「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 97 98 99 100 101 102 103 104 105 .... 135 136 次へ＞- To provide a semiconductor device which can realize reduction of the layout area and the testing time for voltage adjustment and generates internal voltages.
レイアウト面積の低減および電圧調整のためのテスト時間の短縮を実現することのできる内部電圧を発生するための半導体装置を提供する。 - 特許庁 - Even when the obtained absorptive multilayer film ND is left in an environmental testing machine under the temperature of 80°C and humidity of 90% for 24 hours, no crack occurs in the absorptive multilayer film.
得られた吸収型多層膜ＮＤフィルターは、温度８０℃、湿度９０％の環境試験機に２４時間放置しても、吸収型多層膜にヒビ割れが発生しない。 - 特許庁 - To prevent contamination due to dust and lead terminals from being bent, when housed by testing semiconductor devices, as it is, in a tray with a lid for semiconductor devices.
蓋付きの半導体装置収納用トレイに収納したまま半導体装置のテストを行なうことで、塵埃による汚染及び収納時のリード端子の湾曲を防止する。 - 特許庁 - To provide a device used for testing acaricides exterminating mites, such as Varroa jacobsoni being an ectoparasite of honeybees, and a mite extermination member applied with the acaricides to be examined.
ミツバチの外部寄生害虫であるミツバチヘギイタダニ等のダニを駆除する駆除剤の試験に用いる装置及び試験される駆除剤を塗布するダニ駆除部材を提供する。 - 特許庁 - To reduce consumption power by reducing the number of uses and thereby lessening the circuit scale as a whole, when a timing pulse generator is applied to an apparatus for testing semiconductors.
半導体試験装置に適用した場合に、その使用個数を減少でき、これにより全体の回路規模を小さくでき、しかも消費電力の低減化を図ること。 - 特許庁 - The testing circuit BIST includes a variable current source 10, a voltage comparator 11, controllers 12, 16, and a supply circuit 14 for supplying an output current Iout to the internal circuit FLM.
テスト回路ＢＩＳＴは、可変電流源１０、電圧比較器１１、コントローラ１２、１６、出力電流ＩｏｕｔをＦＬＭに供給する供給回路１４を含む。 - 特許庁 - In the case of testing the functions of an IP core 34, test signals are supplied for the IP core 34 via a selector 42, and its output signals are transferred to the signal checker 45.
ＩＰコア３４の機能試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４２を介してＩＰコア３４に供給し、その出力信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁 - To provide a measuring circuit, which can be utilized for testing performance of a sense amplifier incorporated in the inside of a semiconductor integrated circuit device from the outside.
半導体集積回路装置の外部からその内部にあるセンスアンプ単体の性能を試験・検査するのに利用可能な測定回路を提供することである。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of securing independence between a normal mode and a test mode without increasing the number of pins, and to provide a method for testing the semiconductor integrated circuit.
本発明は、ピン数を増加させることなく、通常モードとテストモードとの独立性を確保することができる半導体集積回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing a digital radio system which do not cause errors in test results, and enable proper maintenance and administration of the digital radio system.
試験結果に誤差が生じることがなくかつデジタル無線システムの適正な維持および管理を図ることができるデジタル無線システム試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an uniterruptive testing device capable of carrying out an overcurrent circuit breaker functional test for a wiring circuit breaker while the wiring circuit breaker is connected with a main circuit.
配線用遮断器を主回路に接続したまま配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施することができる無停電試験装置を提供する。 - 特許庁 - This method for testing mutagenicity using a bacterium is characterized by the step in which a test molding is made be directly contacted with a medium.
細菌を用いた変異原性試験方法において、培地に被検体である成形物を直接接触させる工程を有することを特徴とする変異原性試験方法。 - 特許庁 - In this testing device for the semiconductor chip 2, the semiconductor chip 2 conveyed by a handler is connected to an IC socket 6 to test electric performance.
