「検査技術」を含む例文一覧(482)

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  • 技術者が、誤って個人情報を外部に出力してしまうリスクを低減するとともに、使用者が、必要とする個人情報を含めて分析結果を出力することを可能とする検体検査装置及び検査情報管理装置を提供する。
    To provide a specimen test device reducing a risk of accidentally outputting personal information to outsiders by a technician and enabling a user to output analysis results including required personal information, and also to provide a test information management device. - 特許庁
  • ヘリウムガス検査を高圧側と低圧側の冷媒配管を接続して冷凍装置を完成させた状態で行なうことにより、１回の漏れ検査によって、各部の漏れのチェックと、高圧側と低圧側との冷媒配管の接続部の漏れのチェックとを行なえる技術を提供する。
    To provide a technology to perform check of leakage at each section and check of leakage of a connecting section of refrigerant pipes at a high pressure side and a low pressure side by one leakage inspection, by performing helium gas inspection in a state in which a refrigerating device is completed by connecting the refrigerant pipes of high pressure-side and low pressure-side. - 特許庁
  • 反射電子結像による検査装置において、絶縁物からなる試料においても電子線照射による負帯電を解消し、極微小の異物や欠陥の高感度検出を高速に行うことが可能となる検査技術を提供する。
    To provide an inspection technology capable of carrying out high-sensitivity detection of microscopic contamination or detects at high speed by eliminating negative charge by electron beam irradiation in a sample made of an insulator, in an inspection device by a reflection electron image. - 特許庁
  • 接続状態の検査用の端子を別途設けることなく、液体噴射装置本体側に設けられた端子群と、液体収容容器側に設けられた端子群との間における接続状態の検査をすることのできる技術を提供する。
    To provide a technology for inspecting a connection state between a terminal group provided at the side of a liquid ejecting apparatus and a terminal group provided at the side of a liquid container without separately providing a terminal for inspecting the connection state. - 特許庁
  • 被検査体を磁気飽和させる素子を小型化して狭隘部の探傷を容易化するとともに、被検査体間との引力を低減してその表面に対するコイル等の走査性を向上させる渦電流探傷技術を提供することを目的とする。
    To provide an eddy current flaw detecting technique that uses a smaller element for magnetically saturating an object to be inspected to facilitate flaw detection in narrow parts and reduces gravity between a coil or the like and the object to be inspected to enhance the ease of scanning the surface of the object to be inspected with the coil or the like. - 特許庁
  • グレースケールの画像認識技術を用い、正規化相関法のＰＭを利用し、フラット表面をもつプリント基板、シート等の上での異物等の不良部を高精度かつ高速に検査できる画像認識による不良検査方法を提供する。
    To precisely and quickly inspect a defective part such as a foreign matter on a printed circuit board, a sheet or the like having a flat surface, using an image recognition technique for a gray scale and using a PM of a normalized correlation method. - 特許庁
  • グレースケールの画像認識技術を用い、正規化相関法のＰＭを利用し、回路パターンまたは加工パターンの表面をもつプリント基板等上での異物等の不良部を高精度かつ高速に検査できる画像認識による不良検査方法を提供する。
    To precisely and quickly inspect a defective part such as a foreign matter on a printed circuit board or the like having a surface of a circuit pattern or worked pattern, utilizing a PM of a normalized correlation method, using an image recognition technique for a gray scale. - 特許庁
  • 本発明は複数のセンサを融合させる技術を用い、複数の画像センサの設置と角度を調整して、被検査画像の検査できない区域をずらすと同時に、複数の画像センサから検出された画像をデジタル化処理してから処理部に伝送する。
    Through the use of a technique for integrating a plurality of sensors, the installation and angles of a plurality of image sensors are adjusted to displace sections where images to be inspected cannot be inspected, and images detected by the plurality of image sensors are digitized simultaneously and transmitted to a processing part. - 特許庁
  • 欠陥散乱光の偏光特性に依存されずに欠陥像を顕在化する空間フィルタリング技術と正常パターンの明るさ飽和を抑制して欠陥捕捉率を向上する欠陥検査方法とその欠陥検査装置を提供する。
    To provide a method of inspecting a defect that controls a spatial filtering technology that actualizes a defective image independently of polarization characteristics of defective scattered light and suppresses brightness saturation of a normal pattern to improve a defect capturing rate, and a device using the same. - 特許庁
