「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 316 317 318 319 320 321 322 323 324 .... 366 367 次へ＞- The threshold voltage of the element is prevented from varying since an impurity activating process for the source/drain area can be omitted, and no determination defect of the substrate is generated since the impurities are diffused in a solid state, so that a leak current flowing through a joint can be reduced.
ソース／ドレーン領域の不純物活性化工程が省略できるので素子のスレショルド電圧変動を防止でき、固体状態で不純物を拡散させるために基板の決定欠陥が発生せず、よって接合を通じた漏れ電流を減らせる。 - 特許庁 - To provide a polygon mirror which is easily machined and useful for preventing an image defect generated by the abnormality of the shape of the mirror surface of the polygon mirror, an optical deflector using the polygon mirror, a machining tool for the polygon mirror, a method of manufacturing the polygon mirror and the device of manufacturing the polygon mirror.
加工が簡単で、ポリゴンミラーのミラー面の形状異常によって発生する画像不良の防止に役立つポリゴンミラー、ポリゴンミラーを用いた光偏向装置、ポリゴンミラーの加工治具、ポリゴンミラーの製造方法及びポリゴンミラーの製造装置を提供する。 - 特許庁 - In such method of fabricating semiconductor device, the gap between the gates 120 is embedded without any void defect, and reliability of semiconductor device can be improved by conducting the sputter etching process when the inter-layer insulation film 130 is formed on the gate pattern.
このように、半導体装置の製造方法において、ゲートパターン上に層間絶縁膜１３０を形成する時にスパッタエッチング工程を行えば、ゲート１２０間のギャップがボイド欠陥無しに埋め込まれ、半導体装置の信頼性を高めることができる。 - 特許庁 - To effectively suppress looseness by minutely coping with the unevenness of a building floor face while suppressing the occurrence of a defect that the strength of one of a surface material and a backing material is lowered in comparison with that of the other in a floor panel with the surface material placed over the backing material.
表材と裏材とを重合させている床パネルにおいて、表材又は裏材の一方の強度が他方の強度と比べて低下する不具合の発生を抑えつつ建築床面の不陸にきめ細かく対応させてがたつきを効果的に抑える。 - 特許庁 - To provide a screen printing device by which a flat film without defect can be obtained by preventing the occurrence of foams and printing operation and screen mesh removing operation can be smoothly carried out and a manufacturing method and a manufacturing device of an illuminating device using this kind of screen printing device.
気泡の発生を防止して平坦で欠損のない膜が得られ、かつ印刷動作、スクリーンメッシュ剥離動作が円滑に行えるスクリーン印刷装置、この種のスクリーン印刷装置を用いた発光装置の製造方法および製造装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a biaxially oriented film capable of stably producing a film of high quality without an orange peel-like defect at a fast speed for a long time having an excellent smoothness in a method for biaxially orienting a sheet obtained by using a cooling roll having a microcrack surface.
マイクロクラック表面の冷却ロールを用いて得られるシートを二軸延伸する方法において、平滑性に優れ、オレンジ肌様欠点のない高品質のフィルムを高速で長時間安定して生産できる二軸延伸フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an actinic ray sensitive or radiation sensitive resin composition that excels in roughness property, exposure latitude, depth of focus and development defect performance and that allows to form a fine isolated space pattern of favorable shape, and to provide a pattern forming method using the same.
ラフネス特性、露光ラチチュード、焦点深度及び現像欠陥性能に優れ且つ良好な形状の微細な孤立スペースパターンを形成可能とする感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、及びそれを用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method and system for efficiently determining the cause of an error such as 'telephone is cut off in the middle of conversation', specifically whether the error is due to a defect specific to a mobile terminal or due to a base station in that area.
本発明は、例えば「通話が途中で切れる」というエラーについて、そのエラーがその移動端末固有の故障によるものか、その地域の基地局の原因によるものか効率よく判断することのできる方法及びシステムを提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a device and a method for scanning exposure which are improved to realize effective prevention of an unsuitable exposure (fogging) on a sensitive substrate resulting from a pin hole defect besides a pattern area of an original plate without lowering a throughput or without generating a foreign matter.
