「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 315 316 317 318 319 320 321 322 323 .... 366 367 次へ＞- Since the undercoat paint film 19 formed of the clear paint is formed under the finish-coat paint film 21, even if a paint film defect arises in the finish-coat paint film 21, the surface of the evaporator 10 is protected by the undercoat paint film 19.
そして、上塗り塗膜２１の下にはクリア塗料から形成された下塗り塗膜１９が形成されているから、仮に上塗り塗膜２１に塗膜欠陥が生じた場合でも、下塗り塗膜１９により蒸発器１０の表面は保護されるようになっている。 - 特許庁 - To provide a method for producing a hot dip galvanized steel member provided with a new dross suppression means different from the conventional dross defect countermeasures exerting any side reaction such as the increase of an equipment load and the aggravation of the instability of alloying treatment.
設備負荷を増加したり、合金化処理での不安定性を助長したりするなど、何らかの副作用をもたらす従来のドロス欠陥対策とは異なる新たなドロス抑制手段を備える溶融亜鉛めっき鋼材の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The composite consists of the green sheet 2 comprising a ceramic powder and organic matter and the base film 1 comprising a synthetic resin and has a square shape and a defect part 4 is provided to at least one of four corners of the green sheet.
セラミック粉と有機物からなるグリーンシート２と、合成樹脂からなるベースフィルム１との複合体であって、前記複合体の形状が四角形であり、且つ前記グリーンシートの４角の少なくとも１角に欠損部４を設けたグリーンシートとベースフィルムの複合体とする。 - 特許庁 - To provide a nondestructive defect detector for a sheet for quickly detecting the presence or absence, and the position of defects occurring in the sheet and detecting even fine defects occurring in the sheet regardless of the size and thickness of the sheet.
薄板のサイズや厚さに関わらず、薄板に発生した欠陥の有無及び位置を短時間で検出することができるとともに、薄板に発生している微細な欠陥までも検出することが可能な薄板の非破壊欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for magnetically controlled welding for a narrow bevel which can attain proper welding execution and high efficiency welding without generating welding defect such as undercut and overlap even at narrow bevel welding when manufacturing steel shapes structure.
本発明は、型鋼構造物の製作時の狭開先溶接であっても、アンダーカット、オーバラップ等の溶接欠陥が生じることなく、しかも適正な溶接施工と高能率溶接を可能とした狭開先用磁気制御溶接方法とその装置を提供すること。 - 特許庁 - This osseous prosthesis (biotissue prosthesis) 7 is provided with a composite membrane 8 composed of β-TCP and a biodegradable material such as collagen, and the cultured bone (osseous prosthesis) 5 filling the osseous defect 3; and the cultured bone 5 is wrapped with the composite membrane 8.
骨補填体（生体組織補填体）７は、β−ＴＣＰと、例えばコラーゲンといった生分解性材料とからなる複合膜８と、骨欠損部３に補填される培養骨（骨補填材）５とを備えており、培養骨５が複合膜８に包まれている。 - 特許庁 - The insulation performance between the extraction electrode layer 6a and the lower shielding layer 3 is extremely high and the defect of the magnetical and electrical insulation by particles, film pinholes, etc., between the extraction electrode layer 6a and the lower shielding layer 3 may be eliminated.
引き出し電極層６ａと下部シールド層３との間の絶縁性能は極めて高く、引き出し電極層６ａと下部シールド層３との間において、パーティクルや膜のピンホール等による磁気的および電気的な絶縁の不良をなくすことができる。 - 特許庁 - To consistently manufacture a product steel strip of excellent quality and performance without raising degradation of the surface quality of the product steel strip or problems associated with the secondary working such as pressing by defect removal trace caused by removing surface defects of a hot-rolled steel strip.
熱延鋼帯の表面欠陥除去で生じた欠陥除去痕により製品鋼帯の表面品質の低下やプレス成形などの２次加工に伴う問題を生じさせることなく、優れた品質及び性能を有する製品鋼帯を安定して製造する。 - 特許庁 - To prevent deterioration in dimension accuracy of a slit width due to creep deformation and eliminate occurrence of a defect so as to improve a product yield in a color cathode-ray tube having a color selection electrode made of a metallic thin plate and provided with a plurality of slits allowing passage of electron beams.
