「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 98 99 100 101 102 103 104 105 106 .... 135 136 次へ＞- To provide an abnormality alarm for a residence which can be installed beautifully in a residence, whose daily testing operation confirmation is performed easily and which can be tested surely.
住宅内に美観良く設置可能で日常の試験動作確認も容易におこなうことができ、また、確実に試験可能な住宅用異常警報器を提供すること。 - 特許庁 - To provide a disc-shaped rubber test piece for a rubber testing machine capable of faithfully reproducing the peripheral shearing force within the earthing surface produced in a tire under an actual use environment.
実際の使用環境下におけるタイヤに発生する接地面内の周方向せん断力を忠実に再現し得るゴム試験機用ゴム試験片を提供すること。 - 特許庁 - To provide an endurance testing method for a pneumatic tire properly reproducing aged deterioration in actual use, as well as appropriately and efficiently making a valuation of endurance in the aged deterioration.
実使用における経年劣化をよく再現し、経年劣化における耐久性評価を適切に、効率よく行いうる空気入りタイヤの試験方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent contact characteristic from deteriorating by the migration of solder from an IC lead to a contact pin coming into electrical contact with the IC lead in relation to a socket for testing an IC or the like.
ＩＣ等のテスト用ソケットで、ＩＣリードと電気的接触をするコンタクトピンにＩＣリードからの半田が転移し、コンタクト特性が劣化するのを防止する。 - 特許庁 - For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.
半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁 - To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.
本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁 - A method for generating, by an electronic circuit, at least one prime number by testing the primality of successive candidate numbers for asymmetric encrypted algorithm of RSA type includes a step (43) of testing, for each candidate number, primality with respect to prime numbers of at least one set of consecutive prime numbers, wherein the order of application of the tests is modified at least from one prime number generation to another.
RSA タイプの非対称暗号化アルゴリズムのために連続した候補数の素数性を判定することにより少なくとも１つの素数を電子回路により生成する方法は、候補数毎に、少なくとも一組の連続した素数に対して素であるか否かを判定するステップ(43)を備えており、判定する順番を、少なくとも一の素数生成で変更する。 - 特許庁 - To provide a plane bending fatigue-testing device for obtaining the identical fatigue testing conditions between plane bending rocking to one surface side and that to the other surface side with respect to a test piece, for reducing the influence of vibration, and for accurately performing a plane bending fatigue test even if a metal plate new material is used as the test piece.
本発明は、試験片に対し、その一面側への平面曲げ揺動時と他面側への平面曲げ揺動時とで同一の疲労試験条件が得られることや、振動の影響を低減すること、金属板新素材を試験片として用いた場合であっても平面曲げ疲労試を精度よくなし得る平面曲げ疲労試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - This SCC testing device 30 is provided with a seawater extracting tube 31 for extracting seawater introduced into the condenser 20 to the outside of it, a test piece formed of the same material as a possible part of a stress corrosion crack, a testing device part 32 communicated with the seawater extracting tube 31, and a seawater discharging tube 33 discharging seawater fed into the testing device part 32.
ＳＣＣ試験装置３０を、復水器２０に導入される海水を復水器外へ抽出するための海水抽出配管３１と、応力腐食割れが懸念される部分の材質と同一の材質により作製された試験片と、海水抽出配管３１に連通接続する試験装置部３２と、試験装置部３２内に供給された海水を排出する海水排出管３３とを備えた構成とする。 - 特許庁 - This is an adhesive tape for fixing a semiconductor wafer that melts at a testing temperature of 190 °C and test load of 21.18 N in the testing method shown in "the flow testing method of thermoplastics" Japanese Industrial Standards K 7210, wherein MFR by the method is 0.1-3, and a resin layer B and adhesive layer A are laminated that includes a carboxyl group as a polymeric constituent.
