「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 266 267 268 269 270 271 272 273 274 .... 366 367 次へ＞- To provide a detection device or the like such as a hybrid imaging apparatus connected by bonding bumps, which is superior in economic efficiency by eliminating a pixel defect and hardly causes damage on the body of a photodetector array or the like.
接合バンプで接続されたハイブリッド型撮像装置などの検出装置等において、画素不良をなくし、経済性に優れ、かつ受光素子アレイ等の本体にダメージが生じにくい、検出装置等を提供する。 - 特許庁 - The array substrate 10 is divided into two inspection blocks 10A, 10B, and total two scanning signal lines 2 are selected, respectively, from each inspection block, and inspected simultaneously, and thereby a pixel address of a defect candidate is specified.
アレイ基板１０を２個の検査ブロック１０Ａ，１０Ｂに分割し、各検査ブロックから１本ずつ合計２本の走査信号線２を選択して同時に検査し、これにより不良候補の画素アドレスを特定する。 - 特許庁 - To provide a fulcrum bearing device of a pulley arm which can surely prevent the intrusion of a foreign matter into a fulcrum bearing, and can prevent the damage and the defect of a tight-sealing elastic seal at assembling.
支点軸受内への異物の侵入を確実に防止することができ、組立て時の密封用弾性シールの損傷や欠品を防止することができるようにしたプーリアームの支点軸受装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide a thrust increasing method of a vertical drive shaft by eliminating such defect as a drive torque and a working thrust cannot be increased since the vertical drive shaft is driven with a high lead ball screw and a linear motor.
縦方向駆動軸がハイリードボールネジ、リニアモータにより駆動されるので駆動トルクや加工推力を大きくすることは出来ないという欠点を取り除き、縦駆動軸の推力増加方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a structure and a method for reinforcing an existing junction structure having a rib plate, the structure and method capable of preventing occurrence of a structural defect, increasing resilience and fatigue strength, and improving workability.
リブプレートを有する既設接合構造体を補強するにあたって、構造欠陥の発生を防止しつつ、その耐力、疲労強度の向上を図ることができるうえ、作業性にも優れた構造、方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a substrate circuit pattern defect inspecting device and an inspection method capable of decreasing frequency of erroneous measurement due to contact pressure and shortening the measurement time, by installing a capacitor sensor to a connecting circuit pattern in a noncontact manner.
連結回路パターンにキャパシタセンサーが非接触式で設置されて、接触圧力による誤測定の頻度を減らし、測定時間を節減する基板の回路パターン欠陥検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁 - The magnetic tape device is disposed along the width direction of a magnetic tape of the driven LTO and detects medium defect caused at either beginning end or termination end in the width direction of the magnetic tape.
そして、磁気テープ装置は、駆動されるＬＴＯの磁気テープの幅方向に沿って配置され、磁気テープの幅方向における始端もしくは終端の少なくともいずれか一方に生じた媒体異常を検出する。 - 特許庁 - To provide a photoconductive element capable of controlling a screen defect, its manufacturing method, an imaging device and its manufacturing method, and a manufacturing method of a substrate with a conductive film.
本発明は、画面欠陥を抑制することができる光導電素子及びその製造方法、撮像デバイス及びその製造方法、並びに導電膜付き基板の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an aqueous pigment dispersion excellent in long-term stability by suppressing precipitation of dispersed particles, and suppressing trouble of a white deletion defect arising in the images when an ink composition is prepared.
分散粒子の沈降が抑制されて長期経時での分散安定性に優れており、インク組成物を調製したときには画像中の白抜け故障の発生を抑制できる水系顔料分散物を提供する。 - 特許庁 - Lower defect rates are obtained through the lower power density at a cathode 12 which suppresses arcing, while runoff is minimized by the cathode to planet geometry without the use of a mask.
カソード１２における低電力密度によって低欠陥率が得られ、低電力密度は、アーク放電を抑制し、一方、マスクを使用することなく、遊星幾何形状に対するランオフがカソードによって最小になる。 - 特許庁 - The inspection results corresponding to one substrate corresponds to a combination of inspection results of each substrate displayed on the right-side of the screen to display coordinates of the position of foreign matter/a defect in the substrate as a map.