金属薄板に、電子ビームが通過する複数のスリットを設けた色選別電極１００を有したカラー陰極線管において、クリープ変形による微細なスリット幅の寸法精度低下を防止し、不良発生をなくし製品歩留りを向上させる。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal panel having reduced flicker in which storage capacitors are not changed and it does not make a effected to the storing of electric charges on liquid crystal cells and also it is unnecessary to increase widths of scanning lines and, as a result, which is capable of improving a defect reducing an opening ratio.
ストレージキャパシタが変わることがなく、液晶セルの電荷を蓄えることに影響させないし、そして、走査線の幅も増やす必要がなく、その結果、開口率が減らされる欠点を改善することができる低ちらつき液晶パネルを提供する。 - 特許庁 - To provide an electrophotographic photoreceptor, capable of achieving high transfer efficiency of a toner and the reduction of an image defect due to sliding rubbing of the electrophotographic photoreceptor and an intermediate transfer member, and to provide the intermediate transfer member and an electrophotographic image forming apparatus.
本発明の目的は、高いトナー転写効率と、電子写真感光体と中間転写体の摺擦による画像欠陥の低減を達成できる、電子写真感光体、中間転写体及び電子写真画像形成装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a sample which can form at once a large quantity of thin piece samples for a crystal defect observing transmission electron microscope in the silicon crystal and which can be simply manufactured in a wide area and to provide the thin piece sample.
シリコン結晶中の結晶欠陥観察用透過型電子顕微鏡用の薄片試料を、一度に大量に作成することができるとともに簡便に広い面積で作製することを可能とした試料作製方法及び薄片試料を提供する。 - 特許庁 - To provide a polycrystalized silicon film 4 which is used as a storage node (lower electrode) for improving storage capacity in the storage capacitance element of a capacitor for charge storage or the like, in a structure having no defect and a sufficient strength regardless of growth conditions thereof.
電荷蓄積用キャパシタ等の記憶容量素子における蓄積容量向上のために、ストレージノード（下部電極）として用いられる多結晶化シリコン膜４は、その成長条件によらず，欠損のない、かつ十分な強度を有する構造のものが求められる。 - 特許庁 - To provide an artificial molar tooth for denture capable of preventing occlusal defect induced by a slight difference in heights and difference is angles of inclination, mountable with sufficient fixing power to a dental plate, durable and actively inclining.
微妙な高低差や傾斜角度差により発生する咬合不正を防止できる義歯を提供するものであり、更には、義歯床に十分な固定力で取り付けることができ、また耐久性もあり且つ積極的に傾斜が可能な義歯用人工臼歯を提供すること。 - 特許庁 - To catch a particle causing a pin hole of a magnetic recording layer without reducing manufacturing efficiency and to reduce a defect due to reduction of magnetic reproducing output caused by the pin hole of the magnetic recording layer in manufacture of a perpendicular magnetic recording medium.
垂直磁気記録媒体の製造において、生産効率を低下させることなく、磁気記録層のピンホールの原因となるパーティクルを捕捉することができ、磁気記録層のピンホールが起因の磁気再生出力低下による不良を低減することができる。 - 特許庁 - To provide a signal level measurement apparatus for measuring a signal level of a television broadcast signal transmitted from a terrestrial station, and received by the reception antenna, which easily discriminates a reception defect of a radio wave due to a dip in a digital broadcast signal.
地上局から送信され、受信アンテナにて受信されたテレビ放送信号の信号レベルを測定する信号レベル測定装置において、デジタル放送用の信号でのディップに伴う電波の受信不良を容易に判定できるようにすることを目的とする。 - 特許庁 - When the 4th wireless device D4 detects the defect of communication, with a 2nd wireless device D2, caused by a hardware fault or radio wave fault of the 2nd wireless device D2, a communicable master device is searched and a 3rd wireless device D3 is specified as a new master device.
