can be avoided.
    そして、テストコース実走行防塵性能試験によらずに多塵路走行環境を再現するので、路面コンディションやドライバ−の運転操作バラツキが排除され、多塵路走行環境の再現性が向上し、テストコース実走行防塵性能試験で起こり得る複数回にわたる試験の繰り返しを回避できる。 - 特許庁
  • To provide a water-washable water-based penetrant for a liquid penetrant test not having a flash point, capable of suppressing to the utmost generation of excess cleaning when removing an excess penetrant by water washing, and having a similar flaw detection performance to that of a water-washable oil-based penetrant, and a liquid penetrant testing method using the penetrant.
    引火点を有さず、かつ、水洗による余剰浸透液の除去に当たって、過洗浄の発生が可及的に抑制でき、水洗性油ベース浸透液と同等の探傷性能を具備している浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法を提供する。 - 特許庁
  • A dolly 10 is provided to travel on a surface of the subject S, the electrodes for the impression and the measuring electrodes are provided on the dolly 10, or the electrodes C, D for the impression and the one side electrodes P1-P3 out of the measuring electrodes are provided on the dolly 10, and the other side electrode Q is provided on the surface of the testing subject S.
    試験体Ｓ表面を走行する台車１０を設け、印加用電極及び測定用電極を台車１０に設けるか、又は、印加用電極Ｃ，Ｄ及び測定用電極のうちの一方Ｐ１〜３を台車１０に設け、測定用電極の他方Ｑを試験体表面に設けるとよい。 - 特許庁
  • Also, the method for producing activated carbon comprises: a raw coke forming process comprising converting one kind or a mixture of coal-based heavy oil and petroleum oil-based heavy oil, each having a coefficient of thermal expansion of 4.0-7.0, measured by an artificial graphite electrode testing method, into a raw coke; and an activation process for activating the obtained raw coke.
    また、活性炭の製造方法は、人造黒鉛電極試験法によって測定される熱膨張係数が４．０〜７．０の範囲内にある石炭系または石油系重質油のいずれか一方またはそれらの混合物を生コークス化する生コークス化工程と、得られる生コークスを賦活する賦活工程とを有する。 - 特許庁
  • This testing method of rolling-contact fatigue life comprises a step (S10) of preparing a track member that has a raceway surface and is made of steel, a step (S20) of forming an impression in the raceway surface using an indenter, and a step (S30) of causing peeling on a raceway surface by rolling a rolling body made of ceramics on the raceway surface.
    転動疲労寿命の試験方法は、軌道面を有し、鋼からなる軌道部材を準備するステップ（Ｓ１０）と、圧子を用いて軌道面に圧痕を形成するステップ（Ｓ２０）と、軌道面上を、セラミックスからなる転動体を転走させることにより、軌道面に剥離を生じさせるステップ（Ｓ３０）とを備えている。 - 特許庁
  • To provide a universal coupling in which an eccentric amount caused by the universal coupling used to support a load is actually zero when any one or both from among an axial-direction load and a torsional load are loaded to a member and to provide a tension and torsion testing machine in which a bending moment and a shearing force acting on a face perpendicular to an axial direction are not generated.
    部材に軸方向荷重およびねじり荷重の何れか一方または双方が負荷されるときに荷重を支持する自在継手に起因する偏心量が事実上零である自在継手および曲げモーメントや軸方向に垂直な面に働くせん断力発生のない引張り・ねじり試験機を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a power generation testing device for a cell of a solid oxide fuel battery capable of surely sealing between an air chamber as well as a fuel chamber and the cell of the solid oxide fuel battery and repetitively using the air chamber and the fuel chamber.
    本発明の目的は、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーと固体酸化物形燃料電池用セルとの間のシールをより確実に行うと共に、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーの繰り返し使用を可能とする固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide work conveying housing equipment which prevents breakage of a work and shutdown of it by completely storing the work to be tested in a testing work housing and can check quickly the status that the work was stored completely, and provide grinding equipment provided with it.
