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「For testing」を含む例文一覧(6759)
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METHOD AND DEVICE
FOR
TESTING
PERFORMANCE OF CONTAMINANT TREATING MATERIAL
汚染物質処理材の性能試験方法及び装置
- 特許庁
DEVICE AND METHOD
FOR
TESTING
CONNECTION STRENGTH OF BUMP ELECTRODE
バンプ電極の接合強度試験装置と試験方法
- 特許庁
BOARD CONVERSION CABLE
FOR
MULTIPLE-PIN TESTER AND IC
TESTING
METHOD
多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびICテスト方法
- 特許庁
METHOD
FOR
TESTING
TUNNEL MAGNETORESISTANCE ELEMENT AND APPARATUS THEREFOR
トンネル磁気抵抗効果素子の検査方法及び装置
- 特許庁
METHOD AND LEAKAGE
FOR
TESTING
PIPING LEAK
配管漏洩検査装置及び配管の漏洩検査方法
- 特許庁
METHOD AND PROGRAM
FOR
TESTING
MEMORY OF COMPUTER SYSTEM
コンピュータシステムのメモリ試験方法およびメモリ試験プログラム
- 特許庁
PROBE CARD, PROBE UNIT, METHOD
FOR
TESTING
PROBE AND PROBE NEEDLE
プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及びプローブ針
- 特許庁
DEVICE AND METHOD
FOR
TESTING
SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリ試験装置及び半導体メモリ試験方法
- 特許庁
RADIATION IRRADIATION
TESTING
MACHINE
FOR
USE IN NUCLEAR REACTOR
原子炉内に用いられる放射線照射試験装置
- 特許庁
TESTING
DEVICE, METHOD AND PROGRAM
FOR
EXCHANGE CONTROLLER
交換機制御装置の試験装置、方法及びプログラム
- 特許庁
SYSTEM
FOR
TESTING
AND CLEANING REMOVABLE MEDIUM DRIVE
取り外し可能媒体ドライブのテストおよびクリーニングシステム
- 特許庁
SYSTEM AND METHOD
FOR
REMOTELY
TESTING
MOBILE UNIT
移動機リモート試験システム及び移動機リモート試験方法
- 特許庁
TESTING
SYSTEM OF DEVICE
FOR
DRIVING LOADS AND CONTROL METHOD THEREFOR
負荷駆動装置の試験システムおよびその制御方法
- 特許庁
METHOD
FOR
TESTING
MANY WORD LINES OF SEMICONDUCTOR MEMORY ASSEMBLY
半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法
- 特許庁
To reduce the time required
for
testing
a semiconductor device.
半導体装置の検査に要する時間を短縮する。
- 特許庁
SCREED AND METHOD
FOR
TESTING
GAS SEALABILITY OF THE SCREED
スクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法
- 特許庁
DEVICE AND METHOD
FOR
TESTING
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法
- 特許庁
DURABILITY
TESTING
APPARATUS
FOR
VEHICLE SEAT AND SEAT ATTACHMENT
車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置
- 特許庁
SYSTEM
FOR
TESTING
EXTENSION IO COMBINATION VIA NETWORK
ネットワークを介した拡張IO組み合わせ試験方式
- 特許庁
DEVICE AND METHOD
FOR
TESTING
IC, AND STORAGE MEDIUM
IC試験装置、IC試験方法、及び記憶媒体
- 特許庁
METHOD AND DEVICE
FOR
TESTING
PARKING MECHANISM OF AUTOMATIC TRANSMISSION
オートトランスミッションのパーキング機構試験方法及び装置
- 特許庁
LOADING TEST METHOD
FOR
GROUND ANCHOR AND
TESTING
APPARATUS THEREFOR
グラウンドアンカーの載荷試験方法及びその試験装置
- 特許庁
CORROSION
TESTING
METHOD OF METALLIC MATERIAL
FOR
SHIP BALLAST TANK
船舶バラストタンク用金属材料の腐食試験方法
- 特許庁
To provide a self-cleaning socket
for
testing
package components.
セルフクリーニング式パッケージ部品試験用ソケットの提供。
- 特許庁
METHOD AND DEVICE
FOR
TESTING
NONVOLATILE MEMORY, AND PROGRAM
不揮発性メモリの試験方法及び装置及びプログラム
- 特許庁
TEMPERATURE CONTROL SYSTEM
FOR
THERMAL SHOCK
TESTING
DEVICE
冷熱衝撃試験装置における温度制御方式
- 特許庁
To provide a method
for
testing
azoospermia characterized by comprising detecting a genetic polymorphism.
