「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • To provide a method for uniformly forming a comparatively-thin plated nickel layer on an uneven pattern on the outer surface of a main body of a die while inhibiting a defect such as a plating spot from being produced thereon; and a production apparatus therefor.
    めっき斑等の欠陥の発生を抑えつつ、金型本体の外周面の凹凸パターン上に比較的薄いニッケルめっき層を均一に形成できるニッケルめっき金型の製造方法および製造装置を提供する。 - 特許庁
  • In this way, when the molten metal is poured from the sprue 12, the decomposed material floated up on the upper layer of the molten metal is discharged to molten metal pool part 20 through the flowing outlet 18 to prevent the generation of the carbon defect caused by the decomposed material in the finish product.
    これにより、湯口12から注湯すると、湯の上層に浮遊する分解物が流出口18を介して湯溜まり20に流出し、分解物による炭素欠陥等を最終製品に発生させない。 - 特許庁
  • To provide a twin-roll type molten metal rolling method containing a molten metal supplying system with which the molten metal flow is uniformized in the width direction of casting before supplying into a casting nozzle, and casting defect to be caused by turbulent flow of the molten metal in the nozzle can be restrained.
    鋳造ノズルに供給される前に溶湯流を鋳造幅方向で均一化し、ノズル内での溶湯の乱流に起因する鋳造欠陥を抑制できる溶湯供給方式を含む双ロール式溶湯圧延方法を提供する。 - 特許庁
  • The defect of the refractive index periodic structure or another refractive index periodic structure is introduced into the photonic crystalline structure by the refractive index control means 103, by which a photonic band gap is changed and the state of incident light can be controlled.
    屈折率制御手段103により、フォトニック結晶構造中に屈折率周期構造の欠陥或いは別の屈折率周期構造が導入され、フォトニックバンドギャップが変化して入射光の状態を制御できる。 - 特許庁
  • To correctly and rapidly specify a suspected part with a fault by detecting a defect which is experienced by a user.
    本発明は、ユーザが体験する不具合を検出でき、障害の被疑箇所の特定を正確かつ迅速に行うことができる故障検出システム及びその故障検出装置及びマネージャ装置及びセンタ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a mirror electron projection type ( including an MPJ type (also including an SEPJ type)) electron beam inspection device which is made possible to optimize a condition and a pattern defect inspection method and system by using the above electron beam inspection device.
    条件出しができるようにした写像投影型(MPJ型(SEPJ)型も含む))電子線検査装置並びにこれら電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステムを提供することにある。 - 特許庁
  • To form a mounted board which has low resistivity and is highly reliable without a defect of short-circuiting between electrodes, even when a resin circuit board of a poor flatness of the board itself naturally is mounted with a semiconductor device with a short distance between electrode terminals.
    元々基板自体の平坦度の悪い樹脂回路基板と電極端子間の距離が短い半導体装置を実装する場合でも、電極間ショート欠陥をなくして低抵抗で信頼性の高い実装体を形成する - 特許庁
  • In one embodiment, this light-emitting element contains a substrate, a nucleating layer arranged on the substrate, a defect-reducing structure arranged above the nucleating layer, and an n-type group III nitride semiconductor layer arranged above the structure.
    一実施形態において、発光素子は、基板、基板上に配置された核形成層、核形成層の上方に配置された欠陥低減構造、及び、欠陥低減構造の上方に配置されたn型III族窒化物半導体層を含む。 - 特許庁
  • To provide a method of accurately detecting a defect in a short time even if a component being an inspecting object is a component having a complicated shape or a component having a plurality of kinds of defects.
    検査対象となる部品が複雑な形状を有する部品であったり複数種類の欠陥を有する部品であったりしても、短時間で精度良く欠陥を検出することができる欠陥検出方法を提供すること。 - 特許庁
  • (II) Cases in which the buyer may request the goods received be exchanged for other goods If there are any defects in the delivered goods which are traded in the market, the buyer may demand the exchange of such goods for defect-free products.
    (2)買主が落札商品を他の商品と交換してもらうことができる場合市場に流通している商品で引き渡した商品に欠陥がある場合等で、買主は欠陥のない商品との交換を主張できる。 - 経済産業省
  • Specifically, if a user demands the Vendor fulfill its obligations within a specified (reasonable) time period, which is reasonable, and if the Vendor fixes the program.s defect or provides a functioning replacement within the specified period, then the user may not terminate the contract.
    したがって、ベンダーに対し、相当の期間を定めて履行を催告し、これに対してベンダーからその期間内にプログラムの修補又は代物の提供がなされた場合は、契約を解除することはできないと解される。 - 経済産業省
  • To provide a gas hardening mold or a self-hardening mold with which sufficient strength is realized before using the mold and excellent collapsibility is displayed after using the mold and also, the development of gas defect in a casting can advantageously be restrained.
