To provide a defect inspection apparatus for detecting finer defects with high sensitivity by varying illumination conditions for irradiating a sample with light arbitrarily and easily, and further by changing the transmittance of a pupil filter at a detection side and by changing phase conditions. 試料に照明する照明条件を任意かつ容易に可変でき、さらに検出側の瞳フィルタの透過率、位相条件を変えることによって、より微細な欠陥を高感度に検出することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection method and an inspection apparatus for detecting finer defects and high fatal damages to a circuit pattern, with higher sensitivity, in the optical semiconductor defect inspection method, and to provide an inspection apparatus that uses die comparison method. ダイ比較方式を用いた光学式半導体欠陥検査方法及び検査装置に関して、より微細な欠陥や回路パターンに対して致命性の高い検出を、より高い感度で検出する検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁
Since the number of detected pixels is restricted to 32, generation of deterioration of image quality due to increase of the number of detected pixels as many as the number of pixels to be compensated becomes equal to or more than the number of pixels allowed by the defect compensation processing is prevented. 検出画素数を32個に制限しているので、補完対象の画素数が欠陥補償処理の許容する画素数以上になるという検出画素数の増えすぎによる画質破綻が生じることを防止することができる。 - 特許庁
To prevent the cutting waste of a metal material constituting an electrode pad resulting from dicing, thereby inhibiting the occurrence of a defect caused by the scatter of the cutting waste in a semiconductor chip where the electrode pad for monitoring is located in a scribe area. スクライブ領域にモニタリング用の電極パッドを設けた半導体チップにおいて、ダイシングにともなって電極パッドを構成している金属材料からなる切削屑の発生を防止して、切削屑の飛散による不良の生起を抑止可能とする。 - 特許庁
To provide toner capable of improving transfer efficiency, achieving both low temperature fixability and hot offset resistance and eliminating an image defect in each transfer for outputting an image with good reproducibility over a long term in a high-speed full-color image forming method. 高速のフルカラー画像形成方法において、転写効率を向上させ、低温定着性と耐ホットオフセット性とを両立し、各々の転写時に画像欠陥をなくし長期的に再現性の良い画像を出力するトナーの提供。 - 特許庁
To enhance photoelectric conversion characteristics by suppressing the crystal grain boundary or intra-grain defect in a crystalline silicon based thin film photoelectric conversion layer formed by low temperature process using plasma CVD. プラズマCVD法による低温プロセスを用いて形成される結晶質シリコン系薄膜光電変換層における結晶粒界や粒内欠陥を低減し、それによって光電変換特性が改善されたシリコン系薄膜光電変換装置を提供する。 - 特許庁
Impurities introduced into a semiconductor substrate are activated by heat treatment, and crystalline defects formed in a surface side of the non-defect layer 13 during formation of the element or insulating film 15 are captured in the gettering region 14. 熱処理によって、半導体基板に導入された不純物を活性化させると共に、素子形成や素子分離絶縁膜15の形成において無欠陥層13の表面側に形成された結晶欠陥を、ゲッタリング領域14に捕獲させる。 - 特許庁
To provide a developing roller which is excellent in surface durability, is free of a development defect by rotation unevenness and drive gear damage, is fixed between shafts and is optimum for use at a prescribed contact width. 表面耐久性に優れ、回転むらや駆動ギア損傷による現像不良がなく、軸間固定で所定の接触幅での使用に最適な現像ローラ、その製造方法およびそれを組み込んだ一体型画像形成ユニットを提供する。 - 特許庁
When the integrated circuit 2 is mounted on a circuit board 20, a ground voltage is applied to signal wiring 23, and current application voltage measurement is performed to the test terminal 10, to thereby detect a mounting defect of the input/output terminal 6. 集積回路2を回路基板20に実装したとき、信号配線23にグランド電圧を与えるとともに、テスト端子10に対して電流印加電圧測定を行うことにより、入出力端子6の実装不良を検出することができる。 - 特許庁
To provide a metal paste capable of being optimized and further enhance reduction of the layer by incorporating the paste with fatty acid or its salt as additives to supplement the limit or defect of pasting characteristics of metal powder. 金属粉末のもつペースト特性としての限界あるいは欠点を補充するため、ペースト内に添加物として脂肪酸若しくはその塩を配合して金属ペーストの最適化を図り、更なる薄層化が可能な金属ペーストを提供すること。 - 特許庁