ＪＩＳ Ｋ ７２１０「熱可塑性プラスチックの流れ試験方法」に示される試験方法における試験温度１９０℃、試験荷重２１．１８Ｎで溶融するとともに前記方法によるＭＦＲが０．１〜３で、かつ重合体の構成成分としてカルボキシル基（−ＣＯＯＨ）を有する構成成分を含む樹脂層Ｂと粘着剤層Ａとが積層されてなることを特徴とする半導体ウエハ固定用粘着テープ。 - 特許庁 - The vibration testing device includes: a servo control unit 4 for controlling the shaker 2; an excitation control unit 3 for controlling the servo control unit; a load sensor 11 for detecting a load applied from the shaker to the table; and a displacement sensor 5 and an acceleration sensor 6 for detecting the displacement of the table.
加振機を制御するサーボ制御装置４と、このサーボ制御装置を制御する加振制御装置３と、テーブルに加振機から加えられる荷重を検出する荷重センサ１１と、テーブルの変位を検出する変位センサ５および加速度センサ６とを備える。 - 特許庁 - LIQUID PRESSURE CONTROL METHOD FOR MATERIAL TESTING DEVICE BY CAVITATION JET FLOW, MECHANISM FOR CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK, JET PRESSURE CONTROL MECHANISM, MECHANISM FOR AUTOMATICALLY CONTROLLING PRESSURE INSIDE LIQUID TANK AND/OR JET PRESSURE, AND MECHANISM FOR SUPPLYING AND EXHAUSTING LIQUID INTO LIQUID TANK IN SHORT TIME
キャビテーション噴流による材料試験装置の液体圧力制御方法、液体槽内圧力制御機構、噴射圧力制御機構、液体槽内圧力および／または噴射圧力の自動制御機構及び液体槽内への短時間液体給排機構 - 特許庁 - The system for generating cryptographic keys includes: a calculation unit for reconstructing a large number of small primes; a sieving unit for checking the divisibility of an integer by small primes; a recoding unit for changing the representation of an integer; and a primality testing unit.
暗号鍵の生成システムは、多数の小さい素数を再構成するための演算ユニット、小さい素数によって整数が割り切れるかを点検するための篩ユニット、整数の表現を変えるための再符号化ユニット、及び素数性判定テストユニットを備える。 - 特許庁 - A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.
試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁 - This evaluation device for the closing material for the molten metal tapping hole comprises a high-frequency induction furnace 1 for forming and storing the molten metal 11, and a closing material pushing-out device 2 for pushing out the testing closing material 7 into the molten metal 11 through an immersion tube 9.
溶融金属出湯口用閉塞材の評価装置は、溶融金属１１を形成・収容する高周波誘導炉１と、該溶融金属１１中に試験用閉塞材７を浸漬管９を通して押し出す閉塞材押し出し装置２とからなる。 - 特許庁 - To provide a vaccine for prophylaxis of FIP (feline infectious peritonitis) caused by infection of FIPV (feline infectious peritonitis virus), to provide a method for prophylaxis and a method for diagnosis of the FIP using the vaccine and to provide a reagent for testing the infection of the FIP.
ネコ伝染性腹膜炎ウイルス（ＦＩＰＶ）の感染によって起こるネコ伝染性腹膜炎（ＦＩＰ）の予防用ワクチン並びに該ワクチンを用いたネコ伝染性腹膜炎の予防方法、診断方法及びネコ伝染性腹膜炎感染の検査用試薬を提供する。 - 特許庁 - The scan testing method for scan-testing a semiconductor integrated circuit having a plurality of blocks to perform functional operations comprises a step of exclusively isolating each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and a step of feeding a scan clock with deviated phase for each block to be tested.
機能動作を行なう複数のブロックを有する半導体集積回路をスキャンテストする方法であって、スキャンテスト時に複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションするステップと、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを供給するステップとを有することを特徴とするスキャンテスト方法を提示する。 - 特許庁 - A test signal RRT for testing the redundant memory cell in the direction of a line, a control signal XF generated by the test signal RRT, a test signal CRT for testing the redundant memory cell in the direction of a column, and a control signal YFD generated by the test signal CRT are provided to an output buffer 100A.
