「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 100 101 102 103 104 105 106 107 108 .... 135 136 次へ＞- The testing method for radioactive substances in food has been notified by Notice 0315Article 4 of the Department of Food Safety (hereinafter referred to as “the Testing Method Notification”) dated March 15, 2012. As for the moisture content data (weight-change rate) of dried mushrooms, etc., after rehydration, weight-change rates for individual items provided in Annex 1 shall be used for the time being, which are based on the “Standard Tables of Food Composition in Japan 2010” published by the Subdivision on Resources, the Council for Science and Technology.
食品中の放射性物質の試験法については、平成24 年３月15 日付け食安発0315第４号（以下「試験法通知」という。）により通知したところであるが、乾燥きのこ類等の水戻しによる水分含量のデータ（重量変化率）について、当面の間、科学技術・学術審議会資源調査分科会編「日本食品標準成分表2010」を踏まえて、別添１に示す品目ごとに、各々の重量変化率を用いることとする。 - 厚生労働省 - To reduce the warpage of a probe card substrate by uniformizing the structure for mounting the probe card substrate and its reinforcing member to a probe card holding member with respect to a semiconductor device testing apparatus whose several probe needles are brought into contact with semiconductor devices of a semiconductor wafer, and to provide a semiconductor device testing method using it.
複数のプローブ針を半導体ウエハの半導体素子に接触させる形式の半導体素子試験装置とそれを用いた半導体素子試験方法において、プローブカード基板と、それに対する補強部材を、プローブカード保持部材に取り付ける構造を均一化し、プローブカード基板の反りを軽減する。 - 特許庁 - A testing device main body 4 which is fitted to a drill 1 by a fitting member 3 and mounted on the fitting member 3 to be able to move in the axial direction of the drill 1 is provided, and the testing device main body 4 is rotated during the operation of the drill 1 and has a rotary plate 6 with a reagent surface for receiving the boring powder.
ドリル削孔機１に取付け部体３をもって取付けられ、ドリル軸方向に移動可能に前記取付け部体３に搭載された検査装置本体４とを備え、前記検査装置本体４が、前記ドリル削孔機１の削孔時に回転して削孔粉を受ける試薬面付き回転板６を有している。 - 特許庁 - A testing vehicle 5 passed through moving linearly on a road within a measuring area is photographed by a camera for photographing the measuring area, the parameter as to the photographing condition of the camera is calculated on the basis of a photographed image of the testing vehicle 5, and a speed of the vehicle or the like is measured using the calculated parameter.
計測領域内の道路上を直線的に移動ながら通過する試験車両５を、計測領域を撮影するカメラで撮影し、その試験車両５の撮影画像に基づいて、カメラの撮影条件に関するパラメータを算出するとともに、算出したパラメータを用いて車両の速度などを計測する。 - 特許庁 - To provide a testing method which can perform a stable and accurate test even if an external signal is inputted to perform a test without connecting a crystal oscillator and shorten a test time without being affected by an oscillation start time in a testing method for measuring the current consumption of an inverter in a constant current type oscillation circuit.
定電流方式の発振回路におけるインバータの消費電流を測定するテスト方法において、水晶振動子を接続することなく、外部信号を入力してテストしても、安定した正確なテストができるとともに、テスト時間も発振開始時間の影響がなく短縮できるテスト方法を提供する。 - 特許庁 - The radio base station device 4 of the present invention sends a monitor/control signal to a monitor device 1 loop back to the radio-side interface in the radio base station device 4 and uses a testing call for the monitor/control signal set in the radio base station device 4 to has a function capable of monitoring and control from a testing monitor device 7.
本発明の無線基地局装置４は、監視装置１への監視・制御信号を無線基地局装置４内部で無線側インタフェースに折り返し、無線基地局装置４内に設定した監視・制御信号用の試験用呼を使って、試験用監視装置７から監視、制御ができる機能を保有する。 - 特許庁 - The genom DNA or mRNA originating from the mites or the fungi collected from testing samples are used as templates, and a nucleic acid probe for detection and discrimination of the mites and fungi that can be hybridized to the testing DNA area that is amplified using mite gene specific primer set and fungi gene specific primer set is used.
検査対象から採取したダニ類及びカビ類由来のゲノムDNA又はmRNAを鋳型とし、ダニ遺伝子特異的プライマーセット及びカビ遺伝子特異的プライマーセットを用いて増幅された検出対象DNA領域に対してハイブリダイズ可能である、ダニ類及びカビ類の検出及び識別用核酸プローブを使用する。 - 特許庁 - In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.
ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてＩＣ試験装置に伝送させ、ＩＣ試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁 - This method for rating the sensitizing potential of the testing specimen comprises incubating together with the testing specimen antigen presenting cells selected from the dermal Langerhans cells, mononucleocytic cells and dendritic cells of human or mammal and detecting a gene encoding CD86 or CD54 expressed in the cells.
ヒト又は哺乳類動物の皮膚ランゲルハンス細胞、単核球細胞及び樹状細胞から選ばれる抗原提示細胞を被検物質と共にインキュベートし、当該細胞内に発現されたＣＤ８６又はＣＤ５４をコードする遺伝子を検出することを特徴とする被検物質の感作性の評価方法。 - 特許庁 - A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.
被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.
半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a primer set and probe detecting a gene polymorphism associated with hOCT2/SLC22A2 before the administration of a medicine metabolized by a human organic cation transporter hOCT2, administering the medicine of an appropriate amount to an individual patient for enabling one to avoid adverse effects caused by the medicine, a testing agent containing the same and a testing method.
ヒト有機カチオントランスポーターhOCT2により代謝される薬物の投与前にhOCT2/SLC22A2に関連する遺伝子多型を検出し、個々の患者に応じた量の薬剤を投与することで、該薬剤による副作用を避けることを可能とするプライマーセット、プローブ及びそれらを含む検査薬、並びに検査方法を提供する。 - 特許庁 - In a reciprocating sliding friction tester equipped with a load cell for measuring friction force between a columnar fixed testing member and reciprocating member, the shear strength of the whole or a part of a vertical cross-section in an axial direction of the columnar fixed testing member is made to be not more than a permissible load of the load cell.
柱状の固定の試験部材と往復動する部材間の摩擦力を測定するロードセルを具備する往復摺動摩擦試験機において、前記柱状の固定試験部材の軸方向に垂直断面の全体または一部のせん断強さがロードセルの許容負荷以下になるようにする。 - 特許庁 - To provide a stress-testing method and a stress-testing apparatus for greatly improving the evaluation of a light material such as a compound material by allowing a stress state to be solved in a state of including the lamination structure of a shell-like specimen and end face treatment and obtaining the temperature dependency of the amount of permeation of helium.
殻状供試体の積層構造や端面処理を含んだ状態で応力状態を解明可能にし、合わせてヘリウム透過量の温度依存性を求めて、複合材料等の軽量材料の評価を格段に向上させることができる応力試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - This testing method is pref. performed by a flowability testing apparatus having the trough-shaped member 2 equipped with marks at least at two places in the length direction thereof, a support structure 3 for holding the trough-shaped member 2 to an angularly adjustable inclined posture and a sample container 22 housing a predetermind vol. of the liquid material being the sample.
この試験方法は、長さ方向の少なくとも２箇所に標点を備える樋状体と、これを角度調節可能な傾斜姿勢に維持する支持構造体と、試料である所定容量の液状材料を収容する試料容器とを有する流動性試験装置によって、好適に実施することができる。 - 特許庁 - When testing a function group 3 to be tested on a computer 1, a parameter required for testing the function group 3 by an automation program 2 is read from a parameter configuration file 5, the read parameter is input when executing the function group 3, and the execution result is output as a log file 6.
コンピュータ１上にて被試験関数群３を試験する場合、自動化プログラム２によって被試験関数群３を試験するために必要なパラメータがパラメータ構成ファイル５から読み込まれ、被試験関数群３が実行される際に読み込まれたパラメータが入力され、実行結果がログファイル６として出力される。 - 特許庁 - The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.
本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁 - The pin holes are arranged at positions where their heights in the optical axis directions of the illuminating optical system and the light-receiving optical system from the testing surface differ from each other, and a scanning arrangement (15b) for moving the relative positions of the testing surface with respect to the pin holes in a predetermined direction vertical to the optical axis directions is provided.
前記ピンホールは、前記被検面からの前記照明光学系および前記受光光学系の光軸方向の高さが互いに異なる位置に配置され、前記被検面と前記ピンホールとの相対位置を、前記光軸方向と垂直な所定の方向に移動させる走査装置（１５ｂ）を備える。 - 特許庁 - A low-temperature testing device for testing a sample in vacuum or low-temperature state is composed, so that at least a part where a sample 1 is placed in a sample stage 2 in that the sample 1 is placed is formed by a light-transmitting material and light 10 is applied fro the side of the sample stage to the sample.