スループットを低下させたり、異物を発生させることなく、原版のパターン領域外のピンホール欠陥に起因する感応基板上での不適正露光（かぶり）を有効に防止できるよう改良を加えた走査露光装置及び走査露光方法を提供する。 - 特許庁 - When too high transmittance is obtained in the correction of a white defect by depositing an electron beam CVD film 6 of tetramethoxysilane in a halftone phase shift mask, a focused ion beam CVD film or an electron beam CVD film using a carbon-based source gas having low transmittance is further deposited to control the transmittance.
ハーフトーン型位相シフトマスクのテトラメトキシシランの電子ビームCVD膜６の白欠陥修正で透過率が高すぎる場合には透過率の低い炭素系の原料ガスを用いた集束イオンビームCVD膜または電子ビームCVD膜を積層して透過率を調整する。 - 特許庁 - To provide an electrostatic oil coating apparatus and method by which the coating defect of oil due to lack of hiding by proportional control is eliminated on and from the start-up of the oil coating even if proportional control start-up speed is decreased to the lower limit to perform the uniform electrostatic oil coating and futile use of a product is reduced to improve the production efficiency.
比例制御開始速度を下限まで遅くしても、比例制御による塗油開始時からスケによる塗油不良をなくして均一に静電塗油させることができ、製品の無駄を減少させて生産効率を向上させる。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method and a manufacturing apparatus for a semiconductor device, that can prevent a bonding defect of a bump electrode from occurring when a surface electrode of a semiconductor chip having electrodes formed on its top and reverse surfaces is connected to a package substrate in a flip-chip manner.
表面及び裏面に電極が形成された半導体チップの表面電極をパッケージ基板にフリップチップ接続する場合に、バンプ電極の接合不良を防止することができる半導体装置の製造方法及び製造装置を提供する。 - 特許庁 - To eliminate the adverse influence that the dimensional fluctuation of a resist pattern induced by consequence of the degradation in the transmittance of a defect correction portion exerts on device quality when a design pattern dimension is reduced like, for example, about 1 μm in the dimension value on the photomask.
デザインパターン寸法がフォトマスク上の寸法値で例えば約１μｍという様に縮小されるときに、欠陥修正部分の透過率低下に起因して生じるレジストパターンの寸法変動がデバイス品質に悪影響を及ぼす点を改善する。 - 特許庁 - Consequently, propagation of the defect to a P^+ diamond semiconductor layer 11 and a P^- diamond semiconductor layer 12 is suppressed, so hillock density and abnormal particle density can be made low and generation of a leakage current can be deterred at a level lower than the level of a Schottky barrier.
これにより、Ｐ^＋ダイヤモンド半導体層１１及びＰ^−ダイヤモンド半導体層１２への欠陥の伝播が抑制されるので、ヒロック密度や異常粒子密度を低くでき、ショットキー障壁のレベルよりも低いレベルでのリーク電流の発生を抑止できる。 - 特許庁 - If verified, it is decided whether the verification has been performed by the usually used information recording and reproducing device (a usually used drive) and, when it is performed by a drive other than the usually used drive, it is decided that the defect detection is necessary again and the whole surface of the optical disk 1 is automatically verified.
ベリファイ済みであれば、それが自社機の当該情報記録再生装置（自ドライブ）でなされた否かを判定し、自ドライブ以外でなされた場合には、再度欠陥検出が必要と判断して、光ディスク１の全面を自動的にベリファイする。 - 特許庁 - To provide a structure for saving the cost of forming an insulating film in manufacturing a stacked package, securing insulation properties of the insulating film, securing uniformity and low roughness of the insulating film, and preventing a device failure from occurring due to the defect of the insulating film itself.
積層パッケージの製作時絶縁膜形成費用を節減し、かつ、絶縁膜の絶縁特性を確保し、さらに、絶縁膜の均一度及び低い荒さを確保し、そして、絶縁膜自体の欠陥による素子不良発生を防止する構造を提供する。 - 特許庁 - To provide a corner joining method by friction stir welding capable of preventing generation of a joining defect at a joining part in the corner joining method by friction stir joining to join butt ends of two joining members assembled to form a corner part.
