「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 336 337 338 339 340 341 342 343 344 .... 366 367 次へ＞- To prevent the occurrence of a short-circuiting defect between electrodes by spreading a conductive adhesive when connecting the exposed connection part of a lead terminal provided on the inner bottom of a case and the electrode of an electronic component element by the conductive adhesive since an interval between the electrodes of the electronic component becomes narrow with the miniaturization of the electronic component.
電子部品の小型化にともない、電子部品の電極間隔が狭まり、ケースの内底面に設けたリード端子の露出接続部と電子部品素子の接続電極を導電性接着剤で接続する際、導電性接着剤が広がり電極間で短絡不良が発生するのを防止する。 - 特許庁 - To provide an organic photoreceptor which exhibits stable moire generation prevention effect even in image exposure using interference light of a laser etc. and also generates no image defect such as a black spot and to provide an apparatus and a method for image formation and a process cartridge which use the organic photoreceptor.
本発明の目的は、レーザ等の干渉光を用いた像露光でも安定したモアレ発生防止効果を有し、且つ黒ポチ等の画像欠陥を発生しない有機感光体を提供することであり、且つ該有機感光体を用いた画像形成方法、画像形成装置、プロセスカートリッジを提供することにある。 - 特許庁 - To provide an electrophotographic photoreceptor excellent in mechanical durability, sensitivity and oxidation resistance of the surface, suppressing an image defect caused by deposition of a discharge product, and maintaining the characteristics at a high level with time, and to provide a process cartridge and an image forming apparatus using the photoreceptor.
表面の機械的耐久性や耐酸化性に優れ、放電生成物の付着に起因する画像欠陥も抑制できると共に感度にも優れ、さらに、これらの特性を経時的に高いレベルで維持することが容易な電子写真用感光体、並びに、これを用いたプロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供することである。 - 特許庁 - To provide a pulse signal processing circuit capable of effectively suppressing a defect caused in an output PWM signal due to unevenness of operating characteristics of a pair of active elements in the case of delivering a PWM signal through a PWM signal output section including a pair of the active elements as the output PWM signal.
ＰＷＭ信号を、一対の能動素子を含んだＰＷＭ信号出力部を通じて、出力ＰＷＭ信号として導出するにあたり、一対の能動素子の動作特性の不揃いに起因して出力ＰＷＭ信号に生じる不都合を効果的に抑制することができるものとする。 - 特許庁 - To provide a method and a device of inspecting a semiconductor device by charged particle beams and focused ion beams, for detecting, from a potential contrast difference of secondary electron images, a failure point such as leakage due to a defect in the semiconductor device, which cannot be detected merely through appearance shape observation in conventional semiconductor analysis.
従来の半導体解析において外観形状観察だけでは検出することが不可能な、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク等の不良箇所を、二次電子像の電位コントラスト差から検出する、荷電粒子ビームおよび集束イオンビームによる半導体装置の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁 - To solve the defect of the conventional technique in an electric cable having a conductor, and an insulator for conductor surrounding the conductor and composed of an inner layer made of a halogen free flame resistant polymer crosslinked material and an outer layer partially made of an oil-proof synthetic resin.
導体、および該導体を取り巻く、内側層と外側層とよりなる導体用絶縁体を有する電気ケーブルであり、該絶縁体の内側層がハロゲン不含の難燃性ポリマー架橋物よりなりそして外側層の少なくとも一部分が耐油性の合成樹脂で造られている該電気ケーブルにおいて従来技術の欠点を克服すること。 - 特許庁 - To provide a method for assuring strength of a cast product, which can reliably assure that a cast product is free from internal defects in terms of the size of the product that can cause strength problems to assure the strength of the cast product more accurately than before without increasing the performance of a defect inspection device.
欠陥検査装置の能力アップを要することなく、鋳造製品に強度上問題となるサイズの内部欠陥が存在しないことを確実に保証することにより、従来よりも高い精度で、鋳造製品の強度を保証することができる鋳造製品の強度保証方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a solar cell module that can suppress occurrence of a connection defect of a reverse surface of a solar cell and a wiring material, the solar cell module, a solar cell forming the solar cell module, and a method for manufacturing the solar cell.
