「testing」を含む例文一覧(14405)

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  • When testing the chip, the performance measuring circuit so measures such performances of the circuit function module as its operational speed and consuming power as to store the performance data in the corresponding storage-table circuit, and the storage-table circuit so measures the data amount fed to the circuit function module as to select its optimal clock frequency, power-supply voltage, and board bias.
    チップテスト時に、性能測定回路が回路機能モジュールの動作速度、消費電力などの性能を測定し該当する記憶テーブル回路に性能データを記憶させ、記憶テーブル回路は該当する回路機能モジュールに供給されるデータ量を計測して最適なクロック周波数、電源電圧、基板バイアスを選択する。 - 特許庁
  • The problem to be solved is solved by the staining evaluation device of the present invention having the optical waveguide substrate 1 installed to contact closely with the testing object 3, a light source for making the light 2 get incident into the one end side of the optical waveguide substrate 1, and a detector for detecting the light 2 emitted from the other end side of the optical waveguide substrate 1.
    また、試験体３を密着して設置する光導波路基板１と、光導波路基板１の一端側に光２を入射する光源と、光導波路基板１の他端側から出射される光２を検出する検出器と、を有する汚染性評価装置により上記課題を解決する。 - 特許庁
  • When at least one out of a sensor holding portion and a load portion is moved with means of movement of the load testing device, a speed up to a separated upper side portion and a load sensor approaching is made faster than a speed up to the upper side portion having approached and the load sensor coming in touch and the load portion being supported by the load sensor.
    荷重試験装置の移動手段によってセンサ保持部と負荷部との少なくとも一方を移動させる際に、離間した上側部と荷重センサとが近接するまでの速度が、近接した上側部と荷重センサが当接し負荷部が荷重センサに支持されるまでの速度よりも大きくなるようにする。 - 特許庁
  • A DRAM chip 1 includes an input/output terminal 1c for testing which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; an input/output terminal 1b for connecting a support substrate, which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; and an input/output terminal 1a without having the measure circuit for electrostatic discharge breakdown other than the input/output terminals 1b and 1c.
    ＤＲＡＭチップ１は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子１ｃと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子１ｂと、入出力端子１ｂおよび１ｃ以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子１ａとを含む。 - 特許庁
  • This modified device for equilibrium dialytic treatment is of such a construction that it uses a dialytic membrane which is present in all of an arbitrary number of test wells included in dialytic blocks and also inserted into at least a gap for dividing the wells to the donating side and the receiving side which be accessed and operated from the top the device during testing.
    透析ブロックに含まれる任意の数の試験ウェルの全ての中にあり、それらウェルを試験中いつでも装置の上部からアクセス及び操作できる授与側と受領側に少なくとも分離する間隙内に挿入された透析膜を利用する平衡透析処置用改良型装置。 - 特許庁
  • (ix) Digital video magnetic tape recorders, digital instrumentation magnetic tape data recorders or equipment designed to convert digital video magnetic tape recorders for use as digital instrumentation magnetic tape data recorders, that fall under any of the following (excluding those designed for use in other goods), or magnetic tapes used for the testing of these recorders and equipment
    九　デジタル方式のビデオ磁気テープ記録装置、計測用の磁気テープ記録装置若しくはデジタル方式のビデオ磁気テープ記録装置を計測用の磁気テープ記録装置として使用するための装置であって、次のいずれかに該当するもの（他の貨物に使用するように設計したものを除く。）又はこれらの試験用の磁気テープ - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (vii) In addition to what is listed in the preceding item, equipment for the design, manufacture, measurement, test, or repair of goods (excluding optical fiber testing equipment and measuring equipment) that fall under any of item (i), item (ii), item (iv), item (v),or item (v)-2, or components or accessories thereof
    七　前号に掲げるもののほか、第一号、第二号、第四号、第五号若しくは第五号の二のいずれかに該当する貨物の設計用の装置、製造用の装置、測定装置、試験装置若しくは修理用の装置（光ファイバーの試験装置及び測定装置を除く。）又はこれらの部分品若しくは附属品 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 17 (1) The State shall endeavor to increase the scientific knowledge on the properties of chemical substances and develop testing methods and other technical methods concerning safety assessment of chemical substances, while giving sufficient consideration to international trends of safety assessment of chemical substances.
