「検査技術」を含む例文一覧(482)

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  • 運転中は、規制当局によって定期検査、保安検査等の検査が行われるほか、原子炉設置者により、定期的な評価や高経年化技術評価などの安全評価も行われる。
    While nuclear installations are in operation, inspections such as the periodic inspection and the operational safety inspection are conducted by the regulatory body, in addition to safety assessments such as periodic assessments, and aging technical evaluations conducted by licensees of reactor operation. - 経済産業省
  • 原子炉主任技術者、電気主任技術者及びボイラー・タービン主任技術者は、検査に立会うかまたは検査記録の確認により、検査の実施状況、結果について確認、評価を行うとともに、定期点検や改良工事の計画及び結果についても適宜、確認及び評価を行い、保守作業およびその管理作業における人的過誤の防止に努めている。
    Chief Engineer of Reactors, Chief Electrical Engineer, and Chief Engineer of Boiler and Turbine perform verification and assessment of regulatory inspections by attending the regulatory inspections or confirming inspection records.They also perform verification and assessment, as appropriate, of the plans and results of regular checks or modification works to prevent human errors in maintenance and management works. - 経済産業省
  • ２　文部科学大臣は、技術士会の業務の適正な実施を確保するため必要があると認めるときは、いつでも、当該業務及び技術士会の財産の状況を検査し、又は技術士会に対し、当該業務に関し監督上必要な命令をすることができる。
    (2) The Minister of Education, Culture, Sports, Science and Technology may, when he/she finds necessity for securing proper implementation of the business of the Institution of Professional Engineers, Japan, anytime inspect the said business and properties of the Institution of Professional Engineers, Japan or give necessary order for the supervision of said business.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化、残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。
    The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects. - 厚生労働省
  • 二　整備又は改造に関する技術的記録並びに総飛行時間及び前回分解検査後の飛行時間を記載した書類
    (ii) Documents that state the total flight hours and flight hours since last overhaul inspection of aircraft as well as technical records of maintenance or alteration thereof  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ５　前項の検査においては、その溶接が第三項第二号の技術上の基準に適合しているときは、合格とする。
    (5) The inspection set forth in the preceding paragraph shall be considered as passing when the welding conforms with the technical standards specified in item (ii) of paragraph (3).  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ２　前項の検査は、その加工施設の性能が経済産業省令で定める技術上の基準に適合しているかどうかについて行う。
    (2) The inspection set forth in the preceding paragraph shall be conducted with regard to whether the performance of the fuel facilities conforms with the technical standards specified in the Ordinance of METI.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ２　前項の検査は、その原子炉施設の性能が主務省令で定める技術上の基準に適合しているかどうかについて行う。
    (2) The inspection set forth in the preceding paragraph shall be conducted with regard to whether the performance of the reactor facilities conforms with the technical standards specified in the Ordinance of the competent ministry.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ２　前項の検査は、その再処理施設の性能が経済産業省令で定める技術上の基準に適合しているかどうかについて行う。
    (2) The inspection set forth in the preceding paragraph shall be conducted with regard to whether the performance of the reprocessing facilities conforms with the technical standards specified in the Ordinance of METI.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ２　前項の検査においては、その使用施設等の工事が文部科学省令で定める技術上の基準に適合しているときは、合格とする。
    (2) The inspection set forth in the preceding paragraph shall be considered as passing when the construction work of the usage facilities, etc. conforms with the technical standards prescribed by the Ordinance of MEXT.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ２　前項の検査においては、その溶接が文部科学省令で定める技術上の基準に適合しているときは、合格とする。
    (2) The inspection set forth in the preceding paragraph shall be considered as passing when welding conforms with each of the technical standards specified in the Ordinance of MEXT.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 二　保障措置検査等実施業務を適確に遂行するに足りる技術的能力及び経理的基礎があること。