    使用前においては充分な強度を実現し、且つ使用後においては優れた崩壊性を発揮すると共に、鋳物におけるガス欠陥の発生を有利に抑制し得るガス硬化鋳型又は自硬性鋳型を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a defect inspecting device for an electronic circuit extensively reducing costs by using an inexpensive component that can be used in various types of ICs many times instead of conventional sockets used per respective IC.
    従来のような個々のIC毎に使用するソケットに代えて、多種類のICに何度でも使用できる安価な部品を使用することで、コストを大幅に低減できるようにした電子回路の欠陥検査装置を提供するものである。 - 特許庁
  • To solve a problem of defect being generated due to the lack of a tapered part pressed by a polishing cloth and to prevent peeling from the tapered part when performing mirror polishing of SOI wafer having a bonding interface on the tapered part of a bevel surface.
    ベベル面のテーパー部に接着界面を有するSOIウェーハの鏡面研磨を行っていく上で、研磨布に押圧されたテーパー部が欠落して不良が発生する問題を克服し、テーパー部からの剥離を防ぐこと。 - 特許庁
  • To provide a wet honing method capable of suppressing the generation of the aggregate of an abrasive material due to the scale in a polishing liquid and sufficiently suppressing the occurrence of depression defects and honing flaws to be the cause for a coating film defect.
    研磨液中の水垢に起因する研磨材凝集物の発生を抑制し、塗膜欠陥の原因となる凹み欠陥、ホーニング傷の発生を十分に抑制することが可能な湿式ホーニング方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an image forming method and an image forming apparatus preventing an image defect such as central blanking or character scattering by improving the transferability of toner in an image forming system using an intermediate transfer body.
    本発明は、中間転写体を用いた画像形成方式のトナーの転写性を改善し、中抜けや文字チリ等の画像欠陥を発生させない画像形成装置、画像形成方法を提供することを課題目的にする。 - 特許庁
  • Hereby, the shape of the specific circuit wiring can be sought, or a defect such as a disconnection, a short-circuit or a chipping of the circuit wiring 101 can be detected based on the generated image data and image data for showing the circuit wiring in design.
    これにより、特定の回路配線の形状を探したり、生成された画像データ及び設計上の回路配線を示す画像データに基づいて、回路配線101の断線、短絡、欠け等の不良を検出したりできる。 - 特許庁
  • The distinction between the loss of consideration which a person may rightly incur by defect of prudence or of personal dignity, and the reprobation which is due to him for an offence against the rights of others, is not a merely nominal distinction.
    ある人が思慮分別や個人的尊厳の欠如によって当然敬意を払われなくなることと、他人の権利を侵害したために当然受けるべき非難との間の区別は、単に名目上の区分というわけではありません。 - John Stuart Mill『自由について』
  • The metal ring inspection apparatus having a defect inspection section for inspecting the surface defects of a metal ring after performing both of or one of perimeter correction and perimeter measurement comprises a determination reference generation means (threshold value selection section 49) for generating generating criteria for inspecting defects at the defect inspection section, on the basis of perimeter correction information or perimeter measurement information or other pieces of information related to the information.
    周長補正と周長測定の両方又はいずれか一方を行った後の金属リングの表面欠陥を検査する欠陥検査部を有する金属リング検査装置において、前記欠陥検査部における欠陥検査のための判定基準を、周長補正情報又は周長測定情報若しくはそれらの情報に密接に関連する他の情報に基づいて発生する判定基準発生手段(しきい値選択部49)を備えたことを特徴とする。 - 特許庁
  • To suppress an operation defect and an image defect due to production of a toner aggregate accompanying toner liquid replenishment by preventing toner aggregation by improving dispersibility and fluidity of supplied toner liquid when the toner liquid is supplied from a toner container to a liquid developer tank, maintaining and improving mixing property with a liquid developer in a developing tank, and maintaining and improving toner liquid replenishing property by preventing a duct from being clogged with the toner aggregate.
    トナー液をトナーコンテナから現像液タンクに補給する際に、補給されるトナー液の分散性・流動性を高めてトナー凝集を防いで、現像液タンクにおける現像液との混合性の維持・向上や、トナー凝集物による管路の目詰まりを防いでトナー液補給性の維持・向上等を図り、トナー液補給に伴うトナー凝集物の生成に起因する動作不良や画像不良の発生を抑えた画像形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The invention includes a defect diagnosis means 5 which diagnoses the defect state of the reforming apparatus by calculating the temperature difference between temperature of the reforming apparatus measured by a temperature sensor 6 for measuring the reforming apparatus and temperature of an outlet of burner burning exhaust gas reforming apparatus detected by a temperature sensor 47 for detecting an outlet temperature of reforming burner burning exhaust gas reforming apparatus, and combining the temperature difference with predetermined reference data.