すみ部が形成されるように合わされた２個の接合部材の合わせ部をすみ部から接合する、摩擦撹拌接合によるすみ接合法であって、接合部に接合欠陥が発生することを防止できる、摩擦撹拌接合によるすみ接合法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image display device for effectively preventing abnormal display from being caused by corrosion, disappearance or the like of a detecting electrode or a lead wiring conductive film (e.g. Cr) on a wiring terminal part when the defect of a display part is inspected, with a simple constitution.
表示部の欠陥検査時に、配線端子部にある検査用電極や引出配線用導電膜（例えばＣｒ）の腐食、消失等によって表示異常が生じるのを、簡単な構成で効果的に防止できる画像表示装置を提供する。 - 特許庁 - When a semiconductor is divided into a main circuit part (N: the number of elements having possibility in which defect is caused) and a redundant relieving circuit section (N: same as the above) and circuit ratio is assumed to be N/N=α, and main circuit area is assumed to be A, the redundant relieving circuit is expressed as αA.
半導体装置を主要回路部（Ｎ：欠陥が起こる可能性のある個数、素子数）と冗長救済回路部（Ｎ：同上）と分けた場合、回路比Ｎ／Ｎ＝αとし、主要回路面積をＡとした場合、冗長救済回路はαＡで表される。 - 特許庁 - To provide a method for driving a dampening roller by which a refuse stuck on a plate cylinder is removed when a place which does not directly influence on regular printing number of sheets passes through a printing unit even if a defect on printing is generated, and hickey can be prevented from being generated and an apparatus for driving it.
印刷不良が発生しても正規印刷枚数には直接影響しない場所が印刷ユニットを通過する時に版胴に付着したごみを除去し、ヒッキーを未然に防止する水着けローラの駆動方法およびその駆動装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide gloss coated paper for offset printing, which hardly has fine gloss unevenness being an important defect with respect to qualities during a high-temperature soft calendering treatment and excellent surface shape, especially excellent white paper gloss, and to provide printing gloss and a method for producing the same.
本発明の目的は、高温ソフトカレンダー処理時に品質上重大な欠陥となる微小な光沢ムラが少なく面状に優れ、特に白紙光沢、印刷光沢に優れたオフセット印刷用光沢塗被紙およびその製造方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a color filter having excellent flatness, causing no defect in liquid crystal orientation and also causing no peeling of an orientation film in a rubbing stage, to provide a color filter substrate, and to provide a liquid crystal display provided with them.
平坦性に優れ、液晶配向不良を引き起こすことなく、配向膜のラビング工程における膜剥がれを生じることもない表示特性良好なカラーフィルタ、カラーフィルタ基板ならびにそれらを備えた液晶表示装置を提供することにある。 - 特許庁 - In a sizing process, deformation processing is applied to a steel pipe electro-resistance-welded having a circular section in a direction wherein a fine defect in the weld is enlarged by sizing rolls for the deformation processing, and ultrasonic flaw inspection of the weld is performed in this state.
サイジング工程の中で、電縫溶接された断面が円形の鋼管を、変形加工用のサイジングロールにより溶接部の微少な欠陥が拡大する方向に変形加工を施し、この状態で溶接部の超音波探傷検査を行うようにした。 - 特許庁 - To provide a two-dimensional image reader and a drive control method capable of salvaging a photosensor where the defect of reset operation characteristics is generated and excellently reading two-dimensional images while suppressing increase of the entire operation processing time and the rise of the product cost.
全体の動作処理時間の増大や製品コストの上昇を抑制しつつ、リセット動作特性の不良が生じたフォトセンサを救済して、２次元画像を良好に読み取ることができる２次元画像読取装置及びその駆動制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an electro-optical device capable of surely forming display indicating information to be used for defect analysis or traceability management in a space-saving area other than a transistor forming area on a substrate even when the device is miniaturized and capable of improving yield in manufacturing.