To provide a curable resin composition which can give a column spacer capable of effectively reducing color unevenness due to gravitational defect, to provide a column spacer using the curable resin composition, and to provide a liquid crystal display element. 重力不良による色ムラの発生を効果的に抑制できるカラムスペーサを製造することができるカラムスペーサ用硬化性樹脂組成物、該カラムスペーサ用硬化性樹脂組成物を用いてなるカラムスペーサ及び液晶表示素子を提供する。 - 特許庁
Thus, as this circuit has such constitution that read-out data is compared with read-out data of preceding address, a marching test for detecting uncoincidence of both data as defect can be preformed efficiently by writing previously the same data in all bits. このように、読み出しデータと1アドレス前の読み出しデータとを比較する構成となっているので、予め全ビットに同一のデータを書き込んでおくことにより両者の不一致として不良を検出するマーチングテストを効率よく実行できる。 - 特許庁
To provide technique by which an image defect can be suppressed by suppressing sticking of toner adhering to a flexible sleeve of an image heating device in an image forming apparatus that can form an image on sheet materials having different width dimension. 幅寸法が相違するシート材に対して画像を形成可能な画像形成装置において、像加熱装置の可撓性スリーブに付着したトナーが固着することを抑制し、以って画像不良が生じることを抑制可能な技術を提供する。 - 特許庁
Upper 32 pixels are selected in an order from the one with the largest dark output level by analyzing the dark output level of the image pickup signal and judged as new defective pixels by the digital process 108 under control of a defect data detecting part 112c. 欠陥データ検出部112cの制御の下、ディジタルプロセス108では撮像信号の暗出力レベルを解析する事により、暗出力レベルが大きいものから順に上位32個の画素を選択し、それを新規欠陥画素として判定する。 - 特許庁
To provide a CMOS image sensor capable of minimizing the occurrence of defect due to impurity ion implantation at the boundary of an active region and an isolation film beneath the gate electrode of a transistor constituting a CMOS image sensor, and to provide its fabrication process. CMOSイメージセンサを構成するトランジスタのゲート電極の下のアクティブ領域と素子分離膜間の境界で不純物イオン注入による欠陥発生を最小化できるCMOSイメージセンサ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To reduce the problem of the occurrence of a body defect due to a floating ink mist generated by an air current brought about by a carriage operation caused by a small liquid droplet high-speed printing by miniaturization and high definition of a printer. プリンタの小型化と高精細化によって、密閉空間での小液滴高速印字が引き起こす、キャリッジ動作によって引き起こされる気流によって発生する浮遊インクミストによる本体不具合の発生という問題を低減すること。 - 特許庁
The outgas 28 generated by the application of the light 29 to the resist 7a is forcibly exhausted outside the sealed space 31 so as to prevent the deterioration of the inspection apparatus and allow the resist defect inspection in a mid-flow of a mask manufacturing step. これにより、レジスト7aへの光29の照射により発生するアウトガス28を密閉空間31外に強制的に排出させ検査装置の劣化を防ぐと共に、マスク製造途中工程でのレジスト欠陥検査を可能とする。 - 特許庁
To improve throughput, and to perform accurate inspection by capturing a highly accurate image, by imaging a substrate by an imaging device in the state where a substrate is held by a conveyance member conveying the substrate, when performing defect inspection of the substrate. 基板の欠陥検査を行なうにあたり,基板を搬送する搬送部材に基板が保持された状態で撮像装置によって基板の撮像を行ない,スループットを向上させるとともに,高精度の画像を取り込んで正確な検査を行なう。 - 特許庁
To provide a film forming method for obtaining an extremely thin interface oxide film having high in-plane uniformity of film thickness and less defect by performing a low oxygen partial pressure oxidation while the surface of a silicon layer is protected by a chemical oxide film. シリコン層の表面をケミカル酸化膜で保護した状態で低酸素分圧酸化を行うことにより、膜厚の面内均一性が高くて且つ欠陥の少ない極めて薄い界面酸化膜を得ることが可能な成膜方法を提供する。 - 特許庁
A recessed defect DF on the substrate is buried for improving a surface state by providing a coating type substrate film SPL on the substrate SUB 1 for forming a silicon film, and a polysilicon film PSI is formed as a precursor film on the substrate film SPL. シリコン膜を形成する基板SUB1に塗布型下地膜SPLを設けることで当該基板の凹部欠陥DFを埋めて表面状態を改善し、この下地膜SPL上にプレカーサ膜としてポリシリコン膜PSIを成膜する。 - 特許庁