基板１枚分に相当する検査結果は、画面右側に表示された１枚１枚の基板検査結果の結合に相当し、基板における異物／欠陥の位置における座標をマップとして表示される。 - 特許庁 - To provide a large sized returnable container having well-balanced heat resistance and transparency by eliminating defect of a part made to be thick, a method and apparatus for molding the same and a blow mold having a divided heating zone.
厚肉となる部分の欠点を解消して、耐熱性と透明性とのバランスが取れた大型リターナブル容器、その成形方法及び成形装置並びに加熱ゾーンが分割されたブロー型を提供する。 - 特許庁 - To provide a fixing device having both blowing means and pressure contact/separation switching means, and prevent the melting of a toner and the occurrence of an image defect due to hot air touching on a component located on an upper side of the fixing device.
送風手段と圧接離間切換手段との双方を備え、定着装置の上流側に位置する部材に高温の空気が当たってトナーが溶融し画像不良が発生するようなことを防止する。 - 特許庁 - In another embodiment, the device includes a robot 114 or 130 having a substrate support surface and the sensor configuration which senses the substrate nearby at least the two parallel ends for detecting the defect of the substrate.
他の実施形態において、装置は、基板サポート表面を有するロボット１１４又は１３０と、基板の欠陥を検出するための、少なくとも２つの平行な端部近傍で、基板をセンシングするセンサ構成とを含む。 - 特許庁 - The present invention also provides the method of repairing or regenerating a cartilage defect in a patient comprising the step of administering into the cartilage or into the area surrounding the cartilage the composition comprising a therapeutically effective amount of the morphogenic protein.
本発明はまた、軟骨または軟骨周囲領域に治療有効量の形態形成タンパク質を含む組成物を投与する工程を含む、患者の軟骨を再生または生成する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide means for reliable evaluation using a standard sample that can be used stably for an extended period, relating to a method of optically evaluating a defect of a semiconductor wafer by a copper deposition method.
半導体ウェーハの欠陥を銅デポジション法により光学的に評価する評価方法において、長期間安定して使用可能な標準試料を用いて信頼性の高い評価を行う手段を提供すること。 - 特許庁 - In accordance with the types of the defective pixels, correspondence between the imaging conditions and the defect levels of the defective pixels to be corrected is prepared in advance, whereby appropriate correction in accordance with the type of defective pixel can be performed.
欠陥画素の種類に応じて、撮像条件と補正すべき欠陥画素の欠陥レベルとの対応を予め用意しておくことにより、欠陥画素の種類に応じた適切な補正を行うことができる。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a silicon wafer suppressing a reduction in oxygen concentration in a device active region and greatly reducing the defect density of the device active region without performing again mirror polishing.
再度、鏡面研磨等を行う必要がなく、デバイス活性領域における酸素濃度の低下を抑制し、かつ、デバイス活性領域の欠陥密度を大きく低減することができるシリコンウェーハの製造方法の提供。 - 特許庁 - To provide an optimized method of manufacturing a silicon wafer capable of obtaining a silicon wafer having a low defect density especially in a region near the surface and an oxygen doping concentration of at least 4×10^17/cm^3.
特に表面近傍の領域において低欠陥密度を有する酸素ドーピング濃度が少なくとも４×１０^17／ｃｍ^3であるシリコンウエハを得ることができる、シリコンウエハの最適化された製造方法を提供する。 - 特許庁 - Thereby, the hetero structure of the nano scale of the metal oxide, especially crystalline metal oxide can be formed with high productivity while suppressing damage on the crystalline structure, generation of oxygen defect, and characteristic deterioration caused by interdiffusion.
これにより、金属酸化物、特に、結晶性金属酸化物のナノスケールのヘテロ構造を、結晶構造の損傷と酸素欠陥の生成、及び相互拡散による特性劣化を抑制しつつ、生産性高く形成できる。 - 特許庁 - The ferroelectric substance metal oxide film 132 contains more stoichiometric bonds each between one metallic element out of the multiple metallic elements and oxygen element than bonds each including an oxygen defect between one metallic element and oxygen element.