  • 検体の検査において、特に手作業で行われることが多い検体採取、検体処理、測定（反応）系へ検体導入および検体の希釈などの前処理工程全般を簡素化し、大型自動化装置およびＰＯＣＴ対応装置を用いた検査の操作性を向上し得る技術を提供する。
    To provide a technique which simplifies the whole pre-treatment step, in inspection of a specimen, especially including specimen collection and specimen treatment which are often performed manually, introduction of a specimen to a measurement (reaction) system and specimen dilution, and improves the operability of the inspection using a large-sized automated device and a POCT-corresponding device. - 特許庁
  • 量産装置としての完成度が高く、かつ、大気中でのレンズを使用した検査光学系を使用できるＤＵＶ光を使用したマスクブランクの検査方法において、わずか数ｎｍの微細な凹凸欠陥（位相欠陥）を高感度に検出できる技術を提供する。
    To provide a technology for detecting a minute concavo-convex defect (phase defect) of only several nm with high sensitivity in a mask blank inspection method that uses DUV light that allows usage of an inspection optical system which has high degree of completion as a mass production device and uses a lens in the atmospheric air. - 特許庁
  • レートレス符号化技術により伝送データを符号化する符号化装置３０において、検査行列生成部３５は、誤り耐性を向上させるソースシンボルに対応して定められた所定の範囲において非零要素を、他の範囲と比較して多く配置した検査行列を生成する。
    In an encoding device 30 for encoding transmission data by a rateless encoding technique, an inspection matrix generator 35 generates an inspection matrix having more non-zero elements in a predetermined range determined for a source symbol to improve an error tolerance in comparison with those in the other ranges. - 特許庁
  • 各種の巻線処理不良のある被検査コイルを高感度、高信頼度で検出でき、しかも作業者にとって高度な技術、知識を要せず、しかも安価なコイル検査装置及びこれを用いたコイル製造装置を得ることを目的とするものである。
    To enable detecting a coil having various sorts of winding processing detects to be inspected with high sensitivity and reliability and also enable inexpensively manufacturing without requiring a worker to be skilled in technology and knowledge. - 特許庁
  • 半導体製造する際に用いられる研磨または研削加工技術による平坦化加工工程において生じるスクラッチやボイド、異物等の欠陥を弁別して検査する光学式半導体ウェハ検査装置およびその方法を提供することにある。
    To provide an optical semiconductor wafer inspecting apparatus and a method therefor, which carry out an inspection so as to discriminate defects, such as a foreign substance, a scratch and a void occurring in a flattening working process using a polishing or grinding technique employed in manufacturing a semiconductor. - 特許庁
  • 基板表面実装技術でのクリーム半田の印刷状態を光切断線を利用して検査する場合で、基板面の反りによるレーザ線位置ずれをなくし確実にレーザ線の計測を行って検査を行える計測方法および計測装置を提供する。
    To provide a measuring method and apparatuses therefor capable of surely measuring and inspecting a laser beam by avoiding the deviation of the beam due to the warp of the substrate surface when inspecting the printing status of solder paste using a light-section line in the field of the substrate surface mounting technique. - 特許庁
  • 端子電極の狭ピッチ化で必要となる高度な技術を使わずに、チップ実装する電極パッドに検査プローブが当たらないようにして、検査時に発生する端子電極削れ、不純物付着、電極腐食によるチップ実装不具合をなくする。
    To eliminate the chipping of terminal electrodes, impurity adhesion and chip packaging trouble by electronic corrosion which occur in the inspection by preventing the abutment of an inspection probe on the electrode pads to be packaged with the chip without using highly advanced technology necessary for the narrower pitch of the terminal electrodes. - 特許庁
  • ③ 特定製品の製造又は輸入の事業を行う者は、事業届出を行い、自らが行う検査によって技術基準への適合を確認し、その検査記録を作成し、これを保存する等の義務を履行したときは、ＰＳＣマーク を付することができる。（法第１３条）
    (iii) When a person engaging in the manufacture or import of specified products has made a notification of his/her business and has performed his/her obligations to inspect and verify that the products conform to the technical requirements and prepare and preserve an inspection record, he/she may then place a PSC Mark on the products (Article 13).  - 経済産業省
  • ２　前項の認証は、鉱工業品の加工業者の申請に係る加工技術による加工をした鉱工業品のうち試験用のものについて製品試験を行うことにより日本工業規格に適合するかどうかを審査するとともに、その加工業者の申請に係る加工技術の加工品質管理体制（加工設備、検査設備、検査方法、品質管理方法その他品質保持に必要な技術的生産条件をいう。以下同じ。）が主務省令で定める基準に適合するかどうかを審査することにより行うものとする。