    (ii) the applicant has sufficient technical capability and financial basis for appropriately executing work implemented for safeguards inspections, etc.,  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 異なる照度の光を照射することなく、光量検出装置の動作検査を的確に行うことができる技術を提供すること。
    To provide a technique capable of precisely performing operation inspection of a light quantity detecting apparatus without irradiating light having different illuminance. - 特許庁
  • 複雑な事前調整や処理を必要とすることなく、簡素な設備だけで容易に透過光型検査を行うことができる技術を提供する。
    To provide a technique that facilitates performing transmitted light type inspection only by simple equipment without requiring complicated prior adjustment or treatment. - 特許庁
  • 本技術は、それぞれのシステムが正確に半導体ウェーハを検査できるようにするレシピをセットアップすることを含む。
    In the technique, a recipe for allowing each system to accurately inspect the semiconductor wafer is set up. - 特許庁
  • 効果的な検査プログラム及び製造工程により品質保証されたプローブ担体を適用するための技術を提供すること。
    To provide technique for applying a probe carrier quality-guaranteed by an effective inspection program and an effective production process. - 特許庁
  • 遠隔地より人間をはじめとする種々の対象物について詳細な検査を容易に可能とする技術を提供する。
    To provide a technology which can easily perform detailed inspections with respect to various objects including people from a remote place. - 特許庁
  • 半導体デバイスのグラウンド電極と検査用回路基板との接地経路を短縮する技術を提供する。
    To provide a technology for shortening a grounding route between a ground electrode of a semiconductor device and a circuit board for check. - 特許庁
  • スループットの低下を抑制しつつも適切な基板の検査を行うことができる基板処理技術を提供する。
    To provide substrate processing technology capable of performing suitable inspection of a substrate while suppressing reduction of throughput. - 特許庁
  • 画像認識技術を用いて、多層基板形成用素板に形成した有底孔の検査を精度良く行なうこと。
    To inspect a blind hole formed on an blank for forming a multilayer substrate with superior precision by using an image recognition technology. - 特許庁
  • 信頼性が高く、生産コストの低減を図ることができる半導体チップ又はパッケージ検査技術の提供。
    To provide a highly reliable inspection technique for semiconductor chips or packages by which the production cost of the semiconductor chips or packages can be reduced. - 特許庁
  • 電子線を用いた、高速かつ高感度に欠陥検出を可能にする欠陥検査技術を提供する。
    To provide a defect inspection technology capable of performing defect detection with high sensitivity at a high speed that uses an electron beam. - 特許庁
  • 本発明は、半導体材料上の回路パターン中の欠陥を検査する、方法とシステムとを含む技術を提供する。
    To provide technology provided with a method and a system for inspecting a defect in a circuit pattern on semiconductor materials. - 特許庁
  • 画像式欠陥検査装置において相対的に低倍率の画像のモアレを回避することのできる技術を提供する。
    To prevent image moire fringes of relatively low magnification by an image-type defect inspection equipment. - 特許庁
  • 実際に印刷させることなく、記録ヘッドとプラテンとのギャップをより容易且つ適切に検査することのできる技術を提供する。
    To provide a technology which enables the gap between a recording head and a platen to be examined more easily and appropriately without making actually printing. - 特許庁
  • 電子顕微鏡応用装置および試料検査方法において、試料の帯電を制御することができる技術を提供する。
    To provide a technology of enabling to control charge of a testpiece in an electron microscope application device and a testpiece inspecting method. - 特許庁
  • 半導体基板の表面電極へのワイヤのボンディング予定領域に検査用プローブを押圧することのできる技術を提供する。
    To provide technology capable of pressing an inspection probe on a region where a wire is predetermined to be bonded to the surface electrode of a semiconductor substrate. - 特許庁
  • 通信機器検査装置において、複数のログ間での異常に関係するものとして予め設定した相違のみを表示する技術を提供する。
    To provide a technique for displaying only a preset difference as relation to abnormality between a plurality of logs in a communication device inspection apparatus. - 特許庁
  • この発明は、インク滴の吐出検査におけるインクの消費量を低減する技術を提供することを目的とする。
    To provide a technique for reducing the ink consumption amount in an ink droplet ejection test. - 特許庁
  • 第１パッドを有する半導体チップに対しても、不必要な端子を増やすことなく検査を行うことのできる技術を提供する。
    To provide a technique by which a semiconductor chip provided with a first pad is tested without increasing an unnecessary terminal. - 特許庁
  • 従来の技術による諸問題を解決するためのビット列の誤りビットを検査する方法及びレシーバーを提供する。
    To provide a method for inspecting an error bit of a bit string for solving various problems caused by the conventional technology and to provide a receiver. - 特許庁
  • 事前準備の手前をなるべく軽減し、対象とする領域全体の欠陥を隈なく検査することができる技術を提供する。