    第十七条　国は、化学物質の安全性の評価に関する国際的動向に十分配慮しつつ、化学物質の性状に関する科学的知見の充実に努めるとともに、化学物質の安全性の評価に関する試験方法の開発その他の技術的手法の開発に努めるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The IDE integrates tools for JMUnit 1.1.0 testing, MIDlet signing, certificate management, automatic code obfuscation with ProGuard 4.2,integrated over-the-air (OTA) emulation, push registry emulation, WMA emulation for SMS and CBS messages, new deployment methods, and Wireless Messaging and Multimedia APIs.You have complete control over these tool using standard Apache Ant scripts.
    IDE には、JMUnit 1.1.0 のテスト、MIDlet の署名、証明書の管理、コードの自動難読化 (ProGuard 4.2)、統合された OTA (無線) エミュレーション、転送レジストリエミュレーション、SMS メッセージと CBS メッセージ向けの WMA エミュレーション、新しい配備方法、および Wireless Messaging API と Multimedia API のツールが統合されています。 これらのツールは標準の Apache Ant スクリプトを使用して完全に制御できます。 - NetBeans
  • In the era of Japan National Railways, there were plans to operate trains through both Shinkansen lines (experimental 961-type Shinkansen train-cars were manufactured for testing the through operations, and platforms 14 and 15 for the Tokaido Shinkansen in Tokyo Station are curved towards the Tohoku Shinkansen line side, because they were made assuming that trains were to be operated through both Shinkansen lines).
    国鉄時代には、当初両線の直通運転を前提として建設の計画がなされていた（直通運転の実験用に試験車両新幹線961形電車が製造された、また、東京駅の東海道新幹線14・15番ホームは直通を想定して作られたため、ホームが東北新幹線側にカーブしている）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • On December 12th of each year, the Japan Kanji Aptitude Testing Foundation calls upon people across the country to submit a Chinese character that symbolizes the year throughout Japan and announces the Chinese character with the most submissions as the Kanji representing the social conditions of the year at the Kiyomizu-dera Temple in Higashiyama Ward, Kyoto City, Kyoto Prefecture on the "Kanji's day."
    財団法人日本漢字能力検定協会が、その年をイメージする漢字一字の公募を日本全国より行い、その中で最も応募数の多かった漢字一字を、その年の世相を表す漢字として、毎年12月12日の「漢字の日」に京都府京都市東山区の清水寺で発表する。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF
    冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁
  • In this alkali/silica reactivity testing method of the aggregate, the reflected light of the light thrown on a sample is detected and the reduction amount of alkali and/or the amount of dissolved silica is estimated from the detection value to judge the alkali/silica reactivity of the aggregate.
    骨材のアルカリシリカ反応性を判定するための試験方法であって、試料に照射された光の反射光を検出し、その検出値からアルカリ減少量または／及び溶解シリカ量を推定し、骨材のアルカリシリカ反応性を判定することを特徴とする骨材のアルカリシリカ反応性試験方法。 - 特許庁
  • To provide a specific hepatitis C virus (HCV) RNA molecule that has raised efficiency for establishing the cell culture replication, and provide a method for testing the suppression of the HCV RNA replication using the RNA molecule that is useful for evaluating the latent inhibitor of the HCV replication.
    細胞培養物複製を樹立する高められた効率を有する特異なＣ型肝炎ウイルスＨＣＶＲＮＡ分子の提供、及びＨＣＶ複製の潜在的なインヒビターを評価するのに有益な、このＲＮＡ分子を用いたＨＣＶ複製の抑制について化合物を試験する方法の提供。 - 特許庁
  • The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects.
    本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化、残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。 - 厚生労働省
  • The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects.