行方向の冗長メモリセルを試験するための試験信号ＲＲＴとこの試験信号ＲＲＴによって生成される制御信号ＸＦ、及び列方向の冗長メモリセルを試験するための試験信号ＣＲＴとこの試験信号ＣＲＴによって生成される制御信号ＹＦＤが、出力バッファ１００Ａに与えられる。 - 特許庁 - To prevent a reverse power flowing to an AC power system when a power conversion device is anomalous with respect to a testing device with an interconnection inverter device as a dummy load for testing the operation of a DC power supply including the power supply device for converting an AC power into a DC power and an auxiliary power supply device.
交流電力を直流電力に変換する電力変換装置と補助電源装置とを備えた直流電源の動作試験を行うための擬似負荷として、系統連系インバータ装置を備えた試験装置において、電力変換装置の異常時に交流電力系統への逆潮流が発生するのを防止する。 - 特許庁 - The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.
試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁 - To provide a moving picture distribution testing device for testing video quality of each client in accessing a moving picture distribution server on a packet switching network at the same time, implementing simulation needing less calculation amounts for propagation of a defect by inter-frame reference, and simplifying inspection of a packet loss and a header so as to obtain video quality under conditions closer to actual conditions.
パケット交換ネットワーク上の動画配信サーバに同時アクセスするときの各クライアントの映像品質を試験する装置において、フレーム間参照による欠損の波及を計算量の少ないシミュレーションで行い、パケット損失とヘッダ検査を簡易にして、より実際に近い条件で映像品質を求める動画配信試験装置を提供する。 - 特許庁 - The amplifier 20 contained in a metallic housing and amplifying a high frequency signal is fixed to an outer wall of a waveguide 32 extendedly provided on a rear end side of a horn 34 in a horn antenna 30 for emitting the testing purpose radio wave, and the high frequency signal for emitting the testing purpose radio wave is given to the horn antenna 30 via the amplifier 20.
試験用電波を放射するホーンアンテナ３０において、ホーン３４の後端側に延設された導波管３２の外壁に、金属筐体内に収納されて高周波信号を増幅する増幅器２０を固定し、ホーンアンテナ３０には、この増幅器２０を介して試験用電波放射用の高周波信号を入力する。 - 特許庁 - To precisely and rapidly repeat a drop test for a number of test piece on an object to be tested or a number of the objects by the same shock loading by preventing a steel ball from hitting the objects two times regarding a drop testing apparatus for testing by dropping the steel ball from a specific height onto the object.
本発明は、鋼球を所定の高さから被試験体上に落下させて試験を行う落下試験装置に関し、被試験体への鋼球の２度当りを防止し、被試験体上の多数の試験物あるいは多数の被試験体に同じ衝撃加重による落下試験を精度良くかつ迅速に繰り返し行うことを目的とする。 - 特許庁 - This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.
半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第１のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第２のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁 - In signal output processing for testing, a CPU (central processing unit) outputs a game machine error state signal as a signal for testing when a prize ball delivery monitoring timer is in time-out, the value of an over delivery number storage counter exceeds a specified value, the value stored in a total prize ball count storage buffer exceeds a specified value or a delivery halt flag is set.
試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁 - Additionally, the method for evaluating or screening whether a testing substance is an activator or inhibitor for or against a sensitizing substance is characterized by incubating a cell expressing CCR7, IL-23 and/or ATF-3, the sensitizing substance and the testing substance and detecting the expression of the CCR7, IL-23 and/or ATF-3 due to the cell.
本発明はさらに、CCR7、IL-23及び／又はATF-3を発現する細胞と、感作性物質と被験物質とを一緒にインキュベートし、該細胞によるCCR7、IL-23及び／又はATF-3の発現を検出することを特徴とする、該被験物質が該感作性物質に対する活性化剤又は抑制剤であるか否かを評価する方法又はスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁 - Looking at the example of the impact on the automobile industry, the EU member states agreed to implement certification testing for entire automobiles rather than for each component (full-body certification testing) and, as a result, an automobile which has been certified as having marketing authorization in any one EU country is automatically permitted to be sold in all the other member states.