強誘電体金属酸化膜１３２は、複数の金属元素のうちの一の金属元素と酸素元素との化学量論的結合を、一の金属元素と酸素元素との酸素欠損を含む結合よりも多く含む。 - 特許庁 - To provide an inspection device capable of performing more accurately defect inspection in the periphery of the end of a substrate, by performing irradiation with illumination light from a direction in which an effect of scattered light from a circuit pattern is suppressed.
回路パターンからの散乱光の影響を抑えた方向から照明光の照射を行うことで、基板の端部近傍の欠陥検査をより正確に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a mounting structure for an electronic component that can secure an excellent conductive connection state by eliminating a defect in contact between electrodes during mounting, improve production efficiency, and is reducible in cost.
実装時の電極間の接触不良を解消して良好な導電接続状態を確保するとともに、生産効率の向上及び低コスト化が可能な電子部品の実装構造体を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device and a method thereof for highly accurately distinguishing noise or nuisance defects from real defects by unifying inspection results different from each other in lighting conditions or detection conditions.
照明条件、もしくは検出条件の異なる検査結果を統合することで、ノイズやNuisance欠陥と真の欠陥を高精度に判別することができる欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁 - The moisture such as the plating solution therefore can be prevented from entering the body 2, and the mounting defect and increase in product size of the electronic component 1 can be prevented to improve the reliability of the electronic component 1.
従って、メッキ液等の水分が素体２内に侵入することを防止すると共に電子部品１の実装不良及び製品寸法の増大を防止でき、電子部品１の信頼性を向上させることができる。 - 特許庁 - To provide an epitaxial wafer capable of greatly reducing wafer warpage while reducing a crystal defect, and increasing thickness of a GaN layer formed on a buffer layer, as compared to the case that uses the buffer layer of a conventional structure.
従来構造のバッファ層を用いた場合よりも、結晶欠陥を低減しつつウェハの反りを極めて小さくでき、バッファ層上に形成されたＧａＮ層も厚膜化できるエピタキシャルウェハを提供する。 - 特許庁 - To prevent an organic EL layer of a solid sealing type organic EL display device from deteriorating by preventing water from entering owing to a defect of a passivation film covering a lead wire in a peripheral sealing region.
固体封止方式の有機ＥＬ表示装置において、周辺封止領域における、引き出し線を覆うパッシベーション膜の欠陥に起因する水分の浸入を防止し、有機ＥＬ層の劣化を防止する。 - 特許庁 - To provide a polyester film for an optical element protective film, which can not only decrease a foreign substance in the film or an oligomer but also greatly reduce a dent defect of the film caused by the foreign substance included when rolling a film.
内部異物やオリゴマーを低減させるだけではなく、巻取り時の巻き込み異物によるフィルムの凹み欠点を大幅に低減することができる光学部材保護フィルム用ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method and a manufacturing apparatus of a welded tube, capable of automatically adjusting the deviation of longitudinal direction butting parts of a tubular body due to twisting of a welding tube and preventing generation of a welding defect.
溶接管のねじれによる管状体の縦方向突き合わせ部のずれを自動的に調整可能とし、溶接不良の発生を防ぐことのできる溶接管の製造方法及び製造装置の提供。 - 特許庁 - To provide an inspection method wherein a non-inspection domain does not exist, capable of performing accurately defect inspection of an inspection object on which a repetitive pattern is formed, such as a liquid crystal panel, a plasma display or a semiconductor wafer.
液晶パネル、プラズマディスプレイ、半導体ウェハ等などの繰返しパターンが形成されている検査対象物の欠陥検査を精度良く、しかも、非検査領域が存在しない検査方法を提供すること。 - 特許庁 - This entails that the concentrations of p-type semiconductors in defect restraining layers 116a, 116b are mutually different in the peripehry of the charge storage part 110 and in the periphery of the charge transfer part.