    本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化及び残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。 - 厚生労働省
  • The MHLW has been promoting comprehensive control measures for hepatitis, consisting of 5 strategies, since the 2008 fiscal year. These five measures are as follows: environmental improvement to enhance hepatitis treatment, facilitation of hepatitis testing, preparation of a treatment/consultation system for hepatitis, preparation and dissemination of accurate information to the public, and promotion of hepatitis-related research.
    また、平成20年度以降、肝炎の治療促進のための環境整備、肝炎ウイルス検査の促進、肝炎に係る診療及び相談体制の整備、国民に対する肝炎に係る正しい知識の普及啓発並びに肝炎に係る研究の推進の５本の柱からなる肝炎総合対策を進めてきた。 - 厚生労働省
  • g) The national government shall request that the Hepatitis Information Center, National Center for Global Health and Medicine (hereinafter referred to as the Hepatitis Information Center) conducts training for hepatitis testing and treatment, based on the latest information and knowledge, for health care workers who are supervisors in regional core centers, based on the midterm goal and plan of the National Center for Global Health and Medicine.
    キ 国は、肝炎医療費助成制度、高額療養費制度、傷病手当金、障害年金等の肝炎医療に関する制度について情報を取りまとめ、地方公共団体と連携を図り、拠点病院の肝疾患相談センターを始めとした医療機関等における活用を推進する。 - 厚生労働省
  • c) The national government shall request that the Hepatitis Information Center conduct training of health care workers who are supervisors in regional core centers, based on the midterm goal and plan of the National Center for Global Health and Medicine, for hepatitis testing and for treatment based on the latest information and knowledge. (Repeat)
    ウ 国は、肝炎情報センターに対し、国立国際医療研究センターの中期目標及び中期計画に基づき、拠点病院において指導的立場にある医療従事者に対して、最新の知見を踏まえた肝炎検査及び肝炎医療に関する研修が行われるよう要請する。（再掲） - 厚生労働省
  • To provide a strength testing machine of a structure reduced in the number of jacks for force application, having a simple small-sized compact structure, low in machine cost, capable of performing a strength test corresponding to all of loads such as shaft load, shearing load, bending load or the like.
    加力用のジャッキ数が少なく、簡単かつ小型コンパクトな構造で、装置コストの安い装置であって、さらには任意の場所で強度試験が可能な装置で以って、軸荷重、せん断荷重、曲げ荷重等あらゆる荷重に対応する強度試験を実施可能な構造体の強度試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a data communication device, a central management device, a testing method, a remote management system, and a computer program, in which the central management device can recognize whether the communication from the data communication device is performed normally, without dispatching a service engineer to the site where the data communication device is installed.
    本発明は、データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラムに関し、中央管理装置が、データ通信装置からの通信が正常に行われるか否かをそのデータ通信装置が設置されている現場へサービスマンを派遣せずに確認できるようにすることを目的とする。 - 特許庁
  • A device testing apparatus 1 includes: a metal plate 11 which is contacted with a collector electrode provided in a semiconductor device 20 to support the semiconductor device 20; and a plurality of contacts 30e equipped with an expansion and contraction mechanism for contacting with an emitter electrode 20e provided in the semiconductor device 20 while pressing the emitter electrode 20e.
    素子試験装置１は、半導体素子２０に配設されたコレクタ電極に接触して半導体素子２０を支持する金属板１１と、半導体素子２０に配設されたエミッタ電極２０ｅを押圧しつつ、エミッタ電極２０ｅに接触する伸縮機構を備えた複数の接触子３０ｅと、を備えている。 - 特許庁
  • The base material of this chip type electronic component storage mount is multi-layer paper structured, and pulp after the defibrination of the base material has a fiber length distribution factor 1.20-3.20 or less obtained by a pulp fiber length testing method using optical automated metrology specified by Japan Technical Association of the Pulp and Paper Industry No.52.
    チップ型電子部品収納台紙用紙基材が、多紙層構造を有し、この基材の離解後のパルプが、ＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ Ｎｏ．５２で規定されている光学的自動計測法でのパルプ繊維長試験方法により求められる繊維長分布係数が、１．２０〜３．２０以下である。 - 特許庁
  • A device 10A for testing a semiconductor element includes an upper guide plate 20A, having a plurality of upper guide holes 22A; a lower guide plate 30A having a plurality of lower guide holes 32A; a plurality of vertical probe 40A, provided in the upper guide holes 22A and the lower guide holes 32A; and a temperature regulation module 50.