本発明にかかる半導体チップ２の試験装置は、ハンドラにより搬送した半導体チップ２をＩＣソケット６に接続して電気的性能の試験を行なうものである。 - 特許庁 - The integrated circuit device for vehicle devices 10 comprises an ignition control circuit 11, a power source voltage control circuit 12, diagnosis control circuit 13 and a testing circuit 14.
車両デバイス用集積回路装置１０は、点火制御回路１１、電源電圧制御回路１２、ダイアグ制御回路１３およびテスト制御回路１４を備えている。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device offering interleaving configuration for connecting devices, reducing the number of signals connecting the devices.
インターリーブ形態で装置間を接続する構成を備える半導体試験装置において、装置間を接続する信号本数を低減可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING NEOPLASTIC LESION OR PRENEOPLASTIC LESION OF LIVER IN MAMMAL EXCEPT HUMAN BY MEASURING EXPRESSION LEVEL OF GENE OF CARBONIC ANHYDRASE ENZYME II
ヒトを除く哺乳動物における肝臓腫瘍性病変又は前腫瘍性病変の炭酸脱水素酵素ＩＩの遺伝子の発現レベル測定による検定方法 - 特許庁 - To shorten a test time and to reduce waste of water and pressurization gas and further to improve responsiveness of a pressure fluctuation in a method for detecting and testing the membrane damage of a filtration membrane.
ろ過膜の膜損傷検知試験方法において、試験時間を短縮し、かつ水や加圧気体の浪費を低減し、さらに圧力変動の応答性を向上する。 - 特許庁 - A testing device 900 tests a communication control apparatus 10 that functions as a network address and port translating apparatus for translating a network address and a port number of a communication device.
試験装置９００は、通信装置のネットワークアドレス及びポート番号を変換するネットワークアドレスポート変換装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁 - This method for testing azoospermia is characterized by comprising examining whether an allele indicating a correlation with azoospermia is detected in HLA-DQA1 gene locus or HLA-DQB1 locus.
HLA-DQA1遺伝子座又はHLA-DQB1遺伝子座において無精子症と相関を示す対立遺伝子が検出されるか否かを調べることを特徴とする無精子症検査法。 - 特許庁 - The test system for testing a semiconductor package 1, having an electrode face arranged with electrodes over the whole surface, and its opposite back face, is flat.
本発明にかかるテストシステムは、一面に電極が配置された電極面を有し、電極面に対向する背面が平坦である半導体パッケージ１のテストシステムに関する。 - 特許庁 - This surge tester 100 is for performing a surge test on a testing object correspondingly to an input signal input from an impressed waveform generator 11 generating an impressed waveform.
サージ試験装置１００は、印加波形を発生する印加波形発生器１１から入力される入力信号に応じて被試験対象のサージ試験を行う。 - 特許庁 - A visually-inspected parts specifying drawing preparing section 12 for each testing machine prepares the layout drawing of the printed circuit board based on circuit design data 1B and a parts information database 4.
試験機別目視検査部品指定図作成部１２において、回路設計データ１Ｂと部品情報データベース４に基づいてプリント回路板のレイアウト図が作成される。 - 特許庁 - To provide a socket for a semiconductor integrated circuit in which appropriate contact pressure is applied to all external terminals of a semiconductor package when testing the semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路の試験時、半導体パッケージの全ての外部端子に適切な接触圧力が加わる半導体集積回路用ソケットを提供する。 - 特許庁 - Since a plurality of smart card chips respond to stimulus at random times in some cases, the system is well adapted for testing of such the plurality of smart card chips.
複数のスマートカードチップがランダムな時間に刺激に対して応答する場合があるので、そのシステムはそのような複数のスマートカードチップを検査するのに適応する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive elution testing device used for immersing a solid preparation in a test solution to measure the elution degree of a preparation component and simple in constitution.
試験液中に固形製剤を浸漬させて製剤成分の溶出程度を測定するために用いられ構成が簡易で廉価な溶出試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device which easily inputs into a semiconductor device, test information necessary for an operation test of the semiconductor device to be tested.