太陽電池の裏面と配線材との接続不良が発生することを抑制するとともに、太陽電池の生産効率が低下することを抑制することのできる太陽電池モジュールの製造方法、太陽電池モジュール、当該太陽電池モジュールを形成する太陽電池、及び太陽電池の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The method for encapsulating the carbon material into the aluminum, comprises (i) a step for guiding defect and functionalization to the carbon material; (ii) a step for mixing the functionalized carbon material into the aluminum; and (iii) a step for ball-milling the above mixture under inert gas atmosphere.
本発明は、（ｉ）炭素材料に欠陥及び機能化を誘導する段階；（ｉｉ）上記機能化された炭素材料をアルミニウムと混合する段階；及び（ｉｉｉ）不活性気体雰囲気の下で上記混合物をボールミリングする段階；を含む、炭素材料をアルミニウムの中にカプセル化する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an application method which can produce a fixation member having a curvature for obtaining a print excellent in gloss without encountering coating film defect (cissing) and film peeling and can inhibit the fixation member from being peeled when repeatedly used and to provide a fixation member produced by the application method.
本発明の目的は、光沢性に優れたプリントを得るための曲率を有する定着部材と、塗膜故障（はじき故障）及び膜剥がれが無く製造でき、かつ繰り返し使用による定着部材のはがれを抑制する塗布方法及びその塗布方法による定着部材を提供することにある。 - 特許庁 - To provide monolithic refractory for dry construction constituted to eliminate the defect of conventional monolithic refractory for dry construction, having firm adhesive strength from a low temperature range of several hundred degrees centigrade regardless of an oxidizing or non-oxidizing atmosphere and producing neither malodor nor noxious gas in work environment.
従来の乾式施工用不定形耐火物の欠点を解消するために行われたものであり、酸化・非酸化雰囲気を問わず、数百℃の低温度域から強固な接着力を有し、且つ、作業環境的には悪臭や有害ガスの発生しない乾式施工用不定形耐火物を提供する。 - 特許庁 - To provide a mold for blow molding which eliminates the defect that the process for separating the molded product part from the flash part is indispensable after blow molding.
解決しようとする課題は、従来のブロー成形用金型の食切り刃が、型締めされたパリソンの成形品部とバリ部との境部分を薄く押し潰すだけで該成形品部と該バリ部を該食切り刃が切り離すわけではなく、成形後に該成形品部と該バリ部を分離するための工程を欠かすことができないという点である。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus for forming excellent images without generating image defect caused by adhesion of discharge products by removing the discharge products adhered to an image carrier, while reducing the image carrier even when a lubricant is interrupted from being applied on the image carrier.
像担持体に潤滑剤を塗布することを中断したときであっても、その像担持体の磨耗を低減しつつその像担持体に付着する放電生成物を除去し、かかる放電生成物の付着に起因した画像欠陥が発生することない良好な画像形成を行うことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a chemical mechanical polishing method of a workpiece in a semiconductor device manufacturing process which can progress polishing at a sufficient polishing speed in a planarizing process of a surface to be processed by the chemical mechanical polishing, suppress surface defect such as dishing, and sufficiently suppress a cost in practical usage.
化学機械研磨による被加工面の平坦化工程において十分な研磨速度で研磨進行し、ディッシング等の表面欠陥が抑えられ、現実の使用においてもコストを十分に抑えることが出来る、半導体デバイス製造工程における被加工体の化学的機械的研磨方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a retardation film which comprises RM or LC having a low optical retardation, does not have a defect of the conventional technique, in particular does not require many additional process steps or high-temperature steps, and is manufactured relatively at a low cost, and also to provide a method and a material advantageous for manufacturing such a film.
従来技術の欠点を有しない、特に、多くの別個のプロセス段階または高温段階を必要とせず、製造するのが比較的安価である、低い光学的遅延を有するＲＭまたはＬＣを含む遅延フィルム並びに、このようなフィルムの製造のための有利な方法および材料を提供する。 - 特許庁 - The light-transmitting member is a light-transmitting member made of molten quartz glass containing titanium and is characterized in that the concentration of oxygen defect structures showing absorption at a wavelength in 163 nm is ≤6×10^-3 mol/L in 100 μm surface region from a light incident surface.