    半導体素子の試験装置１０Ａであって、複数の上部ガイド孔２２Ａを有する上部ガイド板２０Ａと、複数の下部ガイド孔３２Ａを有する下部ガイド板３０Ａと、上部ガイド孔２２Ａおよび下部ガイド孔３２Ａ内に設けられている複数本のバーチカル型探針４０Ａと、温度調整モジュール５０とを備えている。 - 特許庁
  • To quickly and flexibly narrow down any problematic operation and an object being the factor of the problematic operation without depending on the source code of an object mounted on a system and the hardware and OS of the system at the time of tracking an object being the factor of any problematic operation at the time of testing this system.
    システムの試験時に、問題となる動作を起こしたオブジェクトを追跡する場合において、システムに実装されたオブジェクトのソースコードおよびシステムのハード、ＯＳ等に依存せずに、問題となる動作および問題となる動作の原因となるオブジェクトの迅速かつ柔軟な絞り込みを可能とすること。 - 特許庁
  • To provide a method for testing airtightness performance capable of performing an accurate airtightness performance test even when leaking quantity increases under a minute pressure condition and a test pressure greatly drops, and in addition capable of rapidly and surely obtaining a test result even when conditions such as internal volume, detecting time, and a test pressure change.
    微圧条件下で漏れ量が大きくなりテスト圧が大きく降下するような場合でも正確な気密性能試験を行うことが可能であり、加えて、内容積、検出時間、テスト圧等の条件が変わったとしても迅速かつ確実に試験結果を得ることのできる気密性能測定方法を提供すること。 - 特許庁
  • On the other hand, when testing the motorcycle equipped with an operating pedal, a support board grip for stabilizing the attitude of the frame 1 to the motorcycle by sandwiching a step board is connected detachably to the frame 1 without using the left leg part operating machine fixture 5 and the right leg part operating machine fixture 6.
    一方、操作ペダルを備えた自動二輪車の試験を行う場合には、左足部操作機固定金具５と右足部操作機固定金具６を用いずに、フレーム１に脱着可能に、ステップボードを挟持してフレーム１の姿勢を自動二輪車に対して安定化する支持ボードグリップ金具を連結する。 - 特許庁
  • To provide a flaw detector capable of realizing high precision flaw detection by making the magnetic flux density of measurement region high resolution by detecting the change of magnetic flux density by changing the rotation angle of polarization surface using the Faraday effect, in the case of detecting the flaw in a member under testing of magnetic substance.
    磁束密度の変化を、ファラデー効果を利用して偏光面の回転角の変化として検出することにより、磁性体である被探傷部材の傷を検出する場合において、磁束密度の測定領域を高分解能化して高精度の探傷を実現し得る探傷装置を提供する。 - 特許庁
  • An optical scanning unit (1) for testing the visual integrity of cigarettes (3) is equipped with a linear CCD array camera (12) by which a cigarette (3) can be imaged along a scanning zone (6), also a system for illuminating the scanning zone (6), and a cleaning device (15) serving to keep the scanning zone (6) free of impurities.
    紙巻き煙草の（３）の視覚的完全性を検査する光学走査ユニット（１）が、走査ゾーン（６）に沿って紙巻き煙草（３）を撮影することが可能なリニアＣＣＤアレイカメラ（１２）と、この走査ゾーン（６）を照明するシステムと、不純物がない状態に走査ゾーン（６）を保つ働きをするクリーニング装置（１５）とを備えている。 - 特許庁
  • In this performance testing device 10, a fixing frame 12 and a guide frame 13 are erected vertically and oppositely in parallel at a prescribed interval on a horizontal base plate 11, and a clamp means 14 of one of upper and lower face plates 5a, 5b of the sample piece 1 is installed on an internal surface upper part of the fixing frame 12.