被試験デバイスである半導体装置の動作テストに必要なテスト情報を、容易に半導体装置に入力することのできる、半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a character testing method for prepreg that can digitalize the half hardening state of prepreg resin independent from the resin kind or structure of the prepreg.
プリプレグ樹脂の半硬化状態をバラツキなく数値化し、かつプリプレグの樹脂系あるいは構造に依存されないプリプレグ試験方法を提供することが課題である。 - 特許庁 - To provide a penetration endurance evaluating testing device for quantitatively evaluating the penetration endurance strength by a cutting tool of a sheet material of a sheet-like material with high reproducibility.
シート状材料のシート材の刃物による耐貫通強度を長期にわたり、再現性よく、かつ定量的に評価できる耐貫通性評価試験装置を得ること。 - 特許庁 - To obtain a test device for integrated circuit devices capable of testing a plurality of integrated circuit devices with a small number of voltage sources and ammeters and reducing the test prices.
少数の電圧源及び電流計で複数の集積回路装置をテストでき、テスト価格をダウンさせうる集積回路装置用のテスト装置を提供する。 - 特許庁 - This threshold value testing circuit provided for a threshold value voltage of an I/O circuit in the semiconductor device is provided with a sampling/holding circuit and a sampling control circuit.
半導体装置においてＩ／Ｏ回路の閾値電圧の試験用に設けられる閾値試験回路は、サンプル／ホールド回路およびサンプリング制御回路を備えて構成される。 - 特許庁 - To provide a system and method for testing electrification, capable of evaluating the temperature dependence of electrification characteristic and capable of performing the measurement of exposure and potential.
帯電特性の温度依存性を評価することができ、また、露光と電位測定とを同時に行うことができる帯電試験システムおよび帯電試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a collision testing device capable of simulating a collision of a vehicle with high reproducibility, a design method for the vehicle and the vehicle design by the design method.
高い再現性で車両の衝突を模擬することができる衝突試験装置、車両の設計方法、その設計方法により設計された車両を提供する。 - 特許庁 - Unnecessary copper foil wiring 2 is cut by irradiating a laser light, the BGA package wiring is completed, and each signal terminal is led out to the terminal 3 for a testing device.
不要な銅箔配線２は、レーザーを照射して切断することにより、ＢＧＡパッケージの配線を完成させ、信号端子の各々を試験装置用の端子３に引き出す。 - 特許庁 - For that purpose, the element contains a test material which interacts with a radiation in the testing wavelength range depending on the contact with the amount of the sample supplied.
そのためにテストエレメントが、供給された試料量との接触に依存して検査波長領域内の放射線と相互作用をする検査物質を含有する。 - 特許庁 - IMMUNE COMPLEX SPECIFIC ANTIBODY FOR REDUCING BLANK VALUE IN ARRAY TESTING SYSTEM, IN DETECTING ANTIBODY OF SPECIFIC IMMUNOGLOBULIN CLASS BONDED ANTIGEN-SPECIFICALLY
抗原特異的に結合した特定の免疫グロブリンクラスの抗体を検出する際に、アレイ試験方式においてブランク値を低減するための免疫複合体特異的抗体 - 特許庁 - This probe card is used for testing of an integrated circuit formed on a semiconductor wafer, and characterized in that it comprises non-oxide cement made ceramic substrate.
半導体ウエハに形成された集積回路の検査に用いられるプローブカードであって、非酸化物セラミック製のセラミック基板からなることを特徴とするプローブカード。 - 特許庁 - The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries so as to contribute to the strengthening of monitoring systems, including improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc.
本省及び検疫所は、残留農薬等の試験検査技術の向上など、輸出国における監視体制の強化に資する技術協力を行う。 - 厚生労働省 - The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries so as to contribute to the strengthening of monitoring systems, including improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, mycotoxins, etc.
本省及び検疫所は、残留農薬、カビ毒等の試験検査技術の向上など、輸出国における監視体制の強化に資する技術協力を行う。 - 厚生労働省 - (2) Researchers, etc. shall keep records as set forth in Chapter 3 Paragraph 2.3(1), so as to make it possible to confirm processing, testing, inspection and shipment records for each lot.