    本発明は、改質装置温度測定用温度センサ6により検出した改質装置温度と改質装置バーナ燃焼排ガス改質装置出口温度測定用温度センサ47により検出した改質装置バーナ燃焼排ガス改質装置出口温度の温度差を演算し、この温度差を予め決められた照合データと照合することによって改質装置の劣化状態を診断する劣化診断手段5を有することを特徴とするものである。 - 特許庁
  • An optical information recording and reproducing apparatus using holography includes an optical pickup, a phase conjugate optical system, a disc cure optical system, and a defect discrimination optical system; and an optical detector that receives light emitted from the defect discrimination optical system and transmitted through or reflected from an optical information recording medium.
    そのため、光情報記録媒体についたゴミや傷、もしくは光情報記録媒体の内部にある、気泡や不純物等の欠陥の有る位置で記録や再生を行おうとすると、欠陥や光情報記録媒体、光情報記録再生装置による光の拡散、反射により記録再生位置近辺の記録媒体が変質してしまい記録可能量の低下といった影響を与えてしまう、そのため欠陥部分での記録や再生は情報記録媒体の信頼性を低下させる。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of silicon single crystal, in which the optimum manufacturing condition to control the size and the density of grow-in defect caused by void to be a desired value is precisely obtained at the time of growing silicon single crystal using the CZ method.
    CZ法を用いてシリコン単結晶を育成する際に、空孔起因のグローンイン欠陥のサイズならびに密度を所望の値とする最適製造条件を的確に求めることができるシリコン単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a sniffer probe and gas leak testing method using the same whereby, if the scan speed varies or the defect-probe distance is long, the detecting limit (min. detectable value) of He leakage can be improved.
    本発明は、走査速度が変化した場合や欠陥部・プローブ間距離が離れている場合でも、ヘリウムの洩れに対する検出限界(検出可能最小値)を向上させることができるスニッファープローブ、それを用いたガス洩れ試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a conductive endless belt having high durability enduring repeated continuous use and assuring a high-quality image without inducing an image defect such as color dropping, and to provide a method for manufacturing the belt and an image forming apparatus using the belt.
    繰り返し連続使用に耐えうる高い耐久性を備え、色抜け等の画像不良を生ずることなく、高品質画像を確実に得ることができる導電性エンドレスベルト、その製造方法およびそれを用いた画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To facilitate management of a manufacturing process by supplying inspection data capable of inspecting the electrical characteristics of a TFT formed on the same substrate and the formation defect of a contact hole provided on a transparent organic insulating film to an inspection apparatus.
    同一基板上に形成されたTFTの電気的特性及び透明有機絶縁膜に設けられたコンタクトホールの形成不良を検査可能な検査データを検査装置に供給し、製造プロセスの管理を容易にすることを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display wherein the defect of a counter short circuit of a gate electrode part, a source electrode part and a thin film transistor electrode part of a first glass substrate to transparent conductive film layers of a second glass substrate is suppressed and to provide a manufacturing method thereof.
    第1ガラス基板のゲート電極部、ソース電極部、薄膜トランジスタ電極部と、第2ガラス基板の透明導電膜層との対向ショートの欠陥不良を抑制した液晶表示装置、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To certainly produce a defect-free molded product by making the vol. of content being the vol. of the weighing element of a weighing pump filled with a reaction component constant over the total operation time by conditioning a weighing part constituting element.
    計量部構成要素をコンディショニングすることにより、反応成分で充填された計量ポンプの計量要素の容積である内容物容積を全操業時間にわたって一定とし、無欠陥な成形品の製造を確実にする。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display device uniformly applying a voltage to a liquid crystal even while providing a light diffusion layer diffusing a beam, preventing a display defect such as the occurrence of display irregularity and visible from a wide range view angle.
    光を拡散する光拡散層を備えながらも電圧が均一に液晶に印加されて、表示にむらが発生するなどの表示不良を防止できるとともに、広い範囲の視野角より視認が可能な液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a retardation control element with which occurrence of a retardation defect causing light leakage, color shift etc. of a liquid crystal display device is suppressed and method for manufacturing the same, and the liquid crystal display device equipped with the retardation control element.