    性能試験装置１０は、水平なベースプレート１１上に、所定の間隔を隔てて固定フレーム１２とガイドフレーム１３とが平行で、かつ相対向して鉛直に立設され、固定フレーム１２の内壁面上部には、供試体１の上下面板５ａ，５ｂの一方のクランプ手段１４が設けてある。 - 特許庁
  • The test transistors A, B that have at least two kinds or more of insulating films 13, 15 and different configurations are manufactured, and the electrostatic capacity film can be guaranteed with the easy measurement using a testing method for determining whether insulating films 13, 15 have been formed normally from the difference of the sub-threshold characteristics of two kinds of test transistors.
    少なくとも２種類以上の絶縁膜１３，１５の構成が異なるテスト用トランジスタＡ，Ｂを製造し、２種類のテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差から、絶縁膜１３，１５が正常に形成されたか否かを判定するというテスト方法を用いて、簡単な測定で静電容量膜の保証が行える。 - 特許庁
  • To improve reliability of laminated PTC thermistors, and stabilize changes with the passage of time of its resistance at room temperature in an electrification testing, in the laminated PTC thermistor, where an external electrode is formed at the opposite ends of a ceramic base structure obtained by alternately laminating and integrally calcining an internal electrode and a semiconductor ceramic layer.
    内部電極と半導体セラミック層とを交互に積層して一体焼成して得られるセラミック素体の両端面に外部電極が形成されてなる積層型ＰＴＣサーミスタにおいて、積層型ＰＴＣサーミスタの信頼性の向上、具体的には通電試験における室温抵抗の経時変化を安定させる。 - 特許庁
  • In the burn-in testing method carrying out the test by operating the semiconductor device in a predetermined temperature atmosphere, while supplying power to the semiconductor device, an operation command signal commanding operation of the semiconductor device is repeatedly supplied, and varying of a power source current corresponding to the operation command signal is counted.
    半導体デバイスを所定の温度雰囲気中で動作させて試験を行うバーンイン試験方法において、半導体デバイスに電源を供給しながら、半導体デバイスの動作を指令する動作指令信号を繰り返し供給し、動作指令信号に対応する電源電流の増減をカウントする。 - 特許庁
  • To provide a tire damage testing device capable of performing a highly accurate damage test having little dispersion when specifying a damaged spot of a test tire by dropping an impact block equipped with a heavy bob to abut surely on a specific spot of a tire tread part from the tire side part side of the test tire.
    試験タイヤのタイヤサイド部側からタイヤトレッド部の特定箇所に重錘を備えた衝撃ブロックを落下させて確実に当接させることで、試験タイヤの損傷箇所の特定する場合にバラツキが少なく、精度の高い損傷試験を行うことが出来るタイヤ損傷試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • This activating device for hydrogen storage alloys has hydrogen piping 3 communicating plural tanks 1 and 2 charged with hydrogen storage alloys, a hydrogen compressor 4 provided on the hydrogen piping 3, testing medium piping 5 connecting the tanks 1 and 2 each other so as to be capable of heat-exchanging and a heating medium pump 6 provided on the heating medium piping 5.
    水素吸蔵合金を入れた複数のタンク１、２を連通する水素配管３および水素配管３に設けられた水素コンプレッサ４と、タンク１、２同士を熱交換可能に接続する熱媒配管５および熱媒配管５に設けられた熱媒ポンプ６と、を有する水素吸蔵合金の活性化装置。 - 特許庁
  • In the system for testing the characteristics of the interface in between thin films by measuring the mechanical and thermal characteristics, the light from a laser 136 is absorbed into the thin films or a structure made of multiple thin films, and variations in the transmission or the reflection of which are measured and are analyzed by using an analyzer 134.
    機械的特性及び熱特性の測定による薄膜と薄膜間の界面との特性調査のためのシステムにおいて、レーザ１３６からの光は、薄膜や、複数の薄膜で作製された構造物に吸収され、光の透過あるいは反射の変化が測定されて、解析器１３４を使用して分析される。 - 特許庁
  • The invention is achieved by mating Suwon 425 race to Heugjinju race, culturing the new paddy rice which contains a large amount of C3G, confirming uniformity of the genetic potential by analyzing C3G content in individual in the lineage by progeny test, and testing on the antioxidant ability and anti-thrombus ability of the seeds.
