「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 312 313 314 315 316 317 318 319 320 .... 366 367 次へ＞- To provide a vacuum etching system having a suction tube, in which the problem that a sprayed etchant flows toward a traveling direction of a substrate, which causes the defect of a difference in the longitudinal and transverse etching of a substrate is solved, and by which a uniform etching characteristic can be obtained.
吸引管を有する真空エッチング装置において、吹き付けられたエッチング液が基板の走行方向に流れるため、基板のたてとよこのエッチングに差が生じる欠点を改良し、均一なエッチング特性を得ることのできるエッチング装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a low pressure casting machine and a low pressure casting method with which the air in a mold, a stoke and a holding furnace can efficiently be replaced into a non-oxidizing gas without complicating the constitution of the casting machine and to provide a low pressure casting product having good quality without a defect in the product.
鋳造機の構成を複雑にすることなく、鋳型とストークと保持炉内の空気を効率的に非酸化性ガスに置換し得る低圧鋳造機及び低圧鋳造法、並びに製品欠陥のない品質の良い低圧鋳造品を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical film having an adhesive layer, which has superior moisture resistance, of which the adhesive strength of the adhesive will not vary drastically, even under a humidifying condition and in which no defect such as peeling occurs, on a flange of the stuck surface between the optical film and a liquid crystal panel.
加湿条件下においても、粘着剤の接着力が大きく変化せず、光学フィルムと液晶パネルとの貼合わせ面の端部に剥れ等の不具合が生じない加湿耐久性に優れる粘着剤層付き光学フィルムを提供すること。 - 特許庁 - Toner particles forming an image on the intermediate transfer belt 70 are applied with an electric field from the belt back corona generator 10 to be peeled off a surface of the intermediate transfer belt 70, so that the secondary transfer defect at the secondary transfer unit 80 can be prevented.
中間転写ベルト７０上で画像を形成するトナー粒子は、このベルト背面コロナ発生器１０からの電界を受け中間転写ベルト７０表面から引き剥がされ、二次転写ユニット８０での二次転写不良の発生を防止することができる。 - 特許庁 - To enable battery-less emergency traveling over a sufficiently long distance using a control system of a hybrid vehicle even if during traveling of the hybrid vehicle, a battery defect arises in a high-voltage power source, and to effectively prevent a steering assist force from changing rapidly during traveling.
ハイブリッド車両の制御システムにおいて、車両の走行中に高圧電源の電池異常が発生した場合でも、十分に長い距離のバッテリレス退避走行を可能とし、走行中での操舵アシスト力の急変を有効に防止することである。 - 特許庁 - To mold prefoamed particles having a large bulk density, which can be molded only by an inner pressure applying method having such a defect that equipment investiment cost becomes large in conventional technique, by a compression filling molding method advantageous from an aspect of productivity and equipment investiment cost.
従来技術では設備投資費が大きくなるという欠点を有する内圧付与法でしか成形できなかった嵩密度の大きな予備発泡粒子を、生産性、設備投資費の面で有利である圧縮充填成形法で成形できるようにする。 - 特許庁 - To provide a method by which an engineer not having experience/ technical accumulation, before press-forming, easily, precisely predict a dimensional accuracy defect quantity in press-forming a metal plate even if in engineer has no special knowledge in a numerical simulation, mathematics, etc.
経験・技術蓄積を有さない技術者が、数値シミュレーションや数学等の専門知識を有さずとも、金属板のプレス成形時における寸法精度不良量を、プレス成形前に予め簡単に且つ正確に予測することのできる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a continuous casting mold having long service life, with which molten metal near the molten metal surface level can slowly be cooled and a cast slab having little surface defect can be produced and even in the case the molten metal surface level rises, the breakout and the damage of a mold are not caused.