これに伴い、固体撮像装置１では、電荷蓄積部１１０の周囲と電荷転送部の周囲とで、欠陥抑制層１１６ａ、１１６ｂのｐ型半導体の濃度が互いに異なるように形成されている。 - 特許庁 - To provide mold powder for use in continuous casting of steel which produces a surface defect-free slab of sound quality without incurring operational troubles such as breakout even when the slab is a round slab with a small cross-sectional size.
小断面サイズの丸鋳片においても、ブレークアウト等の操業トラブルが発生せず、表面欠陥のない健全な品質の鋳片を得ることができる鋼の連続鋳造に用いるモールドパウダーを提供すること。 - 特許庁 - To provide a plasm treating apparatus that achieves large-area, uniform plasma enabling high-speed film formation having a small amount of defect while feeding a large amount of material gas and can perform more satisfactory plasma treatment.
プラズマ処理装置において、大量の材料ガスを供給しながら、欠陥の少ない高速成膜を可能とする大面積均一プラズマを実現し、より良好なプラズマ処理が可能なプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁 - When a signal-treating circuit substrate 21 containing a defect presence or absence-judging means outputs a malfunction detection signal in a weaving state, an output circuit 39 outputs a loom-stopping signal to a loon control computer Co.
製織状態において、欠点有無判定手段を含む信号処理回路基板２１が異常検出信号を出力すると、出力回路３９は、製織停止信号を織機制御コンピュータＣｏに出力する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a color filter by which an exposure defect pattern due to light interference hardly occurs in a region of a gradation mask where a semitransparent region and a transmissive region adjoin each other.
本発明は、階調マスクの半透明領域および透過領域が隣接している領域で光の干渉による露光不良パターンが生じ難いカラーフィルタの製造方法を提供することを主目的とする。 - 特許庁 - To provide a transparent imaging serving system which can simply and inexpensively obtain a transparent image of substantially three-dimensional position and size of a target such as a defect or the like in a specimen to be detected by utilizing DR.
被検体内部における欠陥等の目標物の概略的な３次元位置と大きさに関する透過画像をＤＲの利用により簡便で安価に得ることのできる透過画像提供システムの提供。 - 特許庁 - To provide cast steel for a building structure hardly causing a welding defect, with clear deforming performance in thickness direction, capable of improving a reduction value and capable of increasing mechanical strength.
本発明は溶接欠陥が発生しにくく、厚み方向の変形性能が明確で、絞り値を向上させることが出来、かつ機械的強度を大きくすることが出来る建築構造用鋳鋼を目的とする。 - 特許庁 - The matting agent particles 200P applied excessively are blown off by the air during seasoning in a paper discharge unit 192, thereby reducing an image defect such as a white spot when the rear surface is printed.
排紙ユニット１９２でシーズニングを行うと過剰に付与されたマット剤粒子２００Ｐはシーズニング中の風によって吹き飛ばされ、裏面を印刷する際に白抜けなどの画像故障が生じる虞は少なくなる。 - 特許庁 - To provide a gravure printing apparatus which prevents defectiveness from occurring by improving the reliability of a product by separating a pressure moving roll from a gravure roll and bringing the pressure moving roll into contact with the gravure roll according to the presence or absence of a defect on a printing sheet.
印刷シート上の欠陥の有無に従って圧動ロールとグラビアロールを分離及び接触させ、製品の信頼性を向上させて不良発生を防ぐことができるグラビア印刷装置を提供する。 - 特許庁 - Then, a specific label, related to the defect scan test pattern is identified by the ATE 114, and (i) the second scanning test pattern is provided to the BIST hardwares 102, 104, (ii) and captures the raw response data, in the diagnostic mode.
次に、ＡＴＥ（１１４）により、欠陥スキャンテストパターンと関連した固有ラベルを識別し、診断テストモードで、ｉ）第２のスキャンテストパターンをＢＩＳＴハードウェア（１０２，１０４）に提供し、ｉｉ）生応答データを捕捉する。 - 特許庁 - For example, although a PDP sustain circuit requires a high element breakdown voltage, because the IGBT can reduce the voltage drop at the time of conduction with little dependence of the element breakdown voltage, the defect of the IGBT can be compensated by combining the sustain circuit with the AC-type PDP.