この光透過部材は、チタンを含有する溶融石英ガラスよりなる光透過部材であって、当該光透過部材は、光入射面から１００μｍの表面層領域において、波長１６３ｎｍに吸収を示す酸素欠陥構造の濃度が６×１０^-3ｍｏｌ／Ｌ以下であることを特徴とする。 - 特許庁 - The defect detection method of an SOI substrate at least has: a process for preparing an SC1 solution as an etching solution; a process for dipping the SOI substrate into the SC1 solution for etching; and a process for observing the defects of the etched SOI substrate by a detector.
少なくとも、エッチング溶液としてＳＣ１溶液を準備する工程と、ＳＯＩ基板を前記ＳＣ１溶液に浸漬してエッチングする工程と、前記エッチングしたＳＯＩ基板の欠陥を、検出装置で観察する工程とを有することを特徴とするＳＯＩ基板の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - The printing material supplying apparatus comprises the film of a triazine dithiol derivative formed on the surface of the inner wall of the printing material containing chamber brought into contact with the printing material, thereby eliminating the defect of the conventional apparatus by utilizing the properties such as water repellency, stain resistance and the like of the triazine dithiol derivative.
印刷材料が接触する印刷材料収容室内壁表面にトリアジンジチオール誘導体の被膜を形成し、該トリアジンジチオール誘導体の有する撥水性、非汚染性等の性質を利用することにより、従来装置の欠点を解消した印刷材料供給装置を提供する。 - 特許庁 - This display device is constituted by providing the peripheral section of a display element 14 with a light absorption member 210, affixing a light absorption layer 214 to the segment which is a bright defect and providing the surface facing the large-sized light transmission plate 140 of an optical waveguide plate 20 which is one of the components of the display element 14 with projecting parts 216.
表示素子１４の周部に光吸収部材２１０を設け、明欠陥となっている部分に光吸収層２１４を貼着し、表示素子１４の構成部材の１つである光導波板２０のうち、大型導光板１４０と対向する面に突部２１６を設けて構成する。 - 特許庁 - To provide a laser heat-transfer recording method in which reliability on an end detection, reduction of a material loss, and preventions of blocking and imaging defect are assured, and effective prevention of a carrying trouble is provided, in an exposure recording device used for a photothermal convertion type ink sheet suitable for the preparation of a transfer type high definition image and a color-proof or the like.
転写型高精細画像、カラープルーフ等の作成に好適な光熱変換型インクシートに用いられる露光記録装置において、エンド検知の確実性と材料ロス低減及びブロッキングを防止し、画像欠陥を防止でき、搬送トラブル防止に効果のあるレーザー熱転写記録方法を提供すること。 - 特許庁 - In the pattern inspection of a semiconductor device, a basic pattern used for correcting the mounting position of a sample substrate on a supporting base is recorded previously, the positional shift of mounting is corrected using the basic pattern, the image of a pattern formed on the sample substrate mounted on the supporting base is acquired, and then the defect of the pattern is detected from the image thus acquired.
半導体装置のパターン検査において、試料基板の支持台に載置する際の載置位置の補正に用いる基本パターンを予め記録し、基本パターンを用いて載置位置のずれを補正して、支持台に載置された試料基板に形成されたパターンの画像を取得し、取得された画像から、パターンの欠陥を検出する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal dispensing apparatus with which the defect of a produced liquid crystal panel can be prevented by forming a measuring means for measuring the height of pattern spacers integrally with the liquid crystal dispensing apparatus, calculating the quantity of the liquid crystal to be dispensed based on the measured height of the spacers and dispensing the quantity corresponding thereto of the liquid crystal and to provide its liquid crystal dispensing method.
