「検査技術」を含む例文一覧(482)
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To provide a novel and incomparable inspection device using an imaging technology in combination with a conveyer, while actually inhibiting the undesirable motion to the article to be inspected, while moving along the conveyer. - 特許庁 - したがって、従来技術と比較して、信頼性を確保しつつ、より簡単に、アウタレースの焼割れの有無を検査することが可能になり、検査を簡素化することができる。
Consequently, the existence of the hardening crack of an outer race can be inspected more simply, while securing the reliability, in comparison with a conventional technology, and the inspection can be simplified. - 特許庁 - 複数の検査工程を有する半導体装置の製造工程において、複数枚のウエハの内、特定のウエハに生じやすい不良および不規則に生じる不良を、簡便かつ早期に検出する検査技術を提供する。
To provide an inspection technique for easily and early detecting failures generated in a specified wafer among a plurality sheets of wafer and failures generated irregularly, in a step of manufacturing a semiconductor device, including a plurality of inspection steps. - 特許庁 - 画像処理技術を用いて円柱又は円筒形状の物品の外観検査を行う外観検査装置において、使用条件を広げ、その設置を容易とするとともに低コスト化を図る。
To extend the using condition in an appearance inspection device for inspecting the appearance of a cylinder or cylindrical article by use of image processing technique to facilitate the setting and also reduce the cost. - 特許庁 - 半導体ウェハ表面に存在するソーマークなどの線状の凹凸について、短時間かつ容易に検査が可能であり、検査に対する振動の影響を低減できる技術を提供する。
To provide a technology inspecting shortly and easily for linear unevenness such as a saw mark on the surface of a semiconductor wafer and of reducing influence of a vibration to an inspection. - 特許庁 - ワイヤボンド接続の信頼性を低下させることなくダイをプローブ検査でき、小さいボンドパッドおよびボンドパッド間の微細なピッチ間隔でダイについての確実なプローブ検査が行える技術の提供。
To provide a technology for conducting probe testing of a die without degrading reliability of wire bond connection, and for conducting secure probe testing of the die with small bond pads and at fine pitches between the bond pads. - 特許庁 - 半導体プロセスの立ち上げ時期のように、検査すべき項目が多種多様であり、かつそれらが時間と共に頻繁に変化する場合であっても、簡易な操作で対応可能なウェハ検査技術を提供する。
To provide a wafer inspection technology that can respond by a simple operation even when various inspection items are required and they are frequently changed with time as in the starting period of semiconductor processes, for example. - 特許庁 - 被検者の脳組織を、生体内で、健康な組織に損傷を与えないで頭蓋を横断して検査するための光学的システムを使用する光学的検査技術を提供すること。
To provide an optical examination technique employing an optical system for in vivo non-invasive transcranial examination of brain tissue of a subject. - 特許庁 - 被検者の胸部組織を、生体内で、健康な組織に損傷を与えないで検査するための光学的システムを使用する光学的検査技術を提供すること。
To provide an optical examination technique employing an optical system for in vivo non-invasive examination of breast tissue of a subject. - 特許庁 - 半導体製造工程途中のウエハを検査する技術として、回路パターンに電圧および温度等の電気的負荷をかけて信頼性評価を行う半導体検査方法を提供する。
To provide a semiconductor inspection method that applies an electric load, such as a voltage and a temperature, to a circuit pattern to carry out evaluation of reliability, as a technique for inspecting a wafer in a semiconductor manufacturing process. - 特許庁 - プローブ装置において被検査基板上の被検査チップの電極パッドとプローブとを、高さ方向について高精度に位置合わせが行われた状態で接触させることができる技術を提供すること。
To provide a technology for touching the electrode pad of a chip to be inspected on a substrate to be inspected and a probe in a probe unit while aligning them in the height direction with high precision. - 特許庁 - 本発明の目的は、高いロバスト性、つまり、回路素子等の個体差、検査条件等の不確定要因に対する安定性を有する塗布剤の塗布状態の検査の技術を提供することにある。
To provide a technique for inspecting the coating state of a coating agent that has high robustness, i.e. stability against uncertain factors such as individual differences of a circuit element etc., inspection conditions etc. - 特許庁 - 画像内に被検査物の端部領域が含まれている場合において、たとえ機械的に画像を複数の領域に分割して検査を行ったとしても、誤認識を招くことがない技術を提供する。