例えば、素子耐圧が高いことが要求されるPDPのサステイン回路に、素子耐圧にあまり依存せずに導通時の電圧降下を小さくできるIGBTの欠点を、AC型PDPと組み合わせることで補うことができる。 - 特許庁 - To enable detection of damage to a material such as peeling defect to be performed in a nondestructive manner and to realize a repair which is more effective in terms of time and cost than a conventional technology when repairing the detected damage to the material.
材料中の剥離欠陥等の損傷を非破壊で検出でき、検出した材料中の損傷を補修するにあたり、時間及びコスト面で従来よりも効率的な補修を実現する。 - 特許庁 - To provide a developing device for suppressing image defect, such as developing ghosts, and also reducing the device in size, thereby reducing in size an image forming apparatus using the developing device, and to provide the image forming apparatus equipped with the developing device.
現像ゴースト等の画像不良を抑制しつつ、現像装置の小型化、ひいては現像装置を用いる画像形成装置の小型化が可能な現像装置、およびそれを備えた画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - Therefore, even when the integrated circuit module is made thin, there is no influence of the electric connection between the USB metal contact point and the USB metal female connector of the computer, so that there is not problems of ineffective connection and a connection defect.
従って、集積回路モジュールの厚みを薄くしても、USB金属コンタクトポイントとコンピューターのUSBポートメスコネクタとの電気的接続に対して影響を受けないのて、接続無効や接続不良による問題がない。 - 特許庁 - To output a high-quality printed matter without wasting by preventing smeared paper, an image defect and wasting paper or printing materials due to jamming after recovery processing of the printer which is relatively highly likely to cause a print failure.
比較的印刷不良の可能性が高い、印刷装置のリカバリ動作後における、用紙の汚れや画像不良、ジャム等による用紙や印刷剤の無駄を抑制し、高品質な印刷物を無駄なく出力すること。 - 特許庁 - To suppress the release of reaction gas to the working environment, further, to suppress the retainment of reaction gas in a gap flow channel between the cylinder inner wall surface and an electrode, and to prevent failures such as a defect in conducting.
作業環境への反応ガスの放出を抑制できると共に、シリンダ内周面と電極間の隙間流路に反応ガスが滞留することを抑制して通電不良等の不具合を防止できること。 - 特許庁 - To provide an antimony-doped single silicon crystal wafer having a small crystal defect density on the surface of the wafer and having a high gettering ability, and to provide an epitaxial wafer made to grow using the antimony-doped silicon wafer as a substrate wafer.
アンチモンドープシリコンウエーハであって、ウエーハ表面の結晶欠陥密度が少なく、ゲッタリング能力が高いアンチモンドープシリコンウエーハ及び該ウエーハを基板ウエーハに用いて成長されたエピタキシャルウエーハを提供する。 - 特許庁 - To form no development defect after a resist pattern as an upper layer is formed even when the percentage content of silicon (Si) of an intermediate film is made high in a multi-layer resist process, and thereby to improve the yield.
多層レジストプロセスにおいて、中間層膜のシリコン（Ｓｉ）の含有率を高くした場合でも、上層のレジストパターンを形成した後の現像欠陥が発生せず、従って、歩留まりを向上できるようにする。 - 特許庁 - To provide a method for selling cosmetics, by which a customer can purchase cosmetics suited to the skin of the customer while receiving counseling at home by eliminating the defect of a conventional method for selling cosmetics.
従来の化粧品販売方法の欠点を解消し、顧客が自宅にいながらも、カウンセリングを受け、顧客の肌に適合した化粧品を購入することができる化粧品販売方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device, capable of easily restoring the disconnection defect generated in a manufacturing stage to a quality product with high success rate.
製造工程において発生した断線欠陥を従来よりも高い成功率で容易に修復して良品化することができる液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
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