(2) 研究者等は、ロットごとに、第３章第２の３(1)に掲げる記録、(1)の調製記録、試験及び検査記録並びに運搬記録が確認できるようにするものとする。 - 厚生労働省 - The basic test speed is 500 MHz, but this speed can be increased to up to 1 GHz in Double Data Rate Mode (DDR Mode), for at-speed testing of today's faster memory devices.
基本的な試験速度は500MHzであるが, 今日のより速い記憶デバイスの速度指向試験用には, DDR(倍速)モードでこの速度を1GHzまで増大させることができる. - コンピューター用語辞典 - Having a system that recognizes the drawn widgets gives the designer a tool that can be used for designing, testing, and eventually producing a final application interface.
描かれたウィジェットを認識するシステムによって, 設計者は最終的な応用インタフェースを設計し, 試験し, 遂には制作するのに利用できるツールを得ることになる. - コンピューター用語辞典 - Support for the JMeter plugins is closely integrated with the IDE's profiling tool.The JMeter plugins enable you to easily create and run JMeter load testing scripts from within the IDE.
JMeter プラグインは IDE のプロファイルツールと緊密に統合されています。 JMeter プラグインによって JMeter 負荷テストスクリプトを IDE 上で作成し実行することが簡単に行えるようになります。 - NetBeans - The Run File option, also available from both the Editor context menu and the Run menu, requires that you be in the test file for the class you are testing.
「ファイルを実行」オプションは、同様に「エディタ」のコンテキストメニューと「実行」メニューの両方から使用できますが、テスト対象のクラスのテストファイル内にいる必要があります。 - NetBeans - TutorialTutorial-- A short tutorial about PHPUnit A short introduction to the test framework PHPUnit provides a simple framework for creating a test suite to automate testing of functions and classes.
チュートリアルチュートリアル--PHPUnit 簡易チュートリアルテストフレームワークの紹介 PHPUnit は、関数やクラスを自動的にテストする"テストスイート" を作成するためのシンプルなフレームワークを提供します。 - PEAR - To provide a method and an apparatus for testing a multi-ported memory especially when one or a plurality of ports thereof are not directly accessible, without using any intermediate logic circuit.
特にそのポートの１つまたは複数が介在論理回路なしに直接アクセス可能ではないときに、マルチポート化メモリをテストするための方法およびシステムを提供すること。 - 特許庁 - Sequential data which are received from the testing device 314 are constituted in a parallel shape, and an estimation-to-actual data value is displayed for every node, in order to indicate whether the test of a node has passed or not.
テスト装置から受け取られた順次データは並列形式に構成され、ノードのテストが合格か否かを示すためノード毎に予測対実際データ値が表示される。 - 特許庁 - To provide a testing equipment of high-accuracy for mechanical characteristics constituted, without causing the number of the seal areas of a high-pressure container to increase, and to prevent a test piece attaching space from being narrowed by a support member.
高圧容器のシール箇所を増加させず、かつ支持部材が試験片の取付空間を狭くすることのない高精度の機械的特性装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a system which enables a person for a medical examination to simply, easily use a testing service on a specimen such as blood, urine or the like at any place and at any time.
受診者がいつでもどこでも簡単に且つ容易に血液、尿等の検体サンプルの検査サービスを利用することができるシステムを提供することにある。 - 特許庁 - An engine testing device 10 comprises: a dynamometer 14 for applying a load to an engine 12; and a control device 20 that outputs a control command value to the engine 12 and the dynamometer 14, respectively.
エンジン試験装置１０は、エンジン１２に負荷を与えるダイナモメータ１４と、エンジン１２とダイナモメータ１４にそれぞれ制御指令値を与える制御装置２０と、を備える。 - 特許庁 - To obtain a method for testing the communication path of a network in which the communication path of the network can be verified simply and quickly.
本発明は、ネットワークの通信経路の試験を行う通信経路試験方法に関し、ネットワークの通信経路の検証を簡易かつ迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁
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