「For testing」を含む例文一覧(6759)

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  • METHODS AND DEVICES FOR RELEVANCY TESTING OF IDENTIFIER
    識別子の関連性テストのための方法及び装置 - 特許庁
  • REAGENT AND SAMPLE HANDLING DEVICE FOR AUTOMATIC TESTING SYSTEM
    自動試験システム用の試薬およびサンプル処理装置 - 特許庁
  • INFORMATION PROCESSING METHOD FOR CLINICAL TESTING OF NEW MEDICINE
    新薬の臨床試験のための情報処理方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR TESTING ARRAY OF ELECTRODE
    電極のアレイを試験するための装置及び方法 - 特許庁
  • I wish we had time for testing, but we don't.
    テストの時間があればよいですが 今はありません - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTINUITY OF ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品の導通試験装置及び該試験方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING LOAD ON SLIDE BEARING BODY
    すべり支承体の荷重試験方法及び装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING LEAKAGE OF PACKAGE SEAL PART
    包装体シール部の漏洩検査方法及び装置 - 特許庁
  • AUTOMATIC LEAKAGE TESTING APPARATUS OF HIGH PERFORMANCE FILTER FOR CLEAN ROOM
    クリーンルーム用高性能フィルタの自動リークテスト装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CONTROL DEVICE OF ELEVATOR
    エレベータ制御装置の試験方法、及び試験装置 - 特許庁
  • To provide an automatic test system for testing smart card chips.
    スマートカードチップを検査するための自動検査システム。 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR TESTING ATM LINE
    ＡＴＭ回線用試験システム、及びその試験方法 - 特許庁
  • HEAT CYCLE TESTING METHOD AND JIG FOR HEAT CYCLE TEST
    熱サイクル試験方法および熱サイクル試験用治具 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING RADIO PART IN RADIO DATA COMMUNICATION SYSTEM
    無線データ通信システムにおける無線部テスト方法 - 特許庁
  • To obtain a corrosion resistance testing method for metallic material, capable of shortening the corrosion testing time of the metal material and capable of realizing simplification and compactification of corrosion resistance testing equipment, and to provide corrosion resistance testing equipment.
    金属の耐食試験時間を短縮でき、且つ、装置の簡易化及びコンパクト化を実現することができる金属材料の耐食性試験方法及び装置を得る。 - 特許庁
  • To provide a testing device for object detecting means capable of improving the testing accuracy, while restraining the testing cost of the object detecting means, and to provide a testing method.
    物体検出手段の試験コストを低く抑えつつ、試験精度を向上させることが可能な物体検出手段の試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING HARDWARE OF ON-VEHICLE DEVICE AND METHOD FOR WRITING SOFTWARE FOR PRODUCT
    車載装置のハードウエアテスト方法及び製品用ソフトウエア書き込み方法 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR TESTING ACCURACY OF LANDING LIQUID DROPLET MATERIAL FOR COLOR FILTER
    カラーフィルタ用液滴材料着弾精度試験基板の製造方法 - 特許庁
  • To control uneven heating in a semiconductor testing device, a contactor unit for the semiconductor testing device and a method for testing a semiconductor device.
    半導体試験装置、半導体試験装置用コンタクタユニット、及び半導体装置の試験方法において、半導体装置の加熱むらを抑制すること。 - 特許庁
  • To provide a testing method for liquid crystal display element and a testing, device which can easily detect defects.
    欠陥の検出が容易な、液晶表示素子の検査方法、及び検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device for easily testing a differential distribution type heat sensor.
    差動式分布型の熱感知器を簡単に試験することができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide testing method for accurately testing connection status of cell voltage sensing line.
    電池電圧検出線の接続状態を正確に検査可能な検査方法を提供する。 - 特許庁
  • TEMPLATE TESTING METHOD, TEMPLATE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING METHOD USING THE TEMPLATE AND TESTING SYSTEM FOR THE TEMPLATE
    検査方法、テンプレート製造方法、半導体集積回路製造方法および検査システム - 特許庁
  • TESTING DEVICE, TESTING METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE, TEST SIMULATOR, AND TEST SIMULATION METHOD
    試験装置、試験方法、電子デバイスの生産方法、試験シミュレータ、及び試験シミュレーション方法 - 特許庁
  • To reduce testing time for testing a semiconductor integrated circuit using an actual operation frequency.