自動車産業への影響を例に挙げると、EU加盟国が、部品単位ではなく車一台ごとの認定検査（全型認定検査）を実施することに合意したことによって、EUのいずれかの国で販売許可の認定を受けた自動車は、自動的に他のすべての加盟国において販売することを許可されるようになった。 - 経済産業省 - The wiring for connecting the microcomputer 2 drip and the memory chip 4 to the conductive pad 10p for testing is connected to a conductive pad 7p in the outer row out of conductive pads 6p, 7p in two rows connected to the microcomputer chip 2.
また、マイコンチップ２およびメモリチップ４をテスト用導電パッド１０ｐに接続する配線は、マイコンチップ２に接続される２列の導電パッド６ｐ、７ｐのうち、外側の列の導電パッド７ｐに接続する。 - 特許庁 - In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.
メモリチップ２の単体検査を実施する場合、まずＬＳＩテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ２を単体で検査するためのテストプログラムを、ＣＰＵ４によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁 - In the scratch testing method, an acceleration sensor for preventing sensitivity from degrading is used for detecting variations in a load even when a signal generated in the breakdown of the thin film has a high frequency.
薄膜が破壊する時に発生する信号が高い周波数を持つ場合にも感度が落ちにくい加速度センサを荷重変動の検出に使用することによって課題を解決して発明を完成するに至った。 - 特許庁 - To provide a reference position correction device for a conveying mechanism for correcting the reference positions in all of X-axis direction, Z-axis direction, θ-axis direction and R-axis direction with one testing light beam.
１本の検査光を用いることによりＸ軸方向、Ｚ軸方向、θ軸方向及びＲ軸方向の全ての方向の基準位置補正を行うことが可能な搬送機構の基準位置補正装置を提供する。 - 特許庁 - To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.
大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a control device for machine tool for easily achieving the debug of a working program by avoiding a workload to make an operator to input the order of execution of working programs before testing a machine tool.
工作機械を試験する前に作業者に加工プログラムの実行順を入力させる作業負担を回避して簡便に加工プログラムのデバッグを実現する工作機械用制御装置を提供すること。 - 特許庁 - For the gradation levels included between the reference supply terminals, all the gradation levels included in the interval are tested by testing while switching input data and a decision level of a comparator in sequence for every one gradation level.
その基準電源端子間に含まれる階調レベルについて、一階調レベル毎、入力データとコンパレータの判定レベルの設定を順次切り替えながらテストし、その区間に含まれる階調レベルを全てテストする。 - 特許庁 - (ii) Is a system for testing structured in a way to prevent inadequate tests and reviews that would cause problems with long-lasting effects on customers or serious miscalculations in risk management-related documents and materials that are used for corporate management decision making?
（ⅱ）テストやレビュー不足が原因で、長期間顧客に影響が及ぶような障害や経営判断に利用されるリスク管理用資料等の重大な誤算が発生しないようなテスト実施態勢を整備しているか。 - 金融庁 - To certainly detect a flaw by combining the merits of a plurality of test systems in a substrate inspection apparatus for testing a substrate for a semiconductor circuit element, a liquid crystal display element, or the like.
本発明は、半導体回路素子や液晶表示素子等の基板を検査する基板検査装置に関し、複数の検査方式の長所を組み合わせて欠陥検出を確実に行うことを目的とする。 - 特許庁 - A testing tool 60 has a vibration transmission preventing stand 51 for fixing a motor 14 having a rotor 22 and a stator 15, and a vibration transmission prevention stand 52 for fixing a shaft-fixing element 61 connected to a shaft 24.
試験治具６０は、ロータ２２とステータ１５を有する電動機１４を固定する振動伝達防止台５１と、シャフト２４に接続されたシャフト固定具６１を固定する振動伝達防止台５２と、を有する。 - 特許庁 - Using a status transition diagram obtained by regarding a given logic circuit as a status transition machine, a test pattern generator 4 generates a test pattern for diagnosing resistor level trouble for testing all transitions from a status to a status.