第２無線デバイスＤ２のハードウェア故障や、電波障害等により第４無線デバイスＤ４が、第２無線デバイスＤ２との通信不良を検出すると、通信可能な親デバイスを探索して、第３無線デバイスＤ３を新たな親デバイスとして特定する。 - 特許庁 - To provide a multi-dose type eye drop for corneal epithelial defect treatment containing hyaluronic acid at a high concentration of ≥0.3 w/v%, which has low cytotoxicity, is effectively prevented from decomposing thereby having high preservation efficacy and which has low irritation and satisfactory sense of use.
細胞毒性が低く、かつ、効果的に腐敗が防止されて保存効力が高く、さらに低刺激で使用感が良好な、ヒアルロン酸を０．３ｗ／ｖ％以上の高濃度含有するマルチドーズ型角膜上皮障害治療用点眼剤を提供する。 - 特許庁 - To provide a reflective film composed of an Ag-based alloy, which never causes a whitened portion or roughing of the whitened portion while having high reflectivity even when a defect is present in the film, and to provide a sputtering target material or a vapor deposition material for forming the same.
高い反射率を有しながら、膜に欠陥が存在していても、白濁部が発生したり白濁部が粗大化しないＡｇ基合金からなる反射膜およびそれらを形成するためのスパッタリングターゲット材または蒸着材料を提供すること。 - 特許庁 - To obtain a wet fixing type image forming apparatus which prevents an image defect such as missing of an image from occurring because a component member inside the image forming apparatus is stained by an excess fixing solution caused when the fixing solution is imparted to a toner image by a fixing solution imparting means.
湿式定着方式の画像形成装置において、定着液付与手段によりトナー像に定着液を付与する際に生じる余剰定着液が画像形成装置内部の構成部材を汚染し、画像抜けなどの画像不良が起こるのを防止する。 - 特許庁 - To (1) eliminate an OB (Optical Black) picture element, (2) reduce time required for clamp method, (3) provide stable clamp level with respect to fluctuation of dark level due to defect, stray light, or the like in the OB picture element in a semiconductor solid-state image pickup device.
半導体固体撮像装置において、（１）ＯＢ画素が必要でなくなる、（２）クランプ手段に必要な期間を短縮できる、（３）ＯＢ画素の欠陥や迷光等によるダークレベルの変動に対して安定したクランプレベルを供給できる、ということを課題とする。 - 特許庁 - When the growth temperature is selected, compatibility among the reduction of crystalline defect in the compound semiconductor layer 4, the maintenance or improvement of a dissociation efficiency of a source material such as group V and III elements, and the prevention of reduction of a growth rate can be attained.
成長温度の選定等により、化合物半導体層４における結晶欠陥の低減と、原料例えばＶ族及びＩＩＩ族元素の原料の分解効率の維持ないし向上と、成長速度の低下防止とを両立することが可能となる。 - 特許庁 - The wafer comprises a first axially symmetric region in which vacancies are the predominant intrinsic point defect and which is substantially free of agglomerated vacancy intrinsic point defects, wherein the first axially symmetric region includes the central axis or has a width of at least about 15 mm.
空孔が優勢な真性点欠陥の、凝集空孔真性点欠陥を実質的に有さない第一軸対称領域を、ウエハが含んで成り、該第一軸対称領域は、中心軸を含んで成るかまたは少なくとも約１５ｍｍの幅を有する。 - 特許庁 - A same defect is lit in plural times in a single inspection by an illumination optical system performing linear lighting and a detection optical system dividing illuminated region by a line sensor and performing detection, and scattering light is added, and thereby, the detection sensitivity is improved.
線状照明を行う照明光学系、被照明領域をラインセンサで分割して検出する検出光学系により、一度の検査で同一欠陥を複数回照明し、それらの散乱光を加算することにより検出感度を向上させる。 - 特許庁 - In accordance with a result of comparing video signals imaged and outputted at the same image pickup position or nearby image pickup positions for each polarized beam, it is detected whether a pixel defect occurs in the image sensor that images any one of polarized beams.