A microphone 30 detects a continuous hammering sound at the working time generated by the hammering body 26, and a sound analyzing device 36 executes defect diagnosis by waveform analysis of the continuous hammering sound by filtering by means of 1/f fluctuation conversion and a wavelet. マイクロフォン30は打撃体26による作業時の連続打音を検出し、音響分析装置36は1/fゆらぎ変換とウェーブレットによるフィルタリングによってって連続打音における波形解析による欠陥の診断を行う。 - 特許庁
The titanium dioxide added resin layer having the oxygen defect inside a barrier layer at the time of formation of a container is provided to the laminate for the container composed of at least paper, the barrier layer and a sealant layer. 少なくとも紙、バリア層、シーラント層からなる容器用積層体に、容器とした際にバリア層よりも内側に酸素欠陥を有する二酸化チタン添加樹脂層を設けたことを特徴とする積層体を提供することにより解決した。 - 特許庁
The structure of the semiconductor device in which even when the defect occurs, its effect does not bring about a leakage current for deteriorating the transistor characteristics or the holding characteristics of a memory and the method for manufacturing the device for realizing these structures are provided. 又は結晶欠陥がたとえ発生してもその効果がトランジスタ特性や、メモリの保持特性を悪化させるようなリーク電流とならないような半導体装置の構造、及びこれらの構造を実現するための製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for producing a polyolefin resin composition as a molding compound capable of efficiently producing a molded form of woody texture with no molding defect without aggravating the productivity of the finally available molded form. 最終的に得られる成形体の生産性を悪化させることなく、成形不良のない木質感のある成形体を効率良く製造することができる成形用材料としてのポリオレフィン系樹脂組成物を製造する方法を提供すること。 - 特許庁
To suggest the presence of hierarchical defective between pictures by extracting the relation between the pictures and to confirm in designing that corrections are so made as to eliminate the defect after the individual pictures are corrected according to the suggestion. 画面間の関連づけを抽出して画面間の階層上の不備の存在を示唆することができ、その示唆に基づいて個々の画面を修正した後で、その不備が解消される方向にその修正が行われていることを設計時に確認する。 - 特許庁
The excellent color filter without any alignment defect at the open portion is provided by using a resin with a melting property or a resin with a small taper angle generated in patterning at the open portion so as to heighten a levelling effect in color resists constituting the color filter. 開口部にメルト性を有する樹脂もしくはパターニングした際のテーパー角の低い樹脂を用いることにより、カラーフィルターを構成する色レジストでのレベリングの効果を高め、開口部での配向不良のない良好なカラーフィルターを提供する。 - 特許庁
To provide a pressurizing device for producing pressuring-worked products without defect by reducing damage to a workpiece while preventing overshoot by performing the torque control of a servomotor from the start to the end of pressurization when pressurizing the workpiece, and a pressurizing method therefor. ワークピースの加圧加工の際、加圧開始から終了までサーボモータのトルク制御を行うことによって、オーバシュートを防いでワークピースへのダメージを小さくし、欠陥のない加圧加工製品を生産する加圧装置及び加圧方法を提供することである。 - 特許庁
Performing defect inspection with the TFT substrate that is set in the temperature condition when it is actually operating in the array inspection in the array process allows defects, which are usually detected in and after the cell process, to be detected in the early stages of the array process. アレイ工程でのアレイ検査において、TFT基板を実際に駆動したときの温度状態として欠陥検査を行うことによって、通常、セル工程以降で検出される欠陥をアレイ工程の早い段階で検出する。 - 特許庁
To provide a measuring device for monitoring residual oxygen in exhaust gas monitoring a state allowing easy carrying out of timely intervention by a remedial measure when there is a defect in the measuring device by an auxiliary procedure. 測定装置に欠陥が発生した場合に、改善策によりタイムリーな介入を容易に行うことができるようにするために、その状態が補助的な手順で監視される排気ガス内の残留酸素を監視するための測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a positive type radiation sensitive resin composition having high transparency to radiation, excellent in resolution, sensitivity, pattern shape, etc., causing no development defect in microfabrication and capable of producing a semiconductor device in a high yield. 