パターンスペーサの高さ測定手段を一体に形成して測定されたスペーサの高さに基づいて液晶の滴下量を算出し、これに該当する量の液晶を滴下することで、製作された液晶パネルの不良を防止し得る液晶滴下装置及びその液晶滴下方法を提供しようとする。 - 特許庁 - The device for reproducing a disk acquires a defect list on which correspondence information on a defective block and an alternative block is registered with the classification of the defective block from a recording medium, and reads the alternative block and transfers it to the origin of a reproduction request when it is necessary to read the defective block from the recording medium.
欠陥ブロックと代替ブロックとの対応情報が欠陥ブロックの種別とともに登録された欠陥リストを記録媒体から取得しておき、該記録媒体から欠陥ブロックを読み出す必要がある場合は、その代替ブロックを読み出して再生要求元に転送するディスク再生装置を前提としている。 - 特許庁 - To solve the problem of a current bio-toilet dissolving tank agitating device having the agitating structure for rotating a shaft when dissolving excreta with the bio germ and formed into the shaft rotating structure with a defect that the shaft is easy to be broken and damaged and hard to cope with these damage in a limited space inside a tray.
従来、バイオ菌で糞尿を消滅させるに当たり軸を回転させる攪拌構造を採用するものもあるが、それらは軸回転構造になっているので、軸折れや他の損傷も多い欠陥があり、トレイの限られたスペース内での損傷対策には無理があるため、これらの解消を図る。 - 特許庁 - To provide an electrophotographic apparatus which maintains good cleanability over a long period of time in spite of an electrophotographic photoreceptor having high mechanical durabilility to wear, flaws, etc., is free of an image defect and improves the durability of the electrophotographic photoreceptor and a cleaning blade and an electrophotographic image forming method.
摩耗や傷などに対する機械的耐久性が高い電子写真感光体であっても、長期にわたって良好なクリーニング性を保持し、画像不良がなく、かつ、電子写真感光体やクリーニングブレードの耐久性を向上させた電子写真装置および電子写真画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a dross defect suppressing device of a device for continuously plating a molten metal of a steel strip in which a dross residence time in a triangular zone at the time of continuously plating the molten metal is reduced, the dross inclusion is effectively suppressed, and a plated steel plate excellent in surface property is manufactured stably over a long time.
連続溶融金属鍍金時の三角地帯におけるドロス滞留時間を減少させ、ドロス噛み込みを効果的に抑制し、表面性状の優れた鍍金鋼板を長期に渡り安定して製造し得る、鋼帯の連続溶融金属鍍金装置のドロス欠陥抑制装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a tungsten sputtering target by which the occurrence of particle defect in a deposited film can be suppressed even if powder having a particle size of a level identical with that of commercially available powder is used, i.e., the tungsten target having high density, fine grain size and low oxygen content can be stably manufactured at a low cost.
現在一般的に市販・流通されている粒径の粉末を使用しても、成膜上のパーティクル欠陥の発生を抑え、すなわち、高密度・結晶粒径が微細、且つ酸素含有量が低いタングステンターゲットを低いコストで且つ安定して容易に製造できるスパッタリング用タングステンターゲットの製造方法を提供する。 - 特許庁 - Since the threshold value of the transistor which has trapped the hole and the electron in the crystal defect fluctuates, the difference in a drain current due to the fluctuation of the threshold values of a NMOS transistor 201 and a NMOS transistor 202 provided in the storage part 200 is detected by a sense amplifying circuit provided in a SRAM part 100 to read the stored data.
結晶欠陥に正孔又は電子をトラップしたトランジスタは閾値が変化するので、記憶部２００が備えるＮＭＯＳトランジスタ２０１とＮＭＯＳトランジスタ２０２の閾値の変化によるドレイン電流の差をＳＲＡＭ部１００が備えるセンスアンプ回路で検出することにより記憶されたデータの読み出しを行う。 - 特許庁 - Even if radiation dose to detector volumes 22B and 22C is reduced by defects on the encoder disk or a point defect 26 due to seaming, etc. existing in the optical path inside the encoder, the optical encoder can normally operate based on signals from other detector volumes 22A, 22D and 22F.