To provide a technology that does not cause incorrect recognition even when an image is mechanically divided into a plurality of regions and inspected, when an end region of an inspecting object is included in the image. - 特許庁 - 基材上のメッキ膜中の検査対象元素の有無の判定や定量を可能にする標準メッキ膜試料およびこの試料を用いた新規なメッキ膜の検査技術を提供する。
To provide a standard plating film sample which enables determination of or quantify the presence of the element to be inspected in the plating film on a base material, and to provide a novel inspection technique of the plating film that uses the standard plating film sample. - 特許庁 - 渦電流を利用して被検体表面の探傷検査を行うための技術であって、特に、検査面に凹部又は凸部が存在する被検体（例えば、スプラインが形成された軸材など。）の探傷に適するものを提案する。
To provide a technique for inspecting an eddy current flaw of the surface of an object to be inspected using eddy currents, and particularly a technique suitable for flaw inspection of the object (e.g., an axial material where spline is formed) with an unevenness portion present on the inspection surface. - 特許庁 - 半導体製造工程途中のウエハを検査する技術として、電子線照射によってデバイスにダメージを与えることなく、欠陥検出または寸法測定する検査装置および方法を提供する。
To provide an inspection device for detecting the flaw of a semiconductor and measuring the dimension of the flaw of the semiconductor as a technique for inspecting a wafer on the way of a semiconductor manufacturing process without applying damage to the inspection device by irradiation with an electron beam, and also to provide an inspection method of the semiconductor. - 特許庁 - 基板検査装置に用いられるパラメータ、特にガルウィング型リードをもつ部品の基板検査に好適なパラメータ、を自動生成可能な技術を提供する。
To provide a technique capable of automatically forming a parameter used in a substrate inspection device, especially, a parameter suitable for inspecting the substrate of a component having a gull-wing lead. - 特許庁 - 各種化学種の結合反応及び触媒反応等について、低い濃度で多数の対象となるサンプルを検査するための、直接的で、単純で、一般的な検査技術またはシステムの提供。
To provide an inspection technique or an inspection system which is simple and used commonly, and directly inspects a plurality of samples of interest at low concentrations in a binding reaction, a catalytic reaction or the like of various species. - 特許庁 - 検査品の画像のマハラノビス距離に基づいてその検査品の良否判定を行う技術において、良否判定をするための処理時間を短縮し、なおかつ画像の写り具合に関わらず精度良くその判定を行うこと。
To reduce processing time for quality determination and accurately perform the quality determination regardless of how an image is captured, in a technique for performing the quality determination of an inspection product based on a Mahalanobis distance of the image of the inspection product. - 特許庁 - 粒界応力腐食割れを有する模擬試験体を容易且つ安価に得ることができる非破壊検査用模擬試験体及びこの技術を応用した非破壊検査方法の提供。
To provide a sham test piece for non-destructive inspection capable of easily and inexpensively obtaining a sham test piece having a grain boundary stress corrosion crack and a non-destructive inspection method applied to this technique. - 特許庁 - 形状に起因するコントラストと電位状態に起因するコントラストとを区別して観察あるいは検査することが可能となる欠陥検査技術を提供する。
To provide a defect inspecting technology capable of observing or inspecting a sample by distinguishing a contrast resulting from a shape from another contrast resulting from a potential condition. - 特許庁 - 熟練した検査者の技術を必要とせず、また、スポット溶接部位の温度が下がるのを待つ必要が無く、溶接工程の中で溶接の良否を自動的に検査する自動溶接システムを実現する。
To provide an automatic welding system capable of inspecting automatically welding quality in a welding process which does not require techniques of a skilled inspector, or without waiting for the lowering of the temperature of a spot-welding site. - 特許庁 - 特別に熟練した技術がなくても、ワニスの含浸状態の良否を精度よく判定することができるワニス含浸検査装置及びワニス含浸検査方法を提供すること。
To provide a varnish impregnation inspection device and a varnish impregnation inspection method for accurately determining whether the impregnated state of varnish is satisfactory or not even without special technical proficiency. - 特許庁 - ＩＣデバイスを検査用ソケットへ所定の押圧力で押圧する際のＩＣデバイスの検査用ソケットへのコンタクト時のオーバーシュートを確実に防止することが可能な技術を提供する。