放射線に対する透明性が高く、しかも解像度、感度、パターン形状等に優れるとともに、微細加工時の現像欠陥を生じることがなく、半導体素子を高い歩留りで製造しうるポジ型感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a semiconductor device which has no problem of defect due to that a capacitor hole does not open in a process for forming a capacitor and no problem of contact between adjacent lower electrodes due to loss of a beam. キャパシタを形成する工程において、キャパシタ孔が開孔しないことに起因した不良の問題がなく、また、梁の消失に起因した隣接する下部電極同士の接触の問題がない半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a highly corrosion resistant surface-treated steel having excellent corrosion resistance of a galvanized steel with low coating weight even under the environmental condition where wetting time is long and corrosiveness is high in a state after coating having a defect in the coating. 本発明は、塗装に欠陥を有する塗装後の状態で、濡れ時間が長くかつ腐食性の高い環境条件においても、低目付量の亜鉛系めっき鋼材で耐食性の優れた高耐食性表面処理鋼材を提供する。 - 特許庁
To provide an image processing apparatus capable of enhancing the operability by decreasing a required time attended with pre-scanning processing and improving the convenience by carrying out required minimum recovery processing on the occurrence of a defect at the pre-scanning processing. プリスキャン処理に伴う所要時間を短縮することで操作性を向上させ、またプリスキャン処理時に不具合が生じた際に必要最小限のリカバリ処理行うことで利便性を高めることができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁
Considering that the dot flaw and the longitudinal line flaw are adjacently present, the defect compensation circuit 76 performs designated difference operation using pixels around a pixel of an interest to be compensated and determines an interpolation pattern according to the result of comparison between differential operation values. 点キズと縦線キズとが隣接して存在することを考慮し、欠陥補正回路76は補正すべき注目画素の周囲の画素を用いた所定の差分演算を実行し、差分演算値の大小比較に応じて補間パターンを決定する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a piezoelectric vibrating element capable of preventing a frequency adjustment defect due to inflow of an adhesive into a vibration portion during bonding and fixation of a partition plate to a piezoelectric wafer having a plurality of vibration portions formed. 複数の振動部を形成した圧電ウェハに仕切板を接着固定する際の接着剤が振動部に流入することにより発生する周波数調整不良を防止できる圧電振動素子の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
By combining the design intention information 6 and the hot spot information 7, an inspection place of high occurrence possibility of systematic defects with respect to the characteristic of the semiconductor integrated circuit, and the defect inspection time can be significantly shortened. これら設計意図情報6とホットスポット情報7を組み合わせることによって、半導体集積回路の特性に対して、システマティックな欠陥が発生可能性の高い検査場所を限定し、欠陥検査時間を大幅に短縮することができる。 - 特許庁
To obtain a multi-junction solar cell capable of having high power generation efficiency by forming a solar cell less having a crystal defect by relieving stress due to a difference in lattice constant with respect to a lattice mismatch type multi-junction solar cell. 格子不整合系の多接合型太陽電池において、格子定数の差に起因した応力を緩和して結晶欠陥の少ない太陽電池セルを形成し、高い発電効率を得ることが可能な多接合型の太陽電池を得ること。 - 特許庁
To provide a display apparatus having a superior characteristic such as high precision in durability by using an insulating base of a tape-carrier semiconductor package which has high elasticity and mechanical strength, and which does not cause distortion and connection defect due to thermal history. 高い弾性率と機械的強度を有し、熱履歴による歪や接続不良を起こさないテープキャリア型半導体パッケージの絶縁基材を使用することで、耐久性で高精度などの優れた特性を有する表示機器を提供する。 - 特許庁
To provide a method of evaluating an epitaxial wafer capable of detecting, with high sensitivity, defects resulting from dislocation, fine crystalline defect, and polishing which occurs on the surface of an epitaxial layer formed on an epitaxial wafer, and to provide a method of manufacturing the epitaxial wafer. エピタキシャルウェーハに形成されたエピタキシャル層の表面に生じる、転位や微細な結晶欠陥や研磨に起因した欠陥をより高感度に検出できるエピタキシャルウェーハの評価方法及びエピタキシャルウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁
The machine base control part 96 determines whether or not to allow the piecing device 92 to perform piecing based on a detecting result of the yarn detecting sensor 34 when the yarn is cut by the cutter 10 when a yarn defect is detected by the yarn clearer 11. 機台制御部96は、ヤーンクリアラ11により糸欠陥が検出されてカッター10により糸が切断されたときに、糸検出センサ34の検出結果に基づいて、糸継装置92に糸継を行わせるか否かを判断する。 - 特許庁