エンコーダ・ディスク上の欠陥や、エンコーダ内部の光路中に存する汚れ等による点欠陥２６により、検出器領域２２Ｂおよび２２Ｃへの入射光量が減じられても、他の検出器領域２２Ａ、２２Ｄ、および２２Ｆからの信号に基づき、光学式エンコーダは正常に作動することができる。 - 特許庁 - To suppress formation of a void as a connection defect caused by trapping of a gas in a connection layer by eliminating the need of working, such as, grooving on the reverse surface of a semiconductor element, even when a semiconductor is connected using a conductive adhesive producing a very large amount of gas.
ガスの発生がきわめて多量な導電性接着剤を用いて半導体素子の接続を行う場合においても、半導体素子の裏面に溝加工などの加工を不要とし、接続層内部にガスがトラップされることにより形成される接続欠陥としてのボイドの発生を抑制することである。 - 特許庁 - This defect analyzer is characterized in that the semiconductor integrated circuit is irradiated with an electromagnetic field by a probe, and fluctuation in electrical characteristics in the integrated circuit such as power supply current fluctuation is detected by an open gate or by activating gate potential, thereby detecting whether defects exist or not.
半導体集積回路においてプローブにて電磁界を照射し、オープンゲートまたはゲート電位を活性化することで電源電流変動などの半導体集積回路内の電気的な特性変動を検出し、不良の有無を検出することを特徴とする半導体集積回路の不良解析装置である。 - 特許庁 - To provide a spinning method preventing abnormality of discharge defect and breakage of parts caused by invasion and biting of particles between a movable part and a non-movable part in the interior of a gear pump when a spinning dope containing particles is fed to a spinneret and enabling long-term and stable spinning without impairing a gear pump.
本発明は、粒子を含む紡糸原液を送液する際に、ギヤポンプ内部の可動部品と非可動部品間に該粒子が侵入し噛み込みが発生し、吐出不良による異常や、部品破損などを防ぎ、ギヤポンプが破損することなく、長時間安定した紡糸が可能な紡糸方法を提供するものである。 - 特許庁 - To obtain a polyester resin composition capable of decreasing oligomers generated in melt extrusion and so capable of decreasing cleaning frequency for the oligomers and increasing productivity and capable of obtaining products excellent in surface properties such as having no defect like streak and flaw, and to provide a method for producing the resin composition.
溶融押出時に発生するオリゴマーを低減し、これにより、オリゴマー汚れによる清掃回数を低減でき生産性が向上できるとともに、且つ製品とした場合スジや傷といった欠点のない表面特性に優れた製品を得ることができるポリエステル樹脂組成物、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The defect inspecting device focuses a plurality of beams on a sample, scans simultaneously the plurality of the beams over a sufficiently longer distance than the maximum interval of the beams, and preferably detects secondary electrons from the plurality of the beams by magnifying the secondary electrons emitted from each scanning point by a magnifying optical system.
欠陥検査装置は、複数のビームを試料上に合焦させ、該ビームの最大間隔より十分大きい距離にわたって、複数のビームを同時に走査し、各走査点から放出された二次電子を拡大光学系で拡大してそれぞれの複数のビームからの二次電子を検出する装置であることが好ましい。 - 特許庁 - To provide a texture forming method by which a texture having good asperity in shape can be formed by preventing overetching from producing a defect in shape in an asperity structure in forming a texture on a zinc oxide-based material film, and to provide a method for manufacturing a transparent electrode layer, and a method for manufacturing a solar battery.
酸化亜鉛系材料からなる膜に対するテクスチャの形成においてオーバーエッチングによる凹凸構造の形状不良を防止して、良好な凹凸形状を有するテクスチャを形成することが可能なテクスチャ形成方法、透明電極層の製造方法および太陽電池の製造方法を得る。 - 特許庁 - To provide a fixing device which prevents fixing defect from being caused even if continuous printing to a large size sheet is performed in spite of such constitution that a temperature sensor is arranged outside the maximum sheet passage area on the edge in the fixing roller and energization of a heater on the edge side is controlled based on detected temperature of the temperature sensor.
