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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 専門用語対訳辞書 > ケルビンプローブフォース顕微鏡の英語・英訳 

ケルビンプローブフォース顕微鏡の英語

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英訳・英語 Kelvin probe force microscope


Weblio専門用語対訳辞書での「ケルビンプローブフォース顕微鏡」の英訳

ケルビンプローブフォース顕微鏡

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「ケルビンプローブフォース顕微鏡」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 1



例文

半導体層2及び金属層3を有する半導体装置1の評価において、ケルビンプローブフォース顕微鏡(KFM)の同一のカンチレバー6を使用して半導体層2の表面電位及び金属層3の表面電位を測定する。例文帳に追加

In the evaluation of the semiconductor device 1 provided with a semiconductor layer 2 and a metal layer 3, the surface potential of the semiconductor layer 2 and the surface potential of the metal layer 3 are measured by using the same cantilever 6 of a Kelvin probe force microscope (KFM). - 特許庁

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Weblio英和対訳辞書での「ケルビンプローブフォース顕微鏡」の英訳

ケルビンプローブフォース顕微鏡

Kelvin probe force microscope
ケルビンプローブフォース顕微鏡(ケルビンプローブフォースけんびきょう: Kelvin probe Force Microscopy: KFM)は、原子間力顕微鏡 (AFM) を元に開発された顕微鏡の一種
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