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To provide a semiconductor device and a manufacturing method thereof capable of preventing a wafer from cracking and correcting the warpage of the wafer, preventing once-executed various reliability tests from becoming useless, and contributing to simplification of manufacturing processes and improvement of heat dissipation.例文帳に追加
ウエハレベルパッケージの薄型化を実現するにあたり、ウエハ割れを防止し、ウエハの反りを矯正すると共に、一度行った各種信頼性試験が無駄になるのを防止し、製造工程の簡略化と放熱性の向上に寄与することができる半導体装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁
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