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secondary emission detectorの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
According to this invention, the test is performed considering the emission positions (X_1, X_2) of the secondary particles 9 on the substrate relative to the position of the detector 5.例文帳に追加
本発明によれば、検出器５の位置に対する二次粒子９の基板上での放出位置（Ｘ１，Ｘ２）を考慮して試験を行う。 - 特許庁
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