定着ローラにおける端部の最大用紙通過領域外に温度センサを配置し、その検出温度に基づいて、端部側のヒータの通電を制御する構成でありながら、大サイズの用紙に対する連続印字を行っても定着不良が発生することのない定着装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a single crystal, by which a high quality single crystal wherein a desired defect area is formed in the crystal growth direction can be easily manufactured with a high productivity and yield by suppressing the fluctuation of the temperature gradient in the vicinity of the solid-liquid interface to be minimum when the single crystal is grown.
単結晶を育成する際に、固液界面近傍の温度勾配の変動を最小限に抑制し、結晶成長方向に所望欠陥領域が形成された高品質の単結晶を容易に、かつ高い生産性及び歩留りで製造できる単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁 - At the surface heating step S10, a temperature of the semiconductor substrate 12 at the depth 50 after the implantation step S8 is kept to be lower than a hydrogen ion outward-diffusion temperature, whereby the surface 12b of the semiconductor substrate 12 is heated until a temperature of the surface 12b of the semiconductor substrate 12 reaches a crystal defect disappearing temperature or higher.
表面加熱工程Ｓ１０は、注入工程Ｓ８後の前記深さ５０の半導体基板１２の温度を水素イオン外方拡散温度未満に維持しながら、半導体基板１２の表面１２ｂの温度が結晶欠陥消滅温度以上に昇温するまで半導体基板１２の表面１２ｂを加熱する。 - 特許庁 - To provide a letterpress having few pattern defects when manufacturing an organic electronic device such as an organic electroluminescent element at a letterpress printing method, an inspection method for a letterpress for implementing in advance to preventing of the pattern defect, a manufacturing method for an organic electronic device using the same letterpress, and an organic electronic device using the same letterpress.
有機エレクトロルミネッセンス素子をはじめとする有機電子デバイスを凸版印刷法で作製する際、パターン欠陥の少ない凸版、及びパターン欠陥を防止するために予め行う凸版の検査方法、並びにそれを用いた有機電子デバイスの製造方法並びにそれを用いた有機電子デバイスを提供する。 - 特許庁 - To detect the presence of insulators at a given plate even in circumstances where they cannot be detected by a photosensor and detect the presence of the insulators in accordance with conduction check, avoiding the deterioration of a contact and a contact defect following the deterioration and providing highly accurate detection.
ホトセンサによる検出が不可能な状況であっても、所定位置における絶縁体の有無を検出することができ、しかも、導通チェックに基づいて絶縁体の有無を検出するものでありながら、接点の劣化や、劣化に伴う接触不良を回避し、精度の高い検出を行うことができるようにする。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a liquid crystal display element by which a display defect associated with unevenness of threshold voltage can be prevented and liquid crystal display of high quality can be performed by subjecting a transparent substrate on which a columnar spacer consisting of a photosensitive resin is formed to rubbing treatment from two directions opposite to each other.
感光性樹脂からなる柱状スペーサが形成された透明基板に対して、互いに相対する双方向からのラビング処理を行うことにより、しきい値電圧むらにともなう表示不良の発生を防止し、高品位な液晶表示を行うことができる液晶表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The flow amount of coating liquid in the die head to be circulated to a supply tank through a return line is made to a flow amount capable of removing sediment in an amount more than the amount of sediment calculated from the settling velocity of particles, and the high-quality coating film without a coating defect is achieved.
ダイヘッド内部の塗布液を戻り配管を介して供給タンクへと循環させる流量を、その流量によって除去できる沈降物の量が、粒子の沈降速度から算出される沈降量以上になる流量で循環させて、塗布欠陥のない高品質な塗布膜を実現する。 - 特許庁 - To provide a control device for an internal combustion engine capable of minimizing lowering of an exhaust characteristic, by early diagnosing defect of a temperature rise promoting control, in the case where the temperature rise promoting control of the catalyst is carried out by combining an increase in an intake air amount and spark delay control of an ignition timing.