分光光毎に同一撮像位置もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうしを比較した結果に応じて、分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生しているか否かを検出する。 - 特許庁 - When any defect occurs in an operation data group acquired by an operation data acquiring means 3, the defective data part is complemented by using complement data complemented by a defective data complementing means 6, and analyzed according to a failure diagnostic rule 5a by a failure diagnosing means 4.
運転データ取得手段３で取得された運転データ群に欠損がある場合、その欠損データ部分を欠損データ補完手段６で補完された補完データを用いて補完した上で故障診断手段４で故障診断ルール５ａに従って解析する。 - 特許庁 - To solve the problem that the instantaneous abrupt drop of high frequency power due to some causes, e.g. an inappropriate preset value of the variable capacitor or the like in a matching unit, cannot be dealt with, and a pattern defect of a body being treatment is generated to cause a large quantity of failure lots.
整合器の可変コンデンサ等のプリセット値が適当でないなど、高周波電力が何等かの原因で瞬間的且つ急激に落ち込んだ場合には対応することができず、被処理体のパターン欠陥が発生し、大量のロット不良を生じさせる。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a silicon wafer where slip starting from an interstitial spot defect does not occur at a portion from the shoulder part to the top of the cylindrical part of a silicon single crystal when the silicon single crystal is pulled and grown at the condition of entering in an I-rich zone.
Ｉ−リッチ領域に入る引上げ成長条件でシリコン単結晶を引き上げ成長させるに際して、シリコン単結晶の肩部から直胴部のトップ部までの部位で、格子間型点欠陥を起点にしてスリップが発生しないようにする。 - 特許庁 - According to this manufacturing method, generation of three kinds of defects at the internal portion of the laminated material 11, interlayer peeling, crack, and air hole can be prevented completely and a sintered material not including any defect at the internal part of the laminated material can be manufactured.
この製造方法によれば、積層体１１の内部に発生する層間剥離、クラック、気孔の３種類の欠陥の全てについて発生の防止が可能であり、これによって積層体の内部に欠陥を含まない焼結体を作製することができる。 - 特許庁 - As the front reflecting mirror, whose reflectivity can be comparatively low, is provided between the substrate and the semiconductor layer, the time to grow a thick film is shortened, a distortion and a defect, generated in a crystal, is suppressed and the characteristics of an optical resonator structure element can be improved.
比較的反射率の小さくても良い前部反射鏡を基板と半導体層の間に設けたため、成長に必要な時間を短縮し、結晶中に発生する歪や欠陥を抑制して素子特性を良好なものとすることができる。 - 特許庁 - To provide a communication apparatus and the like, which have resolved a defect caused by overloading in an auxiliary storage by the arrangement such that image data for transmission stored in the auxiliary storage can be automatically deleted in a communication apparatus provided with a function of changing the resolution for retransmission.
解像度変換再送機能が搭載され通信装置において、補助記憶装置に滞留している送信画像データを自動的に削除できるようにして、補助記憶装置の容量オーバーによる不具合を解消した通信装置等を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical disk player having a structure, by which a door can be opened and closed by utilizing power supplied from a driving source which concerns transport of a tray and rotation of a chassis, load applied to the driving source is reduced and a deflection defect of the door can be prevented.
トレイの移送及びシャーシの回動に関与する駆動源から提供される動力を利用して、ドアを開閉可能にして、駆動源に加えられる負荷を減らすと共に、ドアの曲がり不良を防止できる構造の光ディスクプレイヤを提供する。 - 特許庁 - In the ultrasonic flaw detection method for detecting flaws of the material to be inspected via water by using a piezoelectric oscillator, creeping waves are transmitted to the material to be inspected, and creeping waves reflected by a defect existing in the material to be inspected are received at a position different from the transmission position of the creeping waves.
圧電型振動子を用い、水を介して、被検査材の探傷を行なう超音波探傷方法において、被検査材に対してクリーピング波を送信し、被検査材に存在する欠陥で反射したクリーピング波を送信位置とは異なる位置で受信する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a composite substrate preventing a light emission abnormal point by processing only a part of a defect caused by foreign matter such as dust or dirt involved by dielectric printing or the like after baking, and having a high yield; and to provide the composite substrate and an EL element.