真空中かつ低温状態で試料の試験を行う低温試験装置において、上記試料１が載置される試料ステージ２の少なくとも試料が載置される部分を透光性材料で形成し、上記試料に上記試料ステージ側から光１０を照射するように構成した。 - 特許庁 - The government set up the "Council on Studying Public Testing/Research Organizations' Possible Roles for Pushing Ahead with Regional Innovations" in July 2010 in order to examine what kind of roles public testing/research organizations should play from the viewpoint of pushing ahead with regional innovation on the nationwide scale.
また、我が国全体として地域イノベーションを推進する観点から、公設試験研究機関がどのような役割を果たしていくべきかについて検討するため、2010年７月に「地域イノベーション推進のために公設試験研究機関が果たすべき役割に関する検討会」を設置し、報告書をとりまとめた。 - 経済産業省 - To provide a material testing machine capable of improving its control performance by reducing to the utmost an error generated while a test force is controlled, and determining automatically a parameter value in feedback control, concerning the material testing machine for controlling a load mechanism by a feedback control system.
フィードバック制御系により負荷機構を制御する材料試験機において、試験力制御を行っている状態において発生する誤差を可及的に小さくしてその制御性能を向上させることができ、併せて、フィードバック制御におけるパラメータの値を自動的に決定することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a sanitary washing device, having excreta determination functions for preventing functional/performance troubles from occurring in the sanitary washing device by integrating an excreta testing device and the sanitary washing device, and at the same time efficiently branching water, required fro maintaining the functions of the excreta testing device by the sanitary washing device.
排泄物測定装置と衛生洗浄装置を一体化すると共に、排泄物測定装置の機能維持のために必要な水を衛生洗浄装置より効率的に分岐することにより、衛生洗浄装置に機能・性能的な弊害が発生しない排泄物測定機能付き衛生洗浄装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing method of the characteristic of a vibrator capable of effectively detecting a crack and a chipping which are caused in a vibrator chip and cause adverse effect on the vibration characteristic without the need for using an optical inspection apparatus and an image processing apparatus needing troublesome adjustment and high cost in the case of testing the vibration characteristic of the vibrator chip.
振動子片の振動特性を試験するに際し、調整が面倒でかつコストがかかる光学的検査装置ならびに画像処理装置を用いることなく、振動特性に影響を与えうる振動子片の割れ，欠けを効果的に検出することができる振動子試験法を提供する。 - 特許庁 - The output 13 of a boundary scan adaptive device 1 for testing is put to LO to control the outputs of the buffers 7 and 8 to enable so that the outputs 23 and 24 of the adaptive device 2 are connected to the inputs 13 and 14 of the adaptive device 1, thereby accomplishing the testing of the connection state of the outputs 23 and 24.
試験用バウンダリースキャン対応デバイス１の出力１３をＬＯとしバッファ７及び８の出力をイネーブルに制御することで、対応デバイス２の出力２３及び２４と、対応デバイス１の入力１３及び１４が接続し、出力２３及び２４の接続状態の試験を行うことができる。 - 特許庁 - The maximum traveling time required for a testing bolus to pass each of the scanning stations of a given number is determined by demarcating scanning stations 56, 58, 60 along a peripheral vessel structure 64, initially injecting the contrast medium in a patient, and passing the testing bolus in the peripheral vessel structure 64.
末梢脈管構造（６４）に沿って所与の数の走査ステーション（５６、５８、６０）を画定し、造影剤を患者に初期注入して末梢脈管構造にテスト用ボーラスを通過させて追跡することにより、テスト用ボーラスが所与の数の走査ステーションの各々を通過して走行するのに掛かる最大走行時間を決定する。 - 特許庁 - To provide a system for testing IC that allows a simulation result in an analyzing part to be analyzed in real time, allows a microprogram inputted for setting a simulation condition to be diverted to setting of an actual testing condition, and can enhance the working efficiency for worker, by making a microprogram simulator and the analyzing part hold information about a simulation for an IC test and information about the test in common.
マイクロプログラムシミュレータ及び解析部がＩＣ試験のシミュレーションに関する情報と試験に関する情報とを共有することにより、解析部におけるシミュレーション結果のリアルタイム解析を可能にするとともに、シミュレーション条件を設定するために入力したマイクロプログラムを、実際の試験条件の設定に転用することを可能にして、作業者の作業効率を高めるとができるＩＣ試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus for power converter that can conduct noise test equivalent to combined noise test without using a power converter as a final product in a power converter, protect semiconductor switching elements for an inverter arm of a power converter for testing from short circuit current flowing in the inverter arm and automatically reset them after the short circuit current disappears.