湯面レベル近傍の溶融金属を緩冷却することができる、表層欠陥の少ない鋳片を製造することが可能な、湯面レベルが上昇しても、ブレークアウトや鋳型の損傷が発生しない寿命の長い連続鋳造鋳型を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for evaluating a semiconductor wafer, which highly accurately evaluate the BMD (Bulk Micro Defect) density distribution by obtaining the BMD density over the entire surface of the semiconductor wafer in a short time period for impurity analysis of a silicon substrate.
シリコン基板の不純物分析をするために、半導体ウェーハ全面のＢＭＤ密度を短時間で取得し、ＢＭＤ密度分布を高精度に評価することができる半導体ウェーハの評価方法及び半導体ウェーハの評価装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain a liquid crystal display panel for preventing a critical defect of short-circuiting between a pixel electrode and a counter electrode due to conductive foreign objects that are generated due to the execution of restoration by laser beams or the like.
本発明は、レーザー光などによる修復を実施したことで発生する導電性異物による画素電極と対向電極とのショートという致命的な欠陥を防止することが可能である液晶表示パネルを得ることを目的とするものである。 - 特許庁 - Heat treatment is performed at about 300-500°C for about 5-60 minutes in a hydrogen atmosphere diluted by hydrogen or nitrogen as first heat treatment, and a defect produced by the MOS transistor, an insulation film formation process or the like is restored.
その後、第１の熱処理として水素、又は窒素等で希釈された水素雰囲気中にて、３００乃至５００℃程度の温度で、５乃至６０分間程度の熱処理し、ＭＯＳトランジスタ及び絶縁膜形成工程等によって生じる欠陥を回復する。 - 特許庁 - To provide a method for stably manufacturing semiconductor device such as a trench gate type MOS transistor that is not easily affected by a defect resulting from variation in manufacturing processes and assures small variation in the threshold voltages among semiconductor devices.
トレンチゲート型のＭＯＳトランジスタなどの半導体装置において、製造プロセス上のばらつきに起因する欠陥の影響を受けづらく、半導体装置間のしきい値電圧のばらつきが小さい半導体装置を安定して製造する製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for controlling the precision removal of an unnecessary material from a substrate capable of transmitting light for the separation and removal of a defect from the surface of the substrate, for direct writing in a reticle or photomask and for the resulting reticle or photomask.
光透過可能基板の表面から欠陥を分離して除去するため、ならびにレチクルまたはフォトマスクの直接書込みと得られたレチクルまたはフォトマスクのために、光透過可能基板からの不要な材料の精密除去を制御する方法を提供すること。 - 特許庁 - The disordered multicomponent hydrogen storage material having remarkably high storage capacity due to a high density of usable hydrogen storage site (defect site of 1023/cm3) and/or remarkably small fine crystalline size shown in a graph in Figure is provided.
高密度の使用可能な水素吸蔵サイト（１０^２３／ｃｃの欠陥サイト）および／または図中のグラフに示されるような著しく小さい微結晶サイズに起因する、非常に高い吸蔵容量を特徴とする不規則化された多成分水素吸蔵材料が提供される。 - 特許庁 - This is a defect detection device for a coaxial flexible piezoelectric cable in which a piezoelectric tube 3 is provided in the hole 61 of an inspection electrode means 6 and DC voltage is impressed on the coaxial flexible piezoelectric body 2 by moving the piezoelectric tube 3.
圧電体チューブ３が検査用電極手段６の孔６１に配設され、圧電体チューブ３を移動させながら同軸状可撓性圧電体２に直流電圧を印加する構成の同軸状可撓性圧電体ケーブル欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - The fluorescent probe comprises a core-shell type branched polymer having a portion compatible with the low molecule liquid crystal in the shell and a portion having a fluorescent functional group in the core, and is preferentially concentrated in the defect of the low molecule liquid crystal.
本発明の蛍光性プローブは、シェル部に低分子液晶と相溶性を示す部分を有し、コア部に蛍光性官能基を有するコア−シェル型分岐状高分子からなり、低分子液晶の欠陥部位に優先的に濃縮されることを特徴とする。 - 特許庁 - To establish a method for producing inexpensive lithium cobaltate by improving both quick chargeability and discharging performance at low temperatures simultaneously while reducing the expensive production cost, a defect of conventional lithium cobaltate (LiCoO_2).