無精子症の新規の検査方法を提供する.
- 特許庁
COMPLEMENTARITY
TESTING
METHOD AND GOLD PARTICLE
FOR
USE IN THE METHOD
相補性試験方法及びそれに用いる金粒子
- 特許庁
METHOD AND APPARATUS
FOR
CORRECTION OF TIMING OF SEMICONDUCTOR
TESTING
APPARATUS
半導体試験装置のタイミング補正方法及び装置
- 特許庁
APPARATUS AND METHOD
FOR
TESTING
ROTARY BALANCE OF CRANKSHAFT
クランク軸の回転バランス試験装置および試験方法
- 特許庁
SYSTEM AND METHOD
FOR
TESTING
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路のテスト方式及びその方法
- 特許庁
METHOD AND APPARATUS
FOR
TESTING
INSULATION PERFORMANCE OF GAS INSULATED APPARATUS
ガス絶縁機器の絶縁性能試験方法及び装置
- 特許庁
METHOD
FOR
TESTING
THERAPEUTIC OR PROPHYLACTIC AGENT OF OSTEOPOROSIS
骨粗鬆症の治療または予防剤の試験方法
- 特許庁
TEST PULSE GENERATION METHOD AND SYSTEM
FOR
TESTING
ELECTRONIC APPARATUS
電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム
- 特許庁
TESTING
SYSTEM
FOR
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD
半導体集積回路装置テストシステムおよびプローブカード
- 特許庁
METHOD
FOR
TESTING
LEAK CURRENT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
リーク電流試験方法及び半導体集積回路
- 特許庁
TESTING
APPARATUS AND TEST METHOD
FOR
CMOS INTEGRATED CIRCUIT
CMOS集積回路の試験装置及び試験方法
- 特許庁
LEAK
TESTING
METHOD
FOR
POROUS FILM HAVING ASYMMETRIC STRUCTURE
非対称構造を有する多孔質膜のリークテスト法
- 特許庁
NUCLEIC ACID AND METHOD
FOR
TESTING
CANCERATION USING THE SAME NUCLEIC ACID
核酸及び該核酸を用いた癌化検定方法
- 特許庁
Claim
for
Examination pertaining to Disposition to the Designated
Testing
Agency
指定試験機関の処分についての審査請求
- 日本法令外国語訳データベースシステム
PROBER
FOR
TESTING
ELECTRONIC DEVICE ON LARGE-AREA SUBSTRATE
大面積基板上での電子デバイス検査のためのプローバ
- 特許庁
DEVICE AND METHOD
FOR
TESTING
CRACKING OF POWER GENERATION CELL
発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法
- 特許庁
TEST PIECE
FOR
HIGH PRESSURE AIR-TIGHT
TESTING
DEVICE AND REFRIGERATING CYCLE
高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクル
- 特許庁
To provide a method and apparatus
for
testing
a network.
ネットワークを検査する方法および装置を提供する。
- 特許庁
METHOD AND APPARATUS
FOR
TESTING
WEATHERABILITY OF IMAGE
画像耐候性試験方法及び画像耐候性試験装置
- 特許庁
PERSONAL COMPUTER SYSTEM
FOR
TESTING
POWER SYSTEM SERVICE AID DEVICE
電力系統保守支援装置の試験用パソコンシステム
- 特許庁
TESTING
DEVICE AND ITS CONTROL METHOD
FOR
POWER TRANSMISSION SYSTEM
動力伝達系の試験装置とその制御方法
- 特許庁
INSTRUMENTS, APPARATUS AND DEVICES
FOR
CHECKING, SECURITY OR
TESTING
検査用,保安用又は試験用の器械,機器及び装置
- 特許庁
DEVICE AND METHOD
FOR
TESTING
TRANSIENT CHARACTERISTIC OF INTERNAL COMBUSTION ENGINE
内燃機関の過渡特性試験装置および方法
- 特許庁
TIRE RUNNING TEST APPARATUS AND METHOD
FOR
TESTING
RUNNING OF TIRE
タイヤ走行試験装置及びタイヤ走行試験方法
- 特許庁
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例文データの著作権について
特許庁
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※この記事は「
日本法令外国語訳データベースシステム
」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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