組み合わせノイズ試験と同等のノイズ試験を、電力変換装置における最終製品の電力変換器を用いずに行なうことができるとともに、試験用の電力変換器のインバータアームの半導体スイッチング素子を、該インバータアームを流れる短絡電流から保護し、該短絡電流消滅後は自動復帰することを可能とした電力変換装置の試験装置を提供することである。 - 特許庁 - The testing device carrying out charge- or discharge testing for a sample includes first memory for sequentially overwriting oldest data with state information to execute loop recording if the state information acquired at given sampling time does not exceed a preset threshold value, and a second memory for sequentially recording state information if the state information exceeds a preset threshold value.
試料に対して充電試験または放電試験を遂行する試験装置において、一定のサンプリングタイムで取得した状態情報が予め設定された閾値を超えない場合に、最も古いデータに対して状態情報を順次上書きしてループ記録する第一メモリと、状態情報が予め設定された閾値を超えた場合に、状態情報を順次記録する第二メモリとを備える試験装置とする。 - 特許庁 - The present invention relates to the manufacturing process, the system and the method, which senses closed loop pressure, and easily assembles and tests the feedback integrated fluid manifold, and the system for testing the fluid manifold of the present invention includes: reservoir for storing a fluid; a pump for moving selectively the fluid toward the manifold; and a testing mechanism communicated with the manifold, and accessing a specified test data.
本発明は、クローズドループ圧力感知及びフィードバック一体型流体マニホールドの組み立て及び試験を容易とすることができる製造プロセス、システム、及び方法に関するものであり、本発明に係るマニホールド試験システムは、流体を貯蔵するリザーバと、流体をマニホールドエリアに向けて選択的に移動させるポンプと、マニホールドに連通され、規定の試験データにアクセスする試験機構と、を含んでいる。 - 特許庁 - A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.
ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁 - A DRAM chip 1 contains an input-output terminal 1c for testing having a circuit for coping with dielectric breakdown, another input-output terminal 1b for connecting supporting substrate having a circuit for coping with dielectric breakdown, and a third input-output terminal 1a having no circuit for coping with dielectric breakdown.
ＤＲＡＭチップ１は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子１ｃと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子１ｂと、入出力端子１ｂおよび１ｃ以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子１ａとを含む。 - 特許庁 - A DRAM chip 1 includes an input/output terminal 1c for testing which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; an input/output terminal 1b for connecting a support substrate, which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; and an input/output terminal 1a without having the measure circuit for electrostatic discharge breakdown other than the input/output terminals 1b and 1c.
ＤＲＡＭチップ１は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子１ｃと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子１ｂと、入出力端子１ｂおよび１ｃ以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子１ａとを含む。 - 特許庁 - The test tape unit for especially testing blood sugar is equipped with an analyzing test tape 12, a storage coil 14 for washing an unused test tape 12, a winding coil 18 for winding the used test tape 12 and a tape guide part 16 for exposing the test tape part 20 at a measuring region 22 for coating body fluids.
分析用の試験テープ１２と、未使用の試験テープ１２の洗浄用の貯蔵コイル１４ならびに使用した試験テープ１２の巻付用の巻付コイル１８と、体液の塗布用の測定部位２２での試験テープ部分２０の曝露用のテープガイド部１６とを備える特に血糖試験用の試験テープユニットに関する。 - 特許庁 - For that reason, whether the DMA information generated after the initialization which a recording and reproduction device does not verify is decoded and processed well can be easily confirmed by using the empty testing disk.
したがって、空テストディスクを使用して、記録及び再生装置が検証しない初期化後に生成されたDMA情報をうまく解読し処理しているかどうかを容易に確認できる。 - 特許庁 - Each of the scenarios for testing may consider that a request form the client computer is validated through multiple authorization points and finally a valid and complete response to the client's request is returned.
テストのための各シナリオは、クライアントコンピューターからの要求が多数の認証ポイントを介して最終的にクライアントの要求への有効かつ完全な回答が戻ってくることを考慮する。 - 特許庁 - To provide a cleaning sheet and method for cleaning a base substrate- treating device evading foreign materials such as a producing device or testing device of e.g. a semiconductor, flat panel display, printing base substrate, etc.