    (2) The certification of the preceding paragraph shall be granted by evaluating whether or not the processing technology complies with the relevant Japanese Industrial Standards by testing a sample/samples of the mineral or industrial product processed with the processing technology pertaining to the application by the processor of the mineral or industrial product and also by evaluating whether or not the processing quality management system (i.e. the technical conditions for processing required for maintaining quality of the process including processing facilities, inspection facilities, inspection methods, quality management methods, etc.; the same shall apply hereinafter) complies with the criteria specified in the applicable ordinance of competent minister.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 当業者が、先行技術に基づいて、当該発明に記載されている用途又は作用を実現できることを推測できない場合、 当該発明の技術的解決策により、技術課題を解決し、又は予測される効果を実現できることを当業者が確認できるように、実験室検査(動物実験等)又は臨床検査による定性的又は定量的データを十分に示さなければならない。明細書には、当業者が実施できる程度まで、有効量、適用方法、又は処方方法を記載しなければならない。
    If a person skilled in the art is unable, on the basis of the prior art, to predict that the said use or action stated in the invention can be carried out, the qualitative or quantitative data of the laboratory test (including animal test) or clinical test shall be sufficiently provided for the person skilled in the art to be convinced that the technical solution of the invention can solve the technical problem or achieve the technical effect as expected. The description shall describe effective amount, method of application or method of formulation to such an extent that the person skilled in the art can carry it out.  - 特許庁
  • 四　航空の用に供した航空機については、整備又は改造に関する技術的記録並びに総飛行時間及び前回分解検査後の飛行時間を記載した書類
    (iv) In case of used aircraft, documents that state the total flight hours and flight hours since last overhaul inspection as well as technical records of maintenance or alteration thereof  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 三　航空の用に供した航空機については、整備又は改造に関する技術的記録並びに総飛行時間及び前回分解検査後の飛行時間を記載した書類
    (iii) In case of used aircraft, documents that state the total flight hours and flight hours since last overhaul inspection of aircraft as well as technical records of maintenance or alteration thereof  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ２　前項の検査は、その使用済燃料貯蔵施設の性能が経済産業省令で定める技術上の基準に適合しているかどうかについて行う。
    (2) The inspection set forth in the preceding paragraph shall be conducted with regard to whether the performance of the spent fuel interim storage facilities conforms with the technical standards specified in the Ordinance of METI.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ２　前項の検査は、その特定廃棄物埋設施設又は特定廃棄物管理施設の性能が経済産業省令で定める技術上の基準に適合しているかどうかについて行う。
    (2) The inspection set forth in the preceding paragraph shall be conducted with regard to whether the performance of the specified waste disposal facilities or specified waste storage facilities conforms with the technical standard specified in the Ordinance of METI.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 三　保障措置協定又は追加議定書に基づく保障措置の適切な実施のため必要な技術的検査に関する調査研究その他の業務であつて政令で定めるもの
    (iii) research and study related to technical inspections necessary for proper implementation of safeguards pursuant to a safeguards agreement or additional protocol, and other work specified by Cabinet Order.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ３　経済産業大臣は、必要があると認めるときは、独立行政法人製品評価技術基盤機構（以下「機構」という。）に、第一項の規定による立入検査を行わせることができる
    (3) When the Minister of Economy, Trade and Industry finds it necessary, he/she may have the National Institute of Technology and Evaluation (hereinafter referred to as "NITE") conduct on-site inspections pursuant to the provisions of paragraph 1.  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • ５　経済産業大臣は、必要があると認めるときは、独立行政法人製品評価技術基盤機構（以下「機構」という。）に、第一項から第三項までの規定による立入検査、質問又は収去を行わせることができる。
