「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 94 95 96 97 98 99 100 101 102 .... 135 136 次へ＞- To provide a test method for testing a semiconductor integrated circuit device by using a tester where the number of terminals is smaller than the number of input terminals of the semiconductor integrated circuit device.
半導体集積回路装置の入力端子数よりも少ない端子数のテスタを用いて半導体集積回路装置のテストを行うテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a highly reliable burn-in testing device capable of conducting surely screening for a plurality of measured devices (DUT hereinafter), and free from a secondary trouble in the DUT.
複数の被測定デバイス（以下「ＤＵＴ」という）を確実にスクリーニングし、信頼性が高く、ＤＵＴに二次故障を発生させないバーイン試験装置を提供する。 - 特許庁 - From the A register 32, the test result information is read to generate replacement address data for testing, and from the B register 33, the test result information is read and output to the outside.
Ａレジスタ３２よりテスト結果情報を読み出してテスト用の置換アドレスデータを生成し、Ｂレジスタ３３よりテスト結果情報を読み出して外部に出力する。 - 特許庁 - The device 10 is set corresponding to the operation data, and the operation data are evaluated for carrying out similar operation to that in the first use of the instrument 30, or testing the instrument.
その操作データに応じて装置１０を設定し、器具３０の最初の使用と同様の操作を行ったり、器具３０をテストする目的で操作データを評価したりする。 - 特許庁 - The ATM transmission testing device to which the test request is sent generates an ATM cell for transmission test corresponding to the test mode of the test request and transmits the ATM cell to the opposite node.
試験要求が出されたＡＴＭ伝送試験装置は、試験要求の試験モードに応じた伝送試験用ＡＴＭセルを生成し、対向するノードに送信する。 - 特許庁 - To provide a high strength copper alloy which has excellent workability and corrosion resistance, has ductility, causes no nickel allergic problem, and deals with a needle testing gauge, and to provide a method for producing the same.
加工性、耐食性に優れ、延性を有し、ニッケルアレルギー問題のない、検針器対応の高強度銅合金およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To accurately position a steam turbine cascade testing device by preventing a pitot tube for measuring a flow out of a cascade from making contact with a cascade supporting part.
蒸気タービンの翼列試験装置に関し、翼列を出た流れを測定するピトー管の翼列支持部に接触するのを防止し、正確な位置決めを可能とする。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for testing a semiconductor integrated circuit which is high in observability and capable of conveniently detecting the delay failure, the degeneration failure, etc.
可観測性が高く、簡便に遅延故障や縮退故障等を検出することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus capable of automatically securing a predetermined rise time (or fall time) in consideration of measurement conditions for the periphery of a DUT.
ＤＵＴ周辺の測定条件にも配慮して、自動で所定の立ち上がり時間（または立ち下がり時間）を確保できる半導体試験装置を実現することにある。 - 特許庁 - To provide a durability testing method for a pneumatic tire by generating a tire deteriorated with time falsely in a short time and performing durability test based on this.
経時劣化したタイヤを擬似的にかつ短時間で作りだし、これに基づいて耐久試験を行うようにした空気入りタイヤの耐久性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing circuit for measuring a frequency capable of accurately measuring a frequency not locked in phase and a semiconductor integrated circuit having it.
位相がロックされていない周波数の測定を高精度で行うことができる周波数測定用テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT, NONCONTACT IC CARD AND READER/WRITER HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE, AND METHOD FOR TESTING DEVICE HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE
乱数生成回路、当該乱数生成回路を内蔵する非接触ＩＣカード及びリーダ／ライタ、並びに、当該乱数生成回路を内蔵する装置のテスト方法 - 特許庁 - A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.
メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁 - To provide a tester and testing method which enable one to test silicon wafers for dirt with a simpler configuration and more simplified information processing.
本発明は、より簡単な構成で、より簡易な情報処理でシリコンウェハの汚れを検査し得るシリコンウェハ汚れ検査装置およびシリコンウェハ汚れ検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for detection of signal generation, capable of testing objects to be measured whose multiplication and separation can not be properly performed.
本発明は、多重化や分離が適切に行なえない被測定物の試験が可能な信号発生検出装置及び信号発生検出方法の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a technology for reducing a shift of light emitting timing between light sources and reducing artifact in a diagnosis image in a biological testing apparatus having a plurality of light sources.
複数の光源を有する生体検査装置において、光源間の発光タイミングのずれを低減し、診断画像中のアーチファクトを低減するための技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of testing an engine shortening test time and allowing engine torque to be accurately found even for an engine with an unknown inertia value, and to provide a device therefor.
