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出典:Wiktionary
出典:『Wiktionary』 (2024/10/08 14:36 UTC 版)
From ellipse + -o- + -metry.
ellipsometry (uncountable)
出典:Wikipedia
出典:『Wikipedia』 (2011/05/26 18:18 UTC 版)
Ellipsometry is an optical technique for the investigation of the dielectric properties (complex refractive index or dielectric function) of thin films.
ellipsometry