誘電体印刷などにより巻込まれた塵、埃等の異物により生じた欠陥を、焼成後にその部分だけ処理することによって、発光異常点を防ぎ、歩留まりのよい複合基板の製造方法、複合基板、およびＥＬ素子を提供する。 - 特許庁 - To provide an instant lottery which needs no much time or labor, facilitates use, generates no scraping chips, generates no practical problems such as unsealing defect and pattern transferring in unsealing when a user uses the instant lottery, has high productivity in manufacturing, and also has a low manufacturing cost.
ユーザーがインスタントくじを使用する上で、手間がかからず、使いやすく、削りカスが発生せず、また開封不良や、開封時の絵柄転写などの実用上の問題が生じないで、製造上で生産性が高く、製造コストが安いインスタントくじを提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic inspection method with high accuracy not by visual inspection, for detecting a defect on a stencil mask, in particular, detecting a foreign substance on the surface, and to provide an inspection device for obtaining a reference image for comparison inspection.
ステンシルマスク上の欠陥検出、特に表面異物を検出する方法について、目視検査によらず自動的な高精度検査方法を提案すると共に、比較検査を行うための基準画像が取得できる検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a contact charger which prevents a body to be charged from being charged ununiformly also decreases wear of the body to be charged, and also to provide an image forming apparatus which avoids an image quality defect, as in the form of a white streak, and ununiform image quality.
被帯電体が不均一に帯電するのを防止したり、被帯電体が損耗するのを低減したりすることができる接触帯電器、および白い横筋状の画質デイフェクトや画質むらの発生が回避できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent the sticking of liquid face suspensions causing a defect in coating on entrance into an electrodeposition tank when a paint liquid is stirred in such a manner that the surface flow of the paint liquid in the electrodeposition tank is made to flow in a direction reverse to the moving direction of the object to be coated, and electrodeposition coating is performed.
電着槽内における塗料液の表面流が被塗物の移動方向と逆方向に流れるように塗料液を攪拌して電着塗装する際に、塗装不良の原因となる液面浮遊物を入槽時に付着させないようにする。 - 特許庁 - To reduce the development defect by forming a liquid film of developer over the entire surface of a wafer W even if the water repellency of the surface of the wafer W is high when development is carried out by discharging the developer to the surface of the rotating wafer W.
回転しているウエハＷの表面に現像液を吐出して現像を行うにあたって、ウエハＷの表面の撥水性が大きくてもウエハＷの表面全体に亘って現像液の液膜を形成させ、現像欠陥を低減すること。 - 特許庁 - To provide a defect inspection apparatus for easily and quickly discriminating whether a crack detected on a surface of an equipment structure under reactor water in a reactor of an atomic power generation plant, is a fatigue crack, or a stress corrosion crack.
原子力発電プラントなどにおいて、炉水中の炉内機器構造物の表面に検出された亀裂が疲労亀裂であるか、あるいは応力腐食割れであるかを短時間の内に、容易に判別することのできる欠陥検査装置が求められている。 - 特許庁 - Therein, surface temperature of the SiC substrate is lower than back surface temperature thereof, therefore, the gas sublimated from the vicinity 12b of the back surface of the substrate having a high temperature is moved to the vicinity 12a of the surface of the substrate having a low temperature through a micropipe defect 11 which is hollow.
そして、ＳｉＣ基板裏面より基板表面の温度が低くなっていることから、温度が高い基板裏面近傍１２ｂから昇華したガスが中空であるマイクロパイプ欠陥１１を通して、温度の低い基板表面近傍１２ａに移動する。 - 特許庁 - To enable a liquid crystal display device to cope with both of the display signals of a sequential scanning and an interlaced scanning and also to dissolve the generation of the connection defect of up-and-down scanning in the sequential scanning in a liquid crystal display device in which two blocks of row scanning electrode driving circuits are arranged.