従来のコバルト酸リチウム（ＬｉＣｏＯ_２）の欠点である高価な製造コストの低減を図りつつ、リチウムイオン二次電池として要求されている急速充電性、低温放電特性を同時に改良し、安価なコバルト酸リチウムを提供する製造方法を確立する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device manufacturing method capable of suppressing a crystal defect in an impurity diffusion region or in the circumference of the region, when the impurity diffusion region is formed in a region enclosed by the trench of a semiconductor substrate by ion implantation method.
半導体基板のトレンチに挟まれた領域に、イオン注入法により、不純物拡散領域を形成する場合に、不純物拡散領域およびその周辺での結晶欠陥の発生を抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - In addition, inspection systems, circuits, and methods are provided to enhance defect detection by reducing thermal damage to large particles by dynamically altering the incident laser beam power level supplied to the specimen during a surface inspection scan.
加えて、表面検査の走査の間に試料に供給される入射レーザ・ビームパワー・レベルを動的に変更することによって大きな粒子に対する熱破損を削減することにより欠陥検出を強化するための検査システムや回路、方法が提供される。 - 特許庁 - This photocatalyst coating for the removal of nitrogen oxide in air comprises a polycondensation product of an organopolysiloxane compound and photocatalyst particles wherein the photocatalyst is a titanium dioxide having stabilized oxygen defect and having an activity under irradiation of visible light.
有機ポリシロキサン化合物の重縮合物及び光触媒粒子からなるコーティングであって、前記光触媒が安定した酸素欠陥を有し、可視光照射下で活性を有する二酸化チタンである空気中の窒素酸化物除去用光触媒コーティング。 - 特許庁 - An information recording medium is provided with a first spare region 102 including a spare sector to be substituted for a defective sector, a defect control information region 101 controlling substitution of a spare sector for a defective sector, and a volume space 100a in which user data can be recorded.
情報記録媒体は、欠陥セクタを代替するスペアセクタを含む第１スペア領域１０２と、欠陥セクタからスペアセクタへの代替を管理する欠陥管理情報領域１０１と、ユーザデータを記録可能なボリューム空間１００ａとを備えている。 - 特許庁 - To solve the problem that a lost flag can not be obtained when the state of no error apparently occurs in a 2nd error correction code in the occurrence of media defect, in the case the loss correction of a 1st error correction code is made by using the correction positional information of the 2nd error correction code.
第２のエラー訂正符号の訂正位置情報を用いて第１のエラー訂正符号の消失訂正を行う場合、メディアデフェクト発生時に第２のエラー訂正符号に見かけ上エラーがない状態が発生すると消失フラグを得ることができない。 - 特許庁 - To propose a screen printing device and a screen printing method which are capable of preventing a recess-shaped defect on a formed film from occurring on the occasion of using a screen printing process under a reduced pressure, a manufacturing method of a light-emitting device using the method, and an electronic apparatus.
減圧下においてスクリーン印刷法を用いる際に、形成された膜上への凹状欠陥の発生を防止することができるスクリーン印刷装置、スクリーン印刷方法、及びこの方法を用いた発光装置の製造方法、電子機器を提案する。 - 特許庁 - To provide a processing method and a processing apparatus for a planographic printing plate, by which a planographic printing plate having a photopolymerizable photosensitive layer and using a high definition screen for image exposure can be developed for a long period of time without causing an image defect such as process irregularity.
画像露光において高精細スクリーンを用いる光重合性感光層を有する平版印刷版を長期間にわたって処理むら等の画像欠陥を生ずることなく現像処理できる、平版印刷版の処理方法及び処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display wherein the influence of an in-plane electric field can be avoided even when a liquid crystal is driven by a line inversion drive system and the occurrence of an alignment defect of the liquid crystal can be suppressed without reducing a numerical aperture and to provide its manufacturing method.