    To provide a technique which is capable of inspecting defects throughout an entire object area with preferably reduced effort for advance preparation. - 特許庁
  • 自動車のナンバープレート等の標板等の表示内容を、出荷される形態で画像処理技術によって確実に検査すること。
    To reliably inspect the display content of a sign board etc. such as, the number plate of an automobile in the form of delivery by an image processing technique. - 特許庁
  • 遮水シート、特にその接合部の破損箇所の検査を容易に行えるようにするための技術を提案する。
    To provide a technique for inspecting easily a breakage portion in an impervious sheet, in particular, in a jointing part thereof. - 特許庁
  • 齲歯等の早期発見を実現することができ、利用するときに専門的な技術や知識が必要とされない歯科検査用シートを提供すること。
    To provide a dental checkup sheet finding dental caries in an early stage and requiring no specialized technique and knowledge when used. - 特許庁
  • 従来の技術による諸問題を解決するためのＣＲＣ検査範囲外エラーを検出する方法を提供する。
    To provide a detection method of CRC inspection out of range for solving various problems in the prior art. - 特許庁
  • 画像認識技術を用いて吸着ノズルの先端面の欠けや異物付着等を精度良く検査できるようにする。
    To accurately inspect crack and adhesion of a foreign substance or the like on the tip surface of an adsorption nozzle using an image recognition technology. - 特許庁
  • オフライン動作が可能なモダリティを備えた医療システムにおいて、各モダリティの検査を適切に管理可能とする技術を提供する。
    To provide a technique for properly managing a test of each modality in a medical system with the modalities enabling off-line operation. - 特許庁
  • プレス加工等により所定の繰り返しピッチで複数個が帯状の材料に加工された連続部品に対する検査技術を提供する。
    To provide a technique for inspecting consecutive parts processed by pressing or the like into a plurality of strip materials at repeated pitches. - 特許庁
  • 一方、ログインされた操作者が技術者である場合、患者属性情報を出力することなく、検査結果を出力する。
    When the user who has logged in is a technician, the test results are outputted without outputting the patient attribute information. - 特許庁
  • 簡易な構成によって生体組織に腫瘍が存在するか否かを検査することができる技術を提供する。
    To provide a technique capable of inspecting whether or not there is a tumor in biological tissue by a simple configuration. - 特許庁
  • 本発明は、地図データにおけるノードおよびリンクで構成される接続構造の誤りを検査することが可能な技術を提供する。
    To provide a technology for inspecting an error in a connection structure including nodes and links in map data. - 特許庁
  • 本発明の目的の一つは、デジタルドライバを搭載したアクティブマトリクス基板の検査技術を確立することである。
    To establish inspection technique for an active matrix substrate mounted with a digital driver. - 特許庁
  • 簡単な構成で記録画像の品質の検査能力を向上させ、高画質の画像記録を実現することが可能な画像記録技術を提供する。
    To provide image recording technology capable of achieving high picture quality image recording by improving the quality inspection capability of a recorded image with a simple configuration. - 特許庁
  • 従来の技術と比較して、カメラの光軸の方向が理想的な状態でない場合でも、検査精度が良好となる。
    To provide a visual inspection device, and a visual inspection method of an inspection object, having excellent inspection accuracy, even when the direction of an optical axis of a camera is not in an ideal state, compared to a conventional technology. - 特許庁
  • 先行技術の欠点を克服する絶対湿度検知装置の精度を自動的に検査を提供すること。
    To provide a system and method for automatically inspecting the accuracy of an absolute humidity inspection device capable of overcoming the defects of a prior art. - 特許庁
  • 狭パッドピッチに対応し、高速測定を行うプローブ検査に対応できるプローブカードおよびその製造技術を提供する。
    To provide a probe card supporting narrow pad pitches, and also supports probe inspection with high speed measurement, and also to provide a manufacturing technique of the probe card. - 特許庁
  • 放射線検査画像において、従来技術の投影行列を補正するために、３Ｄモデルに適用されるべき残留変換を確立する。
    To establish residual transformation to be applied in a 3D model to correct a projection matrix of conventional technique in radiography inspection images. - 特許庁
  • 基板上のそれぞれのパターン群に対し効率的な検査を実施し、致命性のある欠陥を短時間で検出することができる技術を提供する。
    To provide a technique for detecting a critical defect quickly by executing an efficient inspection to each group of patterns on a substrate. - 特許庁
  • インクジェット方式の印刷装置において、ノズルの異常を高速、確実、かつ自動的に検査することができる技術を提供する。
    To provide a technology by which the abnormality of a nozzle can speedily, surely and automatically inspected in an inkjet method printer. - 特許庁
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