To provide a structure for reinforcing an existing steel frame member having a rib plate for stiffening a flange, the structure that is capable of preventing occurrence of a structural defect, increasing resilience and fatigue strength of the member and serving excellent workability, and provide a method for the reinforcement. フランジを補剛するためのリブプレートを有する既設鉄骨部材を補強するにあたって、構造欠陥の発生を防止しつつ、その耐力、疲労強度の向上を図ることができるうえ、作業性にも優れた構造、方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an image-forming apparatus for avoiding problems of "toner scattering" or "transfer failure" in performing "frameless print", and for solving problems of image defect and attachment of toner to an edge part caused by shaving off a toner image by a front edge of a transfer material in a conveying direction. 「縁なし印刷」を行う際に、「トナーの飛び散り」や「転写抜け」の問題を防止しつつ、転写材の搬送方向先端によってトナー像が削り取られることによる画像欠損やエッジ部へのトナーの付着の問題を提供する。 - 特許庁
To provide a bearing device for a wheel, capable of attaining weight and size reductions, high rigidity and long service life of bearings, improvement of service life of a forging molding die by enhancing forgeability of a hub wheel and prevention of generation of a forging defect during forging work. 軽量・コンパクト化を図りつつ、高剛性化と軸受の長寿命化を図ると共に、ハブ輪の鍛造性を良好にして鍛造の金型寿命の向上と鍛造加工時の鍛造傷の発生を防止した車輪用軸受装置を提供する。 - 特許庁
To overcome the problem in a circuit pattern inspection apparatus using an electrode contactlessly or capacitively coupled to the conductor pattern, wherein it is difficult to determine a defect since an obtained inspection signal value is small if a conductor pattern to be inspected is microfabricated. 導体パターンに非接触で容量結合した電極を用いた回路パターン検査装置においては、検査対象の導電パターンの微細化が進むと共に、得られる検査信号値が小さくなり、欠陥の判定が難しくなっている。 - 特許庁
The defect detection device 50 for detecting defects in a weak pin 30 includes a carbon rod 53, a soft holding tube 55 for holding the carbon rod 53, and lead wires 57A, 57B connected to a shaft end of the carbon rod 53. 弱点ピン30の欠損を検出する欠損検出素子50であって、炭素棒53と、前記炭素棒53を収容する軟質性の収容管55と、前記炭素棒53の軸端に接続されるリード線57A、57Bとを備える。 - 特許庁
To provide a lighting device capable of suppressing a defect in lighting of a semiconductor light-emitting element array due to breaking of a bonding wire for connecting a semiconductor light-emitting group embedded in a sealing member in series to form the semiconductor light-emitting element array. 封止部材に埋設される半導体発光素子群を直列接続して半導体発光素子列とするためのボンディングワイヤが断線すること等による半導体発光素子列の点灯不良を抑制できる照明装置を提供する。 - 特許庁
To provide a fine granular austenitic stainless steel sheet in which a stress-corrosion cracking as a defect is eliminated, and good workability is also obtained by regulating average crystal grain diameter to ≤10 μm in Ni content of ≤8% and the characteristics of the crystal grain boundary. 8%以下のNi量で平均結晶粒径を10μm以下かつ結晶粒界の性格を規定して,欠点である応力腐食割れを克服し,加工性との両立を図った微細粒オーステナイト系ステンレス鋼板を提供する。 - 特許庁
To provide an end tab for welding, which stabilizes generation of an arc in the end tab, eliminates the necessity for cutting and finishing after welding, and further restrains generation of a weld defect by deleting a thermal conductivity difference between a base material and the end tab. 溶接後の切断や仕上げ作業を不要とするとともに、エンドタブ内においてアーク発生を安定させ、さらに、母材との熱伝導率の差を解消して、溶接欠陥の発生を抑えることのできる溶接用エンドタブを提供する。 - 特許庁
Accordingly, an adjacent defective pixel conventionally treated under defect correction or the like as an abnormal pixel can be utilized as a normal pixel, thus enabling improvement of image quality of an obtained radiograph image without losing pixel information of an analyte. そのため、異常画素として欠陥補正されるなどして扱われていた隣接欠陥画素を正常画素として利用できるので、被検体の画素情報を失うことなく、取得された放射線画像の画質を向上させることができる。 - 特許庁
A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device. 本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