    液晶表示装置の光漏れや色シフトなどの原因となる位相差欠陥の発生を抑制することのできる位相差制御素子とその製造方法、およびかかる位相差制御素子を備える液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
  • The defect inspection method is thereby obtained which improves the inspection sensitivity to a short in the bottom part between wiring, and which detects even a short of a pattern in the bottom part between a plurality of wiring, which form a miniaturized pattern and are arranged in parallel.
    これにより、配線間の底部のショートに対する検査感度を向上させ、微細化されたパターンであり、平行に並んだ複数の配線間の底部におけるパターンショートであっても検出可能な欠陥検査方法を実現することができる。 - 特許庁
  • To provide a bias tire for a construction vehicle having improved durability, capable of preventing defect by suppressing creases from being generated in the range from a side part to a rim cushion part of the tire when an excessive load in the longitudinal direction is applied on the tire.
    タイヤに縦方向の過大荷重が負荷された場合に、タイヤのサイド部からリムクッション部に至る範囲における折り皺の発生を抑制して、不具合を防ぐことができる耐久性を向上した建設車両用バイアスタイヤを提供する。 - 特許庁
  • To prevent a wetting defect of solder due to high temperature oxidation of an iron tip, to prevent a work and the solder and flux of solder alloy containing a resin from high temperature oxidation and to obtain good weldability by injecting an inert gas from the iron tip of an electric soldering iron.
    電気ハンダのコテ先より不活性ガスを噴射することによって、コテ先チップの高温酸化によるハンダの濡れ不良の防止とワークとヤニ入りハンダ合金のハンダとフラックスの高温酸化を抑制し優れたハンダ付け性を得る。 - 特許庁
  • Relief processing parts 21, 22 performing relief processing of redundant memories 11, 12 are provided with a plurality of defect relieving parts 211 to 21y, 221 to 22x having respectively shift register circuits Ln1 to Lny, L11 to L1x being a relief information storing part.
    冗長メモリ11,12の救済処理を行う救済処理部21,22は、救済情報格納部となるシフトレジスタ回路Ln1〜Lny,L11〜L1xをそれぞれ有する複数の不良救済部211〜21y,221〜22xを備えている。 - 特許庁
  • A component of vapor deposition gas is accumulated at the detected defect place of the recording medium plane by introducing vapor deposition gas to the recording medium plane by a gas introducing means 9 irradiating the recording medium with electron rays, and a mark is formed.
    さらに、電子線を記録媒体に照射しながら、ガス導入手段9により記録媒体面に蒸着ガスを導入することにより、記録媒体面の検出された欠陥場所に蒸着ガスの成分を堆積させ、マークを形成する。 - 特許庁
  • To provide an aqueous dispersion for chemical mechanical polishing which has both a high polishing speed and high flattening characteristics and reduces metal contamination of a wafer without generating a defect on a metal film nor insulating film, and to provide a chemical polishing method using the aqueous dispersion.
    金属膜や絶縁膜に欠陥を引き起こすことなく、高い研磨速度と高平坦化特性を両立し、ウエハの金属汚染の少ない化学機械研磨用水系分散体、およびそれを用いた化学機械研磨方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display device in which defective alignment of liquid crystal molecules in the vicinity of a projecting and recessing part of a base layer of an alignment layer is more certainly prevented and thereby a bright defect is prevented, and of which the display characteristics are extremely excellent.
    配向膜の下地層の凹凸部近傍においての液晶分子の配向不良をより確実に防止することが可能で、これにより光抜けが防止された表示特性が極めて良好な液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
  • To dispense with a large capacity of memory for recording reference data, and to enable a defect part detection over the whole area of a disk including an ID part.
    リファレンスデータの記録に大容量のメモリを必要としない、欠陥検査方法及びその欠陥検査装置、並びに、ID部を含むディスクの全域にわたって欠陥部を発見することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • An electron beam having 100 eV or more and 1,000 eV or less of irradiation energy is scanned/irradiated to the wafer 18 having the pattern with the high step difference under the semiconductor manufacturing process, the defect is inspected quickly based on an image of a secondary electron generated therein.
    半導体製造工程中の高い段差のあるパターンを持つウエハ18に100eV以上1000eV以下の照射エネルギ−の電子線を走査・照射し、発生した2次電子の画像から高速に欠陥検査を行う。 - 特許庁
  • To provide an active matrix type display apparatus capable of preventing the entry of jumping potential from a signal line or a scanning line into a capacitive element through a parasitic capacitor and thereby preventing the occurrence of display defect such as cross talk.
    信号線や走査線からの寄生容量を介しての容量素子への飛び込み電位の進入を防止することができ、これによりクロストーク等の表示不良を防止することが可能なアクティブマトリックス型の表示装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a color filter with the use of an ink jet method, by which flatness of a color filter surface and flatness in a colored layer are improved, and to provide a color filter having excellent flatness without a defect such as color unevenness in a colored part.