    実動作周波数を用いて半導体集積回路をテストする際のテスト時間を短縮すること。 - 特許庁
  • TEST BENCH AND TESTING METHOD FOR MEASURING SOUND INSULATION, THAT IS, INSERTION LOSS, IN OBJECT OF TESTING
    試験対象物における遮音すなわち挿入損失を測定するための試験台と方法 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING MOTOR OPERATED VALVE, COMPUTER PROGRAM, AND CONTROL DEVICE OF POWER SUPPLY CASE FOR TESTING MOTOR OPERATED VALVE
    電動弁の試験方法、コンピュータプログラムおよび電動弁試験用電源箱の制御装置 - 特許庁
  • The testing method includes an electric power unit 20, a load device 30, and a controller for testing 50.
    この試験システムは、電源装置２０と、負荷装置３０と、試験用コントローラ５０とを備える。 - 特許庁
  • A testing apparatus 2 is provided for testing an N-bit (N is a natural number) A/D converter 1.
    Ｎビット（Ｎは自然数）のＡ／Ｄコンバータ１を試験する試験装置２が提供される。 - 特許庁
  • To provide an impact testing method and an impact testing device capable of applying impact force onto a testing object over a wide range, irrespective of a shape of the testing object, as to the impact testing method and the impact testing device for applying the impact force onto the testing object to conduct an impact evaluation for the testing object.
    試験対象物に衝撃力を加えて、前記試験対象物の衝撃評価を行う衝撃試験方法および衝撃試験装置に関し、試験対象物の形状によらず、試験対象物に対して広範囲に衝撃力を加えることができる衝撃試験方法および衝撃試験装置を提供することを提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.
    Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT
    磁気抵抗効果素子の検査装置および検査方法 - 特許庁
  • MAGNETIC FIELD GENERATOR FOR SENSOR TESTING AND SENSOR INSPECTION DEVICE
    センサ検査用磁場発生装置およびセンサ検査装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING GUI PROGRAM TEST
    ＧＵＩプログラムテスト装置およびＧＵＩプログラムテスト方法 - 特許庁
  • APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING PROCESSOR
    プロセッサ試験装置、プロセッサ試験方法、プロセッサ試験プログラム - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC PARTS
    電子部品の試験方法および電子部品試験装置 - 特許庁
  • OPTICAL DISK RECORDING MEDIUM FOR TESTING AND ITS MANUFACTURE
    テスト用光ディスク記録媒体及びその製造方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING ACCELERATED WEATHERABILITY
    促進耐候性試験方法及び促進耐候性試験装置 - 特許庁
  • METHOD AND INSTRUMENT FOR TESTING LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER
    光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁
  • BARE CHIP CARRIER AND METHOD FOR TESTING BARE CHIP USING THE BARE CHIP CARRIER
    ベアチップキャリアとこれを用いたベアチップの検査方法 - 特許庁
  • To reduce testing time for one semiconductor device.
    半導体デバイス１個あたりのテスト時間を短縮する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR TESTING FATIGUE OF WING
    翼の疲労試験方法及び翼の疲労試験装置 - 特許庁
  • AIR PERMEATION TESTING METHOD FOR STICK-LIKE ARTICLE AND ITS DEVICE
    棒状物品の通気検査方法及びその装置 - 特許庁
  • TROUBLE GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD FOR COMPUTER SYSTEM
    障害発生装置およびコンピュータシステムの試験方法 - 特許庁
  • SAMPLE SUPPORT STRUCTURE FOR HOLLOW TORSIONAL SHEAR TESTING APPARATUS
    中空ねじりせん断試験装置の供試体支持構造 - 特許庁
  • DATA INVERSION REGISTER TECHNIQUE FOR INTEGRATED CIRCUIT MEMORY TESTING
    集積回路メモリ検査用のデータ反転レジスタ技術 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT
    集積回路試験装置、及び集積回路試験方法 - 特許庁
  • INSPECTION DEVICE AND BURN-IN TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING CONSTITUTION OF DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
    装置の構成をテストする方法および半導体装置 - 特許庁
  • TESTPIECE MOLDING FORM FOR TESTING STRENGTH OF CEMENT MATERIAL
    セメント材料強度試験用供試体成形型枠 - 特許庁
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