試験時間を短縮することができ、且つ、慣性値の分からないエンジンであってもエンジントルクも精度良く求めることができるエンジン試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.
近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same.
バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of testing rubber wear for accurately reproducing on a sample abrasion phenomenon occurring on a tire, and to provide a rubber-index calculation method which uses the test method.
タイヤで起きている摩耗現象を精度良くサンプルで再現することが可能なゴム摩耗試験方法及びそれを用いたゴムインデックス算出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory testing apparatus that reduces the time for analyzing a failure by displaying the number of failures in each area of a device to be tested.
被試験対象デバイスの各領域におけるフェイル数を表示し、フェイルの解析にかかる時間を短縮することが可能な半導体メモリ試験装置を実現する。 - 特許庁 - The base sequence of any of the sequence numbers 1-4 (refer to the specification) or a part thereof is used for testing on the human pituitary or therapy of human pituitary-associated diseases.
本発明は、配列番号１〜４のいずれかの塩基配列又はその部分の、ヒト下垂体に関する検査又はヒト下垂体関連疾患の治療のための使用である。 - 特許庁 - The test circuit chip 21 for testing the electric characteristics of at least part of an LSI chip on a wafer to be inspected is mounted to the surface of a card main body 11.
カード本体１１表面には、検査対象ウエハ上のＬＳＩチップの少なくとも一部の電気的特性をテストするためのテスト回路チップ２１が実装される。 - 特許庁 - To obtain a logic LSI which is shortened in testing time by making the preparation of an input pattern for test extremely easier and, at the same time, is improved in measurement accuracy by making measurement extremely easier.
テスト用入力パターンの作成を極めて容易にし、試験時間を短縮すると共に、測定を極めて容易にし、測定効率を改善した論理ＬＳＩを得る。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for testing a load measuring instrument, capable of reducing the amount of work sequence needed to test the load measuring instrument and improving its work efficiency.
荷重測定器の検定に要していた作業手順の低減と作業効率の向上を為し得る荷重測定器の検定方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical transmission system for sufficiently and surely testing normality by expanding a test range based on a return test.
折り返し試験による試験範囲を拡大することができるようにし、これにより正常性を十分かつ確実に試験することの可能な光伝送システムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a screed and a method for testing gas sealability of the screed which enable economical test of gas sealability in a shorter time with a simple structure.
簡易な構成で、より短時間で経済的なガスシール性の検査を行うことを可能にしたスクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法を提供する。 - 特許庁 - This sample substrate for use in biological testing has a first member, defining at least one sample well and a second member including at least one sample well closure element.
本発明のサンプル基板は、少なくとも１つのサンプルウェルを規定する第１の部材、および少なくとも１つのサンプルウェル閉鎖要素を備える第２の部材を有する。 - 特許庁 - To provide a test facility of a smoke detector suitable for testing actual operation conditions of the smoke detector under conditions resembling actual smoke generation conditions.
実際の煙発生状況に近い状況下において、煙感知器の実際の作動状況を試験することに適した煙感知器の試験設備等を提供する。 - 特許庁 - To provide a hardness testing machine capable of preventing favorably a dimension of a formed recess from being erroneously recognized when read, without requiring a long time for measurement.
測定に時間をかけることなく、形成されたくぼみの寸法を読み取る際の誤認を好適に防止することができる硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁 - This attraction system is provided with an attraction device provided in a play zone for directing the play of testing courage which surprises the player and a portable item 40 carried and moved by the player.
アトラクションシステムは、プレーゾーンに設けられ、プレーヤを驚かす肝試しのプレー演出を行うアトラクション装置と、プレーヤが携帯して移動する携帯アイテム４０とを含む。 - 特許庁 - To obtain not only pass/fail decision of an instrument to be tested but also a test result which enables evaluation of its immunity to interference waves, with a testing apparatus for performing immunity tests.
イミュニティ試験を行う試験装置において、供試機器の合否判定だけでなく、妨害波に対する耐性を評価し得る試験結果が得られるようにする。 - 特許庁 - Correlation between an AE signal and drill workability (cutting resistance) is preliminarily found to evaluate and determine workability for a testing material based on an output of the AE wave.
予めＡＥ信号とドリル加工性（切削抵抗）との相関を求めておき、ＡＥ波の出力信号に基づいて試験材の加工性を評価判定する。 - 特許庁 - To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁 - A lithography method includes a step of obtaining a temperature as a function of time, in a bake step after exposure for a different location on a testing substrate on which a chemistry amplification resist is coated.