不良解析やトレーサビリティ管理に用いる情報を示す表示を、装置の小型化を図っても確実に基板に対し、省スペースにてトランジスタ形成領域外に形成でき、製造時の歩留まりを向上させることができる電気光学装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a composition for a mold, a mold for casting and a manufacturing method therefor having self-hardenability by improving sweat absorption, high stability in dimension and high productivity without generating a casting defect, at a low cost.
自己硬化性を有するとともに吸湿特性が改善され、かつ、安価で、寸法安定性及び生産性が高く、鋳造欠陥を生じ難い鋳造用鋳型を提供することができる鋳型用組成物、鋳造用鋳型及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Preferably, a depth di from the surface 2 to the internal defect 5 or the buried body in the diagnosed portion 4 is calculated based on a concrete elastic characteristic v of the diagnosed portion 4 and a time ti from the detection of the surface wave 9 to the detection of the each elastic wave 10i.
好ましくは、被診断部位４のコンクリート弾性特性ｖと表面波９の検出から各弾性波10iの検出までの時間tiとから被診断部位４における表面２から内部欠陥５又は埋設物までの深さdiを算出する。 - 特許庁 - To provide a vegetable transplanter in which even lightweight seedlings can surely be transplanted without producing a defect stub and can be transplanted at a high speed by assisting supply of seedlings from a seedling feed part 7 to a transplantation claw 51 by carrying out watering.
灌水することによって苗供給部７から移植爪５１への苗供給を補助するようにして、軽量苗でも欠株を発生させることなく確実に移植でき、かつ軽量苗でも高速移植ができるようにした野菜移植機を提供しようとする。 - 特許庁 - To provide an image processor capable of changing a hard-to-view object to an easy-to-view object for the display contents of a main body or print for a user with a defect in color perception or a user with the hard-to-view object, and to provide a control method of the image processor.
色覚障害等のユーザ、または、見難い物があるユーザにとって、本体の表示内容または印刷について、見難い物を見易い物に変更することができる画像処理装置及び画像処理装置の制御方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an image forming method that is superior in rubfastness and prevents an occurrence of an image defect such as a scratch in an image or the like when a number of recording media are processed at high speed such that conveyance speed of the recording media with respect to an ejecting head is 200 mm/sec or more.
吐出ヘッドからみて記録媒体の搬送速度が２００ｍｍ／ｓｅｃ以上となる高速で多数枚処理する際に、優れた耐擦過性を示し、画像中の傷等の画像欠陥の発生が防止された画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - The magneto-optic defect detection method applies a magnetic field to the object 1 to be inspected to detect a leakage magnetic field generated at a defective part 2 on the surface of the object 1 to be inspected by a magneto-optic effect of light penetrated through a magneto-optic element 10 approximated to the object to be inspected.
被検査物１に磁界を印加して、その表面の欠陥部２に生じた漏洩磁界を、被検査物に近接させた磁気光学素子１０に透過させた光の磁気光学効果により検出する磁気光学式欠陥検出方法である。 - 特許庁 - To determine, even if minute irregularity is made at an irradiation position of light in the surface of an object, while eliminating an influence of the irregularity, whether or not a defect of a foreign substance equal to or higher than a predetermined height exists on the surface of the object.
対象物の表面における光の照射位置に微小な凹凸が形成されている場合でも、この凹凸の影響を排除しつつ、予め規定された高さ以上の異物欠陥が対象物の表面上に存在するか否かを判定する。 - 特許庁 - To provide an adhesive sheet for an electronic photographic recording free from the failures in label releasability, stacking and the like attributable to curling generated by the heat shrinkage of a surface base material, and the troubles of appearance defect of flapping and the like caused by the heat shrinkage of the surface base material.
表面基材の熱収縮により発生するカールが原因となるラベル剥がし性不良、スタッキング不良等がなく、かつ表面基材の熱収縮により波打ち等の外観不良の問題がない電子写真記録用粘着シートを提供する。 - 特許庁 - This easily provides an ohmic contact between the GaN single crystal substarte 30 and the electrode 44 to decrease a drive voltage in the semiconductor laser 50 related to this invention with the electrode 44 formed to the defect cluster 14a.