    (5) Where the Minister of Economy, Trade and Industry finds it necessary, he/she may have the National Institute of Technology and Evaluation (hereinafter referred to as "NITE") conduct the on-site inspection, questioning, or taking of samples under the provisions of paragraphs (1) to (3).  - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 半導体集積回路装置の製造技術によって形成された探針を有するプローバ（薄膜プローブ）を用いたプローブ検査時において、プローバの破損を防ぐ。
    To prevent breakage of a prober in probe inspection using a prober (thin film probe) having a probe formed by a manufacturing technology of a semiconductor integrated circuit device. - 特許庁
  • 他のコンピュータに対して不正な処理を行うマルウェア等のソフトウェアと、検査するソフトウェアとの相関関係を高速、的確に自動算出する技術を提供すること。
    To provide technology for properly automatically calculating correlation between software such as malware performing fraudulent processing to the other computer and software to be inspected at high speed. - 特許庁
  • 半導体集積回路装置の製造技術によって形成された探針を有するプローバを用いたプローブ検査時において、探針とテストパッドとを確実に接触させる。
    To touch a probe and a test pad certainly in probe inspection employing a prober having a probe formed by a manufacturing technology for a semiconductor integrated circuit device. - 特許庁
  • フェースダウン実装を採用する半導体装置において、半導体チップの電極パッドと配線基板の電極パッドとの導通状態を検査することが可能な技術を提供する。
    To provide technology for inspecting a conduction state between the electrode pads of a semiconductor chip and the electrode pads of a wiring board in a semiconductor device adopting phase down mounting. - 特許庁
  • ピボット式ロッカーアームを備えたエンジン動弁構造におけるピボット異音の存在をエンジン音から評価することができるピボット異音検査技術を提供する。
    To provide a pivot allophone inspection technique, with which the presence of a pivot allophone in an engine valve gear structure, having a pivot-type rocker arm, can be evaluated from an engine sound. - 特許庁
  • ユーザに対して観察される範囲を表示するビデオ内視鏡検査システムであって、観察される範囲を表す画像データをＵＷＢ信号技術によって無線送信するシステムを提供すること。
    To provide a video endoscopy detecting system for displaying an range to be viewed to a user, the system providing for wireless transmission via UWB signal technology of image data representative of the range to be viewed. - 特許庁
  • 本発明は、感受性及び特異性に優れ、かつ、遺伝子組換え技術を利用することによりコスト的にも有利であるような、多包虫症に関する検査方法、診断方法等を提供することを目的とする。
    To provide a test method, diagnostic method, or the like, for echinococcosis, having high sensitivity and specificity and also advantageous in terms of cost through utilizing the gene recombination technology. - 特許庁
  • 内視鏡検査や治療に必要な操作技術を実際の臨床状態に極めて近い感触により高いレベルで習得することができる内視鏡操作トレーニング装置を提供すること。
    To provide an endoscope operation training apparatus with which an operation technique required for inspection and treatment by the endoscope can be obtained on feeling close to a practical clinical condition at high level. - 特許庁
  • 露光処理ステップへの半導体ウエハとレチクルとの搬送において、レチクルの再検査が発生した場合でも、半導体ウエハを待機させることがないようにレチクル搬送の適切なタイミング技術を提供する。
    To provide a proper timing technique for carrying a reticle so as to prevent a semiconductor wafer from being put on standby even if the re-inspection of the reticle is performed in the carrying of the semiconductor wafer and the reticle to an exposure treatment step. - 特許庁
  • 電磁弁と圧力センサとが組み込まれたアクチュエータにおける電磁弁の機能をその電磁弁がそのアクチュエータに組み込まれている状態で検査する技術を改善する。
    To improve an inspection technology inspecting the function of a solenoid valve in the state where the solenoid valve is built in the actuator where the solenoid valve and a pressure sensor are built in. - 特許庁
  • 紫外および遠紫外電磁波スペクトラム内、またはその近傍で動作する光学検査システムを透過される光のパーセンテージを増加させる技術を提供する。
    To provide techniques for increasing a percentage of light transmitted through an optical inspection system that operates in and near ultraviolet and far-ultraviolet electromagnetic wave spectra. - 特許庁
  • 検査対象とする配線区間に含まれる不良箇所から取得される吸収電流の変化がその他の配線区間に対して強調される技術を提供する。