ライン反転駆動方式により液晶を駆動させても横電界による影響を回避し、開口率を低下させることなく、液晶の配向不良の発生を抑制することができる液晶表示装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To accurately and promptly detect the leakage of an airbag for a safety tire due to a defect of a pin hole and the like, without damaging a tension supporting layer, while keeping an original function supporting a load in a run flat state in stead of a tire.
張力支持層に損傷を与えず、したがってランフラット状態に荷重の支持をタイヤから肩代わりするという本来の機能を保ったままの状態で、ピンホール等の欠陥に起因する安全タイヤ用空気のうの漏れを高精度かつ迅速に検出する。 - 特許庁 - To prevent the defect of a coating film due to air bubbles contained in chemical in a thin film coating device in which the chemical supplied from a chemical supply source through a particle filtering unit is discharged from a discharge nozzle and coated on the surface of a wafer to form a thin film.
薬液供給源からパーティクルろ過装置を経て供給される薬液を吐出ノズルより吐出してウエハー表面に塗布し、薄膜を形成する薄膜塗布装置において、薬液中に含まれる気泡等による塗布膜の欠陥を防止する。 - 特許庁 - To provide a phenolic resin molding compound composition excellent in moisture resistance, heat resistance, electrical properties, flame retardancy, tracking resistance, etc., each required for electrical/electronic parts, and capable of preventing maloperation such as contact defect due to abraded powder at sliding parts, thus excellent in abrasion resistance.
電子・電気部品に必要とされる耐湿性、耐熱性、電気特性、難燃性、耐トラッキング性等に優れ、さらに摺動部における摩耗粉による接点不良等の動作不良を防止することにより、耐摩耗性に優れたフェノール樹脂成形材料を提供すること。 - 特許庁 - To provide a magnetic resonance imaging apparatus with which a position of a tomogram can be shifted by a BO shift and an influence of a fat suppression defect or the like can be reduced without a major modification of a hardware such as an iron shim or the like, and a magnetic resonance imaging data processing method.
鉄シム等のハードウェアを大幅に改修することなく、Ｂ０シフトによる断層画像位置のシフトや脂肪抑制不良等の影響を低減させることが可能な磁気共鳴イメージング装置および磁気共鳴イメージングデータ処理方法である。 - 特許庁 - A quantitative element analysis of foreign matter and defective portion of an object is carried out (steps S2 and S4), elements meeting decision conditions are selected out from the analysis result (step S5), the names of the selected elements are registered in a defect database(DB) lined with information on the foreign matter and defective portion (step S6).
対象物の異物・欠陥部位における定量的な元素分析が行われ（ステップＳ２，Ｓ４）、その結果から判定条件を満たす元素名が選び出され（ステップＳ５）、異物・欠陥部位の情報とリンクして、欠陥データベース(DB)に登録される（ステップＳ６）。 - 特許庁 - After a watch is subjected to a waterproofness test while holding it in a pressurized air, and the results that there is no defect in the waterproofness (no air leak) is obtained, the watch is subjected to the pressurized water proof test in the water while holding it in the water.
時計を加圧気体中に保持して防水性を試験する気体加圧防水試験を行い、この試験で防水不良がない（エアリーク無し）との結果が得られた後に、時計を液体中に保持して防水性を試験する液体中加圧防水試験を行う。 - 特許庁 - To eliminate problems of incapability of controlling the top and bottom of a seal impression correctly, generation of variation in a seal impression as well as the defect of lacked rim of seal surface or the like upon impressing a round seal and eliminate the troublesome inconvenience of handling upon stamping the seal.