行走査電極駆動回路を２ブロック配置した液晶表示装置において、順次走査と飛び越し走査の双方の表示信号に対応することができるようにし、かつ順次走査における上下の連結欠陥の発生を解消する。 - 特許庁 - To realize a homoepitaxial growth to a low off angular surface in a silicon carbide {0001} plane to enhance the performance of an electronic device or ideally substantially to an off-less surface, to reduce a surface defect density in the homoepitaxial growth layer, and to make as flat as possible, on the front surface of the homoepitaxial grown layer.
電子デバイスの高性能化のために、炭化珪素｛０００１｝面において、低オフ角面、理想的には、ほぼオフ無し面へのホモエピタキシャル成長を実現すること、並びに前記のホモエピタキシャル成長層における表面欠陥密度を低減すること。 - 特許庁 - To provide a binding agent composition capable of a so-called clean casting, and containing no component causing a metallurgical defect of the casting, so that it results in the improvement of a working atmosphere of a place to work in relation to steel or the like, mainly a foundry.
従来の鋳造工場を主体とする鉄鋼関係職場等の作業環境の改善に繋がるようまた冶金学的に鋳物欠陥に繋がるような成分を含まず、いわゆるクリーンな鋳物ができる粘結剤組成物の提供をすること。 - 特許庁 - To enable to make uniform emission with high luminous efficiency by improving degradation of emission characteristics and emission defect in the polymer EL element in which at least the organic luminous layers (3, 4) are formed by a painting method or a printing method using a form.
少なくとも有機発光層（３、４）を版を用いた塗工法または印刷法により有機発光層を製膜した高分子ＥＬ素子における発光特性の低下や発光欠陥を改善し、発光効率が高く、均一な発光を行うことを目的とする。 - 特許庁 - As an oxide which contains an activated metal and a rare earth element which is variable in oxidation number, an oxide CeO_2 or Pr_6O_11, a composite oxide of Ce and Zr, or a composite oxide of Ce, Zr and Y is activated with a reductive gas at a high temperature to introduce an oxygen defect.
活性金属と酸化数変化の可能な希土類元素を含有する酸化物としてCeO_2又はPr_6O_11の酸化物又はCeとZrの複合酸化物又はCeとZrとYの複合酸化物とし、これを高温で還元性ガスにより活性化処理して酸素欠陥を導入する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a polymer film, especially a polyimide film which has no coating streaks, that is, a surface characteristic suitable as a substrate film of an electronic component, has the surface nature free from a surface defect like a crater, and carries a mechanical characteristic and heat resistance.
電子部品の基材フィルムとして好適な表面特性すなわち塗工スジのない、しかもクレータのような表面欠陥を有さない表面性を有し、機械特性と耐熱性を具備した高分子フィルム特にポリイミドフィルムを製造する方法を提供する。 - 特許庁 - Constitutive components of a defect inspection device are classified into components to be temperature-controlled and temperature-control unnecessary components, the components to be temperature-controlled are collectively stored in a temperature control component storage part 604, and the temperature-control unnecessary components are arranged in a heat radiation part 605.
欠陥検査装置の構成部品のうち、温度制御すべき部品と、温度制御不要の部品とに区別し、温度制御すべき部品を一括して温度制御部品収容部６０４に収容し、温度制御不要の部品を放熱部６０５に配置する。 - 特許庁 - To provide a high printing quality by eliminating a defect of decrease in printing quality caused by difficulty of speed controlling and large speed variation when a compression coil spring is used and practiced for supplementing a driving force for speed-up of a shuttle mechanism part.
本発明は、シャトル機構部の高速化を推力補助のために圧縮コイルバネを用い実施した場合の、速度制御が困難で速度変動が大きいことによる印刷品質低下という欠点をなくし、高印字品質を提供することを課題とする。 - 特許庁 - V-line flaw information indicative of relation between the position and level of a V-line flaw occurring in an image due to a defect in the charge transfer line of an image pick-up sensor 16 and the temperature of the image pick-up sensor 16 is prestored in a flaw information memory 54.
撮像センサ１６の電荷転送ラインにおける欠陥に起因して画像において発生するＶライン傷の位置およびレベルと、当該撮像センサ１６に係る温度との関係を示すＶライン傷情報を傷情報メモリ５４に予め記憶しておく。 - 特許庁
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