化学増幅型レジストがコーティングされた試験基板上の異なるロケーションについて、露光後ベークステップの中の、時間の関数としての温度を得るステップが含まれている。 - 特許庁 - To provide an electrode part support structure of a tracking testing device for easily performing assembling and attaching work of the electrode part and easily adjusting a measuring condition and the assembling positional relationship.
電極部分の組立や着脱作業が容易で測定条件や組立位置関係の調整が容易なトラッキング試験装置の電極部支持構造を提供する。 - 特許庁 - To provide a clock generating device or the like for reducing power consumption during a normal operation when testing circuit blocks operated by clocks different from each other by a single test clock.
互いに異なるクロックで動作する回路ブロックを単一のテストクロックでテストする場合に通常動作時の低消費電力化を図るクロック生成装置等を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for judging an extension degree of a diabetic nephropathy by early detecting the diabetic nephropathy before judgment of a regular urine testing paper method or a clinical symptom is conducted.
通常の尿試験紙法や臨床症状による判定がなされるより前に、早期に糖尿病性腎症を検出し進展度を判定する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can increase the margin in the accuracy for the positioning of a probing stylus, in the wafer testing process of the manufacturing process of semiconductor devices.
半導体装置の製造工程におけるウェハテスト工程でのプローブ針の位置合せにおける精度余裕を大きくすることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for testing an insulation monitoring device, capable of obtaining test results of higher accuracy by performing a test using a reactive leakage current as a parameter.
無効漏れ電流をパラメータとする試験を行うことにより、より高い精度の試験結果を得ることができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁 - A plurality of the first measurement modules receive the trigger signal through the trigger bus, and the IC tester for testing a to-be-tested object is modified.
本発明は、複数の第１計測モジュールがトリガバスを介してトリガ信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - The first substrate 1 has on a second surface 12 a first semiconductor chip 20 and a first test point 15 for testing the first semiconductor chip 20.
第１基板１の第２表面１２には、第１半導体チップ２０と、この第１半導体チップ２０をテストするための第１テストポイント１５とが形成されている。 - 特許庁 - To provide a semiconductor inspecting device capable of testing a substrate for holding a contact shoe at high temperatures and at low temperatures with preventing an occurrence of a distortion and an expansion caused by the temperature.
この発明は、接触子を保持する基板を温度による歪や膨張を発生させなくして高温や低温の試験を行える半導体検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a rubber abrasion testing machine for measuring the loss in weight by abrasion with high accuracy with respect to the rubber including a compound of low conductivity such as silica.
シリカのような導電性の低い配合物を含有するゴムであっても、高い精度で摩耗減量の測定を行うことが可能なゴム摩耗試験機を提供する。 - 特許庁 - In this method and this system, multi-ported memory is separated into at least two parts used for testing one or a plurality of ports which is not directly accessible.
この方法およびシステムでは、直接アクセス可能ではない１つまたは複数のポートをテストするために使用する少なくとも２つの部分にマルチポート化メモリを分離する。 - 特許庁 - To provide a connection testing method in replacing a railway electronic interlocking device capable of shortening the total number of working days required for a connection test of a new electronic interlocking device.
新設の電子連動装置の接続試験に要する延べ作業日数を短縮化できる鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a circuit for accurately testing the error rate characteristics of a fine soft decision error correction circuit without receiving interference from other devices inside a laboratory or the like.
実験室内等の他の装置からの干渉を受けずに微妙な軟判定誤り訂正回路の誤り率特性を精度よく試験するための回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device for repulsive type hardness meter, dispensing with a computer or a control device and which becomes inexpensive by mechanically renewing and moving a test hitting position.
検定打撃位置を機械的に更新移動させることにより、コンピュータや制御機器が不要で安価となる反発式硬度計の検定装置を目的とする - 特許庁 - A test strip 10 for testing the blood sample is provided with a fluid transport path 30 terminating at the mouth 21 of the capillary channel 20, defined on the major face of the strip.
血液サンプルを試験する試験片１０は、毛細管流路２０の口部２１で終端する流体搬送経路３０が、細片の主面上に画定されている。 - 特許庁 - To measure a fine resistance value with simple configuration, concerning a testing device applied to measurement of a fine resistance related to, for example, an integrated circuit.
本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路に係る微小抵抗の測定に適用して、簡易な構成により微小抵抗値を測定することができるようにする。 - 特許庁
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