丸形印鑑による押印時、印影の天地を正しく制御できない問題、印影に捺印むらを生じてしまう問題、印面の縁に欠け等の欠陥を生じる問題、及び押印時の取扱いの煩わしさ不都合を解消することである。 - 特許庁 - In this defect inspection apparatus 10, the surface S of a workpiece W is scanned repeatedly in different parts of the workpiece by using a beam of light which forms a scanning region having a cross-scan dimension 26 perpendicular to an in-scan dimension 24 parallel to its scanning direction.
本発明の欠陥検査装置１０は、ワークピースＷの表面Ｓに、走査方向に平行なインスキャン次元２４と垂直なクロススキャン次元２６を有する走査領域を形成する光線を使って、該ワークピースの異なった部分を繰り返し走査する。 - 特許庁 - To provide a cleaning device which is capable of maintaining cleaning performance for a long period when an organic photoreceptor and polymerized toners are used and allows the formation of good electrophotographic images free of image defect and an image forming method and image forming device using this cleaning device.
有機感光体と重合トナーを用いた場合に、長期に亘ってクリーニング性能を保持し、画像不良がなく、良好な電子写真画像を形成できるクリーニング装置、及び該クリーニング装置を用いた画像形成方法、画像形成装置の提供。 - 特許庁 - To provide a fixing device having an inexpensive and simple circuit and capable of more effectively preventing a phenomenon that an image defect is caused by the adhesion of a part of an unfixed toner image to a fixing rotating body with which the toner image comes into contact during fixing, and an image forming apparatus.
安価で単純な回路を有し、未定着トナー像の一部が定着時に接触する定着回転体に付着して画像欠陥を生じる現象をより効果的に防止することのできる定着装置及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To suppress or substantially eliminate twist which is defect in dimensional accuracy in the three dimension in a press-formed article without using an expensive die having complicated structure, without varying the properties of a material and, further without leaving burn marks on the press-formed article.
複雑な構造を有する高価な金型を用いることなく、材料特性を変動させることなく、さらにはプレス成形品に焼跡を残すことなく、プレス成形品における三次元的な寸法精度の不良であるひねれを抑制又は実質的に解消する。 - 特許庁 - An inserter (the surgical instrument) 4 is provided for filling a bone defect site with a filler.
本発明のインサーター（手術用器具）４は、骨欠損部に、充填材を充填するのに用いられるものであり、貫通する中空部を有する筒体４１と、筒体４１の中空部に挿通され、前記中空部に装填された充填材を排出可能な押出棒４３とを備えている。 - 特許庁 - The method of repairing the defect of the display panel which appears as a bright spot has an advantage of minimizing damage to an alignment film caused by irradiation with the ultraviolet light to provide a flat panel display device of higher quality.
このような本発明によると、輝点で現れるディスプレーパネルの不良をリペアする方法を提示しているが、特に、紫外線の照射によって発生する配向膜の損傷を最小化して、より高品位の平板ディスプレー装置を提供する長所がある。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor element capable of decreasing a characteristic defect occurring on the basis of an nonuniformity of an impurity (dopant) concentration in an impurity included region of the semiconductor layer; and to provide the semiconductor element, a semiconductor device, and a display unit.
半導体層の不純物含有領域における不純物（ドーパント）濃度の不均一性に起因して発生する特性不良を低減することができる半導体素子の製造方法、半導体素子、半導体装置及び表示装置を提供する。 - 特許庁 - To ensure performing of good development free of degradation in image density and fogging in development even after long-term use or in the early morning environment, etc., and to prevent the development defect by the excessive amount of scattering of toners to a photosensitive drum and the excessive consumption of the toners.
長期使用後や朝一環境等においても画像濃度低下やかぶり現象のない良好な現像を行うことができ、更に、トナーの感光ドラムへの飛翔量過多による現像不良や、トナーの消費量過多を防止できるようにする。 - 特許庁 - To provide a conductive ball which can form an external electrode which does not generate cracks, which cause conduction defect and deterioration of mounting reliability, when an electronic component is mounted on a circuit substrate, and an external electrode forming method of the electronic component using the conductive ball.