    To provide a technology which emphasizes the change in an absorption current obtained from failure spots included in a wiring section to be inspected in relation to the other wiring sections. - 特許庁
  • 検査官及び他の調査者が技術的な開示の主題を迅速に確認することを可能にする要約を必要とするルールに準拠するためにこの要約が提供されることが強調される。
    It is emphasized that this abstract is being provided to comply with rules requiring an abstract that will allow examiners and other searchers to quickly ascertain a subject matter of technical disclosure. - 特許庁
  • 微小で狭ピッチの端子を有していても、比較的低コストのプローブテスト技術を用いることのできる半導体装置及び回路検査方法を提供する。
    To provide a semiconductor device and a circuit inspection method capable of employing a relatively low-cost probe test technique even when it has fine narrow pitch terminals. - 特許庁
  • 外観検査の自動化が容易であり、しかも清澄性及び半導体素子の封入性に優れた無鉛半導体封入用ガラスを創案することを技術的課題とする。
    To provide a lead-free glass for a semiconductor, whose automatization of the appearance checkup is easy, and which is excellent in clearness and sealability of semiconductor devices. - 特許庁
  • 画像化の際に誤差が空間的に分散しやすい要素と、誤差があってもそれが局所にとどまる要素とが被検査対象領域内に混在する場合にも、位置合わせ精度を高くできる技術を提供する。
    To provide a technique that enables highly accurate positioning even when elements that make errors subject to spatial dispersion during imaging and elements that make errors stay at local positions coexist in a target area to be inspected. - 特許庁
  • パルスレーザー光により超音波を発生させ電磁超音波センサーで超音波を受信する装置を、複雑な機構を設けることなく、被検査体の振動やサイズ変動に対しても適用できるようにする技術を提供する。
    To provide a technique for making an apparatus wherein ultrasonic waves are generated by pulse laser beam and received by an electromagnetic ultrasonic sensor, adaptable to a vibration or fluctuations in size of an object to be inspected without providing a complicated mechanism. - 特許庁
  • 画像記録媒体に形成された画像の欠陥画素を高精度に検出すると共に、的確に欠陥画素を把握することができる画像欠陥検査技術を提供する。
    To provide an image defect detecting technique which enables the accurate detection of defect pixels of an image formed on a recording medium, and grasp of the defect pixels with precision. - 特許庁
  • 被検査体上において把握されるコイルの運行情報に基づいてコイルの検知信号の感度補正を実行し、探傷精度に優れる渦電流探傷技術を提供する。
    To provide eddy current detection technique with excellent accuracy in detection by performing sensitivity correction in the detection signal of a coil, based on coil traveling information acquired on a subject. - 特許庁
  • 白色光・レーザ光・あるいは電子線を照射して形成された画像を用いて微細な回路パターンを検査する技術において、パターンからの信号と欠陥からの信号を効率的に分離する。
    To efficiently separate a signal from a pattern from a signal from a defect, in a technique for inspecting a micro circuit pattern using an image formed by irradiation with a white light, a laser beam or an electron beam. - 特許庁
  • 本発明は、主要組織適合遺伝子複合体のキメリズムを決定する工程を包含する、幹細胞移植における移植後診断のための検査データを生成する方法、システム、および関連技術に関する。
    A method, system and related technology for preparing test data for stem cell post-transplantation diagnosis are provided, each comprising the step of determining the chimerism of a main tissue-compatible gene conjugate. - 特許庁
  • 本来工具が持つべき特性を損なうことなくかつ安価に製作でき、しかも簡単な画像処理技術を用いるだけで正確に砥面状態を検査することを可能にする。
    To manufacture a grinding tool at low cost without impairing the characteristic that the tool essentially has, and to precisely inspect a grinding surface state only by using simply picture image processing technology. - 特許庁
  • 半導体のパターンの線幅、ピッチが光学系の波長以下になった場合であっても、正しいフォーカス検出を行い、高精度の計測及び検査技術を行うこと。
    To accurately detect a focus, to highly accurately measure and inspect even when the line width of a pattern on a semiconductor and the pitch of the pattern become equal to or below the wavelength of an optical system. - 特許庁
  • 磁気微粒子とＳＱＵＩＤ磁気センサを用いて、抗原抗体反応を磁気的方法により高感度に効率的に検出可能な免疫検査技術を提供する。
    To provide an immunological examination technique capable of efficiently examinating antigen-antibody reaction magnetically with high sensitivity using magnetic fine particles and a SQUID magnetic sensor. - 特許庁
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