| 意味 | 例文 |
SAPEを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
The semiconductor storage device has a test mode decision circuit 40 in which a first sense amplifier external activating signal SAPE as an external signal for a first sense amplifier activating signal SAP and a word line batch write mode selection signal TEST are inputted in its peripheral circuit part and the first amplifier activating signal SAP is outputted.例文帳に追加
半導体記憶装置は、その周辺回路部に、第1のセンスアンプ起動信号SAPの外部信号である第1のセンスアンプ外部起動信号SAPE及びワード線一括書き込みモード選択信号TESTを入力とし、第1のセンスアンプ起動信号SAPを出力するテストモード判定回路40を有している。 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|