吸入空気量の増量と点火時期の遅角制御とを組み合わせた触媒の昇温促進制御を実行する場合において、その昇温促進制御の不具合を早期に診断して、排気特性の悪化を最小限に抑制することができる内燃機関の制御装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an active matrix board suitable for manufacturing a composite active matrix board by preventing a defect film peeling occurring at the time of cutting off a side edge parts, a high-quality and high-reliability composite active matrix board using the same, and a display device and a detection device using this composite active matrix board.
辺縁部を切断する時点で生じる膜浮き不良を防止し、複合アクティブマトリクス基板の製造に適したアクティブマトリクス基板と、これを用いた高品質で信頼性の高い複合アクティブマトリクス基板と、この複合アクティブマトリクス基板を用いた表示装置および検出装置とを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a wiring board which can prevent the generation of foreign substances by preventing fragments or powder adhering to the cutting face of a laminated substrate from being dispersed to reduce the occurrence of a fault such as a wiring defect caused by the foreign substances without increasing a manufacturing process, and to provide the wiring board.
製造工程を増加させることなく、積層基板の切断面に付着した破片や粉末を飛散させないようにして異物の発生を防ぐことができ、異物に起因する配線欠陥などの不良の発生を低減できる配線基板の製造方法及び配線基板を提供する。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of a qualitative defect by preventing trouble such that the decorated surface of a sheet is collapsed and the sheet is moved, stretched or ruptured by injection pressure, the flowing pressure in a cavity or the like, in manufacturing a partially decorated molded product by setting a decoration sheet to a mold and injecting a molten resin in the mold.
加飾シートを金型にセットして溶融樹脂を射出注入して部分加飾樹脂成形品を作製するにあたり、射出圧やキャビティ内流動圧等により、シートの加飾面が潰れたり、シートが動いたり、伸びたり、破れたりするような不具合を防止することを防止し、品質不良が生じないようにする。 - 特許庁 - Thus, a state change on the surface of the nitride semiconductor and a change in a charging state of the surface defect level caused by the presence of hydrogen in the SiN protection film 180 are suppressed so that the gate leakage current and current collapse can be suppressed to a level for satisfying the high characteristic requirement of the commercial level.
これによりＳｉＮ保護膜１８０中に水素が存在することで生じる窒化物半導体表面の状態変化と表面欠陥準位の荷電状態の変化が抑制され、ゲート漏れ電流と電流コラプスとをコマーシャルレベルの高い特性要求を満足するレベルまで抑制することが可能となる。 - 特許庁 - To provide an image forming device which forms a toner image based on a document picture on a recording sheet and fixee it on the recording sheet by heating and which can suppress a fixing defect even if the temperature of a fixing member, which heats a toner image during fixing is lowered, and to provide an image forming method.
原稿画像に基づくトナー像を記録シート上に形成し、該トナー像を記録シートに加熱定着する画像形成装置であって、定着中にトナー像に熱を加える定着部材の温度がたとえ低下しても、定着不良を抑制できる画像形成装置及び画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - In the case where the image processing apparatus is a digital compound machine provided with a facsimile application and a printer application in addition to a copy application, or any defect exists in the network environment, image data and bibliographic information stored in a mass storage are selectively transmitted to an external device depending on each application and network environment.
画像処理装置がコピーアプリケーションに加えて、ファクシミリアプリケーションやプリンタアプリケーション等を搭載したデジタル複合機である場合やネットワーク環境に不具合がある場合、各アプリケーションやネットワーク環境に応じ、大容量記憶装置に記憶されている画像データと書誌情報を外部機器に対して選択的に伝送する。 - 特許庁 - To eliminate the occurrence of an aligning defect caused by non- uniform rubbing pressure by reducing the step differences of pixel electrodes, that are made the same as the film thickness of source/drain electrodes in a conventional lateral electric field system liquid crystal display device active matrix substrate on which the pixel electrodes are produced in the same process of manufacturing the source/drain electrodes.
従来の横電界方式液晶表示装置用アクティブマトリックス基板では、画素電極をソース・ドレイン電極と同一工程で作製しているので、画素電極の段差はソース・ドレイン電極の膜厚と同じ０．２〜０．４μｍと大きくなり、ラビング圧不均一による配向不良が発生しやすくなる。 - 特許庁
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