電子部品を回路基板に実装した際に、導通不良や実装信頼性の低下を引き起こすクラックを生じさせない外部電極を形成できる導電性ボールおよびその導電性ボールを用いた電子部品の外部電極形成方法を提供する。 - 特許庁 - After a portion where a defect of gas turbine parts exists is defined as a concave repaired region 2, several weld padding sections 3 which range between one end of the repaired region 2 and the other opposing end are formed by welding with welding material added at predetermined intervals.
ガスタービン部品の欠陥を有する部位を凹状の被補修領域２とした後、被補修領域２の一方の端部から対向する他方の端部に至る溶接肉盛り部３を、溶加材を加えた溶接により所定間隔設けて複数形成する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device in which malfunction never be caused and operation can be performed with low power consumption by performing a test again and detecting optimum operation conditions for a cell being easy to be defect out of cells passing a test, and a method for testing the same.
テストをパスしたセルのうち最も不良になり易いセルに対し、再びテストを行って最適の動作条件を検出することによって、誤動作せず、低消費電力で動作可能な半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide laminated ceramic electronic components having no internal structural defect by forming its internal electrodes and ceramic layers, by using ordinary materials which contains no excessive component, so that the step sections that are formed due to the thicknesses of the internal electrodes and cause internal structure defects are dissolved.
余分な組成分を含まない通常通りの材料から内部電極並びにセラミック層を形成し、内部構造欠陥を生ずるような内部電極の厚みによる段差部を容易に解消でき、内部構造欠陥のない積層セラミック電子部品を得る。 - 特許庁 - Light from the light source 11a is emitted to the phosphor of a specimen 10 such as an image displaying substrate, fluorescent light generated in the phosphor is received by a CCD sensor 15, and displayed on a display part 17 to inspect the applied condition such as a defect of the phosphor.
該光源１１ａから光を、画像表示用基板等の被検査物１０の蛍光体に照射し、該蛍光体から発生する蛍光をＣＣＤセンサ１５で受光して表示部１７に表示し蛍光体の欠損等の塗布状況を検査する。 - 特許庁 - To provide a device for extracting concrete neutralizing sample and a method for measuring neutralization, that reduce a cross-sectional defect of a concrete structure, can pick a sample without breaking reinforcement, and can measure concrete neutralization without the help of a specialist.
コンクリート構造物の断面欠損が小さく、鉄筋を損傷させないでサンプル採取を行なえ、専門工に頼らないでコンクリート中性化測定を行うことができるコンクリート中性化サンプル抽出装置および中性化測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an unbaked sheet winding method capable of accurately winding up an unbaked sheet such as a green sheet without generating flaws or holes on the unbaked sheet at the time of winding up the unbaked sheet around a roll body, and to provide a method for manufacturing electronic components prevented from the occurrence of a short circuit defect or the like.
ロール体への巻き取りに際して、グリーンシートなどの焼成前シートに傷や孔が生ぜず、精度良く巻き取りが可能な焼成前シートの巻き取り方法と、短絡不良などが生じない電子部品の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a printing method which brings about an excellent image density, improve a ground stain of a non-image part, prevent filling-up, reduce printing start spoilage and also eliminate an image defect on a printed matter, a method of making a printing plate, printing equipment and a controlling method thereof .
画像濃度が良好で、非画像部の地汚れが改良され、また、カラミを防止でき、刷りだし損紙が少なく、印刷物上の画像欠陥もない、印刷方法、印刷版の作製方法、印刷装置およびその制御方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - In this defect detector, a projector 13 is arranged in a position where one part of irradiation light is reflected on an outer face 11A in the skirt corner part of the glass container, and where one part of the irradiation light is incident into the skirt corner part to be reflected on an inner face 11B of the bent part.
欠陥検出装置において、投光器１３は、照射する光の一部がガラス容器の裾コーナ部の外面１１Ａで反射され、かつ、照射光の一部が裾コーナ部に入射して屈曲部の内面１１Ｂで反射される位置に配置される。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.
半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁
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