    Suwon425品種にHeugjinju品種を交配させ、多量のシアニジン 3-グリコサイドを含有する水稲新品種を育成し、後代検定によって系統内個体のC3G含量などを分析して遺伝的な能力が均一であることを確認し、その種子の抗酸化能および抗血栓能を検定して本発明を完成するに至った。 - 特許庁
  • To provide a method capable of providing a fiber product satisfying a standard of bacteriostatic performance specified by Japan Textile Evaluation Technology Council also in a test method by bacterial transferring method of quantitative test for JIS L 1902 (2002) [antibacterial testing method of fiber products and antibacterial effect] and to provide the above fiber product.
    ＪＩＳ Ｌ １９０２（２００２）「繊維製品の抗菌性試験方法・抗菌効果」の定量試験の菌転写法による試験方法においても、社団法人繊維技術評価協議会が規定する抗菌性能の基準を満たす繊維製品を提供することのできる方法及びそのような繊維製品を提供する。 - 特許庁
  • In the reciprocating slide type friction-testing machine, a linear reciprocating movement is given to one of can surfaces that are in contact in points, lines, or surfaces, stress that is generated in the other can surface is detected, and friction force and coefficients on the contact surface are measured, thus estimating the ease of scratch.
    点、線または面で接触した缶表面同士の一方に対して直線往復運動を与え、他方に発生する応力を検出して缶表面における接触面での摩擦力および摩擦係数を計測することによりキズの付きやすさ等を推測する往復摺動型摩擦試験機。 - 特許庁
  • An image processor 21 is provided with a test item registering means for testing an image processor 20, an update means of firmware, a test execution means and a print test execution means for selecting and executing test items registered in the test item registering means and a report preparation means for preparing a report by analyzing the test result after ending the test.
    情報処理装置２１は画像処理装置２０をテストするためのテスト項目登録手段と、ファームウェアのアップデート手段と、テスト項目に登録したテスト項目を選択し実行するテスト実行手段と印刷テスト実行手段と、テスト終了後、テスト結果を解析してレポートを作成するレポート作成手段を備える。 - 特許庁
  • To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.
    ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁
  • In the testing method, the abrasion gage is mounted on test fixtures, a tape is positioned to adjust an overlapping angle in the end of the abrasion surface, desired tape tension, a speed, and operation time are selected, and the tape is run preferably in a single direction in effective contact with the abrasion surface for the desired operation time.
    テスト方法は、テスト治具に磨耗ゲージを装着し、テープを位置決めして磨耗表面の端部におけるオーバラップ角を調節し、所望のテープ張力、速度、及び動作時間を選定し、テープを所望の動作時間の間、磨耗表面と実効的に接触したまま、望ましくは単一方向に走らせる。 - 特許庁
  • A resin layer of 200 μm or less, an inner layer circuit board having an inner layer circuit pattern for evaluating the insulation and a fluorescent layer are laminated one on top of the other, in the order, and a part of the resin layer is removed to expose terminal parts of the circuit pattern, thereby forming a test piece for testing and evaluating the insulation reliability and its manufacturing method.
    ２００μm以下の樹脂層、絶縁性評価用の内層回路パターンを形成した内層回路板及び蛍光性層を、順に積層させ、そして該樹脂層の一部を除去して、該内層回路パターンの端子部分を露出させた、絶縁性信頼評価試験用の試験片及びその作成方法である。 - 特許庁
  • A direct current voltage for testing the short-circuited pixel, generated at a direct current source 18B, is impressed between a plurality of positive electrodes 13 exposed at the side end part of the organic EL panel 11 and a plurality of negative electrodes 17 with a polarity reversed from that at the light emission, namely, the voltage is impressed by reversing the positive side and negative side.