本発明は、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイ、プリント基板などの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置のクリーニングシート及びクリーニング方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing question collection book for evaluating according to a point of view capable of easily grasping what is an essential evaluating point of view of most importance of a learning unit relatively corresponding to its test sheet.
そのテスト用紙が相対応する学習単元の最重要な主要評価観点が何であるかを容易に把握できる観点別評価用テスト問題集を提供する。 - 特許庁 - To easily and safely generate a false blast impact and to make the test of a safety bursting plate, in a false blast impact system for testing the bursting condition of the safety bursting plate.
安全破裂板の破裂条件を試験する擬似爆風衝撃装置において、擬似爆風衝撃の発生と安全破裂板の試験を容易かつ安全に行うことを可能とする。 - 特許庁 - To provide a method for testing a bearing device that can easily select even when erroneous assembly of a constitution member composing a bearing device occurs, and to provide its manufacturing method and the bearing device.
軸受装置を構成する構成部材の誤組付けが生じても容易に選別を行うことが可能な軸受装置の検査方法及び製造方法、軸受装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a search device for acoustic source to highly precisely search an acoustic source by reducing deterioration of a sound wave by influence of a free shear layer, and to provide a wind tunnel testing device.
自由せん断層の影響により生じる音波の劣化を低減して高精度に音源を探査することができる音源探査装置及び風洞試験装置を提供する。 - 特許庁 - The cylindrical actuator 50 elevates a working body 40 being provided at the lower portion of the movable base 20, and applies a load for testing to an aircraft leg being mounted to the lower surface of the working body 40.
シリンダー式アクチュエータ５０は、可動ベース２０の下方に設けられた作動体４０を昇降させ、作動体４０の下面に取り付けられた航空機脚に試験用の荷重を付加する。 - 特許庁 - To provide a testing piece for an immunological measuring method based on an immunochromatograph method, provided with a detection level regulating means and capable of detecting an examined substance quickly, easily and favorably.
検出レベルの調整手段を備え、被検物質を迅速、簡便に、かつ良好に検出しうる、免疫クロマトグラフ法に基づく免疫測定法用試験片を提供すること。 - 特許庁 - To simplify the constitution of an environmental testing device for electronic parts so as to remarkably reduce the cost and size of the device, and to make the device compact even when an automatic entrance opening/ closing mechanism section is additionally provided in a limited space.
限られたスペースに自動開閉式の出入口開閉機構部を付設する場合であっても、構成の簡易化を実現し、大幅なコストダウン及び小型コンパクト化を図る。 - 特許庁 - Other aspects of the invention include methods of forming the stop structure and using the structure to perform testing of integrated circuits, including for example a semiconductor wafer of integrated circuits.
本発明の他の側面は、ストップ構造の形成方法、及び集積回路、例えば集積回路の半導体ウエハーなどのテストを行うためにストップ構造を使用する方法を含んでいる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device with an event pulse generating part capable of eliminating practically or reducing, storage updating for a storage memory provided inside the event pulse generating part.
イベントパルス発生部内に備える格納メモリへの格納更新を実用的に解消若しくは低減可能とするイベントパルス発生部を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To improve the reliability of a microbiology validation system for monitoring and validating clinical culture laboratory test results occurring throughout a testing lifecycle of a clinical culture.
臨床培養の検査サイクルの期間を通して生じる臨床培養実験室検査結果をモニタしかつ確証する微生物確証システムをより信頼性のおけるものに改善する。 - 特許庁 - To provide a testing device of an IC capable of shortening a test time of the IC having a detection circuit and a circuit for changing an output signal corresponding to an output signal of the detection circuit.
検波回路と検波回路の出力信号に応じて出力信号を変化させる回路とを有するＩＣの試験時間を短縮するＩＣの試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a high speed bus interface of a semiconductor testing device for increasing transfer capacity, reducing the number of signal conductors of a bus, and capable of freely setting order of the signal conductors.
本発明は、転送容量を増加し、バスの信号線数を削減し、信号線の順番を自由に設定できる半導体試験装置の高速バスインタフェースを提供する。 - 特許庁 - To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.
命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing individually a functional block out of a plurality which are provided, reducing the number of terminals for setting an operation mode to a minimum when a test is performed.
テスト時の動作モードを設定するための端子数を最小限に抑えたうえで、複数備えられる機能ブロックを個別にテストすることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