    検査対象となるワークを検査用ワーク収納部内に完全に収めることによりワークの破損およびワーク搬送収納装置の停止を防止すると共に，ワークを完全に収めた状態を迅速に確認することが可能なワーク搬送収納装置，およびそのワーク搬送収納装置を備えた切削装置を提供する。 - 特許庁
  • The drive part 10 and follower part 20 constituting a gear testing apparatus are provided on a common stand 2 and the gear A mounted on the drive shaft 11 of the drive part 10 is meshed with the gear B mounted on the follower shaft 21 of the follower part 20 to drive the drive shaft 11 to test the meshing behavior of the gears.
    歯車試験装置１を構成する駆動部１０及び従動部２０は、共通の架台２上に設けられており、駆動部１０の駆動軸１１に装着された歯車Ａと、従動部２０の従動軸２１に装着された歯車Ｂとを互いに噛み合わせ、駆動軸１１を駆動して歯車の噛み合い挙動を試験する。 - 特許庁
  • This bearing testing device 1 comprises the rotating shaft 2, a pair of test bearings 4, 5 for supporting rotatably the middle part 3 in the axial direction S of the rotating shaft 2, and first and second support bearings 8, 9 for supporting rotatably first and second parts 6, 7 in the axial direction S of the rotating shaft 2 respectively.
    軸受試験装置１は、回転軸２と、回転軸２の軸方向Ｓの中間部３を回転自在に支持する一対の供試軸受４，５と、回転軸２の軸方向Ｓの第１および第２の部分６，７をそれぞれ回転自在に支持する第１および第２の支持軸受８，９とを備えている。 - 特許庁
  • The sealability testing device 2 is constituted of a first flange support base 3 for supporting a first flange member F1 on the right-end side of a bonded hard vinyl chloride pipe 1, a second flange support base 4 for supporting a second flange member F2 on the left-end side, and a pipe support base 5 for supporting the bonded hard vinyl chloride pipe 1.
    密封性試験装置２は、接合硬質塩化ビニル配管１の右端側の第１のフランジ部材Ｆ１を支持する第１のフランジ支持台３と、左端側の第２のフランジ部材Ｆ２を支持する第２のフランジ支持台４と、接合硬質塩化ビニル配管１を支持する配管支持台５とから構成されている。 - 特許庁
  • In a fine leak testing part 1, a test body is heated by a heating furnace 3 of a He bombing device 5, cooled spontaneously in a helium atmosphere pressurized in a pressure chamber 4, and is subjected to He bombing; and then He gas which leaked into a measuring chamber by heating is measured by a He leak detector 6, to thereby detect the fine leak.
    ファインリーク試験部１において、被試験体をＨｅボンビング装置５の加熱炉３で加熱した後、加圧チャンバ４で加圧下のヘリウム雰囲気内で自然冷却してＨｅボンビングした後、Ｈｅリーク検出器６で加熱により測定チャンバに漏出したＨｅガスを測定し、ファインリークを検出する。 - 特許庁
  • A semiconductor chip mounts an analog circuit 160 and a voltage generator circuit 610 which is connected to an analog input terminal of the analog circuit 160 and capable of generating a testing input voltage or a voltage measuring circuit which is connected to an analog output terminal capable of measuring the output voltage.
    半導体チップ上に、少なくともアナログ回路（１６０，２６０）と、該アナログ回路のアナログ入力端子に接続され検査用の入力電圧を発生可能な電圧発生回路（６１０）もしくはアナログ出力端子に接続され出力電圧を測定可能な電圧測定回路（６２０）とを搭載するようにした。 - 特許庁
  • To evaluate reliability in a semiconductor light-emitting element for an external resonator-type laser with higher precision than that by a conventional method for testing reliability without composing an external resonator-type semiconductor laser by incorporating the semiconductor light-emitting element.
    半導体発光素子を組み込んで外部共振器型半導体レーザを構成することなく、従来の信頼性試験方法よりも高い精度で外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性を評価することができる外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • This performance board 10 of a semiconductor testing device (image sensor tester) 1a includes the buffers 11-1 to 11-n for cable driving, and switches 12-1 to 12-n for conducting switching between an input of a measured signal output from a measured device and an input of a reference signal output from a reference signal generator 40.
    半導体試験装置（イメージセンサテスタ）１ａのパフォーマンスボード１０は、ケーブル駆動用のバッファ１１−１〜１１−ｎと、被測定デバイスから出力された計測信号又は基準信号発生器４０から出力された基準信号の入力の切り替えを行う切替器１２−１〜１２−ｎとを備えている。 - 特許庁
  • In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.