    有機ＥＬ表示パネル１１の側端縁に露出された複数の陽極１３と、複数の陰極１７に対し短絡画素検査用の直流電源１８Ｂからの直流電圧を、発光用の直流電圧の印加方向とは逆に、即ちプラス側とマイナス側とを逆にして電圧を印加する。 - 特許庁
  • On the front side of the flowing water detecting valve 4, a housing box 13 housing a timer part 5 and a terminal board part 7 are provided, On a side of the detecting valve 4 a valve cap 9 and a handle 11 of a control valve 10 are arranged and on the other side of the detecting valve 4 a discharge water testing valve part 12 is arranged.
    流水検知弁本体４の正面側に、タイマー部５と端子台部７を収納した収納ボックス１３を、流水検知弁本体４の一側面側に弁キャップ９及び制御弁１０のハンドル１１を、流水検知弁本体４の他側面側に排水試験弁部１２をそれぞれ配置する。 - 特許庁
  • The apparatus for testing the liquid crystal display element comprises a TFT (thin film transistor) array substrate to be tested; a modulator installed above the TFT array substrate and including a transparent electrode and electrophoretic film formed on the transparent substrate; and a camera installed above the modulator, for measuring brightness of an image.
    液晶表示素子の検査装置は、検査対象の薄膜トランジスタアレイ基板と、該薄膜トランジスタアレイ基板の上部に設置され、透明な基板上に形成された透明電極及び電気泳動フィルムを含むモジュレータと、該モジュレータの上部に設置され、イメージの明るさを測定するカメラと、から構成される。 - 特許庁
  • The scratch resistance testing equipment 1 has a placing stand 11, the table 12 placed on the placing stand 11, a scratching implement 13, a first support member 14 to which the scratching implement 13 is attached, a scratch detecting means 16 as a detection means of a scratch and a suction nozzle 17 as a removing means.
    耐擦傷性試験装置１は、載置台１１と、この載置台１１上に載置されたテーブル１２と、擦傷具１３と、擦傷具１３が取り付けられる第１の支持部材１４と、傷を検出する検出手段としての擦傷検出手段１６と、除去手段としての吸引ノズル１７を有する。 - 特許庁
  • The screw characteristic testing device is made portable by providing a hydraulic generation means (hydraulic pump 3), a load-generating means (a cylinder 21 and a piston 22) given to amplify oil pressure from the hydraulic generation means 3 on a test screw (bolt 4), and a load display means (oil pressure gage 4) for displaying load given to the screw 9 on the same substrate 10.
    油圧発生手段（油圧ポンプ３）と、試験用ねじ（ボルト４）に油圧発生手段３からの油圧を増幅して付与する荷重発生手段（シリンダ２１，ピストン２２）と、ねじ９に付与された荷重を表示する荷重表示手段（油圧計４）とを同一の基板１０上に設けて持ち運び可能とした。 - 特許庁
  • A transformed petunia proves itself to be extremely resistant to the dryness, when compared with a wild type thereof, based on a result of preparing the transformed petunia which excessively expresses a ZPT2-3 gene under control of a CaMV 35S promotor, for the purpose of testing a function of ZPT2-3, and then investigating whether the transformed petunia has resistance to drought stress treatment or not.
    ZPT2-3の機能を調べるため、CaMV 35Sプロモーターの制御下でZPT2-3遺伝子を過剰発現する形質転換ペチュニアを作製し、乾燥ストレス処理に対する耐性の有無を検討した結果、驚くべきことに、形質転換ペチュニアが、野生型と比較して、乾燥に対して顕著な耐性を示すことが明らかとなった。 - 特許庁
  • A test apparatus for testing vibration characteristics of a tire includes a drum, rotation drive means for rotatably supporting the drum, tire supporting means for rotatably supporting a test tire while bringing the test tire into contact with the outer peripheral surface of the drum at a required ground contact load, and measurement means for measuring a change in axial force of the test tire during the rotation.
    ドラムと、このドラムを回転可能に保持する回転駆動手段と、前記ドラムの外周面に試験タイヤを所要の接地荷重で接触させながら該試験タイヤを回転可能に保持するタイヤ保持手段と、前記回転時の試験タイヤの軸力の変動を測定する測定手段とを具える。 - 特許庁
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