テストパタン作成器４は、与えられた論理回路を状態遷移機械とみなして得た状態遷移図を用いて、状態から状態への全ての遷移をテストするレジスタレベル故障診断用テストパタンを生成する。 - 特許庁 - The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.
き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁 - To reduce costs for testing by carrying out a performance test at a high speed when data are serially transmitted to/from the outside, and are transmitted in parallel for reading/writing them from/in memory cells.
本発明は、外部とのデータの受け渡しを直列データで行い、メモリセルへのデータの読み書きを並列データで行う半導体集積回路に関し、動作試験を高速に行い、試験コストを低減することを目的とする。 - 特許庁 - A genetic testing system ensures complete traceability of animals and food products involving a method of uniquely identifying animals for data collection, records management and retrieval purpose involving a novel method of genetic analysis using individual DNA fingerprinting of parentage of individual animal to effectively provide for full traceability of animals from birth to consumption.
これには個々の動物の親子関係のＤＮＡフィンガープリントを用いて動物の出生から消費までの完全な追跡可能性を提供する新規な遺伝子分析法が含まれる。 - 特許庁 - To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.
各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for attaching an electronic component which can prevent an occurrence of a defective board by testing whether or not an area for attaching a large-sized electronic component is normal before the large-sized electronic component is attached thereto.
大型電子部品を装着する前に大型電子部品を装着する領域が正常であるか否かを検査することにより、不良基板の発生を防止できる電子部品の装着方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.
本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING SYSTEM, IMAGE PROCESSOR, ALGORITHM GENERATION DEVICE, IMAGE TESTING DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS IMAGE PROCESSOR, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS ALGORITHM GENERATION DEVICE, AND RECORDING MEDIUM
画像処理システム、画像処理装置、アルゴリズム作成装置、画像検査装置、コンピュータを画像処理装置として機能させるためのプログラム、コンピュータをアルゴリズム作成装置として機能させるためのプログラム、および記録媒体 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a sample for testing bending strength to be used in the RCCP (Roller Compacted Concrete) compound design or in the quality control without using special equipment and without needing huge labors.
ＲＣＣＰにおける配合設計や品質管理などに用いられる曲げ強度試験用供試体を、特別な機材を使用することなく、かつ多大な労力を必要とせずに製造する方法を提供する。 - 特許庁 - This lubricating function evaluating device is provided with a control means, a driving control device controlled by the control means, a driving-detecting device for detecting the torque of a tested body, and a testing machine for enclosing the tested body.
制御手段と、同制御手段によって制御される駆動制御装置と、被試験体のトルクを検出する駆動・検出装置と、被試験体を収納する試験機とを備えてなる潤滑機能評価装置。 - 特許庁 - The solvent power of the obtained coating solvent is 29.0 KB (Kauri Butanol) value in accordance with the Survey for Rationalization of Demand of Petroleum Products for Fiscal 1986 of the Japan Paint Inspection and Testing Association.
得られた塗料用溶剤の溶解力を「昭和６１年度石油製品需要適正化調査」（財）日本塗料検査協会に準拠して測定すると、ＫＢ（Ｋａｕｒｉ Ｂｕｔａｎｏｌ）値が２９．０であった。 - 特許庁 - The test method for testing fitting comprises steps of supporting the fitting by a fitting holding member for test in a deformed state; and performing test using the fitting supported by the fitting holding member.
建具を試験する試験方法であって、試験用建具保持部材に前記建具を、変形させた状態で支持させるステップと、前記試験用建具保持部材に支持された前記建具を用いて試験するステップと、を有する。 - 特許庁 - In a device 7 for taking out the sample cassettes automatically of this invention, a plurality of the sample cassettes 11 containing samples for the material testing and respectively provided with two sets of notches 11B on the both sides, are contained in the magazine 8.
本発明の自動サンプルカセット取出し装置７では、材料試験用サンプルを収容した、両側側面にそれぞれ２組の切り欠き１１Ｂを設けた複数のサンプルカセット１１をマガジン８に収容する。 - 特許庁