    信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁
  • One point or several points on the curve are pointed by a finger, a mouse or other pointing device to display not only the testing force of the points on a display part 30b but also a displacement value on a display part 30d and these numerical values are stored in a measuring control unit 20 by pushing an OK button 30e.
    そして、この曲線上の１点あるいは数点を指あるいはマウスその他のポインティングデバイスでポイントすることにより、その点の試験力が表示部３０ｂに、変位値が表示部３０ｄに表示され、ＯＫボタン３０ｅを押すことによりこれらの数値が計測制御装置２０に記憶される。 - 特許庁
  • The defect testing method comprises the following steps for preparing a design data set for forming the photomask, searching the sub-ground rule features out of the design data set, removing the sub-ground rule features out of the design data set to form a check data set, and checking the photomask formed according to the design data set by using the check data set.
    本発明の方法は、フォトマスク作製用のデザインデータセットを作製し、デザインデータセット中のサブ・グラウンドルールフィーチャを検索し、デザインデータセットからサブ・グラウンドルールフィーチャを除去して検査データセットを作成し、デザインデータセットに従って作製されたフォトマスクを検査データセットを使用して検査するステップを有する。 - 特許庁
  • This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.
    不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
  • Therefore, it is possible to determine whether the four memory cells are correct or not and four output buffers 4 corresponding to the data input/output terminals DQ0 to DQ3 are correct or not, only by connecting the data input/output terminal DQ0 to a tester, thereby reducing the testing cost.
    したがって、データ入出力端子ＤＱ０のみをテスタに接続した状態で、４つのメモリセルが正常か否かを判定するとともに、データ入出力端子ＤＱ０〜ＤＱ３に対応する４つの出力バッファ４が正常か否かを判定することができ、テストコストの低減化を図ることができる。 - 特許庁
  • The cosmetic composition is obtained by containing at least one aqueous dispersion of insoluble particles of a fixing polymer in a cosmetically acceptable aqueous or aqueous-alcoholic medium and, in an adhesion testing, results in <200 microjoule mean adhesion energy of fixing material/keratinous fiber after drying.
    化粧用に許容できる水性もしくは水性アルコール性媒体中に、少なくとも一つの、固定用ポリマーの不溶性粒子の水性分散液を含む化粧用組成物であって、粘着テストにおいて、乾燥後の固定物質／ケラチン繊維の平均粘着エネルギーが２００マイクロジュール未満となることを特徴とする化粧用組成物。 - 特許庁
  • Also provided is a method for testing an agent for its ability to inhibit binding between fibroblast growth factor (FGF) and heparanase substrate, comprising the steps of: interacting in solution immobilized FGF on a solid support with the agent and labeled heparanase substrate, and detecting the presence or absence of label in the solution remote from the solid support.
    線維芽細胞成長因子（FGF）とへパラナーゼ基質との結合を阻害する能力に関しては、固体支持体上に固定化したFGFを物質および標識基質と溶液中で相互作用させる段階、および固体支持体から離れた溶液中の標識の有無を検出する段階を含む。 - 特許庁
  • To provide a diffusion testing device, enabling casting surely even with 1 mm or less of sample diameter, reduced in the possibility of contamination in a sample by an impurity in a gas, not affected by Marangoni convection caused by a free surface, and precluded from the possibility that the gas infiltrates into a capillary even in a gravity-free or very low gravity environment.
    試料径が１ｍｍ程度以下でも確実に鋳込むことができ、ガス中の不純物による試料の汚染のおそれが少なく、自由表面によるマランゴニ対流の影響がなく、無重力又は微小重力環境下でも、ガスがキャピラリー内に入り込むおそれがない拡散試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The burn-in test is performed using a memory BIST circuit 202, designed so as to preliminarily perform all tests necessary for confirming the operation of a memory device 201 for not only enhancing the toggle ratio in the burn-in test of the memory device, but also to suppress the developing time of the burn-in testing.
    あらかじめメモリ装置２０１の動作確認のために必要な全ての試験を実施するように設計されたメモリＢＩＳＴ回路２０２を用いてバーインテストを行うことにより、メモリ装置のバーインテストにおけるトグル率を向上させると共に、バーインテストの開発時間を抑制することができる。 - 特許庁
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