    インクジェット法を用いて、カラーフィルタ表面の平坦性と着色層内の平坦性が改善されたカラーフィルタの製造方法と、着色部内で色むらが生じる不具合のない、平坦性が良好なカラーフィルタを提供する。 - 特許庁
  • To avoid appearance of a defect on the surface of a molded article and to simultaneously perform molding based on a mixed resin with switching operation of a resin even when the mixed resin to be generated when the resin is switched is used as a material for a molded article.
    樹脂の切替え時に生じる混在樹脂を成形品の材料として用いた場合でも、成形品の表面に不具合を出現させないと共に、この混在樹脂による成形を樹脂の切替え操作と共に行えるようにする。 - 特許庁
  • To technically easily and at a low cost provide a printing plate with no defect and a deep plate depth of a high printability by correcting a pattern defective part on an intaglio in a glass intaglio used for printing a liquid crystal color filter with a high displaying quality.
    表示品位の高い液晶カラーフィルターの印刷に使用するガラス凹版において、凹版上のパターン欠損部を修正することで、無欠陥のかつ印刷性の高い版深をもつ刷版を、技術的に容易に且つ安価に提供すること。 - 特許庁
  • To prevent occurrence of trouble, such as an insulation defect or disconnection caused by rubbing an inner cable and an outer cable in a printed circuit board having a cabling structured for overlapping a plurality of one-sided flexible substrates.
    片面フレキシブル基板を複数枚重ねる構造のケーブル部を持ったプリント基板における内側のケーブルが外側のケーブルとが、ケーブル同士のこすれによって絶縁不良や断線などの不具合を生じることのないプリント基板を提供すること。 - 特許庁
  • To prevent line scratch defect caused by the bending line of a free fall liquid film and stably form the free fall liquid film and to prevent the unevenness of the film thickness from occurring at both side end part of the coating liquid film in a curtain coating method.
    カーテン塗布方法において、自由落下液膜中の屈曲線が原因となる線傷故障を防止し、自由落下液膜を安定的に形成し、かつ、塗布液膜両側端部に生じる膜厚の不均一を防止できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method of forming an element isolation layer which can contribute to reduction in device defect by easily making the height of the element isolation layer from the front surface of a semiconductor substrate to a prescribed value, and to provide a method of manufacturing a semiconductor device.
    素子分離層の半導体基板表面からの高さを所定値に容易に合わせ込むことを可能とし、デバイス不良の低減に貢献できるようにした素子分離層の形成方法、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an image forming method having an excellent effect in continuously preparing a high-quality toner image which is free from fogging or image irregularity and causes no stripe defect even when printing a large number of sheets on an image support of glossiness of 60 to 100.
    光沢度60〜100の画像支持体に、カブリや画像ムラが無く、多数枚プリントしてもスジ状欠陥が発生せず高品質のトナー画像を継続して作成することができる優れた効果を有する画像形成方法の提供。 - 特許庁
  • The inspection method of the honeycomb structure having a cell defined by a cell wall detects the defect on the basis of sound information incident to and propagated by the honeycomb structure.
    セル壁で画成されたセルを備えたハニカム構造体の欠陥の検査方法であって、前記ハニカム構造体に入射され、該ハニカム構造体を伝播した音響信号の情報に基づいて前記欠陥を検出するハニカム構造体の検査方法。 - 特許庁
  • A semiconductor device with an interface between lattice mismatching crystals is manufactured in an edge grown heteroepitaxy from a crystal having a small area to reduce distortion of the crystal due to a mismatching of the crystal, and a crystal reduced in defect of the dislocation in the crystal is realized.
    格子不整合結晶の界面を含む半導体デバイスが、小さな表面積を有する結晶からのエッジ成長ヘテロエピタキシによって製造されて、結晶不整合によるひずみを低減し、転位欠陥が低減された結晶を実現する。 - 特許庁
  • To precisely acquire measurement data of an internal surface profile of a cylindrical member with no defect even for a complicated structure such as a groove or a rib, and to extend a measurement range in a height direction in profile measurement without deteriorating measurement accuracy.
    筒形状部材の内面形状を、溝やリブなどの複雑な構造であっても、測定データを欠損することなく精度良く取得し、また測定精度を低下させることなく形状測定の高さ方向の測定範囲を広げること。 - 特許庁
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  • 原題:”On Liberty”

    邦題:『自由について』
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    Copyright on Japanese Translation (C) 2004 Ryoichi Nagae 永江良一
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