To provide a technique capable of preventing surely overshooting when an IC device contacts with a socket for inspection, when pressing the IC device to the socket for inspection with prescribed pressing force. - 特許庁 - ＭＴ法を利用して検査品の良否判定を行う技術において、良否判定をするための処理時間を短縮し、なおかつ検査品に偏りがある場合であっても、良否判定を精度良く行うこと。
To reduce processing time for quality determination and accurately perform the quality determination even when deviation exists in an inspected product, in a technique for performing the quality determination of an inspection product by using a MT method. - 特許庁 - 医療検査データの検索や閲覧において、目的の医療検査データを迅速かつ効率良く見出すことが可能な医療情報表示技術を提供する。
To provide a medical information display technology for quickly and efficiently finding out target medical examination data in retrieving and browsing medical examination data. - 特許庁 - 欠陥の検査を短時間で精度良く行い、回路形成の歩留まりを向上させることのできる金属箔張り積層板の外観検査技術を提供する。
To provide a technique for visually inspecting metal foil plated laminated plates and capable of accurately inspecting defects in a short time and improving the yield of circuit formation. - 特許庁 - 所定の繰り返しピッチで連続して生産される部品の画像検査において，その画像検査の実施状態を知ることが可能となる技術を提供する。
To provide a technique capable of knowing an execution state of an image inspection in the image inspection of components produced continuously in a predetermined repeating pitch. - 特許庁 - ボイラ伝熱管のように曲がり部が存在する長尺管であっても、その曲がり部より先に発生する減肉や割れなどキズの検査が高精度で実現できる検査技術を確立すること。
To establish an inspection technique capable of achieving accurate inspection, even in a lengthy pipe including a curved part as a boiler heat transfer tube, for flaws such as reduced thickness or cracks developed at a forward part from the curved part. - 特許庁 - 熟練した技術者や高価な検査機器が不要となり、また、地盤を掘削する必要がないなど、労力もかからず、低廉な費用で、容易に基礎杭の損傷を検査することができる簡易な方法を提供する。
To provide a simple method capable of dispensing with a skilled technical expert and an expensive inspection device, eliminating a necessity of digging the ground to reduce labor, and inspecting the damage of a foundation pile easily at low cost. - 特許庁 - 燃料電池セルの特性を破壊検査を用いて適正に評価する一方で、燃料電池セルの理論上の歩留まりを１００％にできるような検査技術を提供する。
To provide inspection technique capable of increasing the theoretical yield of a fuel cell to 100% while the characteristics of the fuel cell are appropriately evaluated by destructive inspection. - 特許庁 - 本発明の目的は、通常は検査初期に設定された基板共通の画像パラメータを用いて画像データを生成して検査し、特定の印刷はんだ箇所についてだけ個別の画像パラメータを使用して画像データを生成して検査できる技術の提供を目的とする。
To provide a technique for forming image data using an image parameter common to a board, usually set at the inital stage of inspection to inspect the same and using an individual image parameter only with respect to a specific printing solder place to form image data for its inspection. - 特許庁 - ＢＩＳＴ技術を用いた検査の際に、比較器を大幅に簡単化して半導体集積回路の面積の増加を最小限に抑え、かつ、検査対象回路の変更に伴う半導体集積回路外部の検査設備における変更作業を不要とすることを目的とする。
To suppress the increase of the area of the semiconductor integrated circuit at a minimum by largely simplifying a comparator when using BIST technology at inspection, and to eliminate change operation in an inspection facility outside the semiconductor integrated circuit, with the changes in an objective circuit to be inspected. - 特許庁 - 多数の狭帯域バンドで音響検査を行う場合にも、製造ライン中で全数の検査が可能で、かつ遠隔地の技術者が迅速に音響検査装置の設定内容の変更や監視を行える転がり軸受製造設備を提供する。
To enable the inspection of all products on a manufacturing line even when acoustic inspection is done on many narrow bands and make it possible for an engineer at a remote place to change and monitor the contents of settings of an acoustic inspection device quickly. - 特許庁 - 本発明はワンシート検査装置及びその検査方法に関し、ワンシート検査時不良パネルを検出した後、不良パネルを除いた正常パネル群の電流を測定することによって不良パネルによる電流特性変化を防止できる技術を開示する。