そのため、この欠陥集合部１４ａに電極４４を形成した本発明に係る半導体レーザ５０においては、ＧａＮ単結晶基板３０と電極４４との間でオーミックコンタクトが取りやすくなっており、それにより駆動電圧の低減が実現されている。 - 特許庁 - To provide a toner free from staining, the deterioration of image density, the generation of void due to transfer defect and transfer dust and stable in image reproducibility and the producing method.
本発明は、上記従来技術の実状に鑑みてなされたものであって、添加剤の適性混合を可能とすることで、地汚れ、画像濃度低下、転写不良による白抜け、転写ちりなどが無い、画像再現性の安定したトナーとその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an evaluating method simply introduced in a fabricating process so as to evaluate whether an epitaxial defect in a process of epitaxial growth of an epitaxial wafer arises or not at the stage of a silicon wafer or a silicon monocrystal before the process of epitaxial growth.
エピタキシャルウエーハのエピタキシャル成長プロセスにおいてエピ欠陥が発生するか否かを、エピタキシャル成長プロセス前のシリコンウエーハあるいはシリコン単結晶の段階において、製造工程に取り入れられるほどの簡便さで評価する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an electrostatic charge image developing toner capable of forming an image of high quality stably for a long period without the occurrence of a cleaning defect even with the toner of high circularity and without depending on an environment and printing pattern, and an image forming method.
円形度が高いトナーにおいてもクリーニング不良を起こすことなく、環境や印字パターンに依存せず長期に渡り安定して高画質な画像を形成することができる静電荷像現像用トナー及び画像形成方法を提供することである。 - 特許庁 - Thus, the generation of a Ga defect can be controlled in the sub-emitter layer 45, and the semiconductor wafer 1 can be manufactured so that a bipolar semiconductor element with a hetero joint can be manufactured without reducing a current amplification factor of β.
これによりサブエミッタ層４５におけるＧａ欠陥の発生を制御することができ、この結果、電流増幅率βを低下させることのないヘテロ接合バイポーラ半導体素子の製作を可能とするように半導体ウェーハ１を製造することができる。 - 特許庁 - To provide an injection mold reducing the inflow of gas into the resin flow passage of a hot runner without extending a molding cycle even in a gas injecting mold having the hot runner and reducing the generation of appearance defect in an obtained molded article.
ホットランナーを有するガス注入用の金型であっても、成形サイクルを長くすることなく、ホットランナーの樹脂流路内にガスが流入することが少なくなり、得られる成形品に外観不良が生じることが少なくなる射出成形用金型を提供する。 - 特許庁 - In a method to form the quartz glass ingot of ultra low contamination and defect levels by firing a high-purity quartz form as the feedstock, the quartz glass ingot is free-formed on a platen rotating concentrically with the feedstock quartz article.
素材としての高純度石英成形品を焼成することで、汚染レベル及び欠陥レベルが極めて低い石英ガラスインゴットを形成する方法であって、石英ガラスインゴットが素材石英物品と同心的に回転するプラテン上で自由成形される方法。 - 特許庁 - To provide a flat battery which can reduce defect caused by electrode plate breaking or active material layer removing from electrodes when the electrodes are inserted and set in a battery case, and enables good discharging characteristic by improving nonaqueous electrolyte soakage to the electrodes.
電極群を電池ケースに挿入、収納する際の極板の破損や活物質層の脱落による不良を低減すると同時に、電極群への非水電解液の含浸性を向上させることにより放電率特性に優れた扁平形電池を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a larger high quality bulk single crystal of silicon carbide with low 1c screw dislocation defect levels in a crystal formed in the seeded sublimation system in order to reduce the total number of defects in the manufactured crystal.
製造された結晶にある欠陥総数を低減するために、種結晶を用いた昇華システムにおいて形成された結晶の１ｃらせん転位欠陥レベルが低く、より大きく、高品質の炭化珪素バルク単結晶を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - Concretely, carbide forming elements formed from a liquid in the massive zone on the solidified boundary of single crystal(SC) and directional solidified(DS) nickel base superalloys are added to reduce the formation of the defect such as freckles and stray grains in the alloys.
具体的には、単結晶（ＳＣ）及び方向性凝固（ＤＳ）ニッケル基超合金の凝固界面のマッシーゾーン中の液体から生成する炭化物生成元素を添加して、かかる合金におけるフレックル及び迷結晶粒欠陥の形成を低減する。 - 特許庁 - To provide silica particulates, maintaining satisfactory fluidity by suppressing the burying thereof into toner particles, also preventing a filming phenomenon by the defect in the scraping of a cleaning blade, and also suppressing the variation in toner electrification quantity, when used as a toner external addition agent for electrophotography.
電子写真用トナー外添剤として使用した場合、トナー粒子への埋没を抑えることで良好な流動性を維持し、かつクリーニングブレードのかきとり不良によるフィルミング現象を防止し、かつトナー帯電量のバラツキを抑制したシリカ微粒子を提供する。 - 特許庁 - A TFT array inspection apparatus 1 detects TFT defects on the basis of detected waveforms acquired by two-dimensionally scanning electron rays over TFT arrays and is provided with a defect-type classification part 6 for classifying the types of TFT defects.
ＴＦＴアレイ検査装置１は、電子線をＴＦＴアレイ上で二次元的に走査して得られる検出波形に基づいてＴＦＴ欠陥を検出するＴＦＴアレイ検査装置であり、ＴＦＴの欠陥の種類を分類する欠陥種類分類部６を備える。 - 特許庁 - As a result, the fluid 38 can increase the solidified reforming layer 39 and can increase the amount of dissipation of the casting defects, and the inner peripheral surface of the prepared hole of the casting 19 is more surely prevented from being communicated with the casting defect.
これによって流動体３８が固化した改質層３９を増やすことができ、鋳造欠陥の消失量を増大することができ、鋳造物１９の下穴内周面と鋳造欠陥とが連通することをより確実に防ぐことができる。 - 特許庁 - Therefore, base material-supporting force by the backup roll 16 is increased, and the slippage between the aluminum web and the backup roll 16 is prevented to cause no qualitative defect due to scratches on the surface of the aluminum web, and a photosensitive printing plate is excellently coated.
このため、バックアップロール１６による支持体の保持力を増大させることができ、アルミウェブとバックアップロール１６との間のスリップを防止することができ、アルミウェブの表面のキズによる品質故障がなく、感光性印刷版を良好に塗布することができる。 - 特許庁 - To provide a method and a device for inspecting a defect, capable of recalculation by collecting image data for a product currently on a production line even during a continuous inspection, without giving influence to an inspection tact and without stopping the line, and capable of evaluating ability of an inspection machine itself.
連続検査中においても、その検査タクトに何も影響を与えること無く、またラインを止まることなく、現在流れている製品の画像データを集収し、再計算することができ、検査機自身の能力を評価することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a liquid crystal display panel in which tracing dynamic operating inspection to accurately detect an electrical defect of the liquid crystal display panel is applicable, while a terminal formed on an electrode terminal part is protected with a protective film, and the liquid crystal display panel.
電極端子部上に形成された端子を保護膜で保護しつつ、液晶表示パネルの電気的欠陥を的確に検出可能ななぞり点灯検査を適用することができる液晶表示パネルの製造方法と液晶表示パネルを提供する。 - 特許庁 - In the manufacturing method, manufacturing processes can be decreased, by detecting whether the circuit pattern is proper, and an open-circuit or short-circuit defect in an optical inspecting process and the yield of following processes can be improved.
また、本発明の検査方法は、測定された幅が画素の大きさより大きな不良が検出されないと、回路パターン又は空間成分の明るさレベルを垂直方向により細かく分析して、オープン、ショート又は残留銅箔に応じる不良を検出する。 - 特許庁
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