To provide an apparatus and method for inspecting one sheet, which discloses a technique capable of preventing a change in current characteristics due to a failed panel by detecting the failed panel during one-sheet inspection, then measuring a current of a group of normal panels except the failed panel. - 特許庁 - 技術設備を遠隔操作式および／または自律式に検査するロボット用プラットフォームであって、少なくとも、駆動手段と、検査手段と、位置データを求めるための手段と、通信手段とを備えているものを改良して、公知の検査ユニットの欠点を解消して、様々な検査目的および検査場面に対する適合性を大幅に改善し、著しく簡素化されたトラブルのないデータ通信が得られるものを提供する。
To improve a robot platform for remotely controlled and/or autonomous inspection of technical facilities comprising at least drive means, inspection means, means for acquiring position data, and communication means, solve drawbacks of a well-known inspection unit, substantially improve compatibility to various inspection purposes and scenes, and provide extremely simplified and trouble-free data communication. - 特許庁 - 車両ボディ表面などの凹曲面又は凸曲面等の複雑な曲面を被検査面とする面形状検査において、受光手段が捉えた被検査面の任意の位置において像対象物の鏡像が映るようにして、一度の検査で被検査面の曲面形状を残らず検出することのできる技術を提案する。
To provide a technology capable of detecting all curved shapes of an inspected surface by one inspection by reflecting a mirror image of an image object at an arbitrary position on the inspected surface caught by a light receiving means, in the surface shape inspection using a complicated curved surfaces such as a concave curved surface or convex curved surface such as a vehicle body surface as the inspected surface. - 特許庁 - 半導体装置製造過程での未完成な半導体ウェハ上の任意の部分における欠陥検査のための、荷電粒子ビームを使用した検査方法および装置に関し、従来よりも均一性に優れた帯電制御技術を実現し、検査精度、測長精度に優れた荷電粒子線応用検査装置、検査方法を提供する。
To provide a charged particle beam application inspection device and an inspection method capable of realizing a charge control technology having more excellent uniformity than hitherto, and having excellent inspection accuracy and length measurement accuracy, concerning the inspection method and the device using the charged particle beam for defect inspection at an optional part on an unfinished semiconductor wafer in a semiconductor device manufacturing process. - 特許庁 - 半導体集積回路装置の製造技術によって形成された探針を有するプローバを用い、複数のチップに対して一括してプローブ検査を実施する際に、探針とテストパッドとを確実に接触させる技術を提供する。
To provide a technique for surely bringing a probe into contact with a test pad in performing probe inspection for a plurality of chips at a time through the use of a prober having the probe formed by manufacturing technology for a semiconductor integrated circuit device. - 特許庁 - 半導体集積回路装置の製造技術を用いて形成された薄膜プローブを用いて行うプローブ検査において、探針とその探針が対応するテストパッドとを所望の接触圧力で接触させることのできる技術を提供する。
To provide technology for bringing a probe into contact with a test pad corresponding to the probe by a desired contact pressure in probe inspection using a thin film probe formed by using manufacture technique of a semiconductor integrated circuit device. - 特許庁 - 半導体装置の製造技術を用いて形成された薄膜プローブを用いて行うプローブ検査において、接触端子とその接触端子が対応するテストパッドとを所望の接触圧力で接触させることのできる技術を提供する。
To provide a technique capable of bringing a contact terminal into contact with a test pad that the contact terminal corresponds to by a desired contact pressure in a probe inspection executed using a thin film probe formed using the manufacture technique of a semiconductor device. - 特許庁 - 条件分岐箇所へ到達確認用のコードを埋め込む等の既存技術を用いてモデル検査技術で検証した範囲を網羅度として測定し、検証結果とともにその測定結果を示すことにより、作業者に仮定の誤りの可能性を示す。
A program verification apparatus measures as a degree of exhaustiveness a range verified by model examination techniques using such an existing technique as embedding arrival confirmation codes in portions of conditional branching, and indicates the measuring result together with the verification result, thereby indicating the possibility of an assumption error to an operator. - 特許庁 - 今次報告期間中には、検査制度の見直しに伴って高経年化技術評価結果に基づく長期保守管理方針を保安規定の記載事項とし、原子炉施設の保全活動に高経年化技術評価を反映する仕組みを導入している。
During this reporting period, NISA decided that the long-term maintenance management policy based on the results of aging technical evaluation shall be included in the operational safety program in response to the revision of inspection system, and NISA introduced a mechanism to reflect aging technical evaluation in the maintenance activities of nuclear installations. - 経済産業省 - 輝度の高いパルスＸ線を必要とするラジオグラフィー、医療診断、Ｘ線傾向分析、材料表面改質技術及び高速現象をとらえる必要のある非破壊検査、透過画像計測等のＸ線応用の産業技術、医療診断技術分野等で利用できる、パルスＸ線発生装置
To provide a short pulse hard x-ray generating apparatus that can be used in fields of radiography, medical diagnosis, x-ray fluorescence analysis, and material surface reforming technology requiring high brightness of pulse x-ray, and application industry and medical diagnosis technology field such as non-destruction inspection, permeation image measurement requiring high speed phenomenon. - 特許庁 - レーザーによる応力改善技術と、レーザー超音波法によるき裂検査技術との保全施工技術は、従来独立した装置として実現されているため、対象となる材料部分に設けられる装置が大型になり、材料が狭あい空間、または狭あいな経路を経由しなければ到達できない空間に位置している場合、保全施工作業が非常に時間がかかり面倒である。
To provide a laser beam irradiation device capable of easily realizing the material modification, the material inspection, measurement or the maintenance work in a short time even when the material is located in a narrow space, or a space which cannot be reached unless reaching via a narrow passage. - 特許庁 - 我が国においては、輸入食品の安全を確保するため、検疫所における輸入食品の監視・検査体制を強化することに加え、アジア地域を始めとした食品輸出国の食品衛生技術の向上を図るために、国際協力機構（JICA）の枠組みの下で、我が国検疫所の技術者の派遣や、輸出国職員の研修の受入れ等の技術協力を実施している。
In order to secure the safety of imported food, Japan is enhancing monitoring and checking systems for imported food at the quarantine station, as well as providing technical cooperation for food exporting countries in Asia and other regions under the framework of the Japan International Cooperation Association (JICA), by sending engineers from Japanese quarantine station and conducting training for exporting countries' officers, with a view to improving their food hygiene technology. - 経済産業省 - 本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化及び残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。
The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects. - 厚生労働省 - 多孔質構造体の細孔特性（気孔率、平均細孔径、全細孔容積）の検査を、特殊な装置や技術を要することなく、成形乾燥し所定の寸法加工した成形体の重量の検査で簡便に行うことができるとともに、全数検査も容易に行うことができる多孔質構造体の検査方法を提供する。
To provide a method of inspecting a porous structure allowing easy inspection of pore characteristics (porosity, average pore diameter, total pore volume) of the porous structure by inspecting a weight of a molding molded, dried and worked into a prescribed dimension, without requiring any special device and technique, and allowing easy performing of a total inspection. - 特許庁 - 作業架台２上で作業者Ｂによって所望の組立てを行った後、組立導通検査治具３により検査を行うので、ワイヤーハーネスＡの組立及び検査を一括的にでき、そのため従来技術のように移動して検査するという手間を省け、それだけ生産性及び作業性を向上できる。
Since inspection is performed by an assembling electric continuity inspection tool 3 after performing desired assembling on a work stand 2 by an operator B, a wire harness A can be integrally assembled and inspected to thereby eliminate labor for making the inspection by moving like a conventional technology so that productivity and workability can be improved by that extent. - 特許庁 - 飲食品、特に酸性または中性飲料中で増殖性のある細菌を安価かつ短時間で検出できる方法、測定を簡便化した検査用キットおよびグアイアコール産生菌の飲食品中での増殖性の迅速判定方法に関する飲食品有害菌の検査技術を提供する。
To detect bacteria, especially those proliferating in acidic or neutral beverages, in